材料分析方法知到智慧树章节测试课后答案2024年秋天津大学

材料分析方法知到智慧树章节测试课后答案2024年秋天津大学绪论单元测试

材料研究方法分为（）

A:分子结构分析B:组织形貌分析C:物相分析D:成分价键分析

答案:分子结构分析；组织形貌分析；物相分析；成分价键分析材料科学的主要研究内容包括（）

A:材料的制备与加工B:材料应用C:材料的成分结构D:材料的性能

答案:材料的制备与加工；材料的成分结构；材料的性能下列哪些内容不属于材料表面与界面分析（）

A:晶界组成、厚度B:晶粒大小、形态C:气体的吸附D:表面结构

答案:晶粒大小、形态下列哪些内容属于材料微区分析（）

A:位错B:晶格畸变C:晶粒取向D:裂纹大小

答案:位错；晶格畸变；晶粒取向；裂纹大小下列哪些内容不属于材料成分结构分析（）

A:晶界组成、厚度B:杂质含量C:物相组成D:晶粒大小、形态

答案:晶界组成、厚度；晶粒大小、形态

第一章单元测试

扫描电子显微镜的分辨率已经达到了（）

A:1.0nmB:100nmC:0.1nmD:10nm

答案:1.0nm利用量子隧穿效应进行分析的仪器是

A:扫描探针显微镜B:扫描隧道显微镜C:扫描电子显微镜D:原子力显微镜

答案:扫描隧道显微镜

能够对样品形貌和物相结构进行分析的是透射电子显微镜。

A:错B:对

答案:对扫描隧道显微镜的分辨率可以到达原子尺度级别。

A:错B:对

答案:对图像的衬度是（）

A:任意两点探测到的电子信号强度差异B:任意两点探测到的信号强度差异C:任意两点存在的明暗程度差异D:任意两点探测到的光强差异

答案:任意两点探测到的信号强度差异；任意两点存在的明暗程度差异对材料进行组织形貌分析包含哪些内容（）

A:晶粒的大小B:位错、点缺陷C:材料的外观形貌D:材料的表面、界面结构信息

答案:晶粒的大小；位错、点缺陷；材料的外观形貌；材料的表面、界面结构信息光学显微镜的最高分辨率为（）

A:0.2μmB:0.1μmC:1μmD:0.5μm

答案:0.2μm下列说法错误的是（）

A:X射线波长为0.05~10nm，可以作为显微镜的照明源B:X射线不能直接被聚焦，不可以作为显微镜的照明源C:可见光波长为450~750nm，比可见光波长短的光源有紫外线、X射线和γ射线D:可供照明的紫外线波长为200~250nm，可以作为显微镜的照明源

答案:X射线波长为0.05~10nm，可以作为显微镜的照明源1924年，（）提出运动的电子、质子、中子等实物粒子都具有波动性质

A:德布罗意B:狄拉克C:薛定谔D:布施

答案:德布罗意电子束入射到样品表面后，会产生下列哪些信号（）

A:二次电子B:俄歇电子C:背散射电子D:特征X射线

答案:二次电子；俄歇电子；背散射电子；特征X射线

第二章单元测试

第一台光学显微镜是由哪位科学家发明的（）

A:詹森父子B:伽利略C:胡克D:惠更斯

答案:詹森父子德国科学家恩斯特·阿贝有哪些贡献（）

A:发明了油浸物镜B:解释了数值孔径等问题C:阐明了光学显微镜的成像原理D:阐明了放大理论

答案:发明了油浸物镜；解释了数值孔径等问题；阐明了光学显微镜的成像原理；阐明了放大理论光学显微镜包括（）

A:目镜B:聚光镜C:反光镜D:物镜

答案:目镜；聚光镜；反光镜；物镜下列关于光波的衍射，错误的描述是（）

A:遇到尺寸与光波波长相比或更小的障碍物时，光线将沿直线传播B:障碍物线度越小，衍射现象越明显C:遇到尺寸与光波波长相比或更小的障碍物时，光线将偏离直线传播D:光是电磁波，具有波动性质

答案:遇到尺寸与光波波长相比或更小的障碍物时，光线将沿直线传播下列说法正确的是（）

A:两个埃利斑靠得越近，越容易被分辨B:由于衍射效应，样品上每个物点通过透镜成像后会形成一个埃利斑C:衍射现象可以用子波相干叠加的原理解释D:埃利斑半径与光源波长成反比，与透镜数值孔径成正比

答案:由于衍射效应，样品上每个物点通过透镜成像后会形成一个埃利斑；衍射现象可以用子波相干叠加的原理解释在狭缝衍射实验中，下列说法错误的是（）

A:整个狭缝内发出的光波在中间点的波程差半波长，形成中央亮斑B:子波之间相互干涉，在屏幕上形成衍射花样C:狭缝中间每一点可以看成一个点光源，发射子波D:在第一级衍射极大值处，狭缝上下边缘发出的光波波程差为1½波长

答案:整个狭缝内发出的光波在中间点的波程差半波长，形成中央亮斑下列关于阿贝成像原理的描述，正确的是（）

A:物像由透射光和衍射光互相干涉而形成B:参与成像的衍射斑点越多，物像与物体的相似性越好。C:不同物点的同级衍射波在后焦面的干涉，形成衍射谱D:同一物点的各级衍射波在像面的干涉，形成物像

答案:物像由透射光和衍射光互相干涉而形成；参与成像的衍射斑点越多，物像与物体的相似性越好。；不同物点的同级衍射波在后焦面的干涉，形成衍射谱；同一物点的各级衍射波在像面的干涉，形成物像下列说法错误的是（）

A:孔径半角与物镜的有效直径成反比，与物镜的焦距成正比B:物镜的数值孔径和分辨率成正比C:物镜光轴上的物点与物镜前透镜的有效直径所形成的角度是孔径半角D:物镜口径越大，分辨率就越高

答案:孔径半角与物镜的有效直径成反比，与物镜的焦距成正比像差包括（）

A:球面像差B:色散C:像域弯曲D:色像差

答案:球面像差；像域弯曲；色像差金相显微镜的制样过程包括（）

A:磨光B:镶样C:腐蚀D:抛光

答案:磨光；镶样；腐蚀；抛光

第三章单元测试

下列关于扫描电子显微镜的描述错误的是（）

A:利用二次电子和背散射电子成像B:可观察块状样品C:景深长，立体感强D:可观察组织细胞内部结构

答案:可观察组织细胞内部结构扫描电镜的分辨率是指（）

A:二次电子像的分辨率B:俄歇电子的分辨率C:吸收电子像的分辨率D:背散射电子像的分辨率

答案:二次电子像的分辨率电子束与固体样品相互作用，可以产生以下哪些信号（）

A:特征X射线B:背散射电子C:俄歇电子D:二次电子

答案:特征X射线；背散射电子；俄歇电子；二次电子下列说法正确的是（）

A:利用弹性背散射电子信号可以进行定量成分分析B:利用特征X射线信号可以进行定量成分分析C:利用弹性背散射电子信号可以进行定性成分分析D:利用特征X射线信号可以进行定性成分分析

答案:利用特征X射线信号可以进行定量成分分析；利用弹性背散射电子信号可以进行定性成分分析关于二次电子的描述，正确的是（）

A:二次电子信号反映样品的表面形貌特征B:二次电子信号反映样品的成分信息C:二次电子信号的分辨率高D:二次电子是入射电子与原子核外的价电子发生非弹性散射时被激发的核外电子

答案:二次电子信号反映样品的表面形貌特征；二次电子信号的分辨率高；二次电子是入射电子与原子核外的价电子发生非弹性散射时被激发的核外电子背散射电子的性质是（）

A:可用于样品的表面形貌分析B:产额随原子序数增加而增加C:产生范围在表层100~1000nm内D:可用于样品的表面成分分析

答案:可用于样品的表面形貌分析；产额随原子序数增加而增加；产生范围在表层100~1000nm内；可用于样品的表面成分分析扫描电子显微镜有以下哪种信号的探测器（）

A:二次电子B:特征X射线C:法拉第网杯D:背散射电子

答案:二次电子；特征X射线；背散射电子关于扫描电子显微镜景深的描述，错误的是（）

A:扫描电子显微镜景深比光学显微镜的景深大B:电子束的入射半角越大，景深越大C:景深是对样品高低不平的各部位同时聚焦成像的能力范围D:扫描电子显微镜景深比透射电子显微镜的景深小

答案:电子束的入射半角越大，景深越大；扫描电子显微镜景深比透射电子显微镜的景深小关于扫描电子显微镜的样品制备，哪个说法是错误的（）

A:对于非导电样品，要进行镀膜处理，增加导电性B:镀膜方法为离子溅射或真空蒸发C:镀膜可以是金、银、碳，膜厚在10~20nmD:对于导电性好的样品，只需直接粘在样品台上，即可进行观察

答案:镀膜可以是金、银、碳，膜厚在10~20nm；对于导电性好的样品，只需直接粘在样品台上，即可进行观察电子枪由（）组成

A:阴极、阳极B:阴极、阳极、栅极C:正极、负极、栅极D:阴极、栅

答案:阴极、阳极、栅极

第四章单元测试

扫描探针显微镜的优点有（）

A:可以在高温和低温状态下工作B:可以在大气、真空、溶液环境下进行工作C:横向分辨率为0.01nm，纵向分辨率为0.01nmD:可以对金属样品进行扫描

答案:可以在高温和低温状态下工作；可以在大气、真空、溶液环境下进行工作下列哪些显微镜属于扫描探针显微镜（

）。

A:静电力显微镜B:原子力显微镜C:扫描离子电导显微镜D:扫描隧道显微镜

答案:静电力显微镜；原子力显微镜；扫描离子电导显微镜；扫描隧道显微镜下列关于扫描探针显微镜的描述，错误的是（）

A:可以获得样品表面的摩擦力、粘附力等信息性B:可以对原子分子进行操纵C:一种具有非常高的空间分辨率的三维轮廓仪D:分辨率从原子尺度级到毫米量级

答案:分辨率从原子尺度级到毫米量级扫描探针显微镜的组成部分有（）

A:计算机系统B:粗调定位系统C:压电扫描器D:反馈系统

答案:计算机系统；粗调定位系统；压电扫描器；反馈系统扫描隧道显微镜是基于哪个原理进行工作的（）

A:原子间相互作用力B:表面效应C:量子尺寸效应D:量子隧穿效应

答案:量子隧穿效应下列关于扫描隧道显微镜的描述，正确的是（）

A:探针与样品间距发生变化时，隧穿电流发生指数级改变B:当探针与样品表面相距1nm左右时，会发生隧穿效应C:分辨率可以达到原子尺度级别D:使用铂丝或者钨丝探针进行扫描

答案:探针与样品间距发生变化时，隧穿电流发生指数级改变；当探针与样品表面相距1nm左右时，会发生隧穿效应；分辨率可以达到原子尺度级别；使用铂丝或者钨丝探针进行扫描扫描隧道显微镜的两种工作模式是（）

A:恒定电流模式B:恒定电压模式C:恒定扫速模式D:恒定高度模式

答案:恒定电流模式；恒定高度模式原子力显微镜（）

A:利用硅悬臂上的硅针尖进行扫描B:是利用原子间的吸引力来呈现样品的表面特性C:可以对导电样品或非导电样品进行观测D:探测针尖和样品之间作用力变化所导致的悬臂弯曲或偏转

答案:利用硅悬臂上的硅针尖进行扫描；可以对导电样品或非导电样品进行观测；探测针尖和样品之间作用力变化所导致的悬臂弯曲或偏转在接触式原子力显微镜中，哪个描述是错误的（）

A:利用原子之间吸引力的变化来记录样品表面轮廓的起伏B:探针与样品的距离小于1nmC:针尖与样品有轻微的物理接触D:针尖与悬臂受范德瓦尔斯力和毛细力两种力的作用

答案:利用原子之间吸引力的变化来记录样品表面轮廓的起伏

第五章单元测试

相的内涵是具有特定的结构和性能的物质状态，包括（）

A:等离子相B:液相C:气相D:固相

答案:等离子相；液相；气相；固相利用衍射分析的方法可以研究材料的（）

A:物相结构B:元素组成C:晶胞常数D:晶格类型

答案:物相结构；晶胞常数；晶格类型物相分析的手段包括（）

A:光子衍射B:中子衍射C:电子衍射D:X射线衍射

答案:中子衍射；电子衍射；X射线衍射电子与物质的相互作用时（）

A:入射能量为10~200KeV的高能电子穿透能力比X射线强，可用于薄膜分析B:入射电子束可以被聚焦C:入射电子与样品原子发生弹性散射，散射波相互干涉形成衍射波D:入射能量为10~500eV的低能电子可用于分析样品表面1-5个原子层的结构信息

答案:入射电子束可以被聚焦入射电子与样品原子发生（），散射波会相互干涉形成衍射波。

A:叠加干涉B:非弹性散射C:衍射D:弹性散射

答案:弹性散射利用电磁波或电子束、中子束等与材料内部规则排列的原子作用，产生非相干散射，从而获得材料内部结构信息

A:错B:对

答案:错X射线衍射方法可以进行多相体系的综合分析，也可以实现对亚微米量级单颗晶体材料的微观结构分析

A:对B:错

答案:错纯铁在低于1000度时，呈现α相。

A:错B:对

答案:错材料内部的晶体结构和相组成可以通过衍射线的方向和强度而决定。

A:对B:错

答案:对低能电子衍射可以观测样品表面的原子结构信息。

A:错B:对

答案:对

第六章单元测试

七大晶系包括（）

A:正交晶系B:六方晶系C:立方晶系D:四方晶系

答案:正交晶系；六方晶系；立方晶系；四方晶系立方晶系中，指数相同的晶面和晶向（）

A:无必然联系B:相互垂直C:成一定角度范围D:相互平行

答案:相互垂直在正方晶系中，晶面指数{100}包括几个晶面（）

A:4B:1C:2D:6

答案:4关于电子与物质的相互作用，下列描述错误的是（）

A:入射电子束可以被聚焦B:入射能量为10~500eV的低能电子可用于分析样品表面1-5个原子层的结构信息C:入射电子与样品原子发生弹性散射，散射波相互干涉形成衍射波D:入射能量为10~200KeV的高能电子穿透能力比X射线强，可用于薄膜分析

答案:入射能量为10~200KeV的高能电子穿透能力比X射线强，可用于薄膜分析利用电磁波或电子束、中子束等与材料内部规则排列的原子作用，产生非相干散射，从而获得材料内部结构信息

A:对B:错

答案:错X射线衍射方法可以进行多相体系的综合分析，也可以实现对亚微米量级单颗晶体材料的微观结构分析

A:错B:对

答案:错凡属于[uvw]晶带的晶面，其晶面指数(hkl)必满足关系hu+kv+lw=0

A:错B:对

答案:对构成晶体的质点包括（）

A:分子B:离子C:电子D:原子

答案:分子；离子；原子电子入射到晶体以后，哪三者存在严格的对应关系（）

A:衍射波的波矢量B:衍射图谱C:衍射角度D:产生衍射的晶面

答案:衍射波的波矢量；衍射图谱；衍射角度；产生衍射的晶面简单立方结构单晶的电子衍射花样可能呈现（）

A:六边形结构B:同心圆环C:方格子结构D:平行四边形结构

答案:方格子结构

第七章单元测试

关于衍射现象的描述，错误的是（）

A:不受晶体内周期性的原子排布影响B:入射的电磁波和物质波与晶体发生作用的结果C:在空间某些方向上发生波的相干抵消D:在空间某些方向上发生波的相干增强

答案:不受晶体内周期性的原子排布影响X射线与物质发生相互作用时（）

A:若与内层强束缚电子作用，会发生相干增强的衍射B:康普顿散射是相干散射C:若与外层弱束缚电子作用，会发生非相干散射D:原子核外电子包括外层弱束缚电子和内层强束缚电子

答案:若与内层强束缚电子作用，会发生相干增强的衍射；康普顿散射是相干散射；若与外层弱束缚电子作用，会发生非相干散射；原子核外电子包括外层弱束缚电子和内层强束缚电子电子与物质发生相互作用时（）

A:入射电子受原子核的散射作用时，原子核基本不动，电子不损失能量，发生弹性散射B:电子在物质中的弹性散射大于非弹性散射C:入射电子受核外电子的散射作用时，入射电子能量会转移给核外电子，损失部分能量，波长发生改变，发生非弹性散射D:入射电子受核外电子的散射作用时，入射电子能量会转移给核外电子，损失部分能量，波长不发生改变，发生非弹性散射

答案:入射电子受原子核的散射作用时，原子核基本不动，电子不损失能量，发生弹性散射；电子在物质中的弹性散射大于非弹性散射；入射电子受核外电子的散射作用时，入射电子能量会转移给核外电子，损失部分能量，波长发生改变，发生非弹性散射下列关于晶体对电子的衍射作用的描述，错误的是（）

A:电子衍射强度比X射线高1000倍B:电子衍射可以提供试样晶体结构、原子排列、原子种类等信息C:透射电子显微镜可以看到原子尺度上的结构信息D:在弹性散射情况下，晶体内部某些方向的散射波发生相干增强，形成衍射波

答案:电子衍射强度比X射线高1000倍；电子衍射可以提供试样晶体结构、原子排列、原子种类等信息对于简单点阵结构的晶体，系统消光的条件是()

A:不存在系统消光B:h、k、l为异性数C:h+k+l为奇数D:h+k为奇数

答案:不存在系统消光面心立方晶体产生系统消光的晶面有（）

A:112B:200C:220D:111

答案:112将等同晶面个数对衍射强度的影响因子称为()

A:结构因子B:多重性因子C:角因子D:吸收因子

答案:多重性因子布拉格方程从数学的角度进行解答衍射方向问题

A:对B:错

答案:对厄瓦尔德图解以作图的方式分析衍射发现问题

A:错B:对

答案:对入射波为电磁波或者物质波，它们的衍射波遵循不同的衍射几何和强度分布规律

A:对B:错

答案:对

第八章单元测试

下列关于X射线的描述，正确的是（）

A:X射线是一种电磁波B:X射线具有波动性C:劳厄发现X射线衍射现象D:伦琴发现X射线

答案:X射线是一种电磁波；X射线具有波动性；劳厄发现X射线衍射现象；伦琴发现X射线与X射线及晶体衍射有关的诺贝尔奖是（）

A:赫兹发现阴极射线B:伦琴发现X射线C:布拉格父子开创了晶体结构的X射线分析D:劳厄发现晶体的X射线衍射

答案:伦琴发现X射线；布拉格父子开创了晶体结构的X射线分析；劳厄发现晶体的X射线衍射进行晶体结构分析的X射线学分支是（）

A:X射线衍射学B:X射线光谱学C:X射线能谱学D:X射线透射学

答案:X射线衍射学常用的X射线衍射方法是（）

A:粉末法B:转动晶体法C:劳厄法D:德拜法

答案:粉末法；转动晶体法；劳厄法当样品为单晶体时，可以采用下列哪种X射线衍射方法（）

A:粉末法B:德拜法C:劳厄法D:转动晶体法

答案:劳厄法；转动晶体法测角仪中，探测器的转速与样品的转速满足哪种关系（）

A:1:0B:1:2C:2:1D:1:1

答案:2:1M层电子迁迁移到K层后，多余的能量释放的特征X射线是（）

A:KαB:LαC:KγD:Kβ

答案:KβX射线照射到晶体上时，产生衍射的条件是（）

A:晶体形状B:满足布拉格条件C:衍射强度不为0D:满足布拉格条件，同时衍射强度不为0

答案:满足布拉格条件，同时衍射强度不为0用X射线对固溶体进行分析时，得到的结果是（）

A:成分B:元素种类C:相结构D:组织结构

答案:相结构利用X射线衍射仪进行定性分析时，若已知样品的一种或几种化学成分，可以使用（）

A:数字索引B:Hanawalt索引C:Fink索引D:字母索引

答案:字母索引

第九章单元测试

设计并制造了世界第一台透射电子显微镜的科学家是（）

A:CharlesB:RohrerC:BinnigD:Ruska

答案:Ruska经典电子衍射实验是由哪几位科学家做出的（）

A:C.J.DavissonB:G.P.ThompsonC:L.H.GermerD:A.Reid

答案:C.J.Davisson；G.P.Thompson；L.H.Germer；A.Reid下列关于透射电子显微镜的描述错误的是（）

A:利用透射电子成像B:分辨率高，性能最完善C:观察细胞内部超微结构D:景深长、立体感强

答案:景深长、立体感强让衍射束通过物镜光阑，用物镜光阑套住某一衍射斑点，挡住中心透射斑点和其它衍射斑点，选择衍射束成像，是（）

A:暗场成像B:中心暗场成像C:中心明场成像D:明场成像

答案:暗场成像将入射电子束转动一定角度，使得衍射束沿着光轴传播，让衍射束通过物镜光阑，用物镜光阑套住某一衍射斑点，挡住透射束和其它衍射斑点挡住，选择衍射束成像，是（）

A:中心暗场成像B:暗场成像C:中心明场成像D:明场成像

答案:中心暗场成像透射电子显微镜的两种主要功能是（）

A:内部组织和成分价键B:表面形貌和成分价键C:表面形貌和晶体结构D:内部组织和晶体结构

答案:内部组织和晶体结构多晶体的电子衍射花样是（）

A:规则的平行四边形斑点B:不规则斑点C:同心圆环D:晕环

答案:同心圆环由于入射电子波长的非单一性造成的像差是（）

A:像散B:球面像差C:色像差D:像域弯曲

答案:色像差透射电子显微镜的衍射模式是将（）

A:关闭中间镜B:关闭物镜C:中间镜的物平面与物镜的后焦面重合D:中间镜的物平面与与物镜的像平面重合

答案:中间镜的物平面与物镜的后焦面重合薄片状晶体的倒易点形状是（）

A:尺寸很大的球B:尺寸很小的倒易点C:有一定长度的倒易杆D:倒易圆盘

答案:有一定长度的倒易杆

第十章单元测试

在原子系统中，自旋磁量子数是（）

A:mB:lC:nD:ms

答案:ms关于原子核外的电子分布描述，错误的是（）

A:遵从泡利不相容原理B:遵循洪特规则C:按照M、L、M等层由低到高依次填充D:满足能量最低原理

答案:按照M、L、M等层由低到高依次填充关于原子核外的电子跃迁描述，错误的是（）

A:入射波激发核外电子，使之发生层间跃迁B:始态和终态的能量差E是表征原子差别的特征能量C:能量差E与元素种类无关D:依据电子跃迁信息，可以进行成分和价键分析

答案:能量差E与元素种类无关关于俄歇电子产生的过程描述，正确的是（）

A:外层电子脱离原子核的束缚，成为自由电子发射出去B:内层电子脱离原子核的束缚，成为自由电子发射出去C:激发态和基态的能量差转移给原子核外的内层电子D:激发态和基态的能量差转移给原子核外的外层电子

答案:外层电子脱离原子核的束缚，成为自由电子发射出去；激发态和基态的能量差转移给原子核外的外层电子利用俄歇电子能谱可以进行（）

A:定量分析B:半定量分析C:半定性分析D:定性分析

答案:半定量分析；定性分析关于X光谱的描述，正确的是（）

A:反映样品表面和内部的成分信息B:无法探测元素的化学环境C:穿透深度为100nm~1mD:空间分辨率低，能量分辨率高，

答案:反映样品表面和内部的成分信息；无法探测元素的化学环境下列说法正确的是（）

A:XPS适用于轻元素、重元素分析B:AES采样深度为0.1~1nmC:AES的能量分辨率比XPS高D:XPS的采样深度0.5~2.5nm,

答案:AES的能量分辨率比XPS高；XPS的采样深度0.5~2.5nm,特征X射线的频率或波长只取决于物质的原子结构，是物质固有特性，与其它外界因素无关。

A:错B:对

答案:对X射线荧光光谱分析的入射束是荧光X射线

A:对B:错

答案:错电子探针X射线显微分析仪的入射束是电子束

A:错B:对

答案:对

第十一章单元测试

特征X射线产生的机理是(

)

A:原子内层电子跃迁B:外层电子被打掉C:高速电子受阻

答案:原子内层电子跃迁能谱仪的分辨率比波谱仪（）

A:不能比较B:高C:低D:相同

答案:低对钢中Mn、S、P等元素的定量分析可以采用以下分析手段

A:WDSB:EDSC:XRDD:XRF

答案:WDS；EDS；XRF如要分析断口上某种颗粒相的化学成分，应采用哪种分析方法？

A:WDSB:EDSC:XRDD:XRF

答案:WDS；EDS对钢断口中Mn、S、P等元素的分布状态进行分析可以采用哪种分析模式

A:高度扫描B:线扫描C:面扫描D:点扫描

答案:线扫描；面扫描电子束与固体样品作用时产生的信号有（）

A:背散射电子B:二次电子C:特征X射线D:俄歇电子

答案:背散射电子；二次电子；特征X射线；俄歇电子X射线光谱分析的信号是（）

A:光电子B:特征X射线C:连续X射线D:二次电子

答案:特征X射线产生X射线的激发源可以是（）

A:紫外光B:X射线C:电子束D:离子束

答案:X射线；电子束X射线光谱能给出材料的哪些信息（）

A:元素的分布B:元素组成C:元素价态D:元素的含量

答案:元素的分布；元素组成；元素的含量X射线光谱能对元素周期表中所有元素进行定性分析。

A:对B:错

答案:错

第十二章单元测试

光电子产生的机理是（）

A:外层电子被电子激发B:内层电子被电子激发C:内层电子被X射线激发D:外层电子被X射线激发

答案:内层电子被X射线激发光电子的动能受哪些因素影响（）

A:逸出功B:激发源的波长C:电子的平均自由程D:电子的结合能

答案:逸出功；激发源的波长；电子的结合能表面与界面成分分析的手段有

A:EDSB:AESC:XPSD:XRF

答案:EDS；AES；XPS在光电子能谱中，影响化学位移的因素有（）

A:原子氧化态B:相邻原子的电负性C:原子序数D:激发源的能量

答案:原子氧化态；相邻原子的电负性X射线光电子能谱谱图中可能存在的谱峰有

A:X射线卫星峰B:俄歇电子谱峰C:光电子谱峰D:特征能量损失峰

答案:X射线卫星峰；俄歇电子谱峰；光电子谱峰；特征能量损失峰X射线光电子能谱可以得到的信息有

A:成分和价键B:内部结构C:表面形貌D:晶体结构

答案:成分和价键对聚苯乙烯表面的氧化状态进行分析，可以采取下面哪些分析手段？

A:EDSB:XFSC:XPSD:WDS

答案:XPS光电子谱峰由哪几个参数来标记（）

A:主量子数B:元素符号C:自旋-轨道耦合量子数D:角量子数

答案:主量子数；元素符号；自旋-轨道耦合量子数；角量子数碳元素的主光电子峰是()

A:C3sB:C2sC:C2pD:C1s

答案:C1s在光电子能谱图中，出现在主光电子峰高动能端的伴峰可能是（）

A:震离峰B:震激峰C:特征能量损失峰D:X射线卫星峰

答案:X射线卫星峰

第十三章单元测试

产生俄歇电子深度范围为表层以下

A:100nm左右B:20nm左右C:2nm左右D:1000nm左右

答案:2nm左右俄歇电子能谱分析有哪些应用（

）

A:表面元素价态分析B:表面形貌分析C:元素深度分布分析D:元素定性分析

答案:表面元素价态分析；元素深度分布分析；元素定性分析对于化学价态相同的原子，俄歇化学位移的差别主要和原子间的电负性差有关。

A:错B:对

答案:对俄歇电子的能量主要与以下哪些因素有关

A:填充电子能级B:激发源能量C:初始空位能级D:跃迁电子能级

答案:填充电子能级；初始空位能级；跃迁电子能级影响俄歇电子强度的因素有（）

A:电离截面B:激发源能量C:电子的平均自由程D:原子序数

答案:电离截面；激发源能量；电子的平均自由程；原子序数光电子能谱的空间分辨率高于俄歇电子的空间分辨率

A:对B:错

答案:错相邻元素或基团的电负性越强，俄歇电子的化学位移越大

A:对B:错

答案:对俄歇电子的化学位移较光电子更敏感

A:对B:错

答案:对改变激发源的能量，俄歇电子谱峰的位置不动。

A:对B:错

答案:错俄歇过程和荧光过程是两个竞争的过程。

A:对B:错

答案:对

第十四章单元测试

二氧化碳分子的平动、转动和振动自由度的数目分别是

A:2，3，4B:3，3，3C:3，2，4D:3，4，2

答案:3，2，4红外吸收光谱的产生是由于

A:分子外层电子的能级跃迁B:分子振动-转动能级的跃迁C:分子外层电子、振动、转动能级的跃迁D:原子外层电子、振动、转动能级的跃迁

答案:分子振动-转动能级的跃迁下列哪种因素不是影响红外光谱谱峰位置的影响因素

A:分子含量B:氢键效应C:诱导效应D:共轭效应

答案:分子含量在红外光谱分析中，用KBr制作为试样池，这是因为

A:KBr晶体在4000～400cm-1范围内不会散射红外光B:在4000～400cm-1范围内，KBr对红外无反射C:KBr在4000～400cm-1范围内有良好的红外光吸收特性D:KBr在4000～400cm-1范围内无红外光吸收

答案:KBr在4000～400cm-1范围内无红外光吸收红外光谱中官能团区为

A:3600~3000B:1330~400C:2000~1600D:3600~1330

答案:3600~1330红外光谱法试样可以是

A:含