2024DS-V型云计算服务器

前 范 缩略 产品标 要 试验方 检验规 标 包 运 贮 DS-VDS-V（以下简称GB/T191GB/T2099.112A:2B:2Cab:2Ea2Ec:粗率操作造成的冲击（型样品2Fc:2N:2Fh：GB4943.1-20221GB/T5080.7GB/T9254.1-20211GB17625.1-2012（GB/T17625.2-2007≤16AGB/T17626.2-2018GB/T17626.3-2016电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验GB/T17626.4-2018GB/T17626.5-2019电磁兼容试验和测量技术浪涌（冲击）抗扰度试验GB/T17626.6-2017GB/T17626.8-2006电磁兼容试验和测量技术工频磁场抗扰度试验GB/T17626.11-2008CQC-C0901-2023强制性产品认证实施细则电子产品及安全附件BIOS基本输入输出系统BasicInputOutputSystemFRU现场可替代单元FieldReplacementUnitIPMI智能平台管理接口IntelligentPlatformManagementInterfaceKVM键盘鼠标显示器KeyboardVideoMouseRAIDRedundantArraysofIndependentDisksSAS串行连接SCSISerialAttachedSCSISATAATASerialATAAdvanceSOL网络串口SerialOverLanUID单元识别指示灯UnitIdentificationLightUSB通用串行总线UniversalSerialBus服务器版本：（1~2）产品场景：（1）DS-服务器版本：（1~2）产品场景：（1）1注：标识DS-VXXXXX-X(XXXXXX),()中内容为可选，X为英文字母或阿拉伯数字或符号。UUSBBIOSIPMIFRUKVMSOL灯、系统状态灯等。RAIDRAIDRAIDrebuild应具有RAIDrebuildLXCLXCDockerLXC100010000Mbps；SATA≥3Gbps；SAS≥6Gbps产品应能在(110Vac±11Vac)或(220Vac±22Vac)，50Hz±2Hz等条件下正常工作。电源插头规格应符合GB/T2099.1的规定。GB/T2423.1-20085℃8hGB/T2423.1-200840℃48hGB/T2423.2-200835℃8hGB/T2423.2-200870℃48hGB/T2423.22-2012GB/T2423.3-2016GB/T2423.10-2019GB/T2423.5-201911ms15g——2（2）50dB——272dB应符合GB/T17626.2-2018中接触放电等级2要求及空气放电等级3要求，允许性能或功能暂时丧应符合GB/T17626.3-20162的要求，不允许出现性能明显降低或者工作状态改变或者存储数应符合GB/T17626.4-20182的要求，允许性能或功能暂时丧失或者降低，但在骚扰停止后能应符合GB/T17626.5-20192的要求，允许性能或功能暂时丧失或者降低，但在骚扰停止后能应符合GB/T17626.6-20172的要求，不允许出现性能明显降低或者工作状态改变或者存储数应符合GB/T17626.8-20062的要求，不应出现硬件或软件损坏，或数据丢失而造成的功能丧应符合GB/T17626.11-2008的1类设备要求，电压暂降过程允许性能或功能暂时丧失或者降低，但应符合GB/T9254.1-2021中A应符合GB/T9254.1-2021中A宜符合GB17625.1-2012中第7宜符合GB/T17625.2-2007中第6应符合GB4943.1-2022中附录F应符合GB4943.1-2022中5.6应符合GB4943.1-2022中5.4应符合GB4943.1-2022中6.5和附录G.7应符合GB4943.1-2022中5.7应符合GB4943.1-2022中5.4.9应符合GB4943.1-2022中5.4.10和5.5.8应符合GB4943.1-2022中5.5.2GB4943.1-2022B.2.5应符合GB4943.1-2022中5.3应符合GB4943.1-2022中附录B.3和附录B.4应符合GB4943.1-2022中第9应符合GB4943.1-2022中第6应符合GB4943.1-2022中4.4.3和第8注：BMCDC本文件采用平均无故障工作时间(MBF)衡量产品的可靠性水平。设备在正常气候条件下的平均无(MTBF3000h温度大气压力：86kPa～106kPaUSBIEIP5.3.1a)要求；SSHIPCLI5.3.1b)要求；RAIDRAIDRAIDraidRAIDrebuildLXCDockerIP表12h，2h，5.6GB/T2423.22-20125.6GB/T2423.10-20195.6GB/T2423.56-2018测设备与噪声计的距离保持在1m，产品的静电放电抗扰度试验应按GB/T17626.2-2018中8.3条款规定的试验方法进行，试验过程中产品的射频电磁场辐射抗扰度试验应按GB/T17626.3-2016中第8章条款规定的试验方法进行，试产品的电快速瞬变脉冲群抗扰度试验应按GB/T17626.4-2018中第8章条款规定的试验方法进行，产品的射频场感应的传导骚扰度抗扰度试验应按GB/T17626.6-2017中第8章条款规定的试验方法产品的电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验应按GB/T17626.11-2008中第8章条款规定的按照GB/T9254.1-2021按照GB/T9254.1-2021按照GB17625.1-2012GB4943.1-2022F按照GB4943.1-2022中5.6按照GB4943.1-2022中5.4按照GB4943.1-2022中G.7GB4943.1-2022B.2.5按照GB4943.1-2022中5.3按照GB4943.1-2022中第9按照GB4943.1-2022中6.4按照GB4943.1-2022中第8AC48h5.9DC48h5.9OSreboot48h，5.9245.9本文件规定可靠性试验目的为确定产品在正常使用条件下的可靠性水平，试验周期内综合应力规定如