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文档简介

块体热电材料塞贝克系数测量仪测试报告起草单位:中国计量科学研究院起草人:李硕,任玲玲2024年09月概述热电材料塞贝克系数S是与温度T相关的参数。温度T下,由于两个结点(冷端和热端)的温差△T作用,内部载流子发生定向移动,形成电动势△V,电动势△V与温差△T的比值即为热电材料在该温度T下的塞贝克系数S,如公式(1)。(1)式中:S—塞贝克系数,单位μV/℃;△T—冷端和热端的温差,单位℃。△T=Th-Tc,Th为热端温度,Tc为冷端温度,单位℃;△V—冷端和热端的电动势,单位μV。塞贝克系数测量仪主要由加热炉、样品台、热电偶探针和数据采集系统等组成。2计量特性和校准条件2.1计量特性块体热电材料塞贝克系数测量仪的计量特性如表1所示。热电偶探针为内置的塞贝克系数测量仪可仅开展塞贝克系数重复性和示值误差项目。表1块体热电材料塞贝克系数测量仪的计量特性校准项目计量特性温度重复性≤0.5℃温度示值误差≤±3℃塞贝克系数重复性≤4.0μV/℃塞贝克系数示值误差≤±10μV/℃2.2校准条件2.2.1环境条件2.2.1.1环境温度:22℃±2℃。2.2.1.2相对湿度:≤85%RH。2.2.1.3其他:校准地点附近无强气流及腐蚀性气体、无强电磁场干扰、无振动。2.2.2测量标准和配套设备2.2.2.1热分析标准物质:适用温度范围在本规范温度范围内,片状,熔化温度扩展不确定度≤1℃(k=2)。2.2.2.2塞贝克系数标准物质:适用温度范围在本规范温度范围内,塞贝克系数扩展不确定度≤8μV/℃(k=2)。热电偶探针为外置的塞贝克系数测量仪,选用的标准物质长度应不小于探针间距。2.2.2.3分析天平:分度值不大于0.01mg。3校准项目和校准方法3.1外观检查通过目视检查,塞贝克系数测量仪(以下简称被校仪器)应有仪器名称、型号、出厂编号、生产单位等信息。3.2温度重复性参照JJG936,用分析天平准确称取热分析标准物质铟(In)适量,装于两支热电偶探针其中一支的尖端。加热炉内充填氮气,升温速率设定为10℃/min。以两支热电偶探针实时温度之差为纵坐标,被校热电偶探针温度为横坐标作图,标准物质熔化前基线的外推直线与转变开始曲线最大斜率处切线的交点为外推起始温度,即标准物质的熔化温度,如图1所示。依照以上步骤更换样品,重复测量1次。用公式(2)计算温度重复性。sT=|T2-T1|(2)式中:sT—温度重复性,单位℃;T1,T2—第1,2次仪器测得的标准物质的熔化温度,单位℃。图1标准物质熔化温度测量示意图按上述方法,选择另一支热电偶探针测量标准物质铟的熔化温度,重复测量2次,计算温度重复性。选取另一种热分析标准物质锡(Sn),两支热电偶探针分别重复测量2次,计算温度重复性。3.3温度示值误差根据3.2的测量结果,用公式(3)和(4)计算温度的示值误差。=(T1+T2)/2(3)△Te=-Ts(4)式中:T1,T2—第1,2次仪器测得的标准物质的熔化温度,单位℃;—仪器测得的标准物质的熔化温度的平均值,单位℃;Ts—标准物质的熔化温度标准值,单位℃;△Te—温度的示值误差,单位℃。采用热分析标准物质(铟和锡)分别校准塞贝克系数测量仪热端热电偶和冷端热电偶的温度,结果如表2和3所示。表2热分析标准物质(铟)温度校准结果熔化温度测量值(℃)重复性(℃)平均值(℃)标准值(℃)示值误差(℃)12热端热电偶155.43155.260.17155.35156.52-1.17冷端热电偶155.12154.940.18155.03-1.49表3热分析标准物质(锡)温度校准结果熔化温度测量值(℃)重复性(℃)平均值(℃)标准值(℃)示值误差(℃)12热端热电偶230.03229.810.22229.92231.81-1.89冷端热电偶229.32229.470.15229.40-2.423.4塞贝克系数重复性3.4.1标准物质装载要求标准物质装于样品台中,与两支热电偶探针稳定接触,确保标准物质与仪器连接通路。若仪器的热电偶探针内置,需确保标准物质与样品台平面接触良好,必要时可使用热界面材料。3.4.2塞贝克系数测试步骤a)参照仪器说明书开机并预热不少于30min,确保仪器运行正常;b)按照3.4.1的要求装载标准物质。密闭加热炉,炉内可为惰性气体环境或真空环境(真空度不大于0.1Pa);c)选择室温和仪器最高适用温度或本规范适用最高温度等2个温度点,以及适用范围内均匀分布的至少3个温度点,进行塞贝克系数测量。d)在设定温度T测量时,需温度变化率不大于0.2℃/2min后开始测试。两支热电偶的温差△T范围1℃至0.01(T+273.15)℃,至少5个温差/电动势测量点拟合直线(相关系数R2不小于0.9),采用最小二乘法计算塞贝克系数;e)每个温度点重复测试不少于5次。或按照要求选择其他温度点测试。3.4.3塞贝克系数重复性的计算在选取的温度下,重复测量标准物质不少于5次,按照公式(5)计算标准物质塞贝克系数重复测量的标准偏差,即塞贝克系数重复性。(5)式中:sS—塞贝克系数重复性,μV/℃;Si—仪器测得的标准物质的塞贝克系数,μV/℃;—仪器测得的标准物质的塞贝克系数的平均值,μV/℃;n—测量次数,n≥5。3.5塞贝克系数示值误差根据7.4的测量结果,用公式(6)和(7)计算塞贝克系数的示值误差。=(S1+S2+S3+S4+S5)/5(6)△Se=-Ss(7)式中:S1,S2,S3,S4,S5—第1~5次仪器测得的标准物质的塞贝克系数,单位μV/℃;—仪器测得的标准物质的塞贝克系数的平均值,单位μV/℃;Ss—标准物质的塞贝克标准值,单位μV/℃;△Se—塞贝克的示值误差,单位μV/℃。使用塞贝克系数测量仪测量塞贝克系数标准物质,氮气气氛。在设定温度T下,热端温差△T范围1℃至0.01(T+273.15)℃,每个温度点重复测量5次。如图2所示为室温条件下塞贝克系数的测量结果,温差范围约1℃至3℃,温差/电动势拟合直线的相关系数R2=0.99。图2塞贝克系数测量结果示意图表4为不同温度下,塞贝克系数测量仪测量塞贝克系数标准物质的结果。表4塞贝克系数标准物质测量结果温度(℃)塞贝克系数(μV/℃)平均值(μV/℃)重复性(μV/℃)标准值(μV/℃)示值误差(μV/℃)1234524.68117.31116.29116.56118.31118.83117.461.10116.910.5534.63123.64123.92125.42123.30126.36124.531.31119.235.3048.35131.20125.66125.83124.82126.12126.722.55122.394.3396.30137.86136.31137.16139.33139.49138.031.38133.204.83145.60153.87147.48148.64150.57147.17149.552.76143.905.65195.41163.76158.74158.45156.70161.24159.782.75154.275.51246.11174.60167.00168.44171.98170.12170.432.98164.376.06296.97184.50180.90178.41177.19179.16180.032.84174.065.97349.36190.29188.57188.63189.04189.03189.110.70183.565.55403.10200.12198.51198.72198.60198.08198.810.77192.816.00455.05206.88205.44203.40210.23201.35205.463.39201.274.19509.15218.93215.32213.05215.96215.81215.812.10209.576.254测量不确定度评定4.1测量模型塞贝克系数示值误差测量模型如公式(8)所示。△Se=-Ss(8)式中:—仪器测得的标准物质的塞贝克系数的平均值,单位μV/℃;Ss—标准物质的塞贝克标准值,单位μV/℃;△Se—塞贝克的示值误差,单位μV/℃。4.2不确定度来源1)测量重复性引入的不确定度us,即重复测量的标准偏差sS;2)标准物质引入的不确定度uRM。4.3不确定度分量的评估4.3.1测量重复性引入的不确定度分量us测量重复性引入的不确定度分量us,即重复测量的标准偏差sS,如公式(9)。(9)不同温度下,塞贝克系数测量重复性引入的不确定度分量如表4所示。4.3.2标准物质引入的不确定度分量uRM根据标准物质证书提供的扩展不确定度URM和包含因子kRM,标准物质引入的不确定度分量uRM根据公式(10)计算:(10)式中:uRM—标准物质引入的标准不确定度,单位μV/℃;URM—标准物质证书提供的扩展不确定度,单位μV/℃;k—标准物质证书提供的包含因子。不同温度下,标准物质引入的不确定度分量如表5所示。表5不同温度下,标准物质引入的不确定度分量温度(℃)标准物质的不确定度(μV/℃)24.681.9934.631.9948.351.9996.302.16145.602.32195.412.32246.112.63296.972.78349.362.93403.103.08455.053.22509.153.364.3.3合成标准不确定度各不确定度分量均不相关,则合成标准不确定度uc计算如公式(11):(11)其中,c1=c2=1。4.3.4扩展不确定度对于正态分布,置信水平为95%时,包含因子k=2,则扩展不确定度U的计算如公式(12):QUOTEU=k·uc=2×uc(12)表6为不同温度下,塞贝克系数测量仪测量不确定度评定结果。表6不同温度下,塞贝克系数测量仪测量不确定度评定结果温度(℃)平均值(μV/℃)重复性(μV/℃)标准值(μV/℃)示值误差(μV/℃)标准物质的不确定度(μV/℃)合成不确定度(μV/℃)扩展不确定度(k=2)(μV/℃)24.68117.461.10116.910.551.992.274.5434.63124.531.31119.235.301.992.384.7648.35126.722.55122.394.331.993.236.4696.30138.031.38133.204.832.162.565.12145.60149.552.76143.905.652.323.607.21195.41159.782.75154.275.512.323.607.20246.11170.43

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