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文档简介

1《智能计算忆阻器基础特性测试方法》委员会主管，全国智能计标准化算工作组（SAC/SWG32）和全国半导体器件标准化技术委员会（SAC/TC78）归口。本项目是制定项目，2院等十余家单位在内的标准编制组。对《智能计算忆阻器基础特性3（3）科学性原则。本标准多次召开标准起草会、专家研讨会，4本文件规定了不同结构和材料的双极型忆阻器件理和写操作的测试步骤和计算方法，同时对单晶体管单电阻（1T1R）目前标志组围绕忆阻器及其阵列的基础特性的测试方法展开研5），tdelaytreadIreadG01236a)1T1M单元的forming操作tformingVforming01723a)1T1M单元的SET操作8tdelaytSET0123a)1T1M单元的RESET操作tdelaytRESETVRESET01239tdelaytread12301234KB本标准后续将陆续开展忆阻器及其阵列的基础特性测试方的验该标准的制定和实施，对于测试和评价忆阻器件及阵列的基础特性起着重要作用。标准的制定初期，就与国际标准的水平一致，并且在国际标准的基础上增加了忆阻器阵列的测试方法，实现忆阻器基础特性的测试方法与国际接轨。通过本标准的制修订对忆阻器件的研究、生产、检验和使用具有重要意义，同时可以忆阻器测试等国际厂商都在开展忆阻器的研究和生产，在国内昕原半导体、知存科技以及众多科研机构也纷纷布局科研和产业化，因此同过本标准及后续相关的忆阻器系列测试标准的制定将用户

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