GB/T 42968.2-2024集成电路电磁抗扰度测量第2部分：辐射抗扰度测量TEM小室和宽带TEM小室法

ICS31200

CCSL.56

中华人民共和国国家标准

GB/T429682—2024/IEC62132-22010

.:

集成电路电磁抗扰度测量

第2部分辐射抗扰度测量

:

TEM小室和宽带TEM小室法

Integratedcircuits—Measurementofelectromagneticimmunity—

Part2Measurementofradiatedimmunit—TEMcellandwideband

:y

TEMcellmethod

IEC62132-22010IDT

(:,)

2024-10-26发布2024-10-26实施

国家市场监督管理总局发布

国家标准化管理委员会

GB/T429682—2024/IEC62132-22010

.:

目次

前言

…………………………Ⅲ

引言

…………………………Ⅳ

范围

1………………………1

规范性引用文件

2…………………………1

术语和定义

3………………1

概述

4………………………2

试验条件

5…………………3

试验设备

6…………………3

通则

6.1…………………3

电缆

6.2…………………3

骚扰源

6.3RF……………3

小室

6.4TEM……………3

小室

6.5GTEM…………………………4

终端

6.650Ω……………4

监测设备

6.7DUT………………………4

试验布置

7…………………4

通则

7.1…………………4

试验布置

7.2……………4

试验板

7.3EMC…………………………6

试验程序

8…………………6

通则

8.1…………………6

抗扰度测量

8.2…………………………6

试验报告

9…………………8

附录规范性场强特性测量程序

A()……………………9

附录资料性小室和小室描述

B()TEMGTEM………16

参考文献

……………………17

Ⅰ

GB/T429682—2024/IEC62132-22010

.:

前言

本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

本文件是集成电路电磁抗扰度测量的第部分已经发布了以下

GB/T42968《》2。GB/T42968

部分

:

第部分通用条件和定义

———1:;

第部分辐射抗扰度测量小室和宽带小室法

———2:TEMTEM;

第部分射频功率直接注入法

———4:;

第部分辐射抗扰度测量带状线法

———8:IC。

本文件等同采用集成电路电磁抗扰度测量第部分辐射抗扰度测量

IEC62132-2:2010《2:

小室和宽带小室法

TEMTEM》。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别专利的责任

。。

本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出

。

本文件由全国集成电路标准化技术委员会归口

(SAC/TC599)。

本文件起草单位中国电子技术标准化研究院中国汽车工程研究院股份有限公司安徽中认倍佳

:、、

科技有限公司厦门海诺达科学仪器有限公司深圳市北测标准技术服务有限公司北京智芯微电子科

、、、

技有限公司天津先进技术研究院工业和信息化部电子第五研究所中国家用电器研究院重庆邮电大

、、、、

学北京星河亿海科技有限公司浙江诺益科技有限公司中国信息通信研究院重庆仕益产品质量检测

、、、、

有限责任公司北京邮电大学东莞职业技术学院

、、。

本文件主要起草人付君崔强黄雪梅乔彦彬吴建飞方文啸朱赛亓新李旸梁吉明谢玉章

:、、、、、、、、、、、

张红升熊伟杰张艳艳周昕郑益民王雪熊璞张金玲麦强康志能陈梅双

、、、、、、、、、、。

Ⅲ

GB/T429682—2024/IEC62132-22010

.:

引言

为规范集成电路电磁抗扰度测量以及为集成电路制造商和检测机构提供不同的电磁抗扰度测量

,

方法规定了集成电路电磁抗扰度测量的通用条件定义和不同测量方法的试验程序和试

,GB/T42968、

验要求拟由个部分构成

,7。

第部分通用条件和定义目的在于规定集成电路电磁抗扰度测量的通用条件和定义

———1:。。

第部分辐射抗扰度测量小室和宽带小室法目的在于规定小室和宽

———2:TEMTEM。TEM

带小室法的试验程序和试验要求

TEM。

第部分大电流注入法目的在于规定大电流注入法的试验程序和试验要求

———3:(BCI)。。

第部分射频功率直接注入法目的在于规定射频功率直接注入法的试验程序和试验要求

———4:。。

第部分工作台法拉第笼法目的在于规定工作台法拉第笼法的试验程序和试验要求

———5:。。

第部分辐射抗扰度测量带状线法目的在于规定带状线法的试验程序和试验要求

———8:IC。。

第部分辐射抗扰度测量表面扫描法目的在于规定表面扫描法的试验程序和试验要求

———9:。。

Ⅳ

GB/T429682—2024/IEC62132-22010

.:

集成电路电磁抗扰度测量

第2部分辐射抗扰度测量

:

TEM小室和宽带TEM小室法

1范围

本文件描述了集成电路对射频辐射电磁骚扰的抗扰度测量方法

(IC)(RF)。

本文件适用的频率范围为或为小室和宽带小室的特性决定的频率

150kHz~1GHzTEMTEM

范围

。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款其中注日期的引用文

。,

件仅该日期对应的版本适用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于

,;,()

本文件

。

国际电工术语第部分电路理论

IEC60050-131131:(InternationalElectrotechnicalVocabulary

(IEV)—Part131:Circuittheory)

注电工术语电路理论

:GB/T2900.74—2008(IEC60050-131:2002,MOD)

国际电工术语第部分电磁兼容

IEC60050-161161:(InternationalElectrotechnicalVocabulary

(IEV)—Part161:Electromagneticcompatibility)

注电工术语电磁兼容

:GB/T4365—2003(idtIEC60050-161:1990)

集成电路电磁发射测量第部分辐射发射测量小室

IEC61967-2150kHz~1GHz2:TEM

和宽带小室法

TEM(Integratedcircuits—Measurementofelectromagneticemissions,150kHzto

1GHz—Part2:Measurementofradiatedemissions—