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文档简介
《薄膜技术与材料》大学本科笔记第一章:绪论1.1薄膜技术的历史与发展薄膜技术的起源可以追溯到20世纪初,当时人们开始研究如何在基底上沉积薄层材料。早期的研究主要集中在光学领域,例如镜面反射和抗反射涂层的制备。1950s-1960s:物理气相沉积(PVD)方法如热蒸发和溅射开始被广泛应用。1970s-1980s:化学气相沉积(CVD)技术兴起,尤其是对于复杂化合物薄膜的制备显示出了巨大优势。1990s至今:新型沉积技术不断涌现,比如原子层沉积(ALD)、分子束外延(MBE)等;同时,纳米技术的发展也促进了超薄功能薄膜的研究与应用。时间段主要发展20世纪初光学镀膜的初步探索1950s-1960sPVD技术普及,包括热蒸发与溅射1970s-1980sCVD技术兴起,适用于复杂化合物1990s至今新型沉积技术出现,纳米技术推动1.2薄膜技术的重要性及应用领域薄膜技术之所以重要,在于其能够实现材料性能的极大优化,并且为制造微小尺寸器件提供了可能。通过控制薄膜厚度、成分以及微观结构,科学家们能够设计出具有特定电学、磁学、光学或机械性质的功能性材料。这些特性使得薄膜技术成为现代科技不可或缺的一部分,广泛应用于以下几个方面:微电子工业:集成电路中的绝缘层、导电路径等。信息存储:硬盘驱动器上的磁记录介质。可再生能源:太阳能电池板上的吸收层和保护层。生物医疗:植入物表面改性以提高生物兼容性。防护与装饰:建筑玻璃上的防紫外线涂层,汽车车身上的耐磨漆面。1.3课程目标与学习方法本课程旨在让学生掌握薄膜材料的基本概念、制备工艺及其表征方法,并了解它们在不同领域的实际应用情况。为了达到这一目的,我们将采取以下几种教学方式:理论讲授:系统介绍相关基础知识;实验操作:通过动手实践加深理解;案例分析:结合具体实例讲解理论知识的应用;文献阅读:鼓励学生查阅最新科研成果,拓宽视野。第二章:薄膜的基本概念2.1薄膜定义与分类根据国际标准化组织ISO的规定,当一种材料以单层或多层形式均匀地覆盖在一个固体表面上时,如果该材料的厚度小于1μm,则称之为薄膜。按照组成物质的不同,薄膜可以分为金属薄膜、半导体薄膜、绝缘体薄膜等多种类型;而从形态上看,则有单晶、多晶、非晶态之分。此外,依据用途还可以进一步细分,比如光学薄膜、磁性薄膜等。2.2薄膜结构与特性薄膜的微观结构对其宏观性能有着决定性影响。一般来说,理想的薄膜应该具备良好的致密性和较低的缺陷密度。常见的缺陷形式包括孔洞、裂纹以及晶界处的杂质聚集。为了改善这些不利因素,研究人员通常会采用不同的退火处理或者改变沉积参数来调控薄膜生长过程。晶体结构:决定了薄膜是否具有长程有序排列,进而影响其物理化学性质。界面状态:基材与薄膜之间的接触界面是影响整体性能的关键因素之一。应力分布:由于热膨胀系数差异等原因导致的内部应力会对薄膜稳定性产生重大影响。2.3薄膜的生长机制薄膜生长是一个复杂的物理化学过程,涉及到多个阶段的变化。首先,源物质需要被转化为气态或离子态以便于传输至衬底表面;随后发生吸附、扩散直至最终成核并形成连续的薄膜层。整个过程中,温度、压力、反应气体比例等因素均对最终产物的质量起着至关重要的作用。成核机理:描述了初始粒子如何在衬底上聚集成稳定的团簇。生长模式:包括层状生长(Frank-vanderMerwe模式)、岛状生长(Volmer-Weber模式)以及介于两者之间的Stranski-Krastanov模式。动力学控制:探讨了哪些条件有利于特定类型的生长行为发生。第三章:薄膜制备技术概述3.1物理气相沉积(PVD)简介物理气相沉积是一种利用物理手段使材料从固态或液态转变为气态,然后沉积在衬底上形成薄膜的技术。它主要包括热蒸发、电子束蒸发、溅射沉积等方式。PVD的特点在于能够在相对低温条件下工作,适合于对热敏感材料的处理。然而,这种方法往往要求较高的真空度以减少污染,并且设备成本较高。热蒸发:通过加热蒸发源使其挥发进入真空气氛中,再冷凝于较冷的衬底上。电子束蒸发:使用高能电子轰击蒸发源材料,产生的热量促使材料升华。溅射沉积:借助高速离子撞击靶材表面释放出原子或分子,这些粒子随后附着在衬底上形成薄膜。3.2化学气相沉积(CVD)简介化学气相沉积则是基于化学反应原理进行的薄膜生长技术。在此过程中,含有目标元素的前驱体气体被引入到反应室内,在适当的温度下分解并与其他气体反应生成所需的固体薄膜。相比于PVD而言,CVD可以在更低的压力下操作,并且能够更好地控制薄膜的成分与结构,特别适用于合成多组分复合材料。但同时也存在能耗较大、潜在安全隐患等问题。常压CVD(APCVD):在大气压强下实施,操作简便但难以精确控制反应条件。低压CVD(LPCVD):降低系统内压力有助于提高反应效率并减少杂质引入。等离子体增强CVD(PECVD):利用等离子体激活前驱体分子,降低了所需反应温度。金属有机CVD(MOCVD):采用金属有机化合物作为前驱体,非常适合于III-V族半导体材料的制备。3.3溶胶-凝胶法及其他湿化学方法除了上述两种主流技术之外,还有许多其他途径可用于制备薄膜,其中最典型的代表就是溶胶-凝胶法。该方法涉及将溶液中的金属盐类溶解后经过水解、缩合等步骤转变成溶胶体系,再经干燥固化得到最终产品。此过程不仅简单易行,而且可以通过调整配方灵活调节薄膜的各项指标。除此之外,浸渍提拉法、旋涂法等也是常用的湿化学制备手段。溶胶-凝胶过程机理:详细说明了从溶液到固体转化的具体步骤。实验条件的影响:pH值、温度、时间等因素如何影响最终薄膜质量。优点与局限性:讨论了溶胶-凝胶法制备薄膜的优势及其面临的挑战。第四章:真空技术基础4.1真空系统及其组件真空技术是薄膜制备过程中不可或缺的一部分,它为许多沉积工艺提供了一个干净且可控的环境。一个典型的真空系统由以下几个主要部分组成:泵浦系统:用于抽取容器内的气体以达到所需的压力水平。真空室:进行薄膜沉积的主要场所,通常由不锈钢或其他耐腐蚀材料制成。阀门与管道:控制气流方向及流量,保证系统的密封性。测量装置:监测并调节真空度,确保工艺条件稳定。电源供应:为加热元件、磁控管等部件供电。在这些组件中,泵浦的选择尤其重要,因为它直接影响到最终能达到的极限真空度以及抽速效率。常见的泵类型包括旋片泵、涡轮分子泵和扩散泵等。泵浦类型工作原理适用范围旋片泵利用旋转叶片不断改变腔体容积实现气体压缩排出中低真空(10^-2至10^-1Torr)涡轮分子泵通过高速旋转叶片撞击气体分子产生定向流动高真空至超高真空(10^-5至10^-9Torr)扩散泵借助蒸汽喷射形成逆向压力梯度促使气体分子向出口移动高真空(10^-3至10^-6Torr)4.2真空度测量与控制为了精确地执行薄膜沉积过程,必须能够准确测量和维持特定的真空度。常用的测量仪器有热偶规、皮拉尼计、离子规等。每种方法都有其优势和局限性,适用于不同级别的真空度检测。热偶规:基于温度变化引起电阻值改变来反映压力大小,适合于粗略估算。皮拉尼计:利用热丝加热后冷却速率随周围气体密度变化而变化的特性工作,对低压段较为敏感。离子规:通过电离少量气体分子并收集产生的电流信号间接测定压力,适用于高真空区域。除了静态测量外,动态控制也是关键所在。自动控制系统可以实时调整泵的工作状态或引入适量的工作气体,从而保持设定好的操作参数不变。4.3泵浦原理与选择如前所述,不同类型的泵有着各自独特的运行机制。选择合适的泵不仅要考虑所需的最低压力要求,还需要综合考量成本效益比、维护便利程度等因素。例如,在实验室规模的小型设备中可能更倾向于使用结构紧凑、操作简便的干式泵;而对于大规模生产线,则可能需要组合多种泵来满足复杂的工艺需求。第五章:物理气相沉积技术5.1热蒸发沉积热蒸发沉积是一种简单有效的PVD方法,它依靠高温使固体源材料挥发成为蒸气,然后这些蒸气粒子沉积到较冷的衬底上形成薄膜。该技术的优点在于设备构造相对简单,易于实现自动化控制。然而,由于蒸发过程中容易发生成分偏析现象,因此对于多组分合金体系的应用受到一定限制。蒸发源:常用的是电阻加热方式,但也可以采用电子束加热以提高能量利用率。衬底位置:合理安排可以改善薄膜厚度均匀性和结晶取向。蒸发速率:直接影响薄膜的质量,过快会导致粗糙表面,过慢则可能导致杂质污染。5.2电子束蒸发与传统热蒸发相比,电子束蒸发利用聚焦的高能电子束直接轰击蒸发源,使其瞬间升温至极高温度而迅速蒸发。这种方法不仅提高了材料利用率,还能有效减少杂质混入,并且适用于难熔金属及其化合物的沉积。电子枪设计:包括阴极发射器、聚焦线圈、偏转板等关键部件。束斑尺寸与形状:影响加热区域的分布,进而决定蒸发速率的一致性。屏蔽措施:防止电子散射造成不必要的辐射伤害或污染。5.3溅射沉积溅射沉积则是通过加速带电粒子(通常是氩离子)撞击靶材表面释放出原子或分子,这些被溅射出来的粒子随后迁移到衬底上形成薄膜。相比于蒸发技术而言,溅射具有更好的方向性控制能力,并且能够处理更多种类的材料,尤其是那些不易通过热蒸发获得良好效果的物质。直流溅射:适用于导电性良好的靶材,但由于阳极消失效应限制了其应用范围。射频溅射:解决了非导电材料的问题,但功率消耗较大。磁控溅射:结合磁场作用增强了等离子体密度,显著提升了沉积速率和质量。第六章:化学气相沉积技术6.1常压CVD**常压化学气相沉积(APCVD)**是在接近大气压条件下进行的一种薄膜生长技术。虽然它的操作相对简单,不需要复杂的真空设备支持,但由于反应气氛中的气体混合不够均匀,往往难以获得高度一致性的薄膜品质。此外,较高的背景压力也使得污染物更容易进入系统内部。前驱体选择:需考虑化学稳定性、挥发性以及分解产物是否会对目标材料造成不利影响。温度调控:适当提高反应温度有助于加快化学反应速率,但过高则可能导致副反应的发生。载气流量:合理设置可以促进前驱体充分扩散并抑制不希望发生的沉积。6.2低压CVD**低压化学气相沉积(LPCVD)**通过降低系统内的总压力来改善气体传输效率,从而实现更加均匀的薄膜生长。这种条件下,分子间的碰撞频率大幅下降,有利于长程迁移并减少了颗粒凝聚的机会。同时,较低的压力也有利于排除某些有害气体,提高薄膜纯度。沉积速率:相较于APCVD有所减缓,但可通过优化工艺参数加以弥补。能耗问题:需要额外的能量输入来维持低压环境,增加了整体运行成本。安全性考量:某些易燃易爆气体在低压下更易失控,必须严格遵守安全规范。6.3等离子体增强CVD**等离子体增强化学气相沉积(PECVD)**引入了外部激发的等离子体作为激活源,使得原本需要较高温度才能完成的化学反应能够在更低温度下顺利进行。这不仅拓宽了可选基材的范围,还为柔性电子器件等领域开辟了新的可能性。不过,等离子体的存在也可能带来一些副作用,比如对薄膜微观结构的潜在损伤。等离子体生成方式:主要有射频放电、微波放电等形式。反应机理探讨:涉及自由基链式反应、离子辅助沉积等多种复杂过程。工艺窗口确定:找到最佳的操作条件以平衡薄膜性能与生产效率之间的关系。第七章:溶胶-凝胶法制备薄膜7.1溶胶-凝胶过程机理溶胶-凝胶法是一种湿化学方法,通过将液体中的金属有机或无机前驱体经过水解和缩聚反应转化为固态网络结构。这一过程可以分为几个关键阶段:前驱体溶解:首先,金属盐类或其他化合物被溶解在合适的溶剂中。水解反应:加入适量的水后,前驱体会发生水解,生成羟基化的中间产物。缩聚反应:随着反应的进行,这些羟基之间开始相互作用形成网状结构。凝胶化:当交联程度达到一定程度时,整个体系转变为粘稠的凝胶状态。干燥与热处理:最后一步是去除残余溶剂并固化成最终形态。7.2实验条件对薄膜性质的影响溶胶-凝胶法制备薄膜的过程中,不同的实验参数会显著影响到最终产品的性能。以下是一些主要因素及其效应:pH值:控制溶液的酸碱性可以调节前驱体的水解速率及缩聚方向。温度:提高反应温度通常能加快化学转化速度,但也可能引起不必要的副反应。时间:延长老化时间有助于形成更加致密均匀的结构。溶剂选择:不同溶剂会影响分子间的相互作用力,进而改变凝胶的物理特性。添加剂:如表面活性剂、催化剂等可以帮助改善薄膜的微观形貌或功能特性。实验参数影响效果pH值调节水解速率及缩聚方向温度加快化学转化速度,可能引发副反应时间延长老化时间有助于形成更致密均匀的结构溶剂影响分子间相互作用力,改变凝胶物理特性添加剂改善薄膜微观形貌或功能特性7.3应用案例分析由于其独特的制备方式,溶胶-凝胶技术已被广泛应用于多个领域,特别是在制造具有特殊功能性的涂层方面表现突出。例如,在光学器件上使用该方法可以制得高透明度且折射率可调的抗反射膜;而在生物医学领域,则可以通过添加特定药物来开发缓释型医疗植入物表面改性材料。第八章:薄膜表征技术8.1X射线衍射(XRD)分析X射线衍射是研究晶体结构最直接有效的手段之一。它基于布拉格定律,即入射X射线与晶面之间的夹角满足一定关系时会产生强烈的衍射现象。通过对衍射图谱的解析,我们可以获得关于样品晶相组成、晶胞参数以及微应力分布等方面的信息。单晶XRD:适用于确定单个晶体的具体原子排列情况。粉末XRD:更适合于多晶材料的整体特征描述,尤其是对于薄膜这类薄层样品而言更为实用。8.2扫描电子显微镜(SEM)观察扫描电子显微镜利用聚焦电子束扫描样品表面,并收集由此产生的二次电子信号来构建图像。SEM具有较高的空间分辨率(可达纳米级别),能够清晰展示出薄膜表面的微观形貌特征,包括颗粒尺寸、形状以及孔隙分布等细节。此外,结合能谱仪(EDS)还可以同时获取元素成分信息。高真空模式:适用于大多数导电样品,可以获得最佳的图像质量。低真空/环境模式:允许不导电或易挥发物质在较温和条件下进行观测。8.3透射电子显微镜(TEM)研究透射电子显微镜则是通过透射电子束穿过极薄样品区域来获取内部结构信息的技术。相比SEM,TEM拥有更高的分辨率(亚纳米级),并且能够揭示出更多的晶体缺陷类型,如位错、层错等。然而,TEM样品制备较为复杂,需要先将目标区域制成足够薄的切片或分散颗粒。明场像:显示了样品对电子束的吸收差异,适合于观察整体轮廓。暗场像:强调了特定晶面或缺陷引起的散射效应,有助于深入理解局部结构特征。选区电子衍射(SAED):提供了一个快速鉴定晶相的方法,特别适用于非均质或多相系统。8.4其他表面/界面分析方法除了上述几种常见的表征手段外,还有许多其他专门针对薄膜表面与界面特性的测试技术,例如:原子力显微镜(AFM):测量纳米尺度下的表面粗糙度及弹性模量。拉曼光谱:探测分子振动模式,用于识别化学成分及评估结晶度。X射线光电子能谱(XPS):分析元素价态及表面化学状态。紫外-可见-近红外(UV-Vis-NIR)光谱:评估光学性能,如透过率、反射率等。第九章:薄膜力学性能9.1弹性模量与硬度测试薄膜材料的机械强度是评价其实际应用潜力的重要指标之一。其中,弹性模量反映了材料抵抗变形的能力,而硬度则表示对外部压力的耐受程度。常用的测定方法有纳米压痕测试和动态力学分析(DMA)。纳米压痕测试:通过施加小载荷并记录压头侵入深度的变化曲线来计算弹性模量和硬度值。动态力学分析:在一定频率下施加周期性应力,根据样品响应行为推断出相应的力学参数。9.2断裂韧性评价断裂韧性是指材料在存在初始裂纹的情况下继续承受载荷而不发生突然破坏的能力。对于薄膜来说,由于厚度较小,传统的大块材料测试标准往往不再适用。因此,研究人员开发了一些专门针对薄膜的断裂韧性测试方法,如双悬臂梁(DBC)测试和四点弯曲(FPB)测试。双悬臂梁(DBC)测试:利用两个支撑点固定住带有预制缺口的试样,然后从中部加载直至断裂。四点弯曲(FPB)测试:采用四个接触点加载的方式,以减少边缘效应的影响。9.3耐磨性和疲劳寿命评估耐磨性指的是薄膜在长期使用过程中抵抗磨损的能力,这对于保护涂层尤为重要。常用的耐磨性测试包括摩擦磨损试验(如球盘式摩擦仪)和砂纸磨耗试验。另一方面,疲劳寿命则是指材料在循环应力作用下能够持续工作的次数。疲劳测试一般通过模拟实际工作条件下的加载模式来进行,比如旋转弯曲疲劳或拉伸-压缩疲劳等。摩擦磨损试验:监测在特定条件下(如恒定负载、转速)薄膜表面的磨损情况。砂纸磨耗试验:将薄膜置于高速旋转的砂纸上,根据重量损失量评估其耐磨性。旋转弯曲疲劳测试:适用于棒状或管状样品,通过连续转动并在指定位置施加弯矩直至失效。拉伸-压缩疲劳测试:模拟周期性拉伸和压缩应力下的材料行为,适用于平面薄膜样品。第十章:光学薄膜10.1光学薄膜的设计原则光学薄膜的设计目的是为了实现特定的光谱特性,如反射、透射或吸收等。设计时需要考虑的关键因素包括:波长范围:确定薄膜的工作波段。层数与厚度:通过调整各层材料及其厚度来优化光学性能。折射率匹配:选择具有适当折射率的材料以满足相位条件。在实际应用中,通常采用多层膜结构来达到所需的效果,其中每层的厚度通常是四分之一波长(λ/4)或者半波长(λ/2),以便于控制干涉效应。此外,还可能涉及到渐变折射率分布的设计,以进一步改善宽带性能。设计参数作用波长范围确定工作频段层数与厚度控制干涉效应折射率匹配优化相位条件10.2抗反射涂层抗反射涂层主要用于减少光线在界面处的反射损失,提高透射效率。这种涂层通常由单层或多层低折射率材料构成,并且其厚度被精确设定为入射光波长的四分之一。当光线从高折射率介质(如玻璃)进入低折射率介质(如空气)时,通过合理设计可以使得两者的反射相互抵消,从而大幅度降低总体反射率。单层AR涂层:适用于窄带宽的应用场景。多层AR涂层:能够覆盖更宽的波长范围,提供更好的整体性能。10.3高反射镜面和滤光片高反射镜面是利用多层高折射率与低折射率材料交替沉积形成的结构,以增强对特定波长范围内的反射。这类镜子广泛应用于激光系统、望远镜以及显微镜等领域。而滤光片则是通过对不同波长的选择性透过或阻挡来实现特定颜色或波段的分离。常见的类型有带通滤光片、长通滤光片和短通滤光片等。带通滤光片:允许某一特定波段通过,其余部分则被反射或吸收。长通滤光片:仅让高于某一阈值波长的光线通过。短通滤光片:仅让低于某一阈值波长的光线通过。10.4光电转换材料光电转换材料是指那些能够将光能转化为电能或将电能转化为光能的物质。在太阳能电池领域,硅基薄膜是最常用的一种,因为它不仅成本低廉而且技术成熟。近年来,随着研究的深入,其他类型的半导体材料如铜铟镓硒(CIGS)、碲化镉(CdTe)以及有机光伏材料也逐渐显示出巨大的潜力。硅基薄膜太阳能电池:基于非晶硅(a-Si)或微晶硅(μc-Si)的高效转化装置。CIGS薄膜太阳能电池:具有较高的能量转换效率及良好的稳定性。CdTe薄膜太阳能电池:生产工艺简单,但存在环境毒性问题。有机光伏材料:轻质柔性,适合便携式设备使用,但目前效率较低且寿命较短。第十一章:磁性薄膜11.1磁性材料基本知识磁性材料按照其对外加磁场响应的不同可分为三类:顺磁性、反磁性和铁磁性。其中,铁磁性材料由于具备自发磁化的特点,在信息存储和其他电子器件中扮演着重要角色。这些材料通常包含过渡金属元素(如Fe,Co,Ni)及其合金。矫顽力(Hc):衡量材料抵抗外磁场退磁的能力。饱和磁化强度(Ms):表示单位体积内最大可获得的磁矩量。剩磁(Br):撤去外场后仍保留的磁感应强度。11.2磁性薄膜的制备磁性薄膜可以通过多种方法制备,包括物理气相沉积(PVD)、化学气相沉积(CVD)以及溶胶-凝胶法等。不同的制备工艺会对薄膜的微观结构及磁性能产生显著影响。例如,溅射沉积可以获得均匀致密的薄膜,而电镀法则更适合于制造厚膜或复杂形状的产品。溅射沉积:利用离子轰击靶材表面释放出原子或分子形成薄膜。电镀法:通过电解过程使金属离子还原并沉积在导电基底上。溶胶-凝胶法:通过水解缩聚反应生成固态网络结构。11.3磁记录介质磁记录介质是数据存储领域的核心组成部分,它利用磁性颗粒排列的变化来编码信息。传统的硬盘驱动器就是基于这一原理工作的。现代磁记录技术正朝着更高的密度和更快的读写速度发展,这要求使用的材料具有优异的磁性能和稳定的热稳定性。垂直记录:将磁畴方向设置为垂直于盘面,以增加存储密度。热辅助磁记录(TAMR):结合局部加热和磁场作用,克服超顺磁极限。11.4自旋电子学中的应用自旋电子学是一门研究电子自旋自由度如何影响材料物理性质及其潜在应用的学科。磁性薄膜在其中扮演了至关重要的角色,尤其是在开发新型逻辑电路、传感器以及存储元件方面。例如,巨磁阻效应(GMR)和隧道磁阻效应(TMR)已经被成功应用于硬盘读头和磁随机存取存储器(MRAM)中。巨磁阻效应(GMR):通过改变相邻磁层间的相对取向来调节电阻值。隧道磁阻效应(TMR):基于量子隧穿现象,在绝缘层两侧设置磁性电极形成磁隧道结。第十二章:半导体薄膜12.1半导体物理学基础半导体是一种介于导体与绝缘体之间的材料,其导电能力可以通过掺杂或施加外部刺激来调控。根据能带理论,纯净半导体的价带是满的,而导带是空的,两者之间存在一个禁带。温度升高或引入杂质原子都会导致载流子浓度增加,从而改变半导体的电导率。本征半导体:不含任何外来杂质的纯净状态。n型半导体:通过掺入施主杂质引入多余电子。p型半导体:通过掺入受主杂质引入空穴。12.2Si基薄膜太阳能电池硅基薄膜太阳能电池以其低成本、易大规模生产的优势成为市场上最主流的产品之一。这类电池主要分为非晶硅(a-Si)和微晶硅(μc-Si)两大类。虽然a-Si具有较好的光吸收特性,但由于其较差的载流子迁移率限制了整体效率;相比之下,μc-Si则表现出更好的结晶质量,有助于提升光电转换效率。叠层结构:结合不同类型硅薄膜的优点,形成互补吸收光谱。透明导电氧化物(TCO):作为前电极,保证良好透光性的同时提供必要的导电路径。12.3III-V族化合物半导体薄膜III-V族化合物半导体是由第三主族和第五主族元素组成的直接带隙材料,它们拥有非常高的电子迁移率和发光效率,因此非常适合用于制作高性能光电设备。典型的例子包括砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)等。这些材料可以通过MBE或MOCVD等先进技术生长出高质量的单晶薄膜。双异质结(DH)激光器:利用两种不同带隙材料之间的势垒限制载流子运动。HEMT晶体管:基于二维电子气(2DEG)实现高速开关操作。12.4新型二维材料如石墨烯等近年来,随着纳米科技的进步,一系列新颖的二维材料开始受到广泛关注。石墨烯
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