SCR结构参数对ESD防护性能的影响研究的任务书_第1页
SCR结构参数对ESD防护性能的影响研究的任务书_第2页
SCR结构参数对ESD防护性能的影响研究的任务书_第3页
全文预览已结束

付费下载

VIP免费下载

版权说明：本文档由用户提供并上传，收益归属内容提供方，若内容存在侵权，请进行举报或认领

文档简介

SCR结构参数对ESD防护性能的影响研究的任务书任务书研究SCR结构参数对ESD防护性能的影响一、研究背景ESD（Electrostaticdischarge，静电放电）是指由于静电在介质之间引起的一种高电场放电现象，易造成芯片损坏，因此，在芯片设计中添加ESD防护设计是非常必要的。SCR（SiliconControlledRectifier，硅可控整流器）被广泛应用于ESD保护芯片电路中，它可以在芯片受到ESD冲击时，快速将电流引入地，从而降低芯片受损的风险。但是，不同的SCR结构参数对其ESD防护能力具有不同的影响，因此，研究SCR结构参数对ESD防护性能的影响，对于提高ESD防护芯片的性能有着十分重要的意义。二、研究任务1.研究SCR结构参数对于SCR结构的研究，需要分析它的主要参数，如PNP区面积、NPN区面积、PNP区抑制区厚度等，以及它们之间的关系，分析不同参数对于SCR工作原理和ESD防护性能的影响。2.建立ESD测试系统建立ESD测试系统，对于不同的SCR芯片结构进行ESD测试，测量其抗ESD击穿能力和保护效果，并记录相应的测试数据和结果。3.分析数据根据对于不同SCR结构进行的ESD测试数据，分析不同结构参数对于ESD防护性能的影响，找出最优的SCR结构设计参数。4.研究结论总结研究结果并进行结论归纳，提出进一步的改进优化研究的建议。三、研究方法1.理论分析法通过对SCR结构进行有限元模拟，来研究不同结构参数对于其电场分布和压耐能力的影响。2.实验测试法利用ESD测试系统，测试不同SCR结构的ESD防护性能，并记录测试数据和结果，对实验数据进行分析。3.计算方法通过计算机仿真和模拟，对不同的SCR结构参数进行分析和优化设计，得到不同结构参数下的最优结构设计。四、研究步骤1.确定研究对象根据研究目标，确定研究对象，选择不同结构参数的SCR芯片。2.建立模型建立SCR结构的有限元模型，并进行电场分析和电学分析。3.ESD测试使用ESD测试系统，对不同桥式电路结构进行ESD测试，并记录测试数据和结果。4.分析数据对不同结构参数的SCR芯片进行数据分析，得出不同参数对于ESD防护性能的影响。5.结论提出总结各项测试结果和分析数据，提出不同SCR结构参数设计对于ESD防护的最优结论，并给出优化建议。五、研究预期成果1.对于不同的SCR芯片结构参数进行分析，得出不同结构参数的电学特性，为后续研究提供基础数据。2.建立完备的SCR芯片ESD测试系统，可以对不同SCR芯片结构进行ESD击穿测试，得出不同SCR芯片结构抗击穿能力和ESD芯片防护效果。3.通过实验数据和理论分析，得出不同SCR芯片结构参数对于ESD防护性能的影响，提出最优设计方案，并提出相应的优化建议。4.对于SCR芯片的ESD防护设计提出较为科学的设计方法，为提高电子器件ESD防护性能

人人文库> 全部分类> 教育资料 > 课件下载

温馨提示

  • 1. 本站所有资源如无特殊说明，都需要本地电脑安装OFFICE2007和PDF阅读器。图纸软件为CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.压缩文件请下载最新的WinRAR软件解压。
  • 2. 本站的文档不包含任何第三方提供的附件图纸等，如果需要附件，请联系上传者。文件的所有权益归上传用户所有。
  • 3. 本站RAR压缩包中若带图纸，网页内容里面会有图纸预览，若没有图纸预览就没有图纸。
  • 4. 未经权益所有人同意不得将文件中的内容挪作商业或盈利用途。
  • 5. 人人文库网仅提供信息存储空间，仅对用户上传内容的表现方式做保护处理，对用户上传分享的文档内容本身不做任何修改或编辑，并不能对任何下载内容负责。
  • 6. 下载文件中如有侵权或不适当内容，请与我们联系，我们立即纠正。
  • 7. 本站不保证下载资源的准确性、安全性和完整性, 同时也不承担用户因使用这些下载资源对自己和他人造成任何形式的伤害或损失。

最新文档

评论

0/150

提交评论