电子标签产品检测

ICSFORMTEXT35FORMTEXTPFORMTEXTFORMTEXTCJFORMTEXTXX/TFORMTEXTXXXXX—FORMTEXTXXXXFORMTEXTFORMTEXT电子标签产品检测FORMTEXTInspectionofradiofrequencyidentificationtagsFORMTEXT点击此处添加与国际标准一致性程度的标识FORMDROPDOWNFORMTEXT（本稿完成日期：2013-01-17）FORMTEXTXXXX-FORMTEXTXX-FORMTEXTXX发布FORMTEXTXXXX-FORMTEXTXX-FORMTEXTXX实施FORMTEXT发布XX/TXXXXX—XXXX图17，信号的转换定义在10%到90%和90%到10%时，中心点定义在信号电平的50%处。测试结果评定解调和返回时间应小于1ms。测试报告测试报告记录测试的时间参数，通过/失败的条件在7.4.6.3中定义，若被测时间值依据符合《XXXX第X部分：433MHz参数》定义的读写器到标签连接参数，小于接收到发送响应时间最大值，则测试通过。数据编码和参考时间测试目的本测试的目的是验证读写器发送的信号遵循Manchester编码并且数据的时间在定义的限值之内，本测试确保读写器以38.4kHz±1.92kHz的速率发送数据：传输的数据被标签正确的解析；传输的数据不会被标签误认为唤醒信号。测试步骤读写器ID被设置为16个‘1’，即“1111111111111111”，然后读写器发送一个点对点的睡眠命令，或者一个ID为32个‘1’的标签ID，这些设置是为了保证位模式能够被容易的和更远的识别。《XXXX第X部分：433MHz参数》中标签到读写器连接参数Tag：2a和Tag：1中定义了具有FM解调器的射频接收机的接收机带宽和中心频率，通过逻辑分析仪观察正确的Manchester编码并且测试位/符号时间，测试装置见图15。测试结果评定观察Manchester编码是通过观察每个数据位从高到低或者从低到高跳变实现的，逻辑“1”用13μs高电平后跟13μs低电平表示，逻辑“0”用13μs低电平后跟13μs高电平表示。需要在发送信息中三个分离和区别的部分测量解调的“高”和“低”信号，每个“高”和“低”信号应为13μs±1.0μs，应在中心点处进行所有的测量。测试报告测试报告记录测试的编码格式和时间参数，通过/失败的条件在7.4.7.3中定义，值在《XXXX第X部分：433MHz参数》读写器到标签前向连接参数Int:8、Int:9和Int:9a中的定义的Manchester编码和数据时间。接收机带宽测试目的本测试的目的是验证读写器具有最小-3dB接收机带宽为500kHz，接下来的测试需要读写器能够测量和通信RSSI值。如果读写器不能提供读出RSSI值功能，也可采用其它的验证读写器接收机带宽的方法。测试步骤通过一个可编程信号发生器和射频调制器产生并发送《XXXX第X部分：433MHz参数》兼容的433.92MHz和相邻频率的射频信息。在每个频率上，读取由读写器提供的RSSI值。验证RSSI值与功率的线性关系，另外需要对测试装置进行校准；在433.92MHz±10kHz范围内以5kHz步长（433.91MHz到433.93MHz）测试5个RSSI值，获取平均RSSI值；在433.92MHz±125kHz范围内（433.795MHz到434.045MHz）测试2个RSSI值。测试结果评定验证两个-3dBRSSI值在测试步骤b)中的平均RSSI值范围内。测试报告测试报告记录测试的RSSI值以及与平均RSSI值的dB关系，通过/失败的条件见7.4.8.3，值在《XXXX第X部分：433MHz参数》读写器到标签前向连接参数Int:2、Int:2a中定义。读写器命令测试测试目的本测试的目的是验证读写器对协议中规定的命令的支持能力。测试步骤读写器的发射功率应为相应的无线电规定允许范围内最大功率，并在指定的标签状态下发射待验证的测试命令。观测命令发送后在《XXXX第X部分：433MHz参数》规定的标签响应时间内标签模拟器能否正确返回命令或者标签模拟器能否正确转换所处的状态。标签模拟器返回的命令格式或者标签模拟器所处的状态应为《XXXX第X部分：433MHz参数》中规定的标签模拟器命令格式或者标签模拟器所处的状态一致。测试结果评定验证读写器对强制命令的支持。测试报告测试报告应给出读写器支持的命令的名称及所属的类型，测量结果的合格情况应符合《XXXX第X部分：433MHz参数》中规定的强制命令。标签符合性测试工作频率稳定性测试目的本测试的目的是验证在《XXXX第X部分：433MHz参数》规定的用于标签到读写器通信的工作频率。测试步骤初始化测试：标签中的用户内存中应包含适当的N字节的数据；标签应在睡眠状态，等待唤醒命令。读写器对待测标签ID声明一个收集命令（Collection），标签以预先选择存储好的数据响应，应通过已校准天线和调制分析仪对标签响应进行分析，确定工作频率。测试结果评定读写器的中心频率应在《XXXX第X部分：433MHz参数》定义的标签到读写器连接参数中规定的工作频率和容差范围内。测试报告测试报告记录测试的频率，通过/失败的条件见7.5.1.3。RF上电和下电时间测试目的本测试的目的是验证标签上电和下电RF时间将符合《XXXX第X部分：433MHz参数》定义的标签到读写器连接参数中定义的值。测试步骤波形发生器的振幅应被设置为以最大功率发送。首先待测标签应被设置为能量开启，传输载波，然后将能量关闭。应使用感应天线和7.3.4.2中规定的频谱分析仪来记录标签的波形。测量标签上电曲线时，记录电平从10%电平上升到90%电平所经历的时间。测量标签下电曲线时，记录电平从90%电平下降到10%电平所经历的时间。如果标签工作于非重叠的多个RF频段，那么本测试应对每一个RF频段进行。测试结果评定标签上电和下电时间均应不大于1ms。测试报告测试报告记录测试的标签上电和下电时间值，通过/失败的条件在7.5.2.3中定义，值在《XXXX第X部分：433MHz参数》标签到读写器连接参数中定义。FSK调制测试目的本测试的目的是确保读写器的频偏在《XXXX第X部分：433MHz参数》规定典型值50kHz的范围内。测试步骤初始化测试：标签中的用户内存中应包含适当的N字节的数据；标签应在睡眠状态，等待唤醒命令。读写器对待测标签ID声明一个收集命令（Collection），标签以预先选择存储好的数据响应，应通过已校准天线和调制分析仪对标签响应进行分析，确定FSK频偏。测试结果评定调制频偏最大值不能超过55kHz，最小值不能低于45kHz。测试报告测试报告记录测试的调制参数，通过/失败的条件见7.5.3.3，值在《XXXX第X部分：433MHz参数》标签到读写器连接参数中定义。前导码、同步字节格式和时间测试目的本测试的目的是验证标签前导码、同步字节的结构和时间。每个读写器命令都包含一个周期为1040μs的前导码和416μs的同步码，如图3所示，是采样数据包的第一个字节。测试步骤初始化测试：标签中的用户内存中应包含适当的N字节的数据；标签应在睡眠状态，等待唤醒命令。读写器对待测标签ID声明一个收集命令（Collection），标签以预先选择存储好的数据响应，应通过已校准天线和调制分析仪对标签响应进行分析，确定前导码和时间。标签发送一个适当的广播或者点对点的指令，前导码包括30由高低电平时间分别为13μs组成脉冲，同步码为Manchester编码为“10101010101010101010101010010110”的数据，指示了标签到读写器的通信方向。读写器通信和时序示意图测试结果评定前导码验证包含以下方面：40个脉冲周期为26μs±1.3μs的脉冲，脉冲由13μs±0.65μs的高电平和13μs±0.65μs的低电平组成。同步码验证包括：验证Manchester编码为“10101010101010101010101010010110”。应在信号的中心点完成所有的时间测试。测试报告测试报告记录测试的时间参数，通过/失败的条件在7.5.4.3中定义，载波频率测试和值在《XXXX第X部分：433MHz参数》标签到读写器前向连接参数Tag:11c和Tag:11d中定义。解调和返回时间测试目的本测试的目的是验证待测标签是否符合《XXXX第X部分：433MHz参数》定义的标签到读写器连接参数中解调和返回的时间要求。测试步骤读写器应在测试载波频率的相应无线电规定的允许范围内，以最大功率发送。首先待测读写器发送唤醒命令，使标签模拟器转换到待命状态，发送一个收集命令（Collection），标签模拟器在协议规定的范围内以正确的命令格式返回数据，待测读写器收到返回的数据后。信号分析仪将采集解调的所有功率VS时间曲线(Collection+标签响应)。测量Collection命令结束和标签响应开始之间的时间差值，应在信号的中心点完成所有的时间测试。如图6，信号的转换定义在10%到90%和90%到10%时，中心点定义在信号电平的50%处。测试结果评定解调和返回时间应小于1ms。测试报告测试报告记录测试的时间参数，通过/失败的条件在7.5.5.3中定义，若被测时间值依据符合《XXXX第4部分：433MHz参数》定义的标签到读写器连接参数，小于接收到发送响应时间最大值，则测试通过。数据编码和参考时间测试目的本测试的目的是验证读写器发送的信号遵循Manchester编码并且数据的时间在定义的限值之内。测试步骤初始化测试：标签中的用户内存中应包含适当的N字节的数据；标签应在睡眠状态，等待唤醒命令。读写器对待测标签ID声明一个收集命令（Collection），标签以预先选择存储好的数据响应，应通过已校准天线和调制分析仪对标签响应进行分析，确定前导码和时间。《XXXX第X部分：433MHz参数》中标签到读写器连接参数定义了具有FM解调器的射频接收机的接收机带宽和中心频率，通过逻辑分析仪观察正确的Manchester编码并且测试位/符号时间，测试装置见图19。唤醒信号测试装置图测试结果评定观察Manchester编码是通过观察每个数据位中心从高到低或者从低到高跳变实现的，逻辑“1”用13μs高电平后跟13μs低电平表示，逻辑“0”用13μs低电平后跟13μs高电平表示。需要在发送信息中三个分离和区别的部分测量解调的“高”和“低”信号，每个“高”和“低”信号应为13μs±0.65μs，总的位（符号）长度应在26μs±1.3μs,应在中心点处进行所有的测量。测试报告测试报告记录测试的编码格式和时间参数，通过/失败的条件在7.5.6.3中定义，值在《XXXX第X部分：433MHz参数》标签到读写器反向连接参数Tag:8中定义。唤醒信号响应测试目的本测试的目的是验证标签会对正确地响应读写器唤醒信号并唤醒。测试步骤初始化测试：标签中的用户内存中应包含适当的N字节的数据；标签应在睡眠状态，等待唤醒命令。读写器对待测标签ID声明一个收集命令（Collection），标签以预先选择存储好的数据响应，应通过已校准天线和调制分析仪对标签响应进行分析。《XXXX第X部分：433MHz参数》中标签到读写器连接参数中定义了具有FM解调器的射频接收机的接收机带宽和中心频率，如图19，当接收到正确的唤醒信号后，通过逻辑分析仪观察正确的唤醒编码并且测试位/符号时间。测试结果评定验证标签在接收到唤醒信号后响应合法的命令。测试报告测试报告记录测试的编码格式和时间参数，通过/失败的条件在7.5.7.3中定义，值在《XXXX第X部分：433MHz参数》标签到读写器反向连接参数中定义。标签命令测试测试目的本测试的目的是验证标签对协议中规定的命令的符合性。测试步骤波形发生器的振幅应被设置为规定的最大值，在指定的标签状态下发射待验证的测试命令。观测命令发送后在《XXXX第X部分：433MHz参数》规定的标签响应时间内标签返回命令或者标签转换所处的状态。读写器发送的命令格式应与《XXXX第X部分：433MHz参数》中规定的读写器命令格式一致。测试报告测试报告应给出标签支持的命令的名称及所属的类型，测量结果的合格情况应符合《XXXX第X部分：433MHz参数》中规定的强制命令。2.45GHz空中接口符合性测试概述规定了读写器和标签的符合性测试方法，测试结果与《XXXX第Z部分：2.45GHz参数》中规定的参数值进行比较，以确定待测读写器和待测标签的参数与《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》的符合性。测试方法的条件测试环境测试应在温度为23℃±3℃和相对湿度为40%～60%的环境下进行。预处理测试前应将待测读写器和待测标签在测试环境中放置24h。默认容差所给出量值的默认容差为±5%。扩展不确定度测试方法规定的测试量的扩展不确定度应在测试报告中予以说明。测试场地除另有规定外，测试应在电波暗室中进行。当电波暗室限制了设备的移动和测试距离时，允许测试在开阔测试环境下进行。测试场地要求参见附录G。测试装置读写器测试装置读写器测试装置读写器测试装置包括控制计算机、待测读写器、基准标签和测试设备，如图20所示。其中测试设备包括射频接收机（具备解调器功能的测试天线）和通用测试设备（见8.3.3）。控制计算机应可设置和触发读写器所有的动作，控制读写器的发射功率等物理层参数。基准标签见8.3.1.2。包含内置天线的读写器需要提供天线接口或者耦合设备（如测试天线），用来连接测试设备。如果待测读写器未提供天线接口则应通过测试天线测试，通过测试天线测试的测试装置连接见图21。读写器测试装置通过测试天线测试的测试装置连接方式基准标签基准标签应实现《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》规定的标签所有功能。基准标签应满足《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中接收-发送转换时间和发送-接收转换时间的限值要求。标签测试装置测试装置标签测试装置包括控制计算机、基准读写器、待测标签和测试设备，如图22所示。包含内置天线的标签需要提供天线接口或者耦合设备（如测试天线），用来连接测试设备。如果待测标签未提供天线接口则应通过测试天线测试，通过测试天线测试的测试装置连接见图23。其中测试设备包括射频接收机（具备解调器功能的测试天线）和通用测试设备（见8.3.3）。控制计算机和基准读写器应可设置和驱动标签所有的动作和状态转换。基准读写器见8.3.2.2。标签测试装置通过测试天线测试的测试装置连接基准读写器基准读写器是一种能够驱动标签实现《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中规定的所有功能的读写器。能够支持所有必选命令和可选命令，除无需返回响应的情况外，应按照《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中规定识别所有出错代码。基准读写器的接收-发送转换时间和发送-接收转换时间应满足《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》规定的要求。基准读写器的发射功率应符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中读写器最大发射功率的要求。通用测试设备频谱分析仪频谱分析仪应具备数字解调、矢量信号分析、触发功能。频谱分析仪的频率范围应为1Hz-6GHz，实时带宽应大于15MHz，动态范围应不小于70dBc，分辨率带宽应为1Hz～5MHz，显示的平均噪声电平应不大于-140dBm/Hz。调制分析仪调制分析仪应具有分析信号中心频率和频偏的能力。矢量信号发生器矢量信号发生器的电平分辨率至少为0.1dB，寄生谐波小于－30dB，AM深度支持0%～100%；AM分辨率至少为0.1%，AM畸变应小于2%，AM平坦度小于0.3dB，频率准确度应达到0.01Hz，VSWR应小于1.5:1。能够产生《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中工作频率范围要求信号。在测试标签时，测试信号电平应在待测标签的接收范围之内，输入电平由标签生产厂商规定，并且记录在测试报告中。逻辑分析仪逻辑分析仪应具备存储的功能，采样率不小于100M/s，分辨率不小于8位。读写器符合性测试读写器工作频率和工作频率准确度测试目的验证读写器至标签链路参数Int:1工作频率和Int:1c工作频率准确度是否符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中14.1.1的要求。测试步骤读写器工作频率和工作频率准确度测试步骤如下：在Int:1工作频率范围内设定某一频率作为待测读写器的工作频率，记录该频率为工作频率期望值；待测读写器发送一个接入帧起始命令；测试读写器发送信号的中心频率，记录该频率为工作频率测试值；计算测试值和期望值之间的差与期望值的比值，即工作频率准确度。测试结果评定读写器的工作频率测试值应在《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中14.1.1规定的读写器至标签链路参数Int:1的范围内，工作频率准确度应符合Int:1c的要求。测试报告测试报告应记录待测读写器的工作频率期望值、工作频率测试值以及工作频率准确度，并应说明工作频率和工作频率准确度符合/不符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》要求。读写器最小接收机带宽测试目的验证读写器至标签链路参数Int:2a最小接收机带宽是否符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中14.1.1的要求。测试步骤读写器最小接收机带宽测试步骤如下：设置待测读写器为《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中Int:1a默认工作频率，如表16所示设置读写器命令参数；设置基准标签响应命令的码片速率为2Mcps，信号带宽为2MHz；待测读写器发送唤醒命令，使基准标签转换到就绪状态；待测读写器发送一个接入帧起始命令，使基准标签转换到仲裁状态；待测读写器发送一个接入时隙起始命令，基准标签在收到读写器命令后返回一个8位随机数；验证待测读写器收到随机数后，发送接入成功确认命令；频谱分析仪在工作频率±2.5MHz范围内测试基准标签的返回信号；控制待测读写器工作在0～15信道内（工作频率为2405.00MHz±2.5×cnMHz范围内，cn=0～15），重复步骤b)至g)。读写器命令参数序号射频参数协议设置(命令)接入帧起始接入时隙起始接入成功确认1发射功率:最大发射功率Q:：00hSNslot：00hSNsuccess：0000h2频率(MHz):默认工作频率N:：01h—RN8：标签收到接入时隙起始命令后返回的8位随机数测试结果评定读写器应符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中14.1.1读写器至标签链路参数Int:2a最小接收机带宽的要求，并应在《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中5.1规定的所有频段范围内读写器和标签都能够正常通信。测试报告测试报告应记录待测读写器的码片速率、工作频率、调制方式、基准标签返回的码片速率，并应说明最小接收机带宽符合/不符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》要求。读写器转换时间测试目的验证读写器至标签链路参数Int:6a发送-接收转换时间和Int:6b接收-发送转换时间是否符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中14.1.1的要求。测试步骤读写器转换时间测试步骤如下：将待测读写器设置Int:3读写器最大发射功率，如表16所示设置读写器命令参数；待测读写器发送唤醒命令，使基准标签转换到就绪状态；待测读写器发送一个接入帧起始命令，使基准标签转换到仲裁状态；待测读写器发送一个接入时隙起始命令，基准标签在收到读写器命令最后一位后，等待100µs，返回8位随机数；验证待测读写器成功接收标签返回数据，是否随后发送接入成功确认命令；使用调制分析仪采集解调后功率-时间的曲线；曲线中信号电平变化幅度在10%～90%之间，参考电平规定在信号电平的50%处，时间间隔的开始和结束时间应以参考电平对应的时间为准，如图24所示；测试待测读写器接入时隙起始命令最后一位结束到基准标签返回8位随机数首位开始的时间间隔；测试基准标签返回8位随机数的最后一位结束到读写器接入成功确认命令首位开始的时间间隔。参考电平的信号示例测试结果评定待测读写器应发送接入成功确认命令；8.4.3.2中h）测试得到的时间间隔应等于《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中读写器至标签链路参数Int：6a发送-接收转换时间要求的最大值；8.4.3.2中i)测试得到时间间隔应符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中读写器至标签链路参数Int：6b接收-发送转换时间的要求。测试报告测试报告应说明发送-接收转换时间和接收-发送转换时间符合/不符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》要求，并应记录待测读写器的发射功率、测试的两种时间间隔。读写器调制方式测试目的验证读写器至标签链路参数Int:7调制方式和Int:10读写器发送调制准确度是否符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中14.1.1的要求。测试步骤读写器调制方式测试步骤如下：设置待测读写器为Int:3读写器最大发射功率，如表16所示设置读写器命令参数；设置待测读写器以Int:7中规定的O-QPSK调制发送命令；驱动待测读写器发送一个接入帧起始命令；驱动待测读写器发送一个接入时隙起始命令；使用调制分析仪，测试基准标签能否正确响应经读写器调制后的命令；使用频谱分析仪，分析读写器命令并测试Int:10规定的读写器发送调制准确度；如果待测读写器支持DBPSK调制方式，则设置待测读写器以Int:7中规定DBPSK调制发送命令，重复步骤c)至f）。测试结果评定待测读写器调制方式应符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中14.1.1读写器至标签链路参数Int:7调制方式的要求，能够与基准标签正确通信；读写器发送调制准确度应符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中14.1.1读写器至标签链路参数Int:10的要求。测试报告测试报告应记录待测读写器的发射功率、调制方式、发送读写器命令的所有参数，并应说明读写器调制方式和读写器发送调制准确度符合/不符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》要求。读写器扩频序列测试目的验证读写器至标签链路参数Int:7a扩频序列、Int:7b码片速率和Int:7c码片速率准确度是否符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中14.1.1的要求。测试步骤读写器扩频序列测试步骤如下：设置待测读写器为Int:3读写器最大发射功率；控制计算机驱动待测读写器发送就绪命令,设置码片速率为2Mcps，即码片速率的期望值；使用调制分析仪分析验证解调后信号的扩频序列映射；使用逻辑分析仪分析测试码片速率，即码片速率的测试值；测试得到的信号电平变化幅度在10%～90%之间，参考电平规定在信号电平的50%处，码片宽度的开始和结束时间应以参考电平对应的时间为准，如图24所示；计算测试值和期望值之间的差与期望值的比值，即码片速率准确度。如果读写器采用O-QPSK调制方式，扩频序列映射见《XXXX第Z部分：2.45GHz参数》中5.3.1表1。如果读写器采用DBPSK调制方式，扩频序列映射见G《XXXX第Z部分：2.45GHz参数》中5.3.3表2。测试结果评定采用O-QPSK调制方式的待测读写器的扩频序列映射应符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中5.3.1表1的要求；采用DBPSK调制方式的待测读写器的扩频序列映射应符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中5.3.3表2的要求。待测读写器应支持《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中14.1.1规定的读写器至标签链路参数Int:7b码片速率。测试的码片速率准确度应符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中14.1.1规定的读写器至标签链路参数Int:7c码片速率准确度的要求。测试报告测试报告应记录待测读写器的发射功率、调制方式、码片速率期望值、码片速率测试值、测试得到的码片速率准确度以及就绪命令的所有命令参数，并应说明待测读写器扩频序列、码片速率以及码片速率准确度符合/不符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》要求。读写器位速率测试目的验证读写器至标签链路参数Int:9位速率和Int:9a位速率准确度是否符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中14.1.1的要求。测试步骤读写器位速率测试步骤如下：设置待测读写器为Int:3读写器最大发射功率；设置待测读写器的调制方式为Int:7规定的必选调制方式O-QPSK，码片速率为2Mcps,扩频序列长度为32位，计算此时的位速率，即位速率期望值；将待测读写器ID设置为16个‘1’，即“1111111111111111”控制计算机驱动待测读写器发送一个点对点的休眠命令，或者一个ID为64个‘1’读写器测试装置的工作频率和接收机带宽设置为《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中14.1.2标签至读写器链路参数Tag:1和Tag:16中规定的参数，并对采集到的待测读写器信号进行解调；通过逻辑分析仪测试位速率，即位速率的测试值；测试得到的信号电平变化幅度在10%～90%之间，参考电平规定在信号电平的50%处，位宽度的开始和结束时间应以参考电平对应的时间为准，如图24所示；计算测试值和期望值之间的差与期望值的比值，即位速率准确度；如果待测读写器支持DBPSK调制，则设置待测读写器调制方式为DBPSK，码片速率为2Mcps,扩频序列长度为32位，计算此时的位速率，即位速率期望值，重复步骤c)至h)。测试结果评定待测读写器应支持《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中14.1.1规定的读写器至标签链路参数Int:9位速率。测试的位速率准确度应符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中14.1.1规定的读写器至标签链路参数Int:9a位速率准确度的要求。测试报告测试报告应记录待测读写器的发射功率、调制方式、发送的命令或标签ID、读写器测试装置的接收机带宽和工作频率、待测读写器位速率期望值、位速率测试值、测试得到的位速率准确度，并应说明待测读写器位速率以及位速率准确度符合/不符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》要求。读写器前导码和帧同步序列测试目的验证读写器至标签链路参数Int:11前导码和Int:11d帧同步序列是否符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中14.1.1的要求。测试步骤读写器前导码和帧同步序列测试步骤如下：设置待测读写器为Int:3读写器最大发射功率,码片速率为2Mcps；驱动待测读写器发送就绪命令；读写器测试装置的工作频率和接收机带宽设置为《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中14.1.2标签至读写器链路参数Tag:1和Tag:16中规定的参数，并对采集到的待测读写器信号进行解调；通过逻辑分析仪验证前导码和帧同步序列的结构；测试得到的信号电平变化幅度在10%～90%之间，参考电平规定在信号电平的50%处，前导码和帧同步序列的开始和结束时间应以参考电平对应的时间为准，如图24所示。测试结果评定前导码应符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中6.2的要求；帧同步序列应符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中6.3的要求。测试报告测试报告应记录待测读写器的发射功率、调制方式以及就绪命令的所有命令参数。测试报告应说明待测读写器前导码和帧同步序列符合/不符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》要求。读写器命令测试目的验证读写器是否支持《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中9.2规定的所有必选命令。测试步骤读写器命令测试步骤如下：设置待测读写器为Int:3读写器最大发射功率，并在指定的标签状态下发送待验证的测试命令；观测命令发送后，基准标签在《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中规定的标签响应时间内能否正确返回命令或者能否正确转换所处的状态；验证基准标签返回的命令格式或者所处的状态是否符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中基准标签命令格式或者所处状态的要求。测试结果评定待测读写器应支持《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中9.2规定的所有必选命令，并且能够接收到基准标签的响应。测试报告测试报告应给出待测读写器的发射功率、调制方式、支持的命令的名称及所属的类型，并应说明待测读写器支持的命令符合/不符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》要求。读写器的标签防碰撞管理测试目的验证待测读写器防碰撞管理是否符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中第11章的要求。测试步骤读写器的标签防碰撞管理测试步骤如下：在待测读写器支持的频率和调制类型下，设置待测读写器为Int:3读写器最大发射功率；将至少100个基准标签按照图25所示的方式进行排列，标签中心点间隔200mm。读写器放置于能够与所有标签进行通信的位置；使用读写器自定义防碰撞处理流程和防碰撞算法参数，对所有基准标签进行识读；记录待测读写器发送首个命令到盘点结束所用的时间；记录待测读写器在判断盘点结束后，识读到的标签个数。基准标签排列方式测试结果评定若待测读写器成功识读至少100个基准标签，则支持《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》标签防碰撞管理功能。测试报告测试报告应记录待测读写器发射功率、调制方式、防碰撞处理流程、防碰撞算法参数和基准标签数目和排列方式；若未成功识读所有标签，则记录识读的基准标签个数。标签符合性测试标签工作频率和工作频率准确度测试目的验证标签至读写器链路参数Tag:1工作频率和Tag:1c工作频率准确度是否符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中14.1.2的要求。测试步骤标签工作频率和工作频率准确度测试步骤如下：记录待测标签的工作频率标称值；基准读写器向待测标签EF文件写入适当的N字节数据（写入字节数不应超过标签EF文件数据容量）；基准读写器驱动待测标签处于会话状态，等待基准读写器命令；基准读写器向待测标签发送一个读记录文件命令，标签以预先存储好的数据响应；通过调制分析仪对标签响应进行分析，确定工作频率，即工作频率的测量值；计算测试值和标称值之间的差与标称值的比值，即工作频率准确度。测试结果评定测试得到的工作频率应符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中14.1.2Tag:1的要求；工作频率准确度应符合Tag:1c的要求。测试报告测试报告应记录待测标签工作频率的标称值、工作频率的测试值、工作频率的准确度、存储的N字节数据内容，并应说明工作频率和工作频率准确度符合/不符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》要求。标签转换时间测试目的验证待测标签至读写器链路参数Tag：6a发送-接收转换时间和Tag:6b接收-发送转换时间是否符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中14.1.2的要求。测试步骤标签转换时间测试步骤如下：将基准读写器设置为Int:3读写器最大发射功率，如表1所示设置基准读写器命令参数；基准读写器发送接入帧起始命令，使待测标签转换到仲裁状态；基准读写器发送接入时隙起始命令，验证待测标签是否返回8位随机数；基准读写器收到最后一位返回的数据后，等待100µs，发送接入成功确认命令，验证待测标签是否返回新的8位随机数；使用调制分析仪采集解调后功率-时间曲线；曲线中信号电平变化幅度在10%～90%之间，参考电平规定在信号电平的50%处，时间间隔的开始和结束时间应以参考电平对应的时间为准，如图24所示；测试步骤c）中待测标签返回的8位随机数最后一位结束到基准读写器发送接入成功确认命令首位开始的时间间隔；测试基准读写器接入成功确认命令最后一位结束到待测标签返回新的8位随机数首位开始的时间间隔。测试结果评定待测标签应在收到接入成功确认命令后返回新的8位随机数；7.5.2.2中g)测得的时间间隔应等于《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》规定的标签至读写器链路参数Tag:6a要求的最大值；8.5.2.2中h)测得的时间间隔应符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》规定的标签至读写器链路参数Tag:6b的要求。测试报告测试报告应记录基准读写器的发射功率、待测标签测量得到的两种时间间隔，并应说明发送-接收转换时间和接收-发送转换时间符合/不符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》要求。标签调制方式测试目的验证标签至读写器链路参数Tag:7调制方式和Tag:10标签发送调制准确度是否符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中14.1.2的要求。测试步骤标签调制方式测试步骤如下：基准读写器向待测标签的用户内存写入适当的N字节数据；基准读写器驱动待测标签处于会话状态，等待读写器命令；基准读写器以待测标签支持的调制方式向待测标签发送一个文件访问命令，标签以预先存储好的数据响应；通过调制分析仪对标签响应进行分析，确定标签能够与读写器正确通信；通过频谱分析仪对标签响应进行分析，确定标签发送调制准确度。测试结果评定待测标签应能正确调制数据，并能正确返回响应数据。调制方式应符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》标签至读写器链路参数Tag:7的要求；发送调制准确度应符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中14.1.2标签至读写器链路参数Tag:10的要求。测试报告测试报告应记录基准读写器的发射功率、文件访问命令的所有参数、待测标签的调制方式和存储的N字节数据内容，并应说明待测标签调制方式符合/不符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》要求。标签扩频序列测试目的验证标签至读写器链路参数Tag:7a扩频序列、Tag:7b码片速率和Tag:7c码片速率准确度是否符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中14.1.2的要求。测试步骤标签扩频序列测试步骤如下：基准读写器向待测标签的用户内存写入适当的N字节数据；基准读写器应驱动待测标签处于会话状态，等待读写器命令；基准读写器以待测标签支持的调制方式向待测标签发送一个文件访问命令，标签以预先存储好的数据响应；使用调制分析仪分析验证解调后信号的扩频序列映射；使用逻辑分析仪测试码片速率，即码片速率的测试值；测试得到的信号电平变化幅度在10%～90%之间，参考电平规定在信号电平的50%处，码片宽度的开始和结束时间应以参考电平对应的时间为准，如图24所示；计算测试值和期望值之间的差与期望值的比值，即码片速率准确度。测试结果评定采用O-QPSK调制方式的待测标签的扩频序列映射应符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中5.3.1表1中规定的要求；采用DBPSK调制方式的待测标签的扩频序列映射应符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中5.3.3表2中规定的要求。待测标签应支持《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中14.1.2规定的标签至读写器链路参数Tag:7b码片速率。测试的码片速率准确度应符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中14.1.2规定的标签至读写器链路参数Tag:7c码片速率准确度的要求。测试报告测试报告应记录基准读写器的发射功率、文件访问命令的所有命令参数、待测标签的调制方式、码片速率期望值、码片速率测试值、测试得到的码片速率准确度和N字节数据内容，并应说明待测标签扩频序列、码片速率以及码片速率准确度符合/不符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》要求。标签位速率测试目的验证标签至读写器链路参数Tag:9位速率和Tag:9a位速率准确度是否符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中14.1.2的要求。测试步骤标签位速率测试步骤如下：基准读写器向待测标签的用户内存写入适当的N字节数据,记录标签位速率，即位速率期望值；基准读写器驱动待测标签处于会话状态，等待读写器命令；基准读写器向待测标签发送一个文件访问命令，标签以预先存储好的数据响应；标签测试装置的工作频率和接收机带宽设置为《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中读写器至标签链路参数Int:1和Int:2a中规定的参数，并对采集到的待测标签信号进行解调；通过逻辑分析仪测试位速率，即位速率的测试值；得到的信号电平变化幅度在10%～90%之间，参考电平规定在信号电平的50%处，位宽度的开始和结束时间应以参考电平对应的时间为准，如图24所示；计算测试值和期望值之间的差与期望值的比值，即位速率准确度。测试结果评定待测标签应支持《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中14.1.2规定的标签至读写器链路参数Tag:9位速率。测试的位速率准确度应符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中14.1.2规定的标签至读写器链路参数Tag:9a位速率准确度的要求。测试报告测试报告应记录基准读写器的发射功率、调制方式、文件访问命令所有参数、标签测试装置接收机带宽和工作频率、待测标签位速率期望值、位速率测试值、测试得到的位速率准确度，并应说明待测标签位速率以及位速率准确度符合/不符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》要求。标签前导码和帧同步序列测试目的验证标签至读写器链路参数Tag:11前导码和Tag:11d帧同步序列是否符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中14.1.2的要求。测试步骤标签前导码和帧同步序列测试步骤如下：基准读写器向待测标签的用户内存写入适当N字节的数据；基准读写器驱动待测标签处于会话状态，等待读写器命令；基准读写器向待测标签发送一个文件访问命令，标签以预先存储好的数据响应；通过调制分析仪对标签响应进行分析，确定前导码和帧同步序列的结构；测试得到的信号电平变化幅度在10%～90%之间，参考电平规定在信号电平的50%处，前导码和帧同步序列的开始和结束时间应以参考电平对应的时间为准，如图24所示。测试结果评定前导码应符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中6.2的要求；帧同步序列应符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中6.3的要求。测试报告测试报告应记录基准读写器的发射功率、调制方式、文件访问命令的所有命令参数和存储的N字节数据内容，并应说明待测标签前导码和帧同步序列符合/不符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》要求。标签命令测试目的验证标签是否能够识别《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中9.2规定的所有必选命令，并正确响应。测试步骤标签命令测试步骤如下：将基准读写器设置为Int:3读写器最大发射功率；基准读写器在指定的标签状态下发送待验证的测试命令；基准读写器等待待测标签返回数据；命令发送后，记录待测标签响应的数据。测试结果评定待测标签应能正确响应《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》规定的所有必选命令。测试报告测试报告应给出基准读写器发射功率、工作频率、调制方式、标签支持的命令的名称及所属的类型，并应说明待测标签支持的命令符合/不符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》要求。标签状态转换测试目的验证标签状态转换是否符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中第8章的要求。测试步骤标签状态转换测试步骤如下：基准读写器驱动标签处于休眠状态，之后发送唤醒信号，使待测标签进入侦听状态；基准读写器向处于侦听状态的标签发送就绪命令，待测标签应进入就绪状态并不返回响应；基准读写器向处于就绪状态的标签发送接入帧起始命令，待测标签应进入仲裁状态；基准读写器向处于仲裁状态的标签发送接入时隙起始命令，待测标签应返回8位随机数，基准读写器发送成功确认命令，待测标签返回新8位随机数并应进入收集状态；基准读写器向处于收集状态的待测标签发送收集期起始命令，待测标签应在相应的时隙返回文件标识符所指定的内容，读写器发送收集成功确认命令，待测标签应进入会话状态；基准读写器向处于会话状态的待测标签发送休眠命令，待测标签应进入休眠状态。测试结果评定若待测标签实现表38所示所有状态的正确转换，则测试通过。标签状态转换表状态à下一状态矢量信号发生器命令或信号通信方向待测标签应答休眠à侦听唤醒信号àß无侦听à就绪就绪命令àß无就绪à仲裁接入帧起始命令àß无仲裁à收集接入时隙起始命令àß返回8位随机数接入成功确认命令àß返回新8位随机数收集à会话收集期起始命令àß返回文件标识符指定的内容收集成功确认命令àß无会话à休眠休眠命令àß无测试报告测试报告应记录基准读写器的发射功率、工作频率和调制方式等发送命令时的所有命令参数和通信参数，并应说明待测标签状态转移符合/不符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》要求。标签防碰撞测试目的验证标签是否符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》规定的状态转换要求，实现多标签的识读。测试步骤标签防碰撞测试步骤如下：将至少100个待测标签按图26的所示方式进行排列，标签中心点间隔200mm；设置基准读写器为发射最大功率；读写器放置于能够与所有标签进行通信的位置；基准读写器依据《XXXX第Z部分：2.45GHz参数》中第11章的防碰撞管理方法和附录D的防碰撞算法典型值对标签防碰撞进行测试，对所有待测标签进行识读；确认基准读写器是否成功识读所有待测标签；记录基准读写器发送首个命令到盘点结束所用的时间；记录基准读写器在判断盘点结束后，识读到的标签个数；将至少50个待测标签和至少50个基准标签按图22所示方式进行排列，待测标签和基准标签交叉放置，标签中心点间隔200mm；重复步骤b)至f)。待测标签排列方式测试结果评定若基准读写器可分别成功识读两种排列方式的所有标签，则待测标签符合《XXXX第Z部分：2.45GHZ参数》中防碰撞要求。测试报告测试报告应记录读写器防碰撞处理流程以及防碰撞算法参数、识读时间、读写器功率、待测标签数目、基准标签数目和标签排列方式；若待测标签未被成功识读，分别记录识读到的待测标签个数和基准标签个数。待测标签和基准标签排列方式

（规范性附录）

测试PCD天线包括了阻抗匹配网络的测试PCD天线布局阻抗匹配网络的测试PCD天线布局如图A.1所示。单位为毫米（mm）（绘图未按比例）天线线圈印制线宽度为1.8mm（除过孔）。从阻抗匹配网络开始，每隔45有交迭。PCB：1.6mm厚的FR4材料，双面35m包括阻抗匹配网的测试PCD天线版图（正面视图）阻抗匹配网络布局可采取其他形式。天线版图（背面视图）阻抗匹配网络天线阻抗与信号发生器输出阻抗（50）通过匹配电路来适配（见图A.3）。电容器C1，C2和C3均有固定的值。输入阻抗相位可使用可变电容器C4来调整。应保证最大电压和最大功耗在各元器件的规定范围内。线性低失真可调50Ω功率驱动器应能够发出适宜的信号序列。调制度应在10%-30%和95%-100%的范围内。调节输出功率使场强达到150mA/m-12A/m。当超过上限5A/m，则应注意其操作。调节C4使其输出电阻为（505），相角为（05）0。元器件表给出了主要元器件的典型值，为达到更精确的效果可以对其进行微调。阻抗匹配网络

（资料性附录）

测试PCD天线调谐图B.1和图B.2示出了相位调谐规程的步骤，以匹配天线阻抗与驱动发生器阻抗。调谐后的信号发生器将直接连接到天线用于测试。步骤1：把高精度50电阻器（例如，50BNC电阻器）插入信号发生器输出和天线连接器之间的信号线上。把示波器的两探针连接到此串联参考电阻器两端，设置为X-Y扫描时,则示波器显示李萨茹图(Lissajousfigure)。把信号发生器置为：波形：正弦；频率：13.56MHz；幅度：2V（rms）5V（rms）。输出采用另外一个50的高精度电阻器。并联连接到输出端的探针应该具有很小的寄生电容Cprobe。当Ccal=Cprobe，与参考电阻器并联的校准电容器Ccal补偿了探针电容。当李萨茹图完全闭合时，则探针电容得到补偿。校准装置（步骤1）探针必须靠近地线，以避免磁场所引起的感应电压。步骤2：把匹配电路连接到天线输出。在天线板上的电容器C4用来将相位调谐到0。校准装置（步骤2）

（规范性附录）

传感线圈传感线圈版图传感线圈的版图如图C.1所示。尺寸为毫米（mm）（绘图未按比例）印制线宽度0.5mm，相对容差20%（除过孔）。线圈的尺寸系指外尺寸。PCB：1.6mm厚的FR4材料，双面35传感线圈版图传感线圈组件传感线圈组件如图C.2所示。传感线圈组件

（规范性附录）

用于PCD功率测试的参考PICC参考PICC的电路图如图D.1所示，表D.1示出了图D.1中D1,D2,D3,D4的基本特性。元器件清单：参考PICC的电路图元器件表给出了R1和R2的典型值，为达到更精确的效果可以对其进行微调（见8.1.2）。D1,D2,D3,D4的基本特性

（资料性附录）

用于负载调制测试的参考PICC用于负载调制测试的参考PICC电路如图E.1所示。为了要求的仿真可调整下列元器件：元器件清单：用于负载调制测试的参考PICC电路图

（资料性附录）

频谱评价程序下面给出一个用C语言编写的频谱计算程序示例：/***************************************************************//***Thisprogramcalculatesthefouriercoefficients***//***ofloadmodulatedvoltageofaPICCaccording***//***theISO/IEC10373-7Testmethods.***//***Thecoefficientarecalculatedforthefrequency***//***Carrier:13.5600MHz***//***Subcarrier:423.75kHz/484.286kHz***//***see#defineN_FSUB:3228***//***Uppersideband:13.9838MHz/14.0443MHz***//***Lowersideband:13.1363MHz/13.0757MHz***//***************************************************************//***Input:***//***FileinCSVFormatcontainingatableoftwo***//***columns(timeandtestPCDoutputvoltagevd,clause7)***//******//***dataformatofinput-file:***//******//***-onedata-pointperline:***//***{time[seconds],sense-coil-voltage[volts])***//***-contentsinASCII,noheaders***//***-data-pointsshallbeequidistanttime***//***-minimumsamplingrate:100MSamples/second***//***-modulationwaveformcentred***//***(max.tolerance:halfofsubcarriercycle)***//******//***"screen-shotofcentredmodulation-waveform***//***with8subcarriercycles":***//******//***XXXXXXXXXXxxxxxxxxxxxxxxxxXXXXXXXXXX***//***XXXXXXXXXXxxxxxxxxxxxxxxxxXXXXXXXXXX***//***XXXXXXXXXXxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxXXXXXXXXXX***//***XXXXXXXXXXxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxXXXXXXXXXX***//***XXXXXXXXXXxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxXXXXXXXXXX***//***XXXXXXXXXXxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxXXXXXXXXXX***//***XXXXXXXXXXxxxxxxxxxxxxxxxxXXXXXXXXXX***//***XXXXXXXXXXxxxxxxxxxxxxxxxxXXXXXXXXXX***//***|cc|***//***exampleforspreadsheetfile(startinnextline):***//***(time)(voltage)***//***3.00000e-06,1.00***//***3.00200e-06,1.01***//******//***************************************************************//***RUN:Modtst7[filename1[.csv]...filename[.csv]]***//***************************************************************/#include<stdio.h>#include<conio.h>#include<string.h>#include<math.h>#defineMAX_SAMPLES5000#defineN_FSUB32.0F/*sidebands:13.9838MHz/13.1363MHz*//*#defineN_FSUB28.0F/*sidebands:14.0443MHz/13.0757MHz*/floatpi;/*pi=3.14*//*Arrayfortimeandsensecoilvoltagevd*/floatvtime[MAX_SAMPLES];/*timearray*/floatvd[MAX_SAMPLES];/*Arrayfordifferentcoilvoltage*//***************************************************************//***ReadCSVFileFunction***//******//***Description:***//***Thisfunctionreadsthetableoftimeandsensecoil***//***voltagefromaFileinCSVFormat***//******//***Input:filename***//******//***Return:Numberofsamples(sampleCount)***//***0ifanerroroccurred***//******//***DisplaysStatistics:***//******//***Filename,SampleCount,Samplerate,Max/MinVoltage***//***************************************************************/intreadcsv(char*fname){floata,b;floatmax_vd,min_vd;inti;FILE*sample_file;/************OpenFile***********************************/if(!strchr(fname,'.'))strcat(fname,".csv");if((sample_file=fopen(fname,"r"))==NULL){printf("Cannotopeninputfile%s.\n",fname);return0;}/**********************************************************//*ReadCSVFile*//**********************************************************/max_vd=-1e-9F;min_vd=-max_vd;i=0;while(!feof(sample_file)){if(i>=MAX_SAMPLES){printf("Warning:Filetruncated!!!\n");printf("Tomuchsamplesinfile%s\b\n",fname);break;}fscanf(sample_file,"%f,%f\n",&a,&b);vtime[i]=a;vd[i]=b;if(vd[i]>max_vd)max_vd=vd[i];if(vd[i]<min_vd)min_vd=vd[i];i++;}fclose(sample_file);/************DisplaysStatistics************************/printf("\n***********************************************\n");printf("\nStatistics:\n");printf("Filename:%s\n",fname);printf("Samplecount:%d\n",i);printf("Samplerate:%1.0fMHz\n",1e-6/(vtime[1]-vtime[0]));printf("Max(vd):%4.0fmV\n",max_vd*1000);printf("Min(vd):%4.0fmV\n",min_vd*1000);returni;}/****************EndReadCsv***************//***************************************************************//***DFT:DiscreteFourierTransform***//***************************************************************//***Description:***//***ThisfunctioncalculatetheFouriercoefficient***//******//***Input:Numberofsamples***//***GlobalVariables:***//******//***DisplaysResults:***//******//***Carriercoefficient***//***Uppersidebandcoefficient***//***Lowersidebandcoefficient***//******//***************************************************************/voiddft(intcount){floatc0_real,c0_imag,c0_abs,c0_phase;floatc1_real,c1_imag,c1_abs,c1_phase;floatc2_real,c2_imag,c2_abs,c2_phase;intN_data,center,start,end;floatw0,wu,wl;inti;w0=(float)(13.56e6*2.0)*pi;/*carrier13.56MHz*/wu=(float)(1.0+1.0/N_FSUB)*w0;/*uppersideband13.98MHz*/wl=(float)(1.0-1.0/N_FSUB)*w0;/*lowersideband13.14MHz*/c0_real=0;/*realpartofthecarrierfouriercoefficient*/c0_imag=0;/*imagpartofthecarrierfouriercoefficient*/c1_real=0;/*realpartoftheup.sidebandfouriercoefficient*/c1_imag=0;/*imagpartoftheup.sidebandfouriercoefficient*/c2_real=0;/*realpartofthelo.sidebandfouriercoefficient*/c2_imag=0;/*imagpartofthelo.sidebandfouriercoefficient*/center=(count+1)/2;/*centeraddress*//**********signalselection******************************//*Numberofsamplesfortwosubcarrierperiods*/N_data=(int)(0.5+2.0*N_FSUB/(vtime[2]-vtime[1])/13.56e6F);/*Note:(vtime[2]-vtime[1])arethescopesamplerate*/start=center-(int)(N_data/2.0+0.5);end=start+N_data-1;/*******************DFT********************************/for(i=start;i<=end;i++){c0_real=c0_real+vd[i]*(float)cos(w0*vtime[i]);c0_imag=c0_imag+vd[i]*(float)sin(w0*vtime[i]);c1_real=c1_real+vd[i]*(float)cos(wu*vtime[i]);c1_imag=c1_imag+vd[i]*(float)sin(wu*vtime[i]);c2_real=c2_real+vd[i]*(float)cos(wl*vtime[i]);c2_imag=c2_imag+vd[i]*(float)sin(wl*vtime[i]);}/*******************DFTscale***************************/c0_real=2.0F*c0_real/(float)(N_data);c0_imag=2.0F*c0_imag/(float)(N_data);c1_real=2.0F*c1_real/(float)(N_data);c1_imag=2.0F*c1_imag/(float)(N_data);c2_real=2.0F*c2_real/(float)(N_data);c2_imag=2.0F*c2_imag/(float)(N_data);/****************absolutefouriercoefficient**********/c0_abs=(float)sqrt(c0_real*c0_real+c0_imag*c0_imag);c1_abs=(float)sqrt(c1_real*c1_real+c1_imag*c1_imag);c2_abs=(float)sqrt(c2_real*c2_real+c2_imag*c2_imag);/**************Phaseoffouriercoefficient**********/c0_phase=(float)atan2(c0_imag,c0_real);c1_phase=(float)atan2(c1_imag,c1_real);c2_phase=(float)atan2(c2_imag,c2_real);/**************ResultDisplay**************************/printf("\n\nResults:\n");printf("Carrier");printf("Abs:%7.3fmV",1000*c0_abs);printf("Phase:%3.0fdeg\n",c0_phase/pi*180);printf("Uppersideband");printf("Abs:%7.3fmV",1000*c1_abs);printf("Phase:%3.0fdeg\n",c1_phase/pi*180);printf("Lowersideband");printf("Abs:%7.3fmV",1000*c2_abs);printf("Phase:%3.0fdeg\n\n",c2_phase/pi*180);printf("\n***********************************************\n");return;}/****************EndDFT***************//***************************************************************//***MAINLOOP***//***************************************************************/intmain(unsignedshortparamCount,char*paramList[]){charfname[256];unsignedinti,sample_count;pi=(float)atan(1)*4;/*calculatepi*/printf("\n***********************************************\n");printf("\n****ISO/IEC10373-7PICCTest-Program****\n");printf("\n****Version:1.1JUL2000****\n");printf("\n***********************************************\n");/*************NoInputParameter*****************/if(paramCo