SJ∕T 11702-2018 半导体集成电路串行外设接口测试方法

2018-02-09发布2018-04-01实施I本标准由全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会(SAC/TC78/SC2)归口。1半导体集成电路串行外设接口测试方法2规范性引用文件凡是不注日期的引文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文3术语和定义下列木语和定长适用于文串行外设接口serialperipheralinterflec(SP器件间总线快议，实现芯由一个主机驱动同步村钟，选择对应的a)数据输入(SDI):的设备输出数据，输入从设备，完成数据传输c)时钟(SCLK):由主设备产生，提供时钟脉的信号；第2部分：数学翼成电路4.1SPI总线协议2SJ/T11702—20184.2SPI传输时序SCLKlUULUUUUUUSDI_D75DsD4国的回004.3测试设备4.4测试环境b)相对湿度：20%～80%;5直流特性电参数5.1.1直接测量法(静态法)3ss注：图中的TCO-TC3为测试设备提供的数字测试通道，DPS为测试设备给被测器件供电的电源。图2测试电路图5.1.1.3测试程序测试程序如下：引脚的输出高电平。,可以先通过SRI接口向被测器件写入0xfn然质从被测器件的SPI接口引即施娜拉电流指定的电流，然后读取PMU的电压即为VoH;的PMU在SDO引脚施加(灌电流)定的越流，然后汤取PMU的电压即为。5.1.2比较验证法(动态法)5.1.2.2测试电路图逻辑高低(H/L)电平的值。4SJ/T11702—20185.1.2.4测试条件a)环境温度；b)测试向量和测试顺序；c)电源电压；d)输入电压；e)输出电流。通过测试获取规定条件下SPI接口的三个(Cs、SCLK、SDI)输入PIN的输入高电平电流和输入低5.2.2测试电路图5.2.3测试程序向SPI接口的三个输入口(Cs、SCLK、SDI)施加指定的高低电压。5.2.4测试条件a)环境温度；c)输入电压。5.3.2测试电路图5.3.3测试程序5SJ/T11702—2018b)为了测试SPI接口的SDO引脚的输出高电平时的输出电流IoH,可以先通过SPI接口向被测器件写入0xff,然后再从SPI接口读出，在读的时候SDO引脚会输出逻辑高电平，此时利用ATE的PMU在SDO引脚施加指定的电压，然后读取PMU的电流即为IoH。5.3.4测试条件相关文件应规定下列条件：a)环境温度；b)电源电压；c)输入电压；d)被测输出端施加的电压。通过测试获取输入端在施加规定的条件使输出为低电平时，输出端流入器件的电流。5.4.2测试电路图测试电路图见图2。5.4.3测试程序测试程序如下：协议输出向量到被测器件。b)为了测试SPI接口的SDO引脚的输出低电平时的输出电流JoL,可以先通过SPI接口向被测器件写入0x00,然后再通过SPI接口读出，在读的时候SDO引脚会输出逻辑低电平，此时利用ATE的PMU在SDO引脚施加指定的电压，然后读取PMU的电流即为IoL。5.4.4测试条件相关文件应规定下列条件：a)环境温度；b)电源电压；c)输入电压；d)被测输出端施加的电压。5.5输入高电平电压(Vn)、输入低电平电压(M)通过测试获取被测器件SPI接口功能正常时输入端所施加的最小输入高电平电压(Vm)和最大输入低5.5.2测试电路图测试电路图见图2。6d)在写读功能正常的情况下按4距增加具的值增加一个AV₁的值之后ATE就进行一遍对输入低电平电压)的值为Vio-△V。不应低子ATE对应原的分辨率的条件限制。也可以将最的入高电平电玉面置为测试规范指定的最小面最大的辅低电平电压(Yn)设置为测试规范制指最大值，然后AE被测器件进行写读功能测试5.5.4测试条所a)环境温b)电源电压c)输入电压SDO脚处于高阻状态时到被测器件电源(的阻抗。ozn测试的是SDO脚处于高阻状态时Ion到被测器件的接地(GND)的阻抗。5.6.2测试电路图b)待Vc的电压值稳定之后，ATE依据SPI协议输出向量来拉高CS引脚(Vcs=Vcc)使芯片的SDO脚75.6.4测试条件相关文件应规定下列条件：a)环境温度或参考点温度；b)电源电压；c)输入电压。按GB/T17574—1998第IV篇测试方法：3.输入阻抗和和输出阻抗。6交流特性参数6.1建立时间和保持时间T和π通过测试验证SPI时序部分在保证功能正确的前提下，触发输入的最小建立时间T,和最小保持时间Th,如图3所示。注：输入数据建立时间(T₃)是指时钟SCLK的沿(上升沿/下降沿)到来之前，输入数据(SDI)从不稳定到稳定所图3输入数据建立时间(T)和保持时间(T)6.1.2测试电路图测试电路图见图2。测试程序如下：a)ATE的DPS施加指定的电压到被测器件的V.引脚，待Vc的电压稳定之后，ATE依据SPI接口协议输出向量到被测器件。b)在保证测试速度的情况下设置T₃和Tn足够大，以满足被测器件通过SPI接口写读功能正常，然后ATE在测试程序的控制下以固定的步距△t减小Tg,ATE每减小一个步距△t就执行一次写读功能测试，直到写读功能第一次失效，此时对应的Tso加上一个步距的时间即为输入数据建立的最小建立时间