便携式面结构光扫描三维测量系统

JJF（桂）XX-20XX便携式面结构光扫描三维测量系统校准规范JJF116-2016《三维轮廓光学JJF1951-2021《基于结构光扫描的光学三VDI/VDE2634.2-2012《光学三维测量系统：第2部分：基于区域扫描注：平板平面度不低于0.002mm；量块标称长度建议采用100<L≤150mm，1等JJF（桂）XX-20XX便携式面结构光测量系统通常在测量时会改变结构光图1基于面结构光的三维扫描测量系统基本组成示意图5.2高度差测量误差(Phi)JJF（桂）XX-20XX——环境温度20±5）℃;——供电电源：频率（50±0.5）Hz，正弦波，波形注：1需要进行曝光强度设定时，应当按照说明书进行。如制造商未规定这些参数，则可忽略不计。2点云数据量大时，可进行点云稀疏。校准用设备应经过计量技术机构检定或校准，满足校准平板：平板最大尺寸选用仪器测量范围能够覆表1便携式面结构光三维测量系统校准项目一览表序号校准项目校准方法条款JJF（桂）XX-20XX1端面探测误差7.3.12组合高度差测量误差7.3.23平板形状探测误差7.3.37.2.1测量系统表面镀层或涂层应色泽均匀，不应有显见的露底、起层、起皱、擦7.2.3测量系统应有铭牌或产品标识，应有型号、出厂编端面探测误差实际上为测量标准平板上拟合的各个端面到端面的最大值与最小之P=lmax-lmin（1）PP=hmax-hmin（2）Phmin——各个平板最小测量高度值，mm。每个点到拟合平面的距离，平板形状探测误差SDi是测量值Lai与被测平板标准值Lr之airSD=L-airSD=MAX(SDi)SDi——第i个点到拟合平面的距离，mm。f)被校对象的描述和明确标识；JJF（桂）XX-20XXi)本次校准所用测量标准的溯源性及有效性说明j)校准环境的描述；JJF（桂）XX-20XX选用测量系统，其测量空间范围为500mm×300mm×200mm，板端面探测误差、平板高度差测量误差和平板形状P=MAX(lmaxi-lmini)P=MAX(hmaxi-hmini)P=MAX(Pdi)=MAX(Lai-Lr)hmini——第i次由软件计算各个平板最小测量高度值，mm；2222JJF（桂）XX-20XX表A.110次平板端面测量结果测量次数测得值（mm）10.004020.003930.004140.004050.004260.003870.003980.004090.00410.0040实验标准差（mm）0.0001表A.2中列出了标准平板高度差为10的10次测量结果，测量表A.210次平板高度差测量结果测量次数测得值（mm）110.001210.002310.000410.00059.998610.000710.00289.999910.00110.001实验标准差（mm）0.0009表A.310次平面度测试结果测量次数测得值（mm）10.00320.002830.003240.003050.003160.002270.002080.002890.00330.0030实验标准差（mm）0.0004表A.4标准平板不确定度的来源及数值汇总JJF（桂）XX-20XX序号不确定度来源符号标准不确定度分量/μm1平板端面探测误差0.12平板高度差测量误差0.93平板形状探测误差0.4=22=JJF（桂）XX-20XX委托单位：证书编号：委托单位地址：校准依据：仪器名称：型号规格：出厂编号：制造单