- 废止
- 已被废除、停止使用,并不再更新
- 2008-10-22 颁布
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基本信息:
- 标准号:ISO/IEC 11695-1:2008 EN
- 标准名称:身份证 光学存储卡 全息记录方法 第1部分:物理特性
- 英文名称:Identification cards — Optical memory cards — Holographic recording method — Part 1: Physical characteristics
- 标准状态:废止
- 发布日期:2008-10-22
文档简介
物理特性ISO/IEC11695-1:2008标准规定了光学记忆卡的物理特性,包括但不限于以下方面:厚度和尺寸:光学记忆卡应该有规定的厚度和尺寸,以确保其符合标准规格。材料:光学记忆卡通常由透明材料制成,如聚碳酸酯或丙烯酸塑料。这些材料应该具有适当的折射率和其他光学特性,以便进行全息记录。表面质量:光学记忆卡的表面应该光滑、平整,没有瑕疵或划痕,以确保记录在上面的图像和信息能够清晰地呈现。记录密度:光学记忆卡应该具有高密度的记录能力,以便能够存储大量的数据。全息记录技术通常使用干涉和衍射原理,这需要光学记忆卡具有高分辨率和低噪声性能。读取精度:光学记忆卡的读取设备应该能够准确地识别和恢复记录在上面的数据。这需要光学记忆卡具有适当的反射率和透射率,以及在全息记录过程中建立的光学模
型能够准确反映实际记录的结构。安全特性:光学记忆卡应该具有足够的安全特性,以防止未经授权的访问和数据篡改。这通常涉及到加密技术、防复制保护机制等。可靠性:光学记忆卡应该具有高可靠性,能够在各种环境条件下稳定工作,包括高温、低温、湿度、振动等。此外,该标准还规定了其他一些相关要求,如包装、运输、存储等方面的规定。总之,ISO/IEC11695-1:2008EN标准是关于光学记忆卡的物理特性的标准,包括厚度和尺寸、材料、表面质量、记录密度、读取精度、安全特性、
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