- 废止
- 已被废除、停止使用，并不再更新
- 1981-01-01 颁布
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基本信息：
- 标准号：ISO 6442:1981 EN
- 标准名称：门叶 一般平面度缺陷的测量
- 英文名称：Door leaves — Measurement of defects of general flatness
- 标准状态：废止
- 发布日期：1981-01-01
文档简介
1.标准的适用范围：该标准适用于一般平板平度的缺陷测量，这些平板可能用于建筑、机械、电子和其他行业中的各种应用。
2.测量方法：该标准规定了使用精确的测量工具和方法来评估平板的平坦度。这包括使用激光测距仪、影像测量系统等设备进行测量。
3.缺陷分类：该标准将平板的缺陷分为几个等级，包括轻微、中等和严重缺陷。这些等级是根据平板表面的不平度、形状不规则性和其他相关因素来确定的。
4.测量精度：该标准规定了测量设备的精度要求，以确保测量结果的准确性和可靠性。这包括对测量设备的校准和验证，以确保其符合ISO标准的要求。
5.数据记录和报告：该标准要求对测量结果进行记录和报告，包括缺陷的类型、位置和尺寸。这些数据可以用于评估产品质量和改进生产过程。
6.合格评定和质量控制：该标准为制造商提供了质量控制和合格评定的框架，以确保生产出的平板符合规定的平坦度要求。
以上是对ISO6442:1981ENDoorleaves—Measurementofdefectsofgeneralflatness的详细解释。如果您有任何其他问题，欢迎随时提问。
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