- 废止
- 已被废除、停止使用,并不再更新
- 1981-11-01 颁布
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基本信息:
- 标准号:ISO 6382:1981 EN
- 标准名称:测定硅含量的一般方法 还原钼硅酸盐分光光度法
- 英文名称:General method for determination of silicon content — Reduced molybdosilicate spectrophotometric method
- 标准状态:废止
- 发布日期:1981-11-01
文档简介
ISO6382:1981EN标准一般用于测定硅含量—减法钼硅酸分光光度计法是一个具体的分析方法标准。该方法使用减法钼硅酸分光光度计来确定物质中硅的含量。该方法适用于许多材料,包括但不限于矿物质、合金、硅涂层和其它含硅的材料。这个标准包括一系列步骤,包括样本准备、应用钼硅酸试剂、进行分光光度计测量等。此标准详细描述了所有这些步骤,以确保分析的一致性和准确性。需要注意的是,虽然这种方法对于测定硅含量是有效的,但是它只能用于特定类型的样品,并且可能会受到某些干扰因素的影响。具体的使用需要结合实际情况和相关领域的知识来进行。
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