- 现行
- 正在执行有效
- 2023-09-07 颁布
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基本信息:
- 标准号:ISO 5189:2023 EN
- 标准名称:精细陶瓷(先进陶瓷、先进技术陶瓷) 利用电感耦合等离子体-光学发射光谱法对二氧化硅粉末中的金属杂质进行化学分析的方法
- 英文名称:Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) — Methods for chemical analysis of metal impurities in silicon dioxide powders using inductively coupled plasma-optical emission spectrometry
- 标准状态:现行
- 发布日期:2023-09-07
文档简介
ISO5189:2023标准主要涉及到的是高级陶瓷(AdvancedCeramics)、高级技术陶瓷(AdvancedTechnicalCeramics)的二氧化硅粉末中金属杂质的化学分析方法,主要采用等离子体-光学发射光谱法(InductivelyCoupledPlasma-OpticalEmissionSpectrometry,ICP-OES)。
具体步骤如下:
1.准备样品:需要将样品磨成粉末,并尽可能保持其原始的粒度分布和化学成分。
2.样品处理:将粉末样品置于适当的容器中,并加入适当的溶剂进行溶解。通常需要使用酸或碱进行溶解,以确保金属杂质能够完全释放出来。
3.仪器准备:使用ICP-OES仪器进行校准和预热,以确保分析结果的准确性和可靠性。
4.测定:将溶解后的样品溶液导入ICP-OES仪器中,进行金属杂质的测定。仪器将根据元素的特征发射光谱进行分析,以确定样品中各种金属杂质的浓度。
5.数据处理:根据测定的数据,可以计算出各种金属杂质的总含量和具体的种类。
该标准提供了详细的实验步骤和数据处理的说明,以确保分析结果的准确性和可靠性。同时,该标准也适用于各种类型的二氧化硅粉末,包括但不限于氧化铝、氧化锆、氧化镁等。
以上就是ISO5189:2023ENFineceramics(advancedceramics,advancedtechnicalceramics)—Methodsforchemicalanalysisofmetalimpuritiesinsilicondioxidepowdersusinginductivelycoupledplasm
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