GB/T 43041-2023 混合集成电路 直流直流（DC-DC）变换器（正式版）

ICSCCS31.200国家标准化管理委员会国家市场监督管理总局发布国家标准化管理委员会IGB/T43041—2023本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定起草。请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出。本文件由全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC78)归口。本文件起草单位：中国电子技术标准化研究院、中国电子科技集团有限公司第四十三研究所、合肥联诺科技股份有限公司、青岛智腾科技有限公司、惠州市睿鼎电子科技有限公司、深圳市汇德科技有限公司。1GB/T43041—2023混合集成电路直流/直流(DC/DC)变换器本文件规定了直流/直流(DC/DC)变换器(以下简称DC/DC变换器)的技术要求、测试方法和检验规则等。2规范性引用文件下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文本文件。GB/T8976—1996膜集成电路和混合膜集成电路总规范GB/T9178集成电路术语GB/T11498—2018半导体器件集成电路第21部分：膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)GB/T13062—2018半导体器件集成电路第21-1部分：膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用鉴定批准程序)GB/T43027—2023高压电源变换器模块测试方法GB/T9178界定的术语和定义适用于本文件。4技术要求DC/DC变换器应包含但不限于以下适用的静态电特性：a)输入电压范围VIn;b)输入电流Iin;c)输入纹波电流IRIp;d)输出电压V₀;e)输出电压调节范围；f)输出电压温度系数Sr;g)输出电流Io;h)输出功率Po;2GB/T43041—2023i)输出纹波电压VRIp;j)电压调整率Sy;k)负载调整率S;1)交叉调整率Sc;n)绝缘电阻Riso;o)限流点Icl;p)负载故障功耗Pp;q)短路电流Is;r)隔离电压Viso;s)隔离电容Ciso;如涉及同一系列多个型号时，应给出能在各型号电路中进行比较或区分的最重要DC/DC变换器应包含但不限于以下适用的动态电特性：a)开关频率fs;b)外同步频率范围fsyn;e)负载跃变时输出电压变化VTLp;f)负载跃变时输出电压的恢复时间tTLD;h)输出启动时序(适用于多路输出);i)容性负载CL;j)启动过冲电压Vos;k)启动延迟时间tpLy;l)负载故障恢复时间tLF。a)输入浪涌电压VsuR;b)均流精度E;c)输入欠压保护功能；d)输入过压保护功能；e)过热保护功能；f)输入浪涌电流Iinrush;g)输入电压跌落；h)输入启动电流Istart。如涉及同一系列多个型号时，应给出能在各型号电路中进行比较或区分的最重要应符合GB/T11498—2018中2.2的规定。适用时，产品详细规范应包含降额曲线。3GB/T43041—2023为方便使用，应按GB/T11498—2018中2.3.1的规定，给出标有影响互换性的主要尺寸的外形图还应规定引线耐焊接温度。安装要求应符合GB/T11498—2018中2.3.2的规定。a)工作温度范围(TA或Tc):除另有规定外，一般为0℃~70℃、-40℃~85℃、-55℃~c)静电放电敏感度(ESDS)。e)典型或特殊结构说明(适用时)。f)质量评定水平，如果电路采用了未经鉴定的外加元器件，应按GB/T13062—2018的有关规除另有规定外，测试的标准大气条件应符合GB/T按GB/T43027—2023中5.1进行测试。按GB/T43027—2023中5.2进行测试。按GB/T43027—2023中5.3进行测试。按GB/T43027—2023中5.4进行测试。按GB/T43027—2023中5.5进行测试。按GB/T43027—2023中5.6进行测试。4GB/T43041—2023按GB/T43027—2023中5.7进行测试。按GB/T43027—2023中5.8进行测试。按GB/T43027—2023中5.9进行测试。按GB/T43027—2023中5.10进行测试。按GB/T43027—2023中5.11进行测试。按GB/T43027—2023中5.12进行测试。按GB/T43027—2023中5.13进行测试。按GB/T43027—2023中5.22进行测试。按GB/T43027—2023中5.26进行测试。按GB/T43027—2023中5.16进行测试。按GB/T43027—2023中5.17进行测试。按GB/T43027—2023中5.24进行测试。按GB/T43027—2023中5.25进行测试。按GB/T43027—2023中5.39进行测试。5GB/T43041—2023按GB/T43027—2023中5.14进行测试。5.3.2外同步频率范围按GB/T43027—2023中5.15进行测试。5.3.3输入电压跃变时输出电压变化按GB/T43027—2023中5.18进行测试。5.3.4输入电压跃变时输出电压恢复时间按GB/T43027—2023中5.19进行测试。5.3.5负载跃变时输出电压变化按GB/T43027—2023中5.20进行测试。5.3.6负载跃变时输出电压的恢复时间按GB/T43027—2023中5.21进行测试。5.3.7输出电压保持时间(输入掉电时)按GB/T43027—2023中5.30进行测试。5.3.8输出启动时序(适用于多路输出)按GB/T43027—2023中5.31进行测试。按GB/T43027—2023中5.23进行测试。按GB/T43027—2023中5.28进行测试。按GB/T43027—2023中5.29进行测试。5.3.12负载故障恢复时间按GB/T43027—2023中5.27进行测试。按GB/T43027—2023中5.33进行测试。按GB/T43027—2023中5.51进行测试。6GB/T43041—2023按GB/T43027—2023中5.35进行测试。按GB/T43027—2023中5.36进行测试。按GB/T43027—2023中5.46进行测试。按GB/T43027—2023中5.34进行测试。按GB/T43027—2023中5.37进行测试。按GB/T43027—2023中5.38进行测试。6检验规则鉴定批准程序应符合GB/T11498—2018和本文件6.3的规定。检查水平(IL)、接收质量限(AQL)、批允许不合格品率(LTPD)、固定样本大小和检验周期，应按GB/T11498—2018表7的规定，并在产品详细规范中规定。表1～表6中相关字母含义如下：p:周期(以月为单位);n:样本大小；c:合格判定数(允许不合格品数);ND:非破坏性的。鉴定批准试验和程序按GB/T8976—1996中3.5的规定。基于固定样本大小为基础的鉴定批准程序见GB/T11498—2018中3.2的相关规定，并满足本文件表1的规定。以逐批和周期试验为基础的质量一致性检验程序见GB/T11498—2018中3.2的相关规定。鉴定批准程序表(固定样本大小程序)和质量一致性检验程序表(逐批和周期检验)共同规定了成品电路的最少试验程序。制造厂可按GB/T11498—2018中3.2的规定自行选择采用评定水平K、L或M。7GB/T43041—2023为了特定的应用所需要的附加试验，应在产品详细规范中规定。并应在产品详细规范中规定环境试验后需测试的电特性极限值。鉴定批准试验程序见表1。表中章条号引自GB/T8976—1996。鉴定批准的评定水平及合格判定数应按GB/T11498—2018中3.2.1和表6的规定。当检验表中表1鉴定批准试验程序章条号和试验D/ND试验条件性能要求4.3.2外部目检和标志检查4.3.3尺寸ND4.4.1125℃下功能特性(适用时)4.2ND4.4.1125℃下静态特性4.2ND4.4.11最高工作温度下静态特性同03分组ND4.4.11最低工作温度下静态特性同03分组ND4.4.11除另有规定外，25℃下动态特性4.2ND4.5.12引出端强度D4.5.10可焊性D4.5.11耐焊接热D终点测试(同02分组和03分组)8GB/T43041—2023表1鉴定批准试验程序(续)章条号和试验D/ND试验条件性能要求2组4.5.8快速温度变化4.5.4交变湿热(适用于非空封器件)4.5.9密封(适用于空封器件)终点测试(同02分组和03分组)D与产品详细规范一致4.5.5冲击或4.5.6振动4.5.7恒定加速度(适用于空封器件)D按规定终点测试(同02分组和03分组)3.1分组电耐久性D按产品详细规范规定评定水平：K:3000hL:2000hM:1000h终点测试(同02分组和03分组)高温贮存D除另有规定外，最高贮存温度，最少1000h终点测试(同02分组和03分组)4.5.3稳态湿热D评定水平bK:2000hL:1000M:500h终点测试(同02分组和03分组)4.5.15.1标志耐溶剂性D4.5.16易燃性(仅作为信息)D适用于非空封电路：——评定水平K:200次循环；——评定水平L和M:100次循环。适用于非空封电路。6.4质量一致性检验质量一致性检验应符合GB/T11498—2018中3.2.2的规定，包括抽样、周期、严酷等级和要求。分为逐批和周期检验。有要求时，应对拟交付的全部电路进行筛选，筛选试验见表2。质量一致性检验见表3、表4、表5和表6。表中章条号引自GB/T8976—1996。检验批应从一周之内生产的产品中抽取，或者从制造厂申报的其他时期制造的产品抽取，但周期最长不超过一个月。9GB/T43041—2023步骤检查或试验章条号详细要求和条件顺序ABCDE1封盖前目检×—2高温贮存最高贮存温度下24h××××3温度快速变化10次循环最低贮存温度/最高贮存温度××××恒定加速度在最严格的方向上，加速度值按产品详细规范规定×××密封×××——6电测试(老炼前)选择参数剔除不合格品×××—7老炼按产品详细规范规定×××8电测试(老炼后)品，如不合格数超过10%,则批拒收×××××注1:筛选一般在A组、B组和C组检验前进行。当筛选在通过A组、B组逐批检验和C组周期检验要求以后进行时，重做可焊性、密封和A组试验。注2:本表中的“×”为要求项目。按具体型号产品详细规定可追加筛选后试验。c除产品详细规范中另有规定外，应记录测量结果。表3A组检验(逐批)试验和试验顺序D/ND试验条件样本大小和合格判定数性能要求AQLLTPD4.3.2外部目检和标志检查ND4.4.1125℃下功能检验(除非另4.2有规定)ND见本文件5.4———(不适用于评定水平M)在最高和最低工作温度下功能检验ND见本文件5.4———GB/T43041—2023表3A组检验(逐批)(续)试验和试验顺序D/ND试验条件样本大小和合格判定数性能要求AQLLTPD4.4.1125℃下静态电特性4.2ND见本文件5.24.4.11在最高和最低工作温度下的静态电特性ND见本文件5.24.4.1125℃下动态电特性(除非4.2另有规定)ND见本文件5.3(不适用于评定水平M)4.4.11在最高和最低工作温度下动态电特性ND见本文件5.3表4B组检验(逐批)试验和试验顺序试验条件样本大小和合格判定数性能要求pnC4.3.3尺寸 4.4.11电参数额定值检验4.5.10可焊性D168h(除另有规定外)分组中选取放行批认证记录B8分组提供检验结果表5C组检验(周期)试验和试验顺序试验条件样本大小和合格判定数性能要求pnC4.3.3尺寸见具体型号产品详细规范GB/T43041—2023表5C组检验(周期)(续)试验和试验顺序D/ND试验条件样本大小和合格判定数性能要求pnC4.4.11最高和最低工作温度下电特性ND见具体型号产品详细规范—4.4.11电参数额定值检验：瞬间能量额定值ND4.5.12引出端强度D按相应封装规定，如拉力或转矩4.5.11耐焊接热D同A2、A3分组4.5.8.3温度快速变化a)空封器件快速温度变化电测试4.5.9.1密封，细检漏4.5.9.2密封，粗检漏温度快速变化4.3.2外部目检4.5.3稳态湿热电测试D温度：Tstgnin和Tstgmax。按规定温度进行同A2、A3分组4.5.7恒定加速度(适用于空封器件)D分组中选取4.5.3稳态湿热对于空封器件对于非空封器件电测试D质量评定水平：K:2000hL:1000hM:500h适用于非空封器件一A3分组