- 废止
- 已被废除、停止使用，并不再更新
- 2010-09-16 颁布
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基本信息：
- 标准号：ISO 10110-8:2010 EN
- 标准名称：光学和光子学 光学元件和系统图纸的编制 第8部分：表面纹理；粗糙度和波浪度
- 英文名称：Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements and systems — Part 8: Surface texture; roughness and waviness
- 标准状态：废止
- 发布日期：2010-09-16
文档简介
表面纹理；粗糙度和波纹度是一个国际标准，它规定了用于描述光学元件和系统表面纹理的绘图准备。这个标准主要关注了表面粗糙度和波纹度的测量和表示方法。
首先，这个标准定义了表面纹理的基本概念，包括粗糙度和波纹度，以及它们之间的关系。它还解释了如何使用几何参数来描述表面纹理，如平均粗糙度、轮廓算术平均偏差和工作高差等。
其次，这个标准详细说明了如何使用这些参数来准备和标注光学元件和系统的图纸。这包括选择适当的图纸符号和标记方法，以及如何在图纸上清晰地表示这些参数。此外，该标准还提供了一些有用的指南和建议，以帮助工程师更好地理解和应用这些参数。
对于表面纹理的测量方法，这个标准也提供了详细的说明。它介绍了各种测量技术，如接触式测量和非接触式测量，并讨论了它们各自的优点和局限性。此外，该标准还讨论了如何选择合适的测量设备和方法，以确保准确和可靠的测量结果。
ISO10110-8:2010EN光学和光子学—光学元件和系统的绘图准备—第8部分：表面纹理；粗糙度和波纹度是一个非常重要的标准，它为工程师提供了有关如何准备和标注光学元件和系统的图纸
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