• 现行
  • 正在执行有效
  • 2023-05-03 颁布
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【正版授权-英语版】 IEC TS 62607-6-17:2023 EN Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 6-17: Graphene-based material - Order parameter: X-ray diffraction and transmission electron_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC TS 62607-6-17:2023 EN
  • 标准名称：纳米制造-关键控制特性-第6-17部分：基于石墨烯的材料-有序参数：X射线衍射和透射电子显微镜
  • 英文名称：Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 6-17: Graphene-based material - Order parameter: X-ray diffraction and transmission electron microscopy
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2023-05-03

文档简介

X射线衍射和透射电子显微镜是用于测量和控制石墨烯材料的重要参数。这些技术提供了对材料微观结构和性能的深入了解，包括材料中晶格的形状和大小，以及材料的组成和结构。

X射线衍射技术利用X射线的散射现象来研究材料中的晶体结构。通过测量X射线在材料中的散射角度，可以确定材料的晶格结构，进而了解材料的晶体形态和晶体取向。在石墨烯材料中，X射线衍射技术可以用于确定材料中的石墨层数、层间距以及层结构等参数。

透射电子显微镜技术则提供了一种观察材料微观结构的高分辨率方法。通过观察电子束穿过样品时的散射现象，可以获得样品的高清晰度图像，并能够观察到纳米级别的结构和缺陷。在石墨烯材料中，透射电子显微镜技术可以用于观察石墨烯片的形状、尺寸、缺陷和组装情况等参数。

通过控制这些参数，可以优化石墨烯材料的性能和稳定性。例如，可以通过调整石墨烯材料的晶格结构、组成和结构来提高其导电性和力学性能。此外，通过控制石墨烯材料的制备过程和环境条件，也可以提高其稳定性和使用寿命。

X射线衍射和透射电子显微镜是用于测量和控制石墨烯材料的关键技术，它们提供了对材料微观结构和性能的深入了解，有助于优化石墨烯材料的性能和稳定性。

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