• 现行
  • 正在执行有效
  • 2014-08-25 颁布
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【正版授权】 IEC TS 61967-3:2014 EN-FR Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 3: Measurement of radiated emissions - Surface scan method_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC TS 61967-3:2014 EN-FR
  • 标准名称：集成电路——电磁辐射的测量——第3部分：辐射发射的测量——表面扫描法
  • 英文名称：Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 3: Measurement of radiated emissions - Surface scan method
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2014-08-25

文档简介

IECTS61967-3:2014EN-FRIntegratedcircuits-Measurementofelectromagneticemissions-Part3:Measurementofradiatedemissions-Surfacescanmethod是一个国际标准测试规范，专门用于测量集成电路（IC）的电磁辐射发射（EMI）情况。该标准提供了对表面扫描方法的具体定义和操作指南，这是测量电磁辐射发射的一种常用方法。

该标准主要包括以下几个方面的详细内容：

1.定义和术语：该标准首先对电磁辐射、发射、电磁干扰等术语进行了定义，并对测量仪器和设备进行了详细描述。

2.测试环境：标准规定了测试环境的要求，包括测试室的电磁屏蔽性能、电源波动、温度和湿度等，以确保测试结果的准确性。

3.测试样品：标准详细说明了测试样品的准备和安装方法，包括样品的选取、固定和屏蔽措施等。

4.测试方法：这是标准的核心部分，它详细说明了如何使用表面扫描方法进行电磁辐射发射的测量。包括如何设置仪器设备、如何扫描样品、如何记录和分析数据等。

5.数据处理：标准还对测试数据进行了详细处理方法的规定，包括如何消除误差、如何计算有效值和如何进行统计分析等。

6.报告和记录：标准要求测试结果应以报告形式呈现，包括测试目的、样品信息、测试方法和结果分析等。同时，记录也必须保存以供日后参考。

IECTS61967-3:2014EN-FRIntegratedcircuits-Measurementofelectromagneticemissions-Part3:Measurementofradiatedemissions-Surfacescanmethod是一个非常详细和全面的标准，它为电磁辐射发射的测量提供了

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