• 现行
  • 正在执行有效
  • 2017-10-11 颁布
©正版授权
注：本标准为国际组织发行的正版标准，下载后为完整内容；本图片为程序生成，仅供参考，介绍内容如有偏差，以实际下载内容为准
【正版授权】 IEC TR 63133:2017 EN Semiconductor devices - Scan based ageing level estimation for semiconductor devices_第1页
全文预览已结束

下载本文档

基本信息：

  • 标准号：IEC TR 63133:2017 EN
  • 标准名称：半导体器件-基于扫描的老化水平估计半导体器件
  • 英文名称：Semiconductor devices - Scan based ageing level estimation for semiconductor devices
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2017-10-11

文档简介

IECTR63133:2017ENSemiconductordevices-Scanbasedageinglevelestimationforsemiconductordevices标准是一套用于半导体器件年龄估计的扫描基础标准。该标准为半导体设备制造商提供了详细的指南和规范，以便他们能够通过扫描技术对半导体设备进行年龄估计。

该标准包括以下主要内容：

1.概述：该标准提供了扫描基础年龄估计的概述，介绍了其基本原理和目的。

2.评估方法：该标准详细说明了评估半导体设备年龄的方法，包括扫描过程、数据收集和分析等。

3.评估参数：该标准提供了评估半导体设备年龄所需的参数，包括电流、电压、温度、时间等，并给出了相应的测量方法和标准值。

4.可靠性分析：该标准还对评估结果的可靠性进行了分析，包括误差来源、可靠性指标和校准方法等。

5.数据处理：该标准提供了数据处理的方法和步骤，包括数据收集、清洗、分析和解读等。

6.验证方法：该标准还提供了验证评估结果的方法，包括独立测试、比较测试和验证报告等。

IECTR63133:2017ENSemiconductordevices-Scanbasedageinglevelestimationforsemiconductordevices标准提供了一种扫描基础的方法，用于评估半导体设备的年龄，以确保设备在预期的使用寿命内保持良好性能。该标准有助于

人人文库> 全部分类> 行业资料 > 各类标准

温馨提示

  • 1. 本站所提供的标准文本仅供个人学习、研究之用，未经授权，严禁复制、发行、汇编、翻译或网络传播等，侵权必究。
  • 2. 本站所提供的标准均为PDF格式电子版文本（可阅读打印），因数字商品的特殊性，一经售出，不提供退换货服务。
  • 3. 标准文档要求电子版与印刷版保持一致，所以下载的文档中可能包含空白页，非文档质量问题。
  • 4. 下载后请按顺序安装Reader（点击安装）和FileOpen（点击安装）方可打开。详细可查看标准文档下载声明

最新文档

评论

0/150

提交评论