- 现行
- 正在执行有效
- 2019-05-06 颁布
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基本信息：
- 标准号：IEC 62951-6:2019 EN-FR
- 标准名称：半导体器件——柔性及拉伸型半导体器件——第6部分：柔性导电膜的单位面积电阻的测试方法
- 英文名称：Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 6: Test method for sheet resistance of flexible conducting films
- 标准状态：现行
- 发布日期：2019-05-06
文档简介
IEC62951标准是一系列关于半导体器件的标准，其中第6部分专门针对柔性半导体器件。柔性半导体器件是一种可以在弯曲、拉伸等变形状态下工作的特殊电子元件，它们在可穿戴设备、医疗设备、电子皮肤等领域有广泛的应用。
测试柔性导电薄膜的片阻率是测试这些器件性能的重要指标之一。片阻率指的是通过单位面积的电阻值，可以用来评估导电薄膜的质量，包括其导电性能、厚度、均匀性等方面的表现。
测试片阻率的测试方法在该标准中详细规定了。测试过程通常包括以下几个步骤：
1.准备样品：选取适量的柔性导电薄膜样品，确保样品的质量和规格符合测试要求。
2.切割样品：根据测试需要，将样品切割成一定尺寸和形状的小片。
3.放置样品：将样品放置在测试装置的指定位置，确保样品与测试电极接触良好。
4.施加电压：向样品施加一定的电压，通过测量电流来计算片阻率。
5.数据处理：对测试结果进行数据处理，得到片阻率的最终值。
除了片阻率外，该标准还可能涉及其他性能指标的测试，如导电性能、拉伸性能、弯曲性能等。这些测试方法在该标准中也可能有相应的规定。
IEC62951-6标准提供了测试柔性导电薄膜片阻率的方法，对于评估柔性半导体器件的性能和质量具有重要意义。在进行相关测试时
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