• 现行
  • 正在执行有效
  • 2018-06-05 颁布
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【正版授权】 IEC 62435-4:2018 EN-FR Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 4: Storage_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 62435-4:2018 EN-FR
  • 标准名称：电子元器件-电子半导体器件的长期储存-第4部分：储存
  • 英文名称：Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 4: Storage
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2018-06-05

文档简介

存储标准规定了电子半导体装置长期存储的要求和测试方法。它涵盖了存储设备的性能、可靠性和耐用性等方面。具体内容包括：

1.性能要求：标准规定了存储设备的读写速度、数据保持能力、数据恢复能力、电源和温度稳定性等方面的性能要求。

2.可靠性和耐用性：标准要求存储设备在长期使用过程中具有可靠性和耐用性，包括数据丢失和损坏的风险要尽可能低，同时要能够承受各种环境条件和操作条件。

3.测试方法：标准规定了各种测试方法和评估指标，用于评估存储设备的性能和可靠性。这些测试包括读写测试、数据保持测试、电源和温度稳定性测试、环境适应性测试等。

4.存储介质：标准适用于各种类型的存储介质，包括硬盘、固态硬盘、闪存卡、记忆棒等。它规定了不同类型存储介质的具体要求和测试方法，以确保它们符合标准规定的要求。

IEC62435-4:2018EN-FR电子组件-电子半导体装置的长期存储-第4部分：存储标准提供了电子半导体装置长期存储的通用要求和测试方法，以确保存储设备的性能、可靠性和耐用性达到一定的水平。

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