• 现行
  • 正在执行有效
  • 2023-05-03 颁布
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【正版授权-英语版】 IEC 61967-8:2023 RLV EN Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 8: Measurement of radiated emissions - IC stripline method_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 61967-8:2023 RLV EN
  • 标准名称：集成电路－电磁辐射的测量－第8部分：辐射发射的测量－集成电路带状线方法(IC方法)
  • 英文名称：Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 8: Measurement of radiated emissions - IC stripline method
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2023-05-03

文档简介

IEC61967-8:2023RLVENIntegratedcircuits-Measurementofelectromagneticemissions-Part8:Measurementofradiatedemissions-ICstriplinemethod标准主要规定了用于测量集成电路辐射发射的IC（集成电路）槽线法（striplinemethod）的测量方法。该标准适用于各种集成电路，包括但不限于微处理器、微控制器、数字信号处理器、通信芯片等。

ICstriplinemethod是一种精确测量辐射发射的方法，它利用了槽线（stripline）电路的特性，通过测量电路中电流的变化来评估辐射发射水平。这种方法能够提供准确的测量结果，因为槽线电路具有优良的电磁屏蔽性能和稳定的电性能。

标准详细说明了测量设备、场地和环境的设置，包括屏蔽室、电磁屏蔽材料、接地装置、测量点位置等。标准还详细描述了测量过程中的各种操作步骤，包括开启和关闭设备、调整测试参数、读取测量数据等。

此外，标准还对辐射发射的测量结果进行了详细的解释和分析，提供了各种常见问题和故障的诊断和处理方法。对于不同的应用场景，标准还提供了相应的测试方法和数据处理方法，以确保测试结果的准确性和可靠性。

IEC61967-8:2023RLVENIntegratedcircuits-Measurementofelectromagneticemissions-Part8:Measurementofradiatedemissions-ICstriplinemethod标准为集成电路的

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