• 现行
  • 正在执行有效
  • 2017-03-03 颁布
©正版授权
注：本标准为国际组织发行的正版标准，下载后为完整内容；本图片为程序生成，仅供参考，介绍内容如有偏差，以实际下载内容为准
【正版授权】 IEC 60749-9:2017 EN Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking_第1页
全文预览已结束

下载本文档

基本信息：

  • 标准号：IEC 60749-9:2017 EN
  • 标准名称：半导体器件-机械和气候试验方法-第9部分:标记的持久性
  • 英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2017-03-03

文档简介

本部分规定了半导体设备在确定其耐用性方面使用的机械和气候试验方法，特别关注标志的持久性。半导体设备是电子系统的一部分，这些设备被用于处理和处理信息。由于这些设备的运行环境和使用的材料，它们的机械和气候条件可能会对其性能和寿命产生影响。本部分涵盖了半导体设备的多种类型，包括集成电路、光电子设备和微电子机械系统等。

以下是对本部分内容的详细解释：

本部分主要包括以下几个部分：

1.定义和术语：这部分定义了与半导体设备机械和气候试验相关的术语和符号，为后续的测试方法提供了基础。

2.试验设备和环境：这部分描述了用于测试半导体设备的设备和环境要求，包括温度、湿度、气压、振动和冲击等条件。

3.标志持久性的测试方法：这部分详细描述了如何测试半导体设备的标志持久性，包括如何选择标志、如何进行标记的磨损和剥离测试等。

4.结果评估和报告：这部分介绍了如何评估测试结果，并提供了报告测试结果的方法，包括如何记录测试数据、如何分析结果等。

在实施本部分时，制造商和测试机构需要按照规定的测试方法和环境要求进行测试，以确保半导体设备的性能和寿命符合预期。这对于确保半导体设备的可靠性和稳定性

人人文库> 全部分类> 行业资料 > 各类标准

温馨提示

  • 1. 本站所提供的标准文本仅供个人学习、研究之用，未经授权，严禁复制、发行、汇编、翻译或网络传播等，侵权必究。
  • 2. 本站所提供的标准均为PDF格式电子版文本（可阅读打印），因数字商品的特殊性，一经售出，不提供退换货服务。
  • 3. 标准文档要求电子版与印刷版保持一致，所以下载的文档中可能包含空白页，非文档质量问题。
  • 4. 下载后请按顺序安装Reader（点击安装）和FileOpen（点击安装）方可打开。详细可查看标准文档下载声明

最新文档

评论

0/150

提交评论