• 现行
  • 正在执行有效
  • 2016-07-21 颁布
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【正版授权】 IEC 60749-44:2016 EN-FR Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 60749-44:2016 EN-FR
  • 标准名称：半导体器件-机械和气候测试方法-第44部分：用于半导体器件的初级效应(SEE)的慢速电子束辐照测试方法
  • 英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2016-07-21

文档简介

IEC60749-44:2016EN-FRSemiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part44:Neutronbeamirradiatedsingleeventeffect(SEE)testmethodforsemiconductordevices是针对半导体器件的一种机械和气候测试方法，它包括了一些特定步骤和条件，以确保测试的准确性和可靠性。

以下是IEC60749-44:2016EN-FR部分内容的详细解释：

1.准备阶段：在这一阶段，需要对被测试的半导体器件进行一些准备工作，包括准备测试设备、选择适当的测试环境、设置适当的参数等。

2.测试步骤：

a.将半导体器件放置在特定的测试环境中，这个环境需要满足特定的温度、湿度、气压等条件。

b.使用适当的辐射源对半导体器件进行辐照，使其受到单次辐射事件的影响。

c.在辐射事件发生后，对半导体器件进行一系列的测试，以评估其性能和稳定性。

d.根据测试结果，对半导体器件进行分类和标记。

3.结果评估：根据测试结果，可以对半导体器件的性能和稳定性进行评估，并确定其是否符合相关标准和要求。

IEC60749-44:2016EN-FR部分内容是针对半导体器件的一种特殊的测试方法，旨在评估其在受到单次辐射事件后的性能和稳定性，以确保其在实际应用中的可靠性和稳定性。在进行这种测试时，

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