• 现行
  • 正在执行有效
  • 2004-03-09 颁布
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【正版授权】 IEC 60749-33:2004 EN-FR Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 60749-33:2004 EN-FR
  • 标准名称：半导体器件-机械和气候试验方法-第33部分：加速耐水性-无偏压力锅
  • 英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2004-03-09

文档简介

IEC60749系列标准是用于测试半导体设备机械和气候性能的标准。IEC60749-33是该系列的一部分，专门用于加速耐水性的测试方法。这种方法采用了一种无偏的烘箱方法，即“UnbiasedAutoclave”（公平的压合机）。

这个测试方法主要包括以下步骤：

1.设备准备：设备应清洁，干燥并符合所有必要的规格要求。

2.测试环境的设定：包括温度、湿度和持续时间等参数。

3.设备放入并密封：将设备放入测试环境中，然后用适当的材料密封以防止水蒸气渗透。

4.测试运行：在设定的时间和温度下，设备将经历一个模拟实际使用条件的环境。

5.检查设备：在预定的时间后，测试完成后，应检查设备以确保其满足规定的耐水性要求。

通过这个测试方法，可以评估设备在恶劣环境条件下的性能和寿命，以及是否符合相关规格要求。这是半导体设备制造过程中的一个重要步骤，以确保最终产品的质量和可靠性。

以上就是IEC60749-33:2004EN-FRSemiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part33:Acceleratedmoistureresistance

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