• 现行
  • 正在执行有效
  • 2013-04-23 颁布
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【正版授权】 IEC 60749-26:2013 EN-FR Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 60749-26:2013 EN-FR
  • 标准名称：半导体器件-机械和气候测试方法-第26部分：静电放电(ESD)灵敏度测试-人体模型(HBM)
  • 英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2013-04-23

文档简介

IEC60749-26:2013EN-FR标准主要涉及到半导体器件的机械和气候测试方法，其中包括静电放电（ESD）敏感度测试的人体模型（HBM）方法。

在HBM测试中，半导体器件被模拟为由人体带电引起的ESD事件。测试包括模拟带电的人体与半导体器件接触，以评估器件对静电放电的敏感度。这个标准详细规定了测试条件、步骤和结果评估，以确保半导体器件在预期的环境条件下能够正常工作，并具有足够的ESD保护能力。

具体来说，该标准包括以下内容：

1.测试条件：包括测试环境、湿度、温度、气压、电源电压等参数的设定。

2.测试步骤：包括测试设备的连接、测试对象的放置和接触、测试信号的生成和注入、测试结果的记录和分析等步骤。

3.测试结果评估：根据测试过程中的数据记录，评估半导体器件对ESD的敏感度，包括ESD事件发生的概率、损伤程度等。

此外，该标准还规定了测试报告的格式和内容，要求测试人员提供详细的测试数据和分析报告，以便于对半导体器件的质量进行评估和监控。

IEC60749-26:2013EN-FR标准对于确保半导体器件的ESD保护能力具有重要意义，

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