• 现行
  • 正在执行有效
  • 2004-02-23 颁布
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【正版授权-英/法语版】 IEC 60749-23:2004 EN-FR Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 60749-23:2004 EN-FR
  • 标准名称：半导体器件-机械和气候试验方法-第23部分：高温工作寿命
  • 英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2004-02-23

文档简介

高温工作寿命标准规定了半导体器件高温工作寿命试验的方法和要求。该标准涉及到半导体器件在高温环境下进行一系列操作和测试，以确保它们能够承受高温环境并保持其性能。具体来说，该标准包括以下内容：

试验环境：标准规定了试验的环境条件，包括温度、湿度、气压和振动等。这些条件需要符合一定的要求，以确保试验的准确性和可靠性。

试验设备：标准规定了试验所需的设备，包括恒温设备、温度传感器、湿度控制器、气压传感器等。这些设备需要符合一定的规格和标准，以确保试验的准确性和可靠性。

试验步骤：标准详细说明了试验的步骤和方法，包括半导体器件的安装、操作、测试和记录等。这些步骤需要按照一定的顺序和要求进行，以确保试验的准确性和可靠性。

试验结果评估：标准规定了如何评估试验结果的方法和标准，包括半导体器件的性能指标、失效模式、寿命等。这些指标需要符合一定的要求和标准，以确保试验结果的准确性和可靠性。

该标准适用于半导体器件制造商、测试机构和用户等，旨在确保半导体器件在高温环境下的性能和寿命符合一定的要求和标准。通过遵循该标准，可以减少半导体器件在高温环境下的失效风险，提高产品的质量和可靠性。

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