• 现行
  • 正在执行有效
  • 2002-05-23 颁布
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【正版授权-英语版】 IEC 60748-23-2:2002 EN Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 23-2: Hybrid integrated circuits and film structures - Manufacturing line certification - Internal visual ins_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 60748-23-2:2002 EN
  • 标准名称：半导体器件-集成电路-第23-2部分：混合集成电路和薄膜结构-生产线认证-内部目视检查和特殊测试
  • 英文名称：Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 23-2: Hybrid integrated circuits and film structures - Manufacturing line certification - Internal visual inspection and special tests
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2002-05-23

文档简介

混合集成电路和薄膜结构-制造线认证-内部视觉检查和特殊测试是一个国际电工委员会（IEC）制定的标准，专门针对半导体设备中的集成电路部分。这部分标准主要涉及到混合集成电路和薄膜结构的制造生产线认证。

具体来说，这个标准详细规定了内部视觉检查和特殊测试的要求和方法。内部视觉检查是一种通过高清晰度显微镜或类似设备，对集成电路内部结构进行观察和评估的方法，以检测可能存在的制造缺陷或不良工艺。

特殊测试则是指一系列针对特定电路性能、功能和可靠性的测试，以确保生产出的集成电路能够满足预期的规格和性能要求。这些测试可能包括电气性能测试、功能测试、温度和环境适应性测试、长期稳定性测试等。

此外，该标准还涉及到生产线的质量控制和管理，包括生产线设备的维护和校准、测试数据的记录和分析、生产过程的监控和记录等。所有这些步骤都必须在符合IEC60748-23-2:2002EN标准的条件下进行，以确保生产出的集成电路具有高质量和可靠性。

IEC60748-23-2:2002EN标准对于半导体设备制造商来说非常重要，因为它为制造出高质量、可靠性的集成电路提供了明确和详细的标准和要求。这些要求不仅

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