- 现行
- 正在执行有效
- 2019-09-23 颁布
![【正版授权】 IEC 60747-7:2010/AMD1:2019 EN-FR Amendment 1 - Semiconductor devices - Discrete devices - Part 7: Bipolar transistors_第1页](http://file4.renrendoc.com/view4/M00/29/25/wKhkGGaC9ZiAXeb9AADPTX7wIHw165.jpg)
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基本信息:
- 标准号:IEC 60747-7:2010/AMD1:2019 EN-FR
- 标准名称:第一修正案-半导体器件-离散器件-第七部分:双极晶体管元件
- 英文名称:Amendment 1 - Semiconductor devices - Discrete devices - Part 7: Bipolar transistors
- 标准状态:现行
- 发布日期:2019-09-23
文档简介
IEC60747-7:2010/AMD1:2019EN-FR是IEC国际标准中针对半导体器件分类和术语的一部分,其中涉及到分立器件的分类和部分双极晶体管的术语。
IEC60747-7:2010/AMD1:2019EN-FR标准主要涵盖了双极晶体管的分类、性能参数、电气特性、应用范围以及测试方法等方面的内容。具体来说,该标准包括以下内容:
*双极晶体管的分类和定义:标准详细说明了双极晶体管的类型、应用范围以及与半导体材料的关系。同时,还给出了不同的器件名称,方便理解和识别。
*性能参数:标准定义了双极晶体管的电流、电压特性参数,如放大倍数、饱和电压、最大允许耗散功率等。这些参数对于选择合适的器件以及进行电路设计非常重要。
*电气特性:标准详细描述了双极晶体管的电气特性,包括输入阻抗、输出阻抗、噪声系数等。这些特性决定了双极晶体管在电路中的性能表现。
*应用范围:标准阐述了双极晶体管在不同应用领域的使用情况,如音频放大器、电源管理、通信设备等。同时,还提供了器件选择和使用时的注意事项和建议。
*测试方法:标准提供了双极晶体管的测试方法和要求,包括电气性能测试、环境适应性测试、可靠性测试等。这些测试方法有助于确保器件的质量和性能可靠性。
IEC60747-7:2010/AMD1:2019EN-FR标准对于双极晶体管的分类、性能参数、电气特性、应用范围以及测试方法等方面进行了详细的规
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