• 现行
  • 正在执行有效
  • 2022-01-07 颁布
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【正版授权】 IEC 60747-5-15:2022 EN Semiconductor devices - Part 5-15: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the flat-band voltage based on the electroreflectance spectro_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 60747-5-15:2022 EN
  • 标准名称：半导体器件-第5-15部分：光电子器件-发光二极管-基于电反射光谱的平带电压测试方法
  • 英文名称：Semiconductor devices - Part 5-15: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the flat-band voltage based on the electroreflectance spectroscopy
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2022-01-07

文档简介

IEC60747-5-15:2022ENSemiconductordevices-Part5-15:Optoelectronicdevices-Lightemittingdiodes-Testmethodoftheflat-bandvoltagebasedontheelectroreflectancespectroscopy（IEC60747的第5部分为关于光电子设备的标准，特别关注发光二极管。在此，我为您提供详细的解释。）

主要内容：

IEC60747-5-15规定了用于测量发光二极管的电反射率光谱法，这种方法是通过基于电反射率的平带电压测试实现的。它涉及到样品设备的制备、设备连接到电源和测量系统的方式，以及数据处理和分析步骤。

主要步骤：

1.样品准备：选择适当大小和类型的发光二极管，清洁并准备好进行测量。

2.设备连接：将发光二极管连接到电源和测量系统，确保正确设置和连接。

3.测量系统：使用电反射率光谱仪进行测量，它应具备相应的功能和技术能力以准确测量发光二极管的平带电压。

4.数据处理：分析测量的电反射率数据，确定发光二极管的性能，特别是其平带电压。

需要注意的是：在进行此类测试时，确保样品设备满足所有相关的环境安全和质量控制要求。此外，还需要确保设备正确地进

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