• 现行
  • 正在执行有效
  • 2003-07-04 颁布
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【正版授权】 IEC 60444-8:2003 EN-FR Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 60444-8:2003 EN-FR
  • 标准名称：石英晶体元件参数测量 第8部分：表面安装石英晶体元件测试夹具
  • 英文名称：Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2003-07-04

文档简介

IEC60444-8:2003EN-FR是国际电工委员会（IEC）发布的一个测量石英晶体元件参数的标准，这部分标准主要涉及到表面安装石英晶体元件的测试夹具的制造和使用。

该标准规定了测试夹具的设计、制造、安装、测试和校准等方面的要求。测试夹具的主要目的是为了准确测量石英晶体元件的各项参数，如谐振频率、迟滞等。

具体来说，测试夹具应该能够提供一个稳定和一致的环境，以避免由于环境因素（如温度、压力、振动等）对测试结果的影响。此外，测试夹具还应能够精确地固定和移动石英晶体元件，以便能够准确地测量其参数。

此外，该标准还规定了测试夹具的制造过程和质量控制要求，以确保测试夹具的一致性和可靠性。这包括对夹具材料、制造工艺、精度校准等方面的要求。

IEC60444-8:2003EN-FR标准对于石英晶体元件测试夹具的设计、制造和使用具有重要的指导意义，有助于提高石英晶体元件的测量精度和可靠性。

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