• 被代替
  • 已被新标准代替
  • 1981-01-01 颁布
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【正版授权】 IEC 60147-1K:1981 EN-FR Supplement K - Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods -Part 1: Essential ratings and charac_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 60147-1K:1981 EN-FR
  • 标准名称：附录K-半导体器件的必要等级和特性及测量方法的一般原理-第1部分：基本等级和特性-第9章：光电电子器件基本等级和特性-光电电子器件
  • 英文名称：Supplement K - Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods -Part 1: Essential ratings and characteristics - Chapter 9: Optoelectronic devices
  • 标准状态：被代替
  • 发布日期：1981-01-01

文档简介

第九章：光电设备

1.定义和基本要求：这部分定义了光电设备的基本术语和特性，包括其工作原理、性能指标、环境适应性等。

2.测试方法：这部分详细介绍了如何对光电设备进行测试，包括测试设备、测试步骤、测试数据记录和处理等。

3.基本评级：这部分规定了光电设备的基本评级方法，包括评级指标、评级等级、评级说明等。

4.特殊特性：这部分针对光电设备的特殊特性进行了规定，包括温度特性、光照特性、电气特性等。

IEC60147-1K:1981EN-FRSupplementK-Essentialratingsandcharacteristicsofsemiconductordevicesandgeneralprinciplesofmeasuringmethods-Part1:Essentialratingsandcharacteristics是一个非常详细的标准，它为半导体装置的测试和评估提供了重要的指导。在实施过程中，需要按照标准中的规定进行测试和评估，以确保半导体装置的性能和可靠性。

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