• 被代替
  • 已被新标准代替
  • 1975-01-01 颁布
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【正版授权】 IEC 60147-1G:1975 EN-FR Supplement G - Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods -Part 1: Essential ratings_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 60147-1G:1975 EN-FR
  • 标准名称：附录G-半导体器件的必备性能和特性及测量方法的一般原理（第1部分：必备性能和特性及特征）
  • 英文名称：Supplement G - Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods -Part 1: Essential ratings and characteristics
  • 标准状态：被代替
  • 发布日期：1975-01-01

文档简介

一、基本评级和特性

1.额定值：半导体设备的基本额定值包括电流、电压、功率、环境条件（如温度和湿度）等。这些参数决定了设备在特定条件下的性能和可靠性。

2.特性参数：包括设备的尺寸、结构、材料、制造工艺等，这些因素对设备的性能和可靠性有重要影响。

3.额定环境条件：规定了设备在各种环境条件下的工作范围，包括温度、湿度、振动、冲击等。

二、测量方法的一般原理

1.测量仪器和设备：测量设备必须符合IEC标准，并经过适当的校准和验证。

2.测量程序：测量程序应包括设备的安装、设置、测试、记录和分析等步骤。

3.数据处理：测量数据应进行适当的处理和分析，以确定设备的性能和可靠性。

这个标准为半导体设备的设计、制造、测试和认证提供了重要的指导原则。它确保了半导体设备在各种环境条件下的性能和可靠性，从而提高了电子系统的整体性能和稳定性。此外，这个标准还规定了测量方法的通用原则，为测量仪器和设备的制造商提供了指导，以确保他们提供的产品符合IEC标准。

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