- 被代替
- 已被新标准代替
- 1979-01-01 颁布
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基本信息：
- 标准号：IEC 60147-0E:1979 EN-FR
- 标准名称：E-补编-基本评价和特征以及半导体器件的测量方法的一般原理-第0部分：一般术语和术语表
- 英文名称：Supplement E - Essential ratings and characteristics et semiconductor devices and general principles of measuring methods -Part 0: General and terminology
- 标准状态：被代替
- 发布日期：1979-01-01
文档简介
1.基本评级和特性：该标准规定了半导体设备的基本评级指标，包括但不限于设备的性能、效率、可靠性、温度系数、电压和电流承受能力等。这些指标用于评估设备的质量和性能。
2.测量方法：该标准规定了测量半导体设备的基本方法和程序，包括但不限于使用哪些测量仪器、如何进行测量、如何解读测量结果等。这些方法用于确保设备在实际使用中能够达到预期的性能。
3.一般原则：该标准规定了半导体设备设计和制造的一般原则，包括设备的设计、制造工艺、质量控制等方面的规定。这些原则用于确保设备的质量和性能的一致性。
此外，该标准还包括一些术语的解释，以便更好地理解标准中的概念和指标。总的来说，这个标准是关于半导体设备设计和制造的重要指南，旨在确保设备的质量和性能达到预期的标准。
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