(高清版)GBT 5095.2502-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分：试验25b：衰减（插入损耗）

GB/T5095.2502—2021/IEC基本试验规程及测量方法第25-2部分：试验25b:衰减(插入损耗)measurements—Part25-2:Test25b:Attenuation(insertionloss),IDT]国家标准化管理委员会国家市场监督管理总局发布国家标准化管理委员会GB/T5095.2502—2021/IEC60512 I 2.1设备 3试验样品 23.1说明 2 24.1装置衰减 4.2样品衰减测量 34.3阻抗分析仪(开路/短路法) 44.4追加测量 4.5时域法 4 5 5附录A(规范性附录)装置和设备的示意图 6附录B(资料性附录)实用指南 I——第25-9部分：信号完整性试验试验25i:外来串扰。本部分使用翻译法等同采用IEC60512-25-2:2002《电子设备用连接器试验和测量第25-2部l第25-2部分：试验25b:衰减(插入损耗)或低噪声前置放大器)。对于差分测量，可采用带有合适软件或平衡-不平衡转换器的多端口网络分2GB/T5095.2502—2021/IEC60512-25-2:2002点)和近端(激励的)应采用图A.2或图A.3中所示的其中一种方法进行端接。在激励信号为差分且不除非另有规定，具有全部共用接地的各端应采用1:1的信号-接地比(进行差分测量时为2:1)。见图A.4的示例。装置应设计成在有和无样品时都能进行衰减测量(见图A.1a)]。若在测量时采用了平衡-不平衡在该方法中，装置衰减测量采用了近端和远端两者结合的独立装置[见图A.1b]最低损耗匹配器的典型结构如图A.2和图A.3所示。除非另有规定，所有测量结果应至少包括200个频率点。每次装置测量及其相关样品衰减测量应3GB/T5095.2502—2021/IEC60512-25在相同频率下进行。生成的一条衰减量与频率的关系曲线，建议垂直刻度每格为14.1.1.2使用频谱分析仪和发生器时，按照下面相同程序进行标准测4.1.2.1组装该装置将其近端与远端连接，其间无样品[见图A.1a]]。将网络分析仪端口或信号发生4.1.3.3采用频谱分析仪时，测量来自发生器通过装置的信号功率。然后，用该信号的量值除以按4.2.2.1将网络分析仪的激励端口与装置的近端连接，并将网络分析仪的接收器端口与装置的远端4.2.2.2测量样品连同装置的衰减量(单位为dB)。4量值(单位为dBm)。记录样品连同装置的衰减4.2.4用样品连同装置的衰减量除以装置的衰减量(单位为dB)并绘曲线。这即为样品的衰减量。如4.3.4用下列公式计算样品加装置的衰减量P: 4.3.5用样品连同装置的衰减量除以装置的衰减量(单位为dB)并绘曲线，此为样品的衰减量。如要4.4追加测量触发短路脉冲发生器的时域反射计(TDR)测量样品对脉冲激励的响应度。采用快速傅里叶转换5GB/T5095.2502—2021/IEC60512-25-2:20a)每次测量的样品信号和接地配置。至少应确定激励导线或线对、每个方向的最近信号导线以e)测量频率范围。g)不同于dB和对数频率的曲线图量值形式。h)有关装置和终端结构及电气特性的任何特殊要求。6GB/T5095.2502—2021/IEC6051(规范性附录)装置和设备的示意图装置和设备的示意图见图A.1～图A.4。标准装置(无样品)样品装置(有样品)图A.1装置方法示意图7YO8Z₀——特性阻抗；最低损耗匹配器计算式为：b)或或9网络分析仪网络分析仪端口1图A.4衰减的样品装置示例GB/T5095.2502—2021/IEC60512-25-2:2002些测量采用的大多数