TD-LTE基带芯片验证系统信号完整性研究的开题报告

TD-LTE基带芯片验证系统信号完整性研究的开题报告一、选题背景TD-LTE（TimeDivision-LongTermEvolution）是中国移动公司提出的标准化的4G无线通信技术，其主要应用于语音、视频、数据传输等方面。为保证TD-LTE基带芯片在设计和生产过程中的信号完整性，需要进行验证系统信号完整性研究。二、研究目的本研究旨在建立一套TD-LTE基带芯片验证系统，能够对TD-LTE基带芯片的信号完整性进行验证和分析。三、研究内容1.TD-LTE信号特性分析：对TD-LTE信号的特性进行分析，并对验证系统所需要的信号进行规定。2.TD-LTE基带芯片验证系统设计：设计一套符合TD-LTE标准的基带芯片验证系统，包括信号发生器、信号处理器等。3.TD-LTE基带芯片信号完整性分析：通过验证系统进行对TD-LTE基带芯片的信号完整性进行分析，包括信噪比、误码率等指标。4.实验验证：通过实验验证，验证系统的有效性和可靠性。四、研究方法本研究采用理论分析和实验验证相结合的方法，通过对TD-LTE信号的特性进行分析，设计TD-LTE基带芯片验证系统，进行信号完整性分析，最终通过实验验证，验证系统的有效性和可靠性。五、预期成果1.建立一套TD-LTE基带芯片验证系统，能够验证TD-LTE基带芯片信号完整性。2.对TD-LTE信号的特性分析进行总结和归纳。3.研究结果的实用性和可推广性。六、研究意义1.验证TD-LTE基带芯片的信号完整性，提高TD-LTE信号传输的效率和质量。2.为其他标准化的4G无线通信技术的研究提供参考。3.对TD-LTE信号的特性进行分析和总结，对TD-LTE技术的发展提供参考。七、研究计划第一阶段：2021年6月-2021年7月对TD-LTE信号的特性进行分析，并规定验证系统所需信号的相关特性。第二阶段：2021年7月-2022年1月设计符合TD-LTE标准的基带芯片验证系统，并进行信号完整性分析。第三阶段：2022年1月-2022年6月通过实验验证，验证系统的有效性和可靠性，并对研究结果进行总结。八、参考文献1.MiaoXiaofei,WangYu,LiuZhihong.AnalysisandDesignofSignalIntegrityVerificationTestPlatform[J].MicroelectronicsandComputer,2016,33(01):138-142.2.LiuJia,GuoShuqing,ChengHaifang.DevelopmentofTD-LTEDigitalIntermediateFrequencyConversionTestPlatform[J].ElectronicTest,2016,1(12):28-30.3.WangYuanlong,DaiMingxue,ZhaoYonghong.SignalIntegrityAnalysisandOptimizationofHigh-speedParallelBusBasedonPowerHarmonicReduction[J].JournalofElectronicMeasurementandInstrumentation,2017,31(04):393-398.4.WuWeiliang,YaoCheng,CaiQiming.ResearchandImplementationofSignalIntegrityVerificationPlatformBasedon10G