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低温实验报告实验报告实验名称：低温实验实验时间：2021年6月1日实验地点：实验室实验目的：1.掌握低温实验操作方法；2.研究物质在低温下的性质变化规律。实验器材：1.低温箱；2.芯片温度传感器；3.电子数显万用表；4.恒流电源。实验步骤：1.将芯片温度传感器接入电子数显万用表；2.将芯片温度传感器放入低温箱中，待温度稳定后读取温度值；3.依次调整温度为-80℃，-100℃，-150℃，-200℃，读取温度值；4.将恒流电源输出电压设置为5V，电流设置为0.5A；5.将恒流电源输出端子连接至半导体材料，记录电阻值；6.依次将低温温度设置为-80℃，-100℃，-150℃，-200℃，记录电阻值。实验结果：1.温度和电阻值的关系如下表所示：|温度（℃）|电阻值（Ω）||---------|-----------||-80|300||-100|350||-150|500||-200|800|2.实验中发现，随着温度的降低，电阻值会逐渐增加。实验结论：1.随着温度的降低，物质的电阻值会逐渐增大；2.低温环境对半导体材料的电阻值影响显著。实验中存在的问题和改进方案：1.实验中由于设备本身的误差和环境的影响，实验数据存在一定误差，可以通过多次实验取平均值来提高实验精度；2.实验中数据记录不够准确，可以采用更为精确的仪器来记录数据。参考文献：[1]化学实验

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