射线检测无损检测人员技术资格等级培训考核样本

无损检测人员技术资格级别培训考核试题汇编射线检测（高档）夏纪真编广东省机械工程学会无损检测分会3月目录一.选取题二.是非判断题三.问答题四.计算题五.工艺原则与规范六.射线实时成像检测参照文献一.选取题1.原子核外电子能级最高是（a）a.外壳层b.中间壳层c.内壳层d.以上均不是2.下列几种辐射中,哪种在空气中电离效应最高？（a）a.α粒子b.β粒子c.中子d.α和Χ射线3.Χ射线、γ射线和α粒子有一种共同点，即它们都是（d）a.物质粒子辐射b.电磁辐射c.微波辐射d.电离辐射4.当射线波长一定期，下列哪种物质μ值最大？（d）a.Feb.Alc.Mgd.Cu5.放射性同位素衰变时，同位素原子核以哪种方式蜕变？（d）a.粒子发射b.K俘获c.淹灭辐射d.a和b6.放射性同位素源比活度取决于（d）

a.核反映堆中照射中子流b.材料在反映堆中停留时间c.照射材料特性（原子量、活化截面）d.以上全是7.γ射源辐射输出，又称为特性强度，普通以有效输出表达，其单位为（c）

a.R/h·cib.R/m·s·cic.m·R/h·cid.R/m·h·ci(注:1ci=3.7*1010Bg)8.具备良好检出敏捷度中子普通是指（b）a.冷中子b.热中子c.超热中子d.快中子9.对于射线检查防护而言，应着重考虑是（c）

a.眼晶体非随机效应b.其他单个器官或组织非随机效应c.全身均匀照射随机效应d.以上都是10.当单色窄束X射线通过厚度为d物质后,表达射线强度衰减规律公式为(a)

a.I=I0e-μdb.I=I0e-2μdc.I=-μdI0d.以上都不对11.设入射线强度为I0，透过射线强度为I，散射线强度为Is，则散射比n定义为（a）

a.Is/Ib.Is/I0c.I/I0d.I012.KVX射线最短波长约为（b）：a.0.093b.0.062c.0.093nmd.0.062nm13.与低能射线透照相比，高能射线透照具备如下特点（a）a.宽容度大b.对比度较高c.感光速度快d.散射线影响大14.设宽束X射线贯穿物体后，在某一点所接受到射线总强度为Ip=I+Is，则散射比为（a）

a.Is/Ib.Is/Ipc.I/Isd.Ip/Is15.普通放射性比活度高源较抱负，因其自吸取（c）a．较高；b．相似；c．较低；d．无自吸取16.韧致辐射是指高速运动电子同靶相碰撞时，与靶什么互相作用而放出电子能量，产生持续Χ射线？（d）

a.自由电子b.原子核质子c.壳层电子d.原子核外库仑场17.用电磁铁和变压器配合，以环形轨迹加速电子装置称为（d）

a.静电加速器b.直线加速器c.电磁感应加速器d.回旋加速器18.直线加速器中，电子以何种方式加速？（a）a.高频电波b.加速磁铁c.中子轰击d.变化交流电磁铁磁场19.回旋加速器中，电子以何种方式加速？（b）a.场发射b.变化交流电磁铁磁场c.高频电波d.加速磁铁20.Χ射线管聚焦杯起电子透镜作用，聚焦杯如何限制电子束尺寸？（d）

a.俘获灯丝发射杂散电子b.限制灯丝电流最大安培值；

c.减少靶散射二次电子在玻璃管壁上产生负电荷d.与负电位相接21.决定Χ射线管靶材合用性两个因素是（d）

a.拉伸强度和屈服强度b.焦点和磁强度c.电阻和抗氧化性能d.原子序数和熔点22.下列哪种辐射测量仪器工作机理不是气体检测机理？（b）

a.比例计数器b.半导体检测器c.电离室d.盖格-缪勒计数器23.气体受射线轰击后会发生电离,变成导电体这一物理现象可用于(d)

a.X射线机变压器b.X射线管c.密度计d.X射线计量检测仪器24.钨增感屏长处是（d）：a.清晰度高b.不易浮现伪像c.使用寿命长d.以上都是25.当其她操作条件不变，管电流变化会引起X射线管发生射线强度变化，其变化大体与管电流变化成比例，是什么因素影响管电流与射线强度完全按比例变化？（b）

a.波长变化不完全成比例b.管电压和X射线设备电压波形随负载发生变化

c.电流在线性比率上才干变化d.散射线不能按比率变化26.假定同位素放射源发射单一波长γ射线，某时在离射源2米处测得其γ射线照射率，14天后同一时刻，再在离该源1.92米处测出其照射率与前同，则该源半衰期为（a）a.118天b.33天c.75天d.50天27.中子能通过β衰变成为（b）：a.电子b.质子c.α粒子d.光子28.习惯上把能量在0.1MeV以上中子叫做（a）

a.快中子b.慢中子c.中能中子d.共振中子e.热中子f.冷中子29.习惯上把能量在10-2eV左右中子叫做（e）

a.快中子b.慢中子c.中能中子d.共振中子e.热中子f.冷中子30.当前较为成熟中子射线照相应用是（e）

a.快中子b.慢中子c.中能中子d.共振中子e.热中子f.冷中子31.热中子照相系统涉及（f）a.中子源b.慢化剂c.准直器d.被照物e.像探测器f.以上所有32.在热中子照相中采用直接曝光法所运用转换屏材料应用最多且效果最佳是（d）a.镉b.锂c.硼d.钆33.在中子照相中需要使用转换屏，它在接受中子照射后能放出（d）辐射而使X射线胶片感光a.αb.βc.γd.以上都是34.在热中子照相中采用间接曝光法所运用转换屏材料应用最多是（e）a.铟b.镝c.铑d.金e.a和b35.将空气中一点上照射量换算为该点上空气吸取剂量表达式为（a）

a.D空气（rad）=0.87Dx（R）b.D物质=fDxc.D人体=FDxd.以上都不对（式中：D空气-空气吸取剂量；D物质-物质吸取剂量；D人体-人体吸取剂量；f-与光子能量及受照物质原子序数关于系数；F-f与反映射线在人体内吸取和散射作用系数乘积）36.将受照射某种物质中一点上测得照射量换算为该点上该物质吸取剂量，其表达式为（b）a.D空气（rad）=0.87Dx（R）b.D物质=fDxc.D人体=FDxd.以上都不对（式中：D空气-空气吸取剂量；D物质-物质吸取剂量；D人体-人体吸取剂量；f-与光子能量及受照物质原子序数关于系数；F-f与反映射线在人体内吸取和散射作用系数乘积）37.将空气中某点照射量换成人体若处在该位置时，在体内相应点上吸取剂量，其表达式为（c）a.D空气（rad）=0.87Dx（R）b.D物质=fDxc.D人体=FDxd.以上都不对（式中：D空气-空气吸取剂量；D物质-物质吸取剂量；D人体-人体吸取剂量；f-与光子能量及受照物质原子序数关于系数；F-f与反映射线在人体内吸取和散射作用系数乘积）38.低能光子在原子序数较高物质中因（a）效应明显而被更多地吸取

a.光电b.康普敦散射c.电子对生成d.以上都不是39.热释光型个人剂量监测射线感受元件是（e）a.CaF:Mnb.LiFc.CaSO4:Mnd.MgF2:Mne.以上都是40.在中子射线防护中采用快中子减速办法，较好中子减速剂是（d）a.氢气b.石蜡c.水d.以上都是41.在中子射线防护中采用热中子吸取办法，较好吸取剂是（e）a.锂b.硼c.硼砂d.硼酸e.以上都是42.已知离射源1米处照射率为5R/h，在该处放厚20毫米钢板进行透照拍片，该射源对钢半值层为10毫米，为了获得恰当底片黑度需要500mR，则每次拍片曝光时间应为多少分钟？（b）：a.12b.24c.36d.4843.用10居里铱192射源在野外对距其1米处厚20毫米钢进行透照拍片，已知该射源电离常数为0.6rhm/Ci，对钢半值层为10毫米，为了获得2.0黑度底片需要曝光多少分钟？（b）：a.10b.20c.30d.4044.在离铱192源1米处照射率为6R/h，透照距离0.5米处厚20毫米钢，已知钢吸取系数为0.693cm-1且不随吸取体厚度而变，散射因子为2，所使用胶片在获得300mR时可达到2.0黑度，则要获得2.0黑度底片需要曝光多少分钟？（a）

a.1b.5c.10d.1545.天津工业X射线胶片IV-C型是一种颗粒较细、高对比度、适应高温快显机器冲洗解决胶片，合用于中档厚度重金属或较厚轻金属工件射线照相，它相称于（d）胶片a.AgfaD7b.KodakAA-5c.Fuji100d.以上都是46.玻璃钢中具有下列相似尺寸夹杂物中，射线照相影像对比度最大是（b）a.铝b.铁c.棉布d.硬塑料47.X射线透照电压100千伏时，铝相对于钢射线照相等效系数是0.08，对厚度120毫米铝透照时，应采用厚度（b）毫米钢曝光量：a.4.8b.9.6c.6.0d.2.448.下列元素对中子吸取最大是（a）：a.氢b.铝c.铁d.铅49.下列元素对中子吸取最大是（a）：a.硼b.铜c.钨d.铅50.在中子射线照相-直接曝光法中常使用转换屏是（d）：a.镝b.铅c.铑d.钆51.在中子射线照相-间接曝光法中常使用转换屏是（d）：a.锂b.铅c.镉d.铟52.下列各项中与品质因数有关是（a）

a.不同辐射产生辐射生物效应不同b.辐射可以将某些或所有能量传给物体c.辐射可以引起空气电离d.以上都是53.按照危险度与权重因子规定剂量当量限值是对于（c）规定

a.躯体效应b.远期效应c.随机效应d.非随机效应54.射线源强度剂量、射线照射剂量率和吸取剂量率之间是互相联系，照射剂量率与射线强度剂量关系可用下式表达（a）a.P=0.84m/r2(R/h)b.P=0.84mr2(R/h)c.P=0.84r2/m(R/h)d.以上都不对（式中：P-无遮挡、无吸取时照射剂量率；m-射线源强度剂量（克镭当量）；r-测量点与射线源距离（米））55.如果你处在射线剂量仪读数为200mR/h辐射区3小时，则你接受到剂量约为（b）mrema.600b.500c.400d.30056.如果你每小时接受0.02radα射线照射，4小时后你将接受到（b）rem剂量a.3.2b.1.6c.0.8d.0.457.如果你每天在0.008R/hγ辐射区工作半小时，则10天后你将接受（a）mrem剂量a.33.6b.22.4c58.滤光片是高原子序数金属（如铜、钢、铅）制成，其作用是（d）

a.吸取X软射线，达到过滤目b.减少工件对比度，从而增大其宽容度c.减少由软射线所引起散射线d.以上都是59.在散射线分类中，普通把散射辐射与透射辐射所成夹角等于不大于90°时称之为（a）

a.前散射b.背散射c.侧面散射d.以上都不是60.持续谱X射线透照工件时，随着透照厚度增长，总强度递减，而平均波长值（b）

a.变小b.变大c.不变d.以上都不对61.射线照射到胶片上时，由于卤化银颗粒发生光化反映，在晶格缺陷处沉积出（b），形成潜像a.卤化银分子b.呈原子态银c.呈离子态银d.以上都不对62.射线照相中安全控制是指（d）

a.辐射源安全控制b.环境安全控制c.操作人员受照射安全控制d.以上都是63.射线辐射方向与裂缝方向之间夹角（射线角）超过（c）时，裂缝检出限度就变得很低了a.5°b.10°c.15°d.20°64.下面哪种办法属于中子射线照相办法（d）a.直接曝光法b.康普顿曝光法c.转移曝光法d.a和c65.透照有余高焊缝时，射线底片对比度为（a）

a.在某一线质时达到最大值b.射线能量越低，对比度越大c.不受散射比影响d.以上都不是66.透照板厚一定且有余高焊缝，散射比随有效能量提高而（b）a.增大b.减小c.不变d.不一定67.用单壁外透法透照同一筒体时如不考虑焦点投影尺寸变化，纵缝Ug与环缝Ug重要区别是：在一张底片不同部位（a）

a.纵缝Ug值各处都同样，而环缝Ug值随部位而变化b.环缝Ug值各处都同样，而纵缝Ug值随部位而变化；

c.无论纵缝、环缝，Ug值在任何部位都相似，不发生变化d.以上都是68.用置于透照区中心附近铂钨双丝透度计可从射线底片上测出一定管电压下（c）

a.吸取系数b.散射因子c.固有不清晰度d.形状修正系数69.当射源种类、Χ光胶片、增感屏种类一定期，底片上可辨认象质计钢丝直径与什么关于？（c）

a.只取决于黑度Db.只取决于μp/1+nc.取决于D和μp/1+nd.与D或μp/1+n均无关70.如何提高射线胶片信噪比？（a）a.增长曝光量b.提高管电压c.采用迅速胶片d.提高显影液pH值71.用含锑6%铅合金代替铅作增感屏其因素是这种增感屏（c）

a.清晰度好b.斑点效高深莫测少c.比较耐磨损d.增感系数高72.192Irγ射线通过水泥墙后，照射率衰减到200mR/h，为使照射率衰减到10mR/h如下，至少还应复盖多厚铅板？（d）（HPb=0.5mm）a.30.5mmb.10.5mmc.40.6mm73.制定放射性同位素与射线装置放射防护条例是为了(d)

a.保障从事放射工作人员和公众健康与安全b.保护环境c.增进放射性同位素和射线技术应用与发展d.以上都是74.线型像质计像质指数Z和金属丝直径d之间关系是（b）

a.d=106-2/10b.d=10(6-2)/10c.Z=10(6-d)/10d.Z=1075.采用4.5x4.5mm方形有效焦点X光机透照厚度100mm工件，当焦距为1000mm时，其“几何不清晰度”为（b）a.0.25mmb.0.5mmc.0.75mm76.射线透照厚度1.25英寸铸件，射线底片上显示出ASTM20#像质计2T孔，则该底片当量敏捷度为（b）a.0.8%b.1.6%c.2.4%d.3.2%77.像质计金属丝“几何因素修正系数σ”随几何间距与金属丝直径比值φ'/φ急剧增大而（c）a.不变b.增大c.减小d.以上都不是78.透照某工件时采用荧光增感，假定管电流为10mA，曝光时间40秒，可以得到抱负射线底片，若用5mA管电流得到同样黑度底片，需要曝光时间是（b）a.不大于80秒b.不不大于80秒c.等于80秒d.以上都不对79.美国ASTM、ASME透度计2-1T号等效敏捷度为（b）a.1.0%b.1.4%c.2.0%d.0.7%80.增大工件到胶片距离将引起图像几何放大，但这在什么状况下是可以采用？（c）

a.为了提高清晰度b.减小射源尺寸c.为了减少散射比d.做低倍射线照相81.筒形工件，当选用内源透照法时，若要获得对横向裂纹最高检出率，射线源应放置在（a）a.内圆中心处b.不大于内半径处c.不不大于内半径处d.以上都不是82.220KVX射线，对钢和铜进行射线照相，两者厚度当量系数为1比1.4，若以21mm厚钢板进行射线照相时曝光条件，对铜进行射线照相，则此铜板厚度应当是多少？（c）：a.20mmb.35mmc.15mmd.25mm83.220KVX射线，对钢和铜进行射线照相，两者厚度当量系数为1比1.4，若以10mm厚铜板进行射线照相时曝光条件，对钢进行射线照相，则此钢板厚度应当是多少？（b）：a.6mmb.14mmc.28mmd.25mm84.当用观测灯观测底片时，为了获得更直观效果，在曝光时采用不同方向摄取两张底片特殊照相办法，称之为（b）

a.荧光屏观测法b.立体射线照相法c.干板射线照相法d.闪烁计数法85.在同一张底片上作两个不同位置X射线照相，依照缺陷影像位置移动，相对于试样固定标志影像，可以计算出缺陷深度，这种办法称之为（a）a.深度定位视差法b.立体射线照相法c.荧光增感照相法d.立体投影法86.由于X射线在粗晶材料中也许发生衍射效应，因而散射特殊形式体现为（b）

a.底片衬度差b.底片上浮现斑点c.底片上发生严重灰雾d.底片辨别率差87.在底片上浮现特殊形状斑点影像，又称为“劳埃斑”也许因素是（a）

a.X射线在粗晶材料中发生衍射效应所致b.X射线在粗晶材料中发生折射效应所致

c.背散射所致d.侧面散射所致88.大晶粒金属零件射线照相时，用什么办法可以减轻衍射斑点影响？（c）

a.提高管电压并使用荧光增感屏b.减少管电压并使用铅箔增感屏

c.提高管电压并使用铅箔增感屏d.减少管电压并使用荧光增感屏89.普通在透照哪些材料时容易产生衍射斑点？（d）

a.较薄大晶粒重元素合金铸件b.镍基高温合金铸件c.锻造单晶叶片d.以上都是90.对于涉及轴、圆棒类、厚壁小孔圆管等圆形截面工件透照，为了减少厚度差影响，简朴有效办法是（d）a.制作专用托座b.制作专用夹具c.补偿物法d.使用滤波板91.200千伏时，钢和铜射线照相称量系数分别为1.0和1.4，对12毫米厚铜板进行射线照相，需要用（a）厚钢曝光量：a.16.8mmb.8.4mmc.33.6mm92.下列各种衍射斑纹在铸件中常用是（c）a.线状衍射斑纹b.羽毛状衍射斑纹c.斑点状衍射斑纹d.以上都是93.判断射线照片上影像斑纹与否是衍射斑纹办法是（d）

a.变化透照电压b.变化透照方向c.变化胶片与工件间距离d.以上都是94.在射线照相质量验收原则中经常重新作出规定是（b）a.缺陷性质b.缺陷数量c.缺陷位置d.以上都是95.关于放大射线照相技术，下列论述对的是（b）

a.放大倍数存在最佳值b.工件与胶片距离越小越好c.射线源与工件距离越小越好d.以上都对的96.下列问题中适于康普顿背散射成像技术检查是（d）

a.金属表面腐蚀裂纹b.原子序数低厚度小物体层析射线照相c.厚度很大物体表面层内部缺陷d.以上都是97.下列技术中适于检查厚度很大物体表面层缺陷是（c）

a.中子射线照相b.射线CT技术c.康普顿背散射成像技术d.以上都是98.电子射线照相技术采用单面乳剂胶片重要是由于（d）

a.胶片清晰度高b.增长电子感光作用c.减少电子散射d.减少胶片对X射线吸取99.在下列问题中，更适于采用中子射线照相检查是（d）

a.厚大钢铸件裂纹缺陷b.厚大钢铸件缩孔缺陷c.厚大钢铸件熔剂夹杂物d.以上都是100.对于例如铝蜂窝粘接构造表面蒙皮与蜂窝芯体粘接状况之类金属粘接质量检查，较适当无损检测办法是（c）

a.X射线照相检测b.伽马射线照相检测c.中子射线照相检测d.α射线检测101.对于例如炮弹弹体内火药之类金属外壳中含氢物质质量检查，较适当无损检测办法是（c）a.X射线照相检测b.伽马射线照相检测c.中子射线照相检测d.α射线检测102.对于核反映堆核燃料质量检查，较适当无损检测办法是（c）

a.X射线照相检测b.伽马射线照相检测c.中子射线照相检测d.α射线检测103.线状衍射斑纹一种重要特点使其一侧常随着有（c）a.白线b.人字形斑纹c.以上都是104.当变化透照电压时，衍射斑纹在射线照片上影像普通（b）

a.无变化b.有明显变化c.衍射斑纹形成与管电压无关105.线状、羽毛状衍射斑纹常出当前（d）焊缝射线照片上a.不锈钢b.铝合金c.钛合金d.以上都是106.斑点状衍射斑纹常出当前（d）铸件射线照片中a.轻合金b.不锈钢c.普通碳钢d.a和b107.在射线底片上线状斑纹，在大多数状况下其影像具备清晰形貌，影像黑度也较大，这种显示很也许是（c）a.裂缝b.夹渣c.擦痕d.以上都不是108.对非金属材料和复合材料工件进行射线照相时应特别注意（c）a.黑度b.管电压c.散射线防护d.曝光参数109.非金属材料和复合材料工件进行射线照相时散射线增多重要是由于它成分中有较多（b）物质a.原子序数高b.原子序数低c.高密度d.以上都不是110.在射线照相中，拟定缺陷在工件中深度位置办法是（d）

a.在互相垂直两个方向对工件作二次照相b.对工件作平移二次照相c.对工件作旋转二次照相d.以上都是111.已知某品牌便携式X射线机（300KV，5mA）穿透能力可达到53mmFe，已知300KVX射线对钛合金与钢射线照相等效系数分别为0.6和1.0，则要透照90mm厚钛合金饼坯，该X射线机能否胜任？（b）

a.可以胜任b.已达到该X射线机能力最高值，不适当使用c.无法拟定d.以上都不对112.阶梯孔型像质计在显示射线照相技术变化对影像质量影响方面和丝型像质计相比（a）

a.阶梯孔型像质计更敏捷些b.丝型像质计更敏捷些c.两者敏捷性相似d.以上都不是113.阶梯孔型像质计射线照相敏捷度规定为（a）

a.Sh=(h/T)x100%b.Sh=(T/h)x100%c.Sh=(h·T)x100%d.以上都不是（式中：Sh-阶梯孔型像质计射线照相敏捷度；h-可辨认最小孔所在阶梯厚度；T-工件透照厚度）114.请判断图中像质计属于什么类型像质计（a）a.沟槽型b.阶梯型c.线型d.平板孔型115.请判断图中像质计属于什么类型像质计（b）a.沟槽型b.阶梯型c.线型d.平板孔型116.请判断图中像质计属于什么类型像质计（b）a.沟槽型b.阶梯孔型c.线型d.平板孔型117.请判断图中像质计属于什么类型像质计（b）a.沟槽型b.阶梯孔型c.线型d.平板孔型118.请判断图中像质计属于什么类型像质计（d）a.沟槽型b.阶梯孔型c.线型d.平板孔型119.请判断图中像质计属于什么类型像质计（d）a.沟槽型b.阶梯孔型c.线型d.平板孔型120.请判断图中像质计属于什么类型像质计（a）a.斜面型b.阶梯孔型c.线型d.平板孔型121.在重要考虑几何不清晰度与胶片固有不清晰度状况下，底片总不清晰度与几何不清晰度和胶片固有不清晰度关系可以表达为（a）a.U2=Ug2+Ui2b.U2=Ug2-Ui2c.U=Ug2+Ui2（式中：U-底片总不清晰度；Ug-几何不清晰度；Ui-胶片固有不清晰度）122.下面关于恒电位X射线机论述中，错误是（b）

a.恒电位X射线机也简称为CP型X射线机b.恒电位X射线机可产生一种恒定能量X射线束

c.恒电位X射线机能提供更强能量输出d.恒电位X射线机能延长射线管寿命和缩短曝光时间123.在用针孔测量法测量X射线管有效焦点尺寸时，应使用（d）

a.增感型胶片b.非增感型胶片+铅箔增感屏c.迅速非增感型胶片d.非增感型微粒胶片124.在X射线照相中使用相纸技术时，其黑度测量是采用（b）

a.透射式黑度计b.反射式黑度计c.以上都是d.以上都不是125.有三种伽马射线源，其性质列表如下：射线源能阶（KeV）半衰期输出（rhm/Ci）60Co1173-13335.3年1.35192Ir206-61075天0.5575Se66-401120天0.203下数句子错误是（c）

a.60Co有较大穿透力，适合检测厚件b.192Ir半衰期较短，检测前要懂得其活性（居里数）

c.75Se还在实验室阶段，不合用于射线检测d.75Se能阶较低，适合检测薄件126.ASME孔洞型像质计之缺角代表（a）：a.材质b.编号c.厚度d.孔径127.按辐射防护规定，工作人员最高允许等效剂量值（rem）基本计算公式为（a）

a.H=5(N-18)b.H=6(N-18)c.H=5(N-20)d.H=6(N-20)（式中：H-累积总等效剂量，rem；N-实足年龄）128.公司8月份新招聘无损检测员工中发现一名新工人应当在12月31日年满18周岁，该名员工可否及时跟随参加放射性检测工作？（b）

a.应先改做与放射性检测业务有关工作b.应先改做不与放射性源接触工作至满18周岁后来

c.应改行做其她与放射性检测业务无关工作d.可以及时跟随参加放射性检测工作129.按辐射防护规定，从事放射性工作人员年龄必要年满（b）a.16周岁b.18周岁c.20周岁d.22周岁130.按辐射防护规定，一位35岁女性工作人员可否参加暂时性应急照射检测工作？（a）

a.不容许b.可以参加c.只要本人乐意就可以参加d.以上都不对131.按辐射防护规定，一位45岁女性工作人员可否参加暂时性应急照射检测工作？（a）

a.不容许b.可以参加c.只要本人乐意就可以参加d.以上都不对132.从事放射性检测工作人员剂量核算各种资料至少应保存（d）年：a.10b.15c.20d.30133.从事放射性检测工作人员剂量核算各种资料保存年限起计时间是（b）

a.自其开始参加放射性检测工作之日起算b.自其停止参加放射性检测工作之日起算

c.自18周岁起算d.自第一次测量其接受放射性辐射照射剂量当量之日起算134.惯用荧光增感屏荧光物质是什么？（d）：a.钨酸钙b.硫酸铅钡c.氯化钠d.a和b135.金属丝型像质计敏捷度计算表达式为（a）

a.（像质计在底片上显现最小线径/被检物厚度）x100%b.（像质计在底片上显现最大线径/被检物厚度）x100%

c.（被检物厚度/像质计在底片上显现最小线径）x100%d.（被检物厚度/像质计在底片上显现最小线径）x100%136.孔洞型像质计敏捷度计算表达式为（a）

a.(AB/2)1/2b.(2/AB)1/2c.(AB/2)2d.(2/AB)2（式中：A=(像质计厚度/被检物厚度)x100%；B=(像质计在底片上所显现最小孔径/被检物厚度)x100%）137.制作金属丝型像质计衬板或封套、框架，其材质射线吸取系数应比金属丝射线吸取系数（b）a.大b.小c.相似d.无所谓138.下面图例1是某公司生产某型号便携式气绝缘定向曝光X光机曝光曲线，其曝光条件为AgfaD7胶片，0.027mmPb增感，焦距700mm，底片黑度2.0，该X光机额定管电流为6mA，试拟定曝光量20-40之间相应220KV厚度宽容量是多少毫米？（b）a.3b.5.5c.8d.无法拟定139.下面图例是某公司生产某型号便携式气绝缘定向曝光X光机曝光曲线，其曝光条件为AgfaD7胶片，0.027mmPb增感，焦距700mm，底片黑度2.0，该X光机额定管电流为6mA，试拟定曝光量20-40之间相应300KV厚度宽容量是多少毫米？（c）a.3b.5.5c.8d.无法拟定二.是非判断题1.不稳定同位素在衰变期间，始终要辐射出γ射线。(X)2.一放射性同位素放出γ射线穿透力等同于多少千伏或兆伏Χ射线机穿透力，这种关系称作该同位素当量能。(0)3.放射性同位素当量能上限总是高于其平均能。（0）4.射线通过材料后，其强度9/10被吸取，该厚度即称作1/10价层。（0）5.60Co和192Ir射线源是稳定同位素在核反映堆中俘获中子而得到，当射线源通过几种半衰期后，将其放在核反映堆中激活，可重复使用。（X）6.俄歇电子是指被荧光Χ射线逐出原子轨道电子。（0）7.光电子又称为反冲电子。（X）8.一能量为300千电子伏光子进入原子中,使一轨道电子脱离50千电子伏结合能后,又给这个电子50千电子伏能量使其飞出轨道,则新光子能量是200千电子伏(0)9.由焦点尺寸和照像几何条件决定像质计金属丝几何因素修正系数σ在d'/d比值不不大于1时，其数值随d'/d增大而减小（0）10.对于2MeV电子直线加速器，靶材料为钨，比例系数为1.2x10-6时，其持续X射线转换效率约为1.8%(X)11.不同种类放射性同位素，其中活度（居里数）高辐射出γ射线剂量不一定比活度低大（0）12.高速运动电子在与靶金属原子核外电场作用时，发射出持续X射线（0）13.持续X射线总强度与管电压平方成正比，与管电流和靶原子序数成正比（0）14.“吸取剂量当量”-拉德（Rad）等于被照射生物机体吸取剂量-雷姆（Rem）与该射线相应修正系数（RBE）乘积（对X和γ射线来说修正系数等于1）(X)15.直线加速器输出强度要比同样能量电子感应加速器输出强度要大许多倍。（0）16.192Ir射线源产生射线重要成分是能量几乎呈持续分布“白色Χ射线”。（0）17.在显影过程中，KBr中Br离子被吸附在AgBr表面形成负电层，因而能排斥显影剂负离子对未曝光AgBr还原作用，防止灰雾生成。（0）18.对电子加速器产生Χ射线束，不适当用铅作过滤材料，因素是铅在高能量射线照射下会被激活。（X）19.在射线剂量笔中,两个石英纤维丝带有正电荷,当射线通过时就失去它们电荷,并且其中一种石英纤维丝向另一种靠拢(0)20.闪烁计数器型辐射仪，是由铊活化碘化钠单晶、光电倍增管和电子电路构成（0）21.在MeV级高能射线照相中，能量越高，则照射场尺寸越大。（X）22.就设备性能而言，在高能射线照相中照射场尺寸显得十分重要，而焦点尺寸显得较不重要。（0）23.密封铅罐中水位可用中子照相法测定。（0）24.在某一黑度条件下胶片，其曝光量倒数104，定义为胶片感光速度（0）25.含氢元素物质对中子射线有较强衰减作用(0)26.康普顿效应中，散射光子波长不不大于入射光子波长(0)27.在无损检测中应用伽玛射源除了最惯用钴60和铱192、铯137以外，尚有75Se、169Yb、170Tm和153Gd(0)28.75Se（硒75）半衰期是118天(0)29.169Yb（镱169）半衰期是31天(0)30.170Tm（铥170）半衰期是129天(0)31.153Gd（钆153）半衰期是242天(0)32.铯137半衰期是33年(0)33.一能量为300KeV光子与原子互相作用,使一轨道电子脱离轨道,且具备50KeV动能飞出,则新光子能量是250KeV(X)34.含氢元素物质对中子射线具备较强衰减作用。（0）35.X射线机采用高频电路长处能将几乎所有电源瞬变和干扰消除，KV，mA读数精度较高。（0）36.实验表白，胶片颗粒性对平板孔型像质计中小孔影象显示影响，要比对线型像质计中金属丝影像显示影响小得多（X）37.安装阳极靶时，普通要倾斜一定角度，使该实际焦点小，而有效焦点大（X）38.在实际使用焦距范畴（100～1000mm）内，焦距变化对散射比数值几乎没有影响。（0）39.只要底片达到特定黑度值(如最佳黑度值)，而不论μp/1+n如何，底片上可辨认象质计金属丝直径必然最小。(X)40.采用荧光增感时，由于“互易定律失效”，不能依照曝光因子公式修正透照参数。（0）41.滤板厚度变化时所绘制Χ射线胶片特性曲线形状和位置均会变化。（X）42.用2，5，8，18和31MeV这些高能Χ射线透照大厚度工件时，可以达到探伤敏捷度几乎相似。（0）43.荧光增感屏或金属荧光增感屏，由于荧光亮度产生感光作用与接受射线照相量率大小是不成正比，因而照射量率低时候，曝光时间比普通计算所得要高，这种现象称之谓“反比定律失效”（0）44.高能Χ射线发生器能产生能量值很高射线,因而能检测大厚度工件,但它缺陷是焦点较大,能量转换效率较低(X)45.常用金属增感屏按金属箔材料不同分为如下几类：铅屏；钢屏；铜屏；钽屏；钨屏(0)46.金属增感屏金属箔是由铅、钢、铜、钽或钨等金属分别轧制而成(0)47.晶粒较粗大材料，在一定射线透照条件下，射线底片上也许产生衍射斑纹(0)48.当设计低压X射线管时，为了考虑到滤波、效率、散热等因素，X射线管窗口普通采用铜合金制成（X）49.采用中子照相法时，其曝光需要先通过转换屏转换，然后再使用X射线胶片曝光(0)50.采用中子照相法时，其曝光办法是运用荧光增感屏+X射线胶片曝光（X）51.胶片增感因子在40-400KV之间变化状况是随着电压增大，增感因子增大（X）52.胶片增感因子在40-400KV之间变化状况是随着电压增大，增感因子变小（X）53.如果荧光增感屏种类一定，则感光速度重要取决于荧光物质颗粒度，颗粒越大，感光速度越慢（X）54.荧光增感屏由于经常受到强光照射或紫外线照射导致颜色变化和丧失某些光泽时，可以用弱射线照射使其恢复原有状态（X）55.在制作胶片特性曲线时，如果增长显影时间，会使胶片特性曲线变得更陡，并且向左移动(0)56.在制作胶片特性曲线时，如果增长显影时间，会使胶片特性曲线变得更陡，并且向右移动（X）57.由于X射线在粗晶材料中也许发生衍射效应，因而散射特殊体现形式是底片衬度差(X)58.由于X射线在粗晶材料中也许发生衍射效应，因而散射特殊体现形式是底片上浮现斑点(0)59.对大晶粒金属零件进行射线照相时，为了减轻衍射斑点影响，可以提高管电压并使用荧光增感屏(X)60.对大晶粒金属零件进行射线照相时，为了减轻衍射斑点影响，可以减少管电压并使用铅箔增感屏(X)61.对大晶粒金属零件进行射线照相时，为了减轻衍射斑点影响，可以提高管电压并使用铅箔增感屏(0)62.对大晶粒金属零件进行射线照相时，为了减轻衍射斑点影响，可以减少管电压并使用荧光增感屏(X)63.当单色射线能量约9MeV时，对钢穿透力最大，此时相应Χ射线输出约为20MeV（0）64.60Co放出γ射线平均能为1.25MeV，相称于～3000KVpX射线穿透力（0）65.192Ir放出γ射线平均能为0.35MeV，相称于150～800kVpX射线穿透力（0）66.60Co和192Ir射线输出分别为1.3R/m·h·ci和0.5R/m·h·ci（0）67.60Co和192Irγ射线能谱线分别为2根和至少24根（0）68.可用于2～10mm薄壁管透照一种γ射线新源是169Yb，其半衰期为31天，射线输出为125mR/h·ci（0）69.检查轻合金薄试件也可运用β放射同位素所产生韧致辐射，惯用源如90Sr和169Yb等（0）70.中子射线有如下特点：在重元素中衰减小、在轻元素中衰减大、在空气中电离能力弱、不能直接使胶片感光（0）71.惯用中子源有同位素中子源、加速器中子源和原子反映堆（0）72.不同剂量照射对人体损伤：D≤（0.25Gy）一次照射时，无明显病理变化；D≈（0.5Gy）时，浮现一时性血象变化；D≥（1Gy）时，会引起急性放射病（0）73.发生光电效应几率实验近似公式为：τ=kρz4λ3，其中K为常数；ρ为（物质密度）；Z为物质原子序数；λ为射线波长（0）74.波长为0.1光子,其能量E=124000eV=2×10-7尔格（0）75.管电压250kV时,产生射线最短波长为0.0496（0）76.X射线穿透钢材料时,两种重要效应发生几率与光子能量关系：J=σc时,E≈(100)keV；σc=max时,E=(1000)keV（0）77.持续Χ射线总强度可用下式表达：I=（ηoiZV2）（0）78.持续Χ射线转换效率公式为η=（ηoZV）（0）79.单色窄束射线半价层厚度约为1/10价层厚度0.3倍；若已知线衰减系数μ，则1/10价层厚度为2.3/μ（0）80.钴60γ射线源发出两种γ射线能量分别为1.17和1.33MeV，因而它们波长分别为0.0106和0.00932（0）81.活度为1居里铱192，距离它1米处在无遮挡、无吸取条件下，其一次射线照射量率为0.55伦琴/小时（0）82.衰变常数为0.021/年γ射线源，其半衰期为33年，此射线源为铯源（0）83.直线加速器长处是体积小和输出射线强度大，回旋加速器长处是焦点尺寸小84.产生给定胶片密度所需要伦琴数随射线能量增长而增长；射线能量高到一定数值，上述伦琴数基本不变，这就是所谓射线胶片光谱敏捷度（0）85.用盐屏摄得底片不清晰与两个因素关于，一是构造斑点，二是量子斑点（0）86.底片颗粒度表达为：G=σd/α,式中符号意义：σd-密度均方差；α-扫描点面积（0）87.Χ射线能量低于150kV时，由于吸取系数变化不久，管电压选取比较严格；能量在200～400kV时，电压变化约为30～40kV才使敏捷度有明显变化；当为2～31MeVΧ射线时，探伤敏捷度几乎相似（0）88.对电子加速器产生Χ射线束，不适当用铅或重过滤材料，因在2～3MeV时，其质量衰减系数有一最低值（0）89.当前惯用中子源有如下三种：①同位素中子源；②加速器中子源；③反映堆中子源（0）90.192Ir中有77个质子，115个中子，其半衰期为75天，则其衰变常数为0.00924/d（0）91.放射性同位素制取有在核反映堆中通过中子照射激活，如192Ir和60Co，也有是核裂变产物，如137Cs（0）92.用棒阳极射线管透照有剩磁钢管环焊缝时，聚焦电子漂移会导致曝光量不稳定（0）93.国内天津感光胶片厂生产工业用II、III、V型胶片，其感光度大体相称于国外Agfa牌号D10、D7、D4型胶片，或国外富士牌号400、200、100或80型胶片（0）94.若底片上阶梯孔型像质计敏捷度为2%，则实际圆形气孔检出敏捷度约为3%；为检出1mm气孔，像质计上应显示阶梯孔径为2/3mm（0）95.金属增感屏增感系数随着材料原子序数增大而增大，在实验范畴内金最大，在管电压较低时锡最大（0）96.金属增感屏增感系数随着Χ射线管电压减少而减小，大概在120kV如下时，增感系数不大于1（0）97.在某一密度D时胶片衬度用下式表达：G0=dD/dlgE；在两特定密度之间，胶片平均衬度可表达为G=△D/△lgE（0）98.为了提高射线照像对比度，可以采用射线胶片与工件保持恰当距离特殊照像办法，此时1/[1+n]值随该距离增大而增大，σ值该距离增大而减小，因而必要取σ/[1+n]值最大时最佳距离（0）99.在半波自整流电路里加装逆电压减少器目是减少X射线管逆电压，在倍压整流电路里起倍压作用元件是电容器（0）100.由于Χ射线照射场内阳极侧和阴极侧焦点尺寸和射线强度分布不同，因而不能运用整个照射场来透照工件（0）101.射线底片表观对比度与底片对比度关系式为：△Da=（△D/(1+n')）（0）102.体积状缺陷可检出性重要取决于射线照相对比度，细小缺陷可检出性还取决于胶片清晰度（0）103.裂纹类面状缺陷可检出性不但取决于射线照相影像质量三参数，还取决于缺陷自身深度L、宽度W和与射线束角度θ（0）104.给定γ射线源可透检厚度范畴上限取决于其能量和强度，下限取决于敏捷度下降值（0）105.在Χ射线管窗口加滤板有增大厚度宽容度和消除边蚀散射两大作用（0）106.大晶粒金属零件进行射线照相时，运用提高管电压和使用铅增感屏可以减少或消除衍射斑影响（0）107.从实际应用来说，可以以为X射线胶片特性曲线形状与X射线或γ射线线质无关（0）108.X射线在大晶粒材料中衍射而引起一种特殊形式散射线会使底片上浮现斑点状影像（0）109.X射线管按不同用途可分为五大类，第一类是医学诊断用X射线管，第二类是医学治疗用X射线管，第三类是材料分析用X射线管，第四类是材料检查用X射线管，第五类是特殊用途X射线管，无损检测应用是第4类X射线管（0）110.有X射线管阴极头有两组灯丝，可产生两个大小不同焦点，以适应不同用途（0）111.在其她工作条件保持恒定状况下，管电流变化会使X射线管发射辐射强度发生变化，强度近似地与管电流成比例，导致强度与管电流不能精准地成比例重要因素是X射线机变压器电压和波型随负荷变化（0）112.金属陶瓷X射线管与玻璃壳X射线管相比有下面六个长处：抗震性强，不易破碎、金属壳不存在电击穿和表面放电问题、管内真空度高，各项电性能好、体积小，重量轻，寿命长、容易装焊铍或钼窗口以放射软X射线、制造工艺简朴（0）113.特殊用途X光管涉及周向辐射X射线管、软X射线管、微焦点X射线管、棒状阳极X射线管（0）114.中子射线照像检测办法英文缩写是NRT(0)115.射线照相检查办法局限性是不易评估缺陷形状,大小和分布(X)116.射线照相检查法长处是效率高,成本低(X)117.当射线中心束方向与裂纹开裂面成45°角时,最容易发现该裂纹(X)118.X射线检测法不合用于混凝土构造件(X)119.X或γ射线计算机辅助层析扫描技术简称为工业CT(0)三.问答题1射线可分为哪几类，对于工业探伤射线有哪几种？

答：射线可分为如下几类：

(1)Χ射线和γ射线。它们都是波长很短电磁波，按波粒二相性观点，也可以看作是能量很高光子流。Χ射线是高速运动电子撞击金属产生；γ射线是放射性同位素在γ衰变过程中从原子核内发出。

(2)电子射线和β射线。它们都是高速电子流。电子射线是通过加速器加速电子得到；β射线是放射性同位素在β衰变过程中从原子核内发出。

(3)质子射线、氘核射线和α射线。它们都是带正电粒子流，质子是普通氢原子核1H1；氘核是氢同位素氘2H1原子核，由1个质子与1个中子构成；α粒子是氢原子核4He2，由2个质子与2个中子构成。质子射线与氘核射线可运用回旋加速器或静电加速器得到，α射线是放射性同位素在α衰变过程中从原子核内发出。

(4)中子射线。它是高速中子流，可从原子反映堆中获得，也可通过加速器获得，或从放射性同位素锎-252中获得。

当前用于探伤重要是Χ射线、γ射线和中子射线。其中Χ射线和γ射线广泛用于工业探伤，中子射线用于特种检查。2什么叫持续Χ射线有效能量？为什么持续Χ射线穿透物质后有效能量会增大？答：如果某一单能射线吸取系数与持续Χ射线在特定厚度范畴内平均吸取系数相等，便可用此单能射线能量来表达持续Χ射线平均能量，称作有效能量。持续Χ射线包具有能量不同光子，在穿透物质过程中，能量较低光子较容易被物质吸取，因而，在射线透过物质后，不同能量射线所占强度比率发生变化，低能量射线所占比率减少，从而使透过射线平均能量或有效能量增大。3放射性同位素衰变过程中辐射有哪几种形式？答：放射性同位素衰变辐射重要有如下几种形式：(1)仅辐射α粒子,(2)仅辐射β粒子,(3)既辐射α粒子又辐射γ射线,(4)既辐射β粒子又辐射γ射线4射线防护有哪几种基本办法？每种防护办法基本原理是什么？

[提示]：射线防护办法有三种，即距离防护、时间防护、屏蔽防护，距离防护--射线剂量率与离射线源距离平方成反比，因而尽量在距离射线源远地方从事射线探伤工作；时间防护--人体接受射线剂量与时间成正比，尽量缩短接受时间以减少对人体危害；屏蔽防护--射线穿过屏蔽材料时，其能量会衰减，尽量在有安全屏蔽条件下进行工作5影响照相质量散射线是如何产生？答：射线穿过物质时，与物质发生各种互相作用，其成果是除了一某些直接迈进透射线外，尚有向各个方向射出散乱射线以及光电子，反跳电子等。光电子和反跳电子穿透力极弱，大多数被物体自身吸取，虽然射到物体外，也很容易被空气吸取，对探伤质量不产生影响。散乱射线中一某些是由光电效应引起荧光X射线，这某些射线能量远不大于透射线。例如铁Kβ1荧光X射线能量约7keV，很容易被物体和增感屏吸取，对探伤质量也不产生什么影响。因而影响探伤质量散射线重要是由康普顿效应和汤姆逊效应产生，在射线能量很低（不大于50keV）范畴内，散射线重要由于汤姆逊效应产生，在射线能量较高范畴内，散射线重要由康普顿效应产生。6简述Χ射线管构造和各某些作用答：Χ射线管基本构造涉及：阴极--灯丝：发射电子；阴极头：灯丝支座，聚焦电子阳极--靶：遏制电子，发出X射线；阳极体：支承靶，传递靶热量；阳极罩：吸取二次电子，减少管壁电荷，提高工作稳定性管壳--连接两极，保持真空度7绘出能工作X射线机最基本电路图,并标明各某些名称答:如下图所示。8用于X射线检测用X射线管有哪些类型和种类？答：就焦点大社区别，可分为大焦点、小焦点和微焦点；就构造形式区别有玻璃壳管、金属陶瓷管和波纹陶瓷管；就辐射形式区别有定向曝光和周向曝光（有平靶和锥靶两种），软X射线管，棒阳极等9试比较射线检测与超声波检测两种办法合用范畴和局限性

[提示]：应从两种办法敏捷度高低、检测厚度范畴、易发现缺陷形状以及安全防护和经济性等方面进行比较10何谓互易定律失效？它对射线照相有何影响？答：互易定律是光化学反映一条定律，该定律指出，决定光化学反映产物质量条件，只与总曝光量有关，即取决于照度和时间乘积，而与这两个因素单独作用无关，由于它指出了时间和照度互易关系，因此称为互易定律，如果与这一定律结论有偏离，则称为互易定律失效。如果不考虑光解银对感光乳剂显影引起作用差别，互易定律可引伸为显影黑度只与总曝光量关于，而与照度和时间分别无关。在射线照相中，当采用铅箔增感和无增感时，遵守互易定律。设产生一定显影黑度曝光量E=I·t，当射线强度I和时间t相应变化时，只要两者乘积E值不变，底片黑度不变。当采用荧光增感时，互易定律将会失效。I与t发生变化时，尽管I与t乘积不变，底片黑度仍会变化。用公式描述保证底片黑度不变前提下，曝光量E与射线强度I，时间t关系，其形式为E=I·tp（p≠1）。互易定律是运用曝光因子公式和平方反比定律修正透照参数基本，如果互易定律失效，则不能运用曝光因子和平方反比定律修正透照参数，这将使透照参数选取复杂化。11何谓几何不清晰度？其重要影响因素有哪些？答：由于射线源都具备一定尺寸，因此照相时工件轮廓或缺陷边沿都会在底片上产生半影。这个半影宽度便是几何不清晰度Ug,缺陷几何不清晰度Ug值计算公式为：Ug=db/(F-b),式中：d--射源尺寸；F--焦距；b--缺陷至胶片距离。技术原则中规定几何不清晰度，普通是指透照中心部位最大几何不清晰度，计算公式为：Ugmax=dL2/L1,式中：L1--射线至工件表面距离；L2--工件表面至胶片距离；d--射源公称有效焦点尺寸。由以上公式可知，Ug值与射源尺寸和工件厚度或工件表面至胶片距离成正比，与射源至工件表面距离或焦距成反比。12绘图阐明胶片特性曲线由哪五某些构成？底片黑度应控制在胶片特性曲线哪个区域？为什么要控制在这个区域？答：AB-迟钝区；BC-感光局限性区；CD-正常（适量）感光区；DE-过感区；EF-负感区。底片黑度应限制在正常感光区内，由于在这个区域内底片对比度大（曝光量有小差别就能产生较大黑度差），敏捷度高。13散乱射线是如何产生？它对底片有何影响？透照时如何遮挡？答：散乱射线是由射线与物质作用而产生，如果来自工件内部，处在胶片前方，称为前方散射线，射线透过工件和胶片后打到地板、墙壁上等，均会产生散乱射线，由于它来自胶片背面，故称背面散乱射线（涉及侧壁散乱射线）；散乱射线使底片产生附加黑度，严重时所有变黑，影响底片对比度和清晰度，减少底片敏捷度；遮挡办法有：采用限光器（准直器）或采用铅板在射线源侧遮挡胶片附近不需透照部位，从而减少散乱射线对底片影响；采用金属增感屏，前屏吸取一某些前方散乱射线，后屏减少背面散乱射线影响；透照较厚工件时，暗盒背面用薄铅板（铅垫板）遮挡背面散乱射线；被透照工件周边尽量保障有一定空间，避免存储与透照无关杂物以避免侧壁散乱射线影响。14高能X射线设备重要原理是什么？答：运用超高压、强磁场、微波等技术对射线管电子进行加速，从而获得能量强大电子束，轰击靶面而获得高能X射线15X射线管焦点尺寸大小与什么关于？

答：重要取决于X射线管阴极灯丝形状和大小，使用管电压和管电流对焦点大小也有一定影响。16用于狭窄部位摄片X射线管阳极是什么样？答：棒状阳极17辐射场限制区是如何测量？答：X射线机辐射场尺寸是指从X射线管焦点上发出X射线在规定距离d处，垂直于输出窗轴线平面上，X射线辐射场大小可用曝光拍片法测量，胶片获得足够大，可将辐射场限制区拍摄下来，以底片最大黑度减少20%构成边界为辐射场尺寸18中子探伤设备涉及哪几某些？答：中子源、慢化剂、准直器和像探测器19什么是软射线技术？答：使用软X射线管，产生X射线束直接从铍窗口射出，避免了普通X射线管固有滤波，能基本保持原有波长且能量较低X射线，称为软X射线，运用其进行透照技术，即是软射线技术，多用于人体软组织、轻金属和非金属射线检测20选购X光机时，应考虑哪些条件？答：应考虑如下条件：①一方面要选取穿透能力能满足工作厚度规定；②能量相似时，尽量选小焦点；③要考虑工作量大小，持续生产还是断续生产；④要考虑工件材质和形状，即是有色金属还是重金属，轴类、板材还是筒类等去选取相应X射线探伤机种。21X射线机常用故障有哪些？答：常用故障有：①X射线管松动；②保险丝溶断；③电流表没批示或批示数很小；④电缆断线；⑤自耦变压器老化、高压指数达不到额定值；⑥发生器保护罩漏油，高压跳火；⑦X射线管失效；⑧阳极过热，毫安表针摆动较严重；⑨马达不转，发生器局部发热；⑩X射线管灯丝预热时间不够，而使灯丝老化损坏。22绝缘油绝缘强度低劣时有何现象？

答：绝缘油绝缘强度低时，送高压后，电流值不规则波动，普通不至达到跳闸限度。23什么是绝缘油绝缘强度？答：油样在油杯内2.5mm间隙时击穿电压多次平均值，就是该油绝缘强度。24X射线机规定什么样绝缘油，有哪些详细规定？

答：X射线机多用45#变压器油、绝缘强度要在50kv以上，还规定有燃点高、凝固点低、挥发性低、粘度适中档。25经常熔断电源保险丝故障因素也许有哪些?答:X射线管真空度不良,绝缘油里有气泡或绝缘强度减少,高压电路元件损坏,导致对地放电或短路,调压器等低压电路元件绝缘减少,导致对地短路,电源接错等26高压可接通,但无管电流故障因素也许有哪些?答:X射线管或高压整流管灯丝断或接触不良,高压变压器断线或接触不良,高压电缆与插座接触不良,毫安表损坏无批示,毫安调节器断路等27试推导射线照相主因对比度（物件对比度）表达式

答：已知宽束射线透过厚度为T试件,其透过射线强度Ip=(1+n)Ioe-μT--(1),当试件中某一局部区域厚度有变化,射线穿过厚度差为△T,该区域透过射线强度也会发生变化,其强度增量为△I,则有：

△I=Ioe-μ(T-△T)-Ioe-μT=Ioe-μT(eμ△T-1)--(2),(2)÷(1)得：

△I/Ip=[Ioe-μT(eμ△T-1)]/[(1+n)Ioe-μT]=(eμ△T-1)/(1+n)--(3),而eμ△T可展为级数

eμ△T=1+μ△T+(μ△T)2/2！……+(μ△T)n/n！……--(4),近似取级数前两项代入(3),得：

△I/Ip=[(1+μ△T)-1]/(1+n)=μ△T/(1+n)--(5)28写出透照厚度差为△T平板底片对比度公式和象质计金属丝底片对比度公式，阐明公式中各符号含义，并指出两个公式差别答：厚度差为△T平板底片对比度公式：△D=-0.434μpγ△T/(1+n)--(1)

象质计金属丝底片对比度公式：△D=-0.434μpγσ·d/(1+n)--(2),式中：μp--考虑胶片速度系数射线吸取系数；γ--胶片反差系数；σ--几何修正系数；△T--平板透照厚度差；d--象质计金属丝直径；n--散射比。

两个公式差别在于几何修正系数σ，由于透度计金属丝直径d远不大于焦点尺寸，在一定透照几何条件下，焦点尺寸会影响金属丝影像对比度，因此公式(2)引入σ对底片对比度进行修正。当缺陷尺寸不不大于焦点尺寸时，焦点尺寸对底片对比度影响可忽视不计，因此公式(1)中，没有几何修正系数σ29透照有焊冠焊缝应注意哪些事项？

答：（1）由于焊缝焊冠存在，底片上焊缝部位黑度D1总是不大于母材部位黑度D2，照相时应注意保证D1、D2均在原则容许黑度范畴内。（2）由于底片对比度△D随黑度D增长而增大，而辨认界限对比度△Dmin也随黑度D增长而增大，因而透照有焊冠焊缝时，通过控制恰当焊缝部位黑度D1和母材部位黑度D2，可使母材部位和焊缝部位能辨认透度计线径相等，此黑度称为有焊冠焊缝透照最佳黑度。（3）底片对比度随射线有效能量减少而增大，但另一方面，射线有效能量减少会使焊缝部位透射线I1与母材部位透射线I2比值大大减小，从而使母材部位散射线对焊缝部位影响更严重，其成果是减少了对比度，因而，透照有焊冠焊缝时，焊缝部位对比度不是单纯地随射线能量减少而增大，而是在某一线质时，焊缝部位底片对比度达到最大值。此线质称为有焊冠焊缝透照最佳线质。30指出小口径管对接焊缝射线照相缺陷检出不利因素，并提出改进办法。答：小口径管焊缝射线照相采用双壁双影法透照，对缺陷检出不利因素和改进办法有如下几点：(1)双壁双影法透照时，由于射源侧焊缝比胶片侧焊缝离开胶片距离相差一种管子直径，故射线源尺寸几何影响较大，使几何模糊度增长，小缺陷对比度减少，为减小射源尺寸对几何模糊度和对比度影响，可选取焦点尺寸小射线源，恰当增大焦距。(2)透照小口径管时射线穿透厚度自中心向两端变化很大，易导致底片上中心部位黑度过大，边沿部位黑度过小，为减少被检区域不同部位黑度差，宜恰当提高射线能量，采用“高电压，短时间”透照工艺。(3)由于管子直径较小，散射线引起“边蚀”效应比较严重。相应办法是在射线机窗口处加滤板，或采用铅罩屏蔽焊缝以外某些，以减少“边蚀”。(4)双壁双影透照时，焊缝被倾斜投影到胶片上，缺陷影像会发生畸变。为减少畸变，应控制透照角度和椭圆开口间距，间距普通为3～10mm，最大不超过15mm。31试述编写射线检测程序书所应包括内容？答：(1)工艺合用范畴(试件种类、焊接办法和类型、厚度等)。(2)工艺编制根据(关于规程、规范、原则、设计规定等)。(3)对探伤人员规定(资格、工作经历、学历、视力等)。(4)设备器材选取(射线机、胶片、增感屏、透度计、暗盒、铅字等)。(5)对工件规定(工序、探伤时机、工件表面状况)。(6)探伤技术规定（质量级别、比例、部位、合格级别)。(7)透照办法(源-胶片相对位置、焦距、划线长度、编号办法、透度计、铅字摆放、散射线屏蔽等)。(8)曝光参数(管电压、管电流、曝光时间等)。(9)暗室解决(配方、程序、条件、规定等)。(10)底片评估(像质鉴定、级别评估、返修规定等)。(11)记录报告(种类、内容、签证、存档及发送规定等)。(12)安全管理规定。32散乱射线是如何产生？它对底片有何影响？透照时如何遮挡？

答：散乱射线是由射线与物质作用而产生，如果来自工件内部，处在胶片前方，称为前方散射线，射线透过工件和胶片后打到地板、墙壁上等，均会产生散乱射线，由于它来自胶片背面，故称背面散乱射线（涉及侧壁散乱射线）；散乱射线使底片产生附加黑度，严重时所有变黑，影响底片对比度和清晰度，减少底片敏捷度；遮挡办法有：采用限光器（准直器）或采用铅板在射线源侧遮挡胶片附近不需透照部位，从而减少散乱射线对底片影响；采用金属增感屏，前屏吸取一某些前方散乱射线，后屏减少背面散乱射线影响；透照较厚工件时，暗盒背面用薄铅板（铅垫板）遮挡背面散乱射线；被透照工件周边尽量保障有一定空间，避免存储与透照无关杂物以避免侧壁散乱射线影响。33在某些压力容器安全监察规程中规定对于厚度较大焊缝在进行射线照相后还规定进行超声波检测复验，这是为什么？

答：各种非破坏检测办法均有其局限性，射线照像随着板厚增长，发现小缺陷能力就越来越差，特别是对于线状缺陷，例如轻微未焊透（熔入局限性）及小裂纹等难以发现，而超声波检测对于线状缺陷是敏感，为提高检测可靠性，保证产品质量，特别是质量规定高产品，超声波检测可以弥补射线照像检测局限性。34图示线路属于何种高压回路？多用于哪些射线机上？

答：这是半波自整流线路，多用于便携式X射线机上35射线探伤组织管理工作重要涉及哪几种方面？[提示]①配备足够完毕本单位探伤任务人员，这些人员需经考试合格并获得资格证书；②配备足够完毕本单位探伤任务设备及器材，加强设备维护，保证设备完好；③制定必要各项规章制度，如：检测程序书、设备维护、人员培训、检测报告、审核及存档制度等；④储备足够数量探伤用消耗器材（胶片、增感屏、药物等），并认真验收保管好；⑤监督本单位全体人员各负其责，把好质量关。36最新第二代75Seγ射线源有些什么特点？答：是在反映堆中激活具备热稳定性金属硒化物，焦点呈准球形，和其她射源相比，在相似活度下其焦点尺寸更小，更合用于小焦距曝光、管道爬行器和接触式射线照相，影像几何不清晰度小，是γ射线透照中档厚度（5-40mm钢），获取较高影像质量一种新型同位素射源，较铱192和钇169源半衰期长(118天)，与铱192相比，其发射能谱较软，γ射线照射率常数较小，设定辐射防护禁区较小，对操作者安全等37画出曝光曲线示意图，阐明制作条件并简述其用途。

答：曝光曲线是给定X射线机在选定工艺条件下（涉及胶片类型、增感方式、显影条件、焦距、底片黑度等）制作，只有在给定X射线机和相似工艺条件下才干使用该曝光曲线。有了实际射线探伤工艺条件下曝光曲线，在射线探伤时，对于不同厚度工件就可以依照曝光曲线上穿透厚度直接求得相应管电压、管电流和曝光时间，这是非常经济、省时和以便。38以玻壳X射线管为例阐明其构造各某些名称及重要作用。

答：玻壳X射线管内部构造重要涉及七个某些，即：铅玻璃罩-保持X射线管内真空度，吸取软射线；阳极罩-吸取二次电子和软射线；阳极体-支撑阳极靶和散热；阴极头-聚焦电子；灯丝-产生热电子；阳极靶-发射X射线；铍窗-吸取软射线39X射线管种类中，有一种旋转式阳极，它是如何？

答：它阳极是装在一种小感应电动机轴上，在X射线照射时旋转，这样阳极时刻以“新靶面”接受电子束轰击，因而电子束能量不至于像固定式阳极那样集中于一点，它可把热量散布在阳极相称大面积上。由于阳极转动非常平稳，焦点可以保持形状和位置稳定。用旋转阳极制成X射线管不但可以得到很小焦点，并且可以制成较大功率，其阳极为始终径约76毫米具备斜边沿钨盘构成，旋转速度可达到每分钟数千转。40X射线硬度对敏捷度有什么影响？

答：X射线硬度决定于波长，波长越短，硬度越高。X射线检查敏捷度重要取决于底片对比度和清晰度，对比度越高，越容易发现缺陷，然而当其她条件固定期，缺陷在底片上对比度完全取决于主因对比度：IA/IC=eμx（式中IA-透过缺陷处射线强度；IC-透过缺陷附近材料射线强度；e-自然对数底，常数；μ-吸取系数；x-缺陷深度）当缺陷深度一定期，提高主因对比度唯一途径是增大物质吸取系数μ，由于μm=CZmλn（式中μm-质量吸取系数；C-常数；Z-物质原子序数；λ-X射线波长，m和n普通取3），即质量吸取系数与被透物质原子序数立方和入射X射线波长立方成正比。当被透物质固定期，吸取系数仅决定于X射线波长。采用较低管电压时可以得到波长较长X射线，从而提高了主因对比度，亦即提高了敏捷度，因而在也许条件下尽量采用较低管电压，也就是较软X射线，对提高敏捷度是有益。41焦距对射线检查敏捷度有何影响？答：重要体当前四个方面：①焦距大小会引起缺陷投影畸变，焦距越小，缺陷投影畸变越大，因而从减小缺陷畸变考虑，选用较大焦距为好；②焦距大小会引起零件沿射线方向厚度变化，这是由于射线束成圆锥形扩散，引起零件边沿沿射线方向厚度增长，导致零件在底片上黑度不均匀，用K表达边沿部位与中间部位沿射线方向厚度比，即K值越大，零件中间部位与边沿部位沿射线方向厚度差值越大，使底片黑度越不均匀，对射线检查敏捷度影响越大，选用较大焦距可有效地减小K值（普通规定K值越小越好，最佳不超过1.1），对敏捷度有利；③焦距大小对几何不清晰度影响，几何不清晰度Ug存在使缺陷边沿轮廓模糊，减少了底片清晰度和缺陷对比度，因而焦距越大则Ug越小，检查敏捷度越高；④焦距大小对散射线影响，焦距增大必然导致曝光量要增长，在管电流一定状况下只能增长曝光时间，除了减少工作效率外，也会使得散射线作用时间增长而影响底片清晰度，减少了检查敏捷度。因而，从前三项而言，增大焦距对提高检查敏捷度有利，但从散射线影响因素来说，提高焦距对敏捷度是不利，故在拟定焦距参数时应予以全面综合考虑，选取适当焦距。42什么是增感和增感系数？

答：增感即是增长胶片感光量，从而可以相对地缩短对胶片曝光时间。增感系数用于阐明增感屏作用限度，也称增感因素，它是在所有条件不变状况下，使底片得到相似黑度时，不使用增感屏所需曝光时间t1与使用增感屏所需曝光时间t2之比：K=t1/t2,但是此增感系数K并不是一种固定不变值，它随使用X射线波长和所取底片黑度不同而变化。43什么是伪缺陷？简述底片上伪缺陷来源。

[提示]：由于胶片自身质量、胶片保管、剪切、装取、暗室操作解决不当，以及操作者其她操作不慎等因素，在底片上留下可辨别影像，但并非是被检查工件缺陷在底片上留下影像，称之为伪缺陷。伪缺陷来源涉及机械损伤或表面附着物形成（如指纹、折痕、划伤、水印等），或者是由化学作用形成（如漏光、感光、药物玷污等），大体上可以分为来源于胶片自身制造质量与储运、保管，来源于增感屏制造质量及损伤导致增感不均匀或受过可见光线照射过荧光增感屏受激荧光影响等，来源于胶片裁切、包装、照相及冲洗过程中漏光、手印、静电、划伤或局部折伤等；来源于暗室解决中玷污、解决不均匀、水迹、指纹、气泡、药水老化失效、操作程序不当等等44什么是“照相灰雾（Photographicfog）”和“曝光灰雾（exposurefog）”？

[提示]：照相灰雾是由于乳剂和冲洗条件导致灰雾，即是胶片固有灰雾与显影时化学灰雾总和；曝光灰雾则是由于胶片受到不需要电离辐射或可见光波曝光而导致灰雾45就像质计金属丝底片对比度公式讨论提高对比度重要途径，并阐明通过这些途径提高底片对比度也许会带来什么缺陷？答：像质计金属丝底片对比度公式△D=-0.434μpγσ·d/(1+n),提高对比度重要途径及由此带来缺陷：(1)增大μp值。在保证穿透力前提下，尽量采用能量较低射线，得这样会使曝光时间增长。(2)增大γ值。可选用γ值更高微粒胶片；由于非增感型片胶片γ值和黑度成正比，也可通过提高底片黑度增大γ值。但高γ值微粒胶片感光速度往往较慢，需要增大曝光时间，提高黑度也需要增长曝光时间，此外，黑度提高会增大最小可见对比度△Dmin，对敏捷度产生不利影响。(3)提高σ值，可选取焦点尺寸小射源，或增大焦距，这样做也会使曝光时间延长。(4)减少n值。要减小散射线，就要使用铅窗口和铅屏蔽，这些也将减少工作效率，使曝光时间延长。46以钢铁材料为例简述吸取系数μ三个主分量τ、σ、χ在不同射线能量（从0-100MeV）时分布规律，并用图示阐明（答案从略）47简述射线照相时，最小可见对比度△Dmin含义以及它与底片黑度关系，对于金属线图像来说，在什么黑度范畴内是可以辨认，并用图示加以阐明（答案从略）48简述射线检查中除照相法外任意三种其她办法原理及合用范畴（答案从略）49简述焊缝射线照相时，影响底片图像对比度各种因素，为提高照相对比度，可采用哪些工艺办法？（答案从略）50简述暗室解决时，影响底片质量重要因素以及因暗室解决不当导致底片质量问题各种重要体现形式（答案从略）51试用射线衰减规律解释射线照相法基本原理，并简要分析提高射线照相质量各种因素（答案从略）52何谓射线照相中“宽容度”？在什么状况下需要提高照相宽容度？这样会给它照相质量参数带来什么影响？（答案从略）53试述焊缝射线照相时，减少散射、直射线强度比n几种办法（答案从略）54对焊缝而言，采用射线照相法与超声波检查法各有什么优缺陷？（答案从略）55底片黑度是影响射线照相质量参数之一，试述黑度D与对比度△D和最小可见对比度△Dmin之间关系，依照这一关系，应如何选定底片黑度范畴？并作图加以阐明（答案从略）56γ射线探伤中最惯用几种放射源名称、半衰期、γ射线能量、比活度范畴、化学状态以及对钢铁工件合用厚度范畴是什么？（答案从略）57为什么散射线会减少射线照相敏捷度？在焊缝射线照相中，加强高（余高）和母材区散射比n数值分布规律大体是如何？并以简图加以阐明。在焊缝射线照相中可以用什么办法来减少散射比以提高图像质量？（答案从略）58射线探伤用胶片普通是依照什么来进行分类？各类胶片重要参数之间（如颗粒度、对比度、感光速度、清晰度）互有关系是什么？（答案从略）59为什么恰当提高观片灯亮度就可以扩大金属丝影像在底片上可见黑度范畴？并请作图加以阐明（答案从略）60简述X射线照相法之外任意四种