统计过程分析基础课件

统计过程分析基础2024/3/14统计过程分析基础本讲座的目的通过本课程的训练，你将能够：理解什么是SPC明白控制图原理如何应用控制图进行过程控制统计过程分析基础一、SPC的概述统计过程分析基础SPC的基本概念SPC(StatisticalProcessControl):为了贯彻预防原则，应用统计技术对制造(服务)过程中的各个阶段进行评估和监察，从而保证产品与服务满足要求的均匀性。统计过程分析基础SPC的特点●与全面质量管理相同，强调全员参与，而不是只依靠少数质量管理人员●强调应用统计方法来保证预防原则的实现●SPC不是用来解决个别工序采用什么控制图的问题，SPC强调从整个过程、整个体系出发来解决问题。SPC的重点就在与“P（Process，过程）●可判断过程的异常，及时告警；●不能告知此异常是什么因素引起的统计过程分析基础●最终发展为SPD（StatisticalProcessDiagnosis，统计过程诊断）------SPD既有告警功能，又有诊断功能统计过程分析基础统计控制状态●概念：只有偶因而无异因产生的变异的状态●优点：----对产品的质量有完全把握----生产也是最经济的----在控制状态下，过程的变异最小xUCLCLLCLt统计过程分析基础数据的统计分析示例:统计过程分析基础分布控制图代号控制图名称备注正态分布（计量值）均值—极差控制图均值—标准差控制图中位值—极差图单值--极差图统计过程分析基础分布控制图代号控制图名称备注二项分布(计件值)p不合格品控制图p、np图可由不合格数npTnp不合格品数控制图泊松分布(计点值)u单位不合格数控制图用cT代替u、c图c不合格数控制图统计过程分析基础常用的控制图均值-极差图---图用于观察正态分布均值的变化；R图用于观察正态分布的分散情况或变异度的情况均值-标准差图---同均值-极差图，用标准差代替极差，R图计算方便；但当n>10时，s图比R图效率高；最终替代R图；●中位极差图图，表示中位值。现在由于计算机应用普及，故已淘汰，被均值-标准差图替代。统计过程分析基础关注两种错误一.第一种错误:虚发警报(falsealarm)αβ二.第二种错误:漏发警报(alarmmissing)UCLLCL统计过程分析基础三、减少两种错误所造成的损失：●UCL、LCL距离间隔大，α减小β增大●UCL、LCL距离间隔小，α增大β减小●UCL、LCL距离间隔3σ，α=0.27%Β=99.73%统计过程分析基础二、控制图的设计思想统计过程分析基础规范界限与控制界限的区别规范界限：区分合格品与不合格品控制界限：区分偶然波动与异常波动上控制限下控制限中位线上规范界限下规范界限统计过程分析基础3σ方式确定控制界限●UCL=μ+3σ●CL=μ●LCL=μ-3σ-699.999998%

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45-1-2-3-4-568.26%99.73统计过程分析基础●先确定α，再看β----按照3σ方式确定UCL、CL、LCL，α0=0.27%----通常采用α

=1%，5%，10%三级，为了增加使用者的信心，取α=0.27%。Α越大，β越小5%10%1%统计过程分析基础判稳(过程是否受控)原则●判稳准则在点子随机排列的情况下,符合下列各点之一判稳:

-----连续25个点，界外点数d=0-----连续35个点，界外点数d≤1-----连续100个点，界外点数d≤2●分析判稳原则准则αβ10.06540.934620.00410.995930.00260.9974统计过程分析基础准则P（过程为正常的概率）判断错误的概率N=25d=01-PN=35d≤11-PN=100d≤3N=nd≤k判稳的计算公式统计过程分析基础判异举例两类：●点出界判异

统计过程分析基础LCLUCLCLABCCBA两类：●界内点排列不随机判异：判异准则：1、连续9点落在中心线同一侧统计过程分析基础2.连续6点递增或递减：LCLUCLCLABCCBA统计过程分析基础3.连续14中相邻点上下交替LCLUCLCLABCCBA统计过程分析基础4.连续3点中有2点落在中心线同一侧的B区以外LCLUCLCLABCCBA

统计过程分析基础5.连续5点中有4点落在中心线同一侧的C区以外LCLUCLCLABCCBA统计过程分析基础6.连续15点在C区中心线上下LCLUCLCLABCCBA统计过程分析基础7.连续8点在中心线两侧，但无一点在C区中LCLUCLCLABCCBA统计过程分析基础三、控制图的使用选择统计过程分析基础●X控制图：多用于下列场合：---对每件产品都必须检验，如采用自动化检查和测量的场合；---取样费时、昂贵的场合；---如化工等气体与液体流程式过程，产品均匀，多抽样无意义；---特点：灵敏度差●p控制图：用于控制对象为不合格品率或合格品率的计件质量指标的场合；----例如：不合格品率、交货延迟率、缺勤率、邮电的差错率等；统计过程分析基础

●计量控制图：由于计算机的应用普及，控制图的计算机毫无困难，而且无论样本是否大于10，图计算的结果都是精确的，故均值标准差图完全可以代替均值极差图。●计件控制图：当样本大小n变化时，由于p图、np图的控制界限都呈凹凸状，不但作图不方便，更无法判稳、判异，可以通过应用不合格数npT图替代。●计点控制图：当样本大小n变化时，由于u图、c图的控制界限都呈凹凸状，不但作图不方便，更无法判稳、判异，可以应用通用不合格数cT图替代。●

经常用的控制图：

、、npT图、cT控制图统计过程分析基础应用控制图时，首先将非稳态的过程调整到稳态，用分析控制图判断是否达到稳态。确定过程参数特点：1、分析过程是否为统计控制状态，调至稳定。2、过程能力指数是否满足要求？控制图的两个阶段分析用控制图等过程调整到稳态后，延长控制图的控制线作为控制用控制图。应用过程参数判断控制用控制图统计过程分析基础Cp或Cpk值的大小判断1≤Cp(Cpk)<1.33能力尚可，但当Cp接近1时，则可能产生超差危险，应加以控制Cp(Cpk)=1.33理想状态Cp(Cpk)≥1.33能力充足