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文档简介

集成运放参数测试仪摘要:本集成运放参数测试仪以MSC-51单片机为核心,由被测电路、信号源、0809A/D转换器、液晶显示器、键盘等组成。采用DDS芯片AD9835产生40kHz〜4MHz扫频信号和5Hz的输入信号,它能对LM358及与之引脚兼容的其他集成运放(例如LM353、LM741)的基本参数V、I、A、K及BW进行测试和数字显IOIOVDCMR G示。关键字:集成运放;单片机;DDS一、系统方案设计方案论证与选择(1) 信号源部分方案一:利用函数发生器,可产生三角波、方波、正弦波。通过调整外围元件可以改变输出频率、幅度,但采用模拟器件由于元件分散性太大,即使用单片函数发生器,参数也与外部元件有关,外接电阻电容对参数影响很大,因而产生的频率稳定度较差、精度低、抗干扰能力差。方案二:采用锁相式频率合成方案。锁相式频率合成是将一个高稳定度和高精度的标准频率经过运算,产生同样稳定度和精确度的大量离散频率的技术,他在一定程度上满足了既要频率稳定精确,又要在大范围内变化的矛盾。但其波形幅度稳定度较差,在低频内波形不理想。方案三:采用直接数字频率合成(DDS)技术。由于DDS采用全数字方式实现频率合成,直接对参考正弦波时钟进行抽样和数字化,然后通过数字计算技术进行频率合成,因此具有模拟频率合成技术无法比拟的优点。DDS不仅频率转换速率快、频率分辨率高、相位噪声低、输出相位可连续变化,而且易编程,体积小、功耗低。DDS直接频率合成器件的诸多优点使其逐渐成为未来信号源发展方向。方案拟采用DDS专用集成芯片AD9835。它的串行控制方式,使电路简单、编程方便;内部有一个32位相位累加器,用于存放频率控制字,可实现1Hz的频率调节。我们需要5Hz的单一稳定频率,要求其频率,幅度稳定。综合考虑,我们采用方案三,实现了高精度,高稳定度的5Hz测试信号源。(2) 信号采集模块方案一:用AD736RMS真有效值转换芯片,AD736的响应频率在0~10KHZ,采用该器件只需将被测的信号加到它的输入端上,就可以得到它的有效值,无需软件处理,测试非常的方便。但是我们在调试中现在AD736在响应低频的时候不是很稳定,这样对整个系统会带来不稳定。因此我们没有选用这个方案。

方案二:采用A/D转换,将模拟信号数字化,然后进行数据处理。由于ADC0809运用起来非常的方便,转换精度也比较高,因此我们采用了方案二。系统方案描述该系统包括软件和硬件两个方面,程序被下载到单片机中,自动进行一系列测试工作,其整体系统原理框图如图1.1所示。图1.1整体系统原理框图二、硬件电路设计与分析1、V和I电参数的测试IO IO根据GB3442-82标准,直流参数V、I电路原理图如图2.1所示。IOIO(0.47uFRf47KRi100R1MAn30KR11K50LM358RfT47K__Ri100R1MAn30KR11K50LM358RfT47K__R230K68nFDOP07-I—0.1uF图2.1VI0、II0测试原理图10、(1)输入失调电压VIOr i r+rif(V'IOr i r+rif(V'-V)/REE(2)2、A和K电参数的测试VD CMR根据GB3442-82标准,交流参数A、VDK电路原理图如图2.2所示。CMR■Rr^O0■<BADC0809A/Dr.i100LM358r10kVs0P07由于运放电路参数的不对称,使得两个输入端都接地时输出电压不为零,称之为放大器的失调。为使输出电压回到零点,必须在输入端加一个纠偏电压来补偿这种失调,这个纠偏电压就叫运算放大器的输入失调电压V。因此,V的定IOIO义为使输出电压为零时,在两个输入端之间加的直流补偿电压。输入失调电压的测量原理如图2.1所示,此时应K]、K2闭合,测出E点的电压VE,则输入失调电压RV二V-V二V二iV ⑴ioabaR+Reif(2)输入失调电流IIOI的定义为补偿失调电压后,使输出电压为零时,流入运算放大器两输入IO端的电流差值。测试原理仍用图2.1,此时将K]、K2断开,测E点的电压VE'则输入失调电流S1言号源S1言号源S247k信号源~T~图2.2A、K测试原理图VDCMR(1)差模开环增益AVD开环电压增益是指放大器在无反馈时的差模电压增益,其数值等于输出电压的变化量AUo与输入电压的变化量AUI之比。由于Avo很大,输入信号很小,而且输入电压与输出电压之间还存在相位差,很容易引起较大的测试误差,因此在测试开环电压增益时都采用交流开环、直流闭环的方法。测试原理如图3.2所示,将S1拨向地线,S2拨向信号源V,取C=0.47uF,C=2200pF,测出E点S f1 f2

电压vE,则交流差模开环增益3)VR+R3)A=201g(护•丄 f)(dB)VD VREi(2)共模抑制比KCMR共模抑制比定义为差模电压增益AVD与共模电压增益AVC之比。K的大小CMR不仅与频率有关,还与输入信号大小和波形有关,因此测量频率不宜太高,信号不宜过大。其测试原理如图3.2所示,将S1拨向信号源V,S2拨向地线,CS f1取4个0.47uF电容串联,C=1000pF,测出E点电压VE,则共模抑制比f2 EKCMRA T7C

KCMRA T7C

—D-C=20叫EVR+R-S•i 匚)(dB)Ri4)三、软件程序设计在主程序中,主要根据按键做相应的处理,主程序流程图如图3.1所示。图3.1主程序流程图四、数据分析与测试(1)测试V、I、A、K的数据见表4.1。测量值与标准值的比较如表4.2所IOIOVDCMR示。表4.1测试V、I、A、K的数据IOIOVDCMR次数测量值计算值直流参数交流参数直流参数交流参数V/VEV'/VEV/VEV/VEV/mVIOI/nAIOA/dBVDK/dBCMR11.544.0310.802.003.275.2853.8568.5021.604.1610.932.123.405.4353.7568.0031.584.0910.552.073.355.3254.0668.20表4.2测量值与标准值的比较测试芯片测量值标准值测量误差V/mVIO3.343.252.77%I/nAIO5.345.251.71%A/dBVD53.8950+3.89dBK/dBCMR68.2370-1.77dB2)信号源的输出频率范围及输出电压有效值见表4.3。表4.3信号源的输出标准频率/Hz实测频率/Hz误差/(%)有效值/V10.9990.012.110099.90.12.11k0.994k0.62.010k9.98k0.22.0100k100k01.81M1M01.94M4M01.8五、结论该集成运放参数测试仪能对V、I、A、K四项基本参数进行准确测试。IOIOVDCMR其中V的测试范围是0〜40mV,误差绝对值小于2%。I的测试范围是0〜4口A,IO IO误差绝对值小于2%。A的测试范围是60〜120dB,误差绝对值小于3dB。K的VD CMR测试范围是60〜120dB,

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