基于可编程器件的存储测试系统设计的中期报告

基于可编程器件的存储测试系统设计的中期报告设计背景：可编程器件是目前数字电子技术中最重要的器件种类之一，其应用涵盖了各个领域，例如通信、计算机、信息安全等。随着可编程器件市场需求的增长，对其质量的要求也越来越高。而可编程器件的质量主要取决于存储器存取性能和存储器可靠性。因此，设计一套能够有效检测可编程器件存储器性能的测试系统，对于提高可编程器件的质量具有重要意义。设计目标：本设计的主要目标是设计一套基于可编程器件的存储测试系统，能够准确地测量可编程器件的存取速度和可靠性，并能够自动化进行测试。具体设计要求如下：1.测试系统需要能够支持常见的可编程器件类型，如FPGA、CPLD、FLASH等。2.测试系统需要能够测试可编程器件的读取性能、写入性能、读写带宽、单元坏点等指标。3.测试系统需要支持不同的测试模式和测试参数设置，以满足不同的测试需求。4.测试系统需要能够自动化测试，包括测试程序的自动生成、测试结果的自动化分析和处理。设计方案：为了实现上述目标，本设计采用了如下的系统架构：1.测试系统主体部分由两部分组成：测试仪器与PC机。测试仪器包括数字示波器、信号发生器、信号切换器等，用于对可编程器件进行测试。PC机则负责测试程序的生成、测试参数设置、测试流程控制、测试结果分析处理等。2.测试软件包括测试程序生成模块、测试程序控制模块和测试结果分析处理模块。测试程序生成模块根据用户的测试要求，自动生成相应的测试程序代码，以完成对可编程器件的具体测试。测试程序控制模块负责控制测试仪器的工作状态，向测试器件发送相应的测试信号，以及读取测试结果。测试结果分析处理模块对测试结果进行处理、汇总和分析，并将分析结果反馈给用户。3.测试程序由C语言编写而成，能够方便地扩展和修改，根据不同的测试需求，可以灵活地进行修改。4.测试系统还具备图形化界面，方便用户进行测试参数设置和测试结果查看。具体实现方案：在设计实现方案上，我们采用了如下策略：1.测试仪器采用常见的数字示波器、信号发生器、信号切换器等设备，其通讯采用USB接口，与PC机进行连接。2.测试程序生成模块采用Matlab语言编写，根据用户的测试要求，自动生成测试程序。测试程序控制模块和测试结果分析处理模块则采用C语言编写。3.测试程序控制模块使用NI-VISA库进行仪器控制，包括对示波器、信号发生器和信号切换器进行控制，以实现对可编程器件的测试。4.测试系统的图形化界面使用QT库进行设计实现，用户可以通过界面进行测试参数设置和测试结果查看。预期成果：本设计的预期成果主要包括：1.可编程器件存储测试系统的设计与实现。2.测试系统能够实现对可编程器件的存储性能进行测试，包括读取性能、写入性能、读写带宽、单元坏点等指标的测量。3.测试系统可以自动化进行测试，生成测试报告，提高测试效率。4.测试系统具备图形化界面，操作方便，用户体验好。未来展望：未来，可编程器件市场的需求将持续增长，对可编程器件质量的要求也将越来越高。因此，可编程器件存储测试系统的研究和开发将具有重要意义，未来的研究方向可能包括：1.对测试仪器和测试程序的优化，提高测试效率和测