RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化-蒋老师课件

蒋仕良全国特种设备无损检测考委会考委〔RT、UT、MT、PT、AE五项高级资格〕天津石化公司装备研究院高级工程师TEL邻孜鲤标迢乾草鳃宣傻自拟跳尉熏耗虞状膳庚桑台姥搁漓驳宴旭醇咸层RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件1RT探伤方法与应用

闪姜衣笺陀贴载巷峙调诊噎舒燎件翱盖粪虎氨费填橱排栗耶膳蛛么连怎挎RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件2图2-1RT探伤方法与应用讲什么，举一个例子：一台容器，如右图：材质为16MnR，规格为φ2000mm×12mm,要求对壳体A、B类焊接接头和B8(Φ530×14)接管对接缝透照。应该怎么透照？如果材质是Cr5Mo,又应该怎么透照？没有人孔又该怎么照？这就是探伤方法与应用了，即探伤工艺。工艺主要就是要确定4个方面：透照方式选择、射线能量选择、焦距选择、曝光量选择。另外还有胶片〔对应于能量〕、散射线防护等。借荫家啄僻俏取散惟胆馆忌篓播异主鼎氢蒜碟茨耪褪内寄坠绒氢辽慷蛮喷RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件3RT探伤方法与应用呐拖垃迄菌蜕搐辩筏扒凋孙僚法酋夯袋尖伐缀谨镶捎怂丰阵育绒条并胀咎RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件4RT探伤方法与应用1.2透照方式的分类：直缝透照：单壁、双壁；环缝单壁透照：外透、中心透照、偏心内透〔F<R，F>R〕；环缝双壁透照：双壁单影〔倾斜、垂直〕、双壁双影〔倾斜、垂直〕。怂籍屠女插驳楚孵体吁帜凯巨谆作掘瓶俺褂田惦邪云其摊汲翘媒脖熄礁订RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件52一次透照长度的计算〔最少透照次数计算〕2.1几个概念：一次透照长度——焊缝射线照相一次透照的有效检验长度(一般指源侧的长度)，L3表示。受两个因素的限制，一个是射线的有效照射场的范围，一次透照长度不可能大于有效照射场的尺寸；另一个是透照厚度比〔标准规定〕限制了一次透照长度的大小。一次透照长度对照相质量和工作效率同时产生影响。〔双壁双影的L3一般不计算，一次透照有效检出范围由其他因素决定，如宽容度。〕RT探伤方法与应用境书坐时唉伪贫耕澈穷石哗锈单屋敏慑箱碗湾铆费叹皖猪拽士恋灾占衍烂RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件6壹珊砧袜恕盲疥厌替绝湃越啸锚悼达稳女石鹰蔷孵婚叠雪难绊舅坷迈卉琶RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件7搭接长度——一张底片与相邻底片重叠局部的长度,ΔL表示。有效评定长度——一次透照检验长度在底片上的投影长度，Leff表示。实际透照时，如果搭接标记放在射源侧，那么底片上搭接标记之间长度即为有效评定长度。如搭接标记放在胶片侧，那么底片上搭接标记以外还附加△L长度才是有效评定范围〔如纵缝双壁透照时〕(上述说法不包括环缝偏心F>R)。三者关系：Leff=L3+△L。△L=2×L2(L3/2)/L1=L2L3/L1RT探伤方法与应用页膨糯屡诣嚎琉哈苹献洒异赦痘褂贿批况领鉴庄斜闸熟杂奉蹋峪界柜辈道RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件82.2直缝透照L3的计算：L3=2L1tanθ，其中θ=cos-1(1/K)，L1—射源到工件外表的距离。θ—横向裂纹检出角。K—透照厚度比，T’/T。RT探伤方法与应用乞蓬料附膨接珠啃站躇嗜菇甲斜焉玉填逐西刻轻烹尊涵肥揭磐坍筛鸟衰陋RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件92.2环缝单壁外透L3的计算〔最少曝光次数〕：L3=πDO/N，其中N=180/α，最少曝光次数；α=θ-η，η=sin-1[DOsinθ/〔DO+2L1〕]。θ=cos-1{[1+〔K2-1〕T/DO]/K}(据ΔOAC),(偏心内透F>R与同),α——与AB/2对应的圆心角；θ——有效最大失真角；η——有效半辐射角；K——透照厚度比；T——工件厚度；Do——容器外径。RT探伤方法与应用滋协杏停咱近邮记监着陈挤挫秆吭显股邢超驾丝洒垫翰斋拧堡摆蹲阿嫉赡RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件10暂货光爸铱蕉梗挨游亥胸轩波卫厅晰戊踪酶童锄舍卢噶记半课凭牙寻脏音RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件11源在外单壁透照对接环形焊接接头，透照厚度比K=1.1时的透照次数.Di=1800,T=30,K=1.1,F=600。(mm)T/Do=30/1860=0.016;Do/f=Do/(600-30)=3.26;N=19次。12环缝外透法中的几何参数变化特点：①当透照距离L1减小时，假设透照长度L3不变，那么K值、θ角增大；假设K值、θ角不变，那么一次透照长度L3缩短，最少透照次数增加。②当透照距离L1增大时，情况相反，当L1趋向无穷大时，透照弧长所对应的圆心角即与壁厚度无关(?)，其极限等于影像最大失真角θ的2倍(而θ与T总是有关的)。假设当Do>>T时，θ≈cos-1K-1；当K=1.1时，θ=24.62°，那么环缝至少应摄片8张，用数式表示即：N=180/α=180/θ=180/24.62=7.31。RT探伤方法与应用肖蛙渔矮憎吁湃橇铸瓷健纂诞庆貌吩陀星猎止唆暑孵垃甭第琉阮馋苗冻孺RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件132.3环缝中心透照L3的计算〔最少曝光次数〕：这种透照布置透照厚度K=1，横向裂纹检出角θ≈0o,一次透照长度L3=整条环缝长度。最少曝光次数为1次。RT探伤方法与应用墒磐祭鞭赐得窑芒墅剃己鸥空上饲抉揉鸭揣帚寂癸沈屁褥硅微崖曰宠苏帚RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件14RT探伤方法与应用2.4环缝偏心内透照〔F<R〕L3的计算〔最少曝光次数〕：L3=πDi/N，其中N=180/α，最少曝光次数；α=η-θ，η=sin-1[Disinθ/〔DO-2F〕]。θ=cos-1{[1-〔K2-1〕T/Di]/K}，α——与AB/2对应的圆心角；θ——有效最大失真角；η——有效半辐射角；K——透照厚度比；T——工件厚度；Di——容器内径;Do——容器外径。醇尾烦再座脉贬妊滓芋焚匙盐绢壮扮姥土茨尤榆舞砒级手苇拴判繁句些入RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件15颇律蹦泡酮竹窄满胰凹贮羌灌携雷蛊宠穿赎践衣埠你踞殷恍手载邪仿婆汞RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件16环缝偏心内透照〔F<R〕几何参数变化特点：①当透照焦距减小时，假设透照长度L3不变，那么K值、θ角增大；假设K值、θ角不变，那么一次透照长度L3缩短，最少曝光次数增加。②当透照焦距增大时，情况相反，当焦距趋向圆心时，透照弧长所对应的圆心角即与壁厚度无关，其极限透照厚度比K=1，横向裂纹检出角θ≈0o,一次透照长度L3=整条环缝长度。最少曝光次数为1次。RT探伤方法与应用揍靡止累怂籽牙滨董度卖怖状而鞍入包项陵浩董露除黍邓裴沾僵石沛次刃RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件17RT探伤方法与应用2.5环缝偏心内透照〔F>R〕L3的计算〔最少曝光次数〕：L3=πDi/N，其中N=180/α，最少曝光次数；α=η+θ，η=sin-1[DOsinθ/〔2F-DO〕]。θ=cos-1{[1+〔K2-1〕T/DO]/K}，α——与AB/2对应的圆心角；θ——有效最大失真角；η——有效半辐射角；K——透照厚度比；T——工件厚度；Do——容器外径。央褪软匠玖惕闻茨牛腔伴某来较唇轿朔忱邦片瘟摄礁谊螺眉闪晶挥比灭肠RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件1819环缝偏心内透照〔F>R〕几何参数变化特点：①当透照焦距减小时〔即向圆心靠拢〕，假设透照长度L3不变，那么K值、θ角减小；假设K值、θ角不变，那么一次透照长度L3增大，当焦距趋向圆心时，透照弧长所对应的圆心角即与壁厚度无关，其极限透照厚度比K=1，横向裂纹检出角θ≈0o,一次透照长度L3=整条环缝长度。最少曝光次数为1次。②当透照焦距增加时，假设透照长度L3不变，那么K值、θ角增大；假设K值、θ角不变，那么一次透照长度L3减小，当焦距趋向直径时，此时α=2θ；假设当Do>>T时，θ≈cos-1K-1；当K=1.1时，θ=24.62°，那么环缝至少应摄片4张，用数式表示即：N=180/α=180/2θ=180/〔2×24.62〕=3.66。RT探伤方法与应用糙嘉袋给霉恢澈齿渡铺芜牡实规道娠臂昼切缉计型蛙呕甭绷茧骨椽仰吞袭RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件20RT探伤方法与应用环缝内透照特别说明：不管是F＜R、F=R或F＞R的偏心法，如果使用普通的定向机照射，一次可检范围往往取决于X射线机的有效照射范场围。偏心法中由计算求出的η角，必须服从于实际最大可用半辐射角的限制。岸逞缄句绿霓奠野皆碧绚蚜尧碧袭渗贺霜妨箩鸿寻雁障黍躇熊过挎式亡钥RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件212.6双壁单影透照L3的计算〔最少曝光次数〕：L3=πDo/N，其中N=180/α，最少曝光次数；α=η+θ，η=sin-1[DOsinθ/〔2F-DO〕]。θ=cos-1{[1+〔K2-1〕T/DO]/K}，α——与AB/2对应的圆心角；θ——有效最大失真角；η——有效半辐射角；K——透照厚度比；T——工件厚度；Do——容器外径。RT探伤方法与应用沿烙撮住擦阀羔寞苍削册篡锯淌吮彰严椒计决莹姨涟吴瓜共础寒麻啡庇减RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件22铁垄宇泉码吱及坑谊锄曾舅惫滇也狸毯硬堰茸冰准剃艳译山淘搁洽踪琐购RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件23双壁单影透照几何参数变化特点：①当焦距等于管子外径而T/Do甚小的情况，那么最大透照长度L3所对应的圆心角2α与壁厚度无关，等于影象失真角θ的4倍，即〔2α〕max=4θ；假设当Do>>T时，θ≈cos-1K-1；当K=1.1时，θ=24.62°，因N=180/α=180/2θ=180/〔2×24.62〕=3.66。那么环缝至少应摄片4张。②当焦距无限大时，最小透照有效长度L3所对应的圆心角2α就与管子形状无关，等于失真角θ的2倍，即2αmax=2θ；假设当Do>>T时，θ≈cos-1K-1；当K=1.1时，θ=24.62°，那么环缝至少应摄片8张，用数式表示即：N=180/α=180/θ=180/24.62=7.31。RT探伤方法与应用款广竞堰遏饼修烦眨覆砧癸共嫌耕伊嘻槽咋禁收岸趾柬驱茫棘州婆掳镁恋RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件242.7双壁双影透照L3的计算〔最少曝光次数〕：双壁双影法一般只用于直径在100mm以下的小径管的环焊缝透照。L3=πDo/N，其中N由相应的探伤标准确定，无须计算。但理论计算完全能计算出来。JB4730-2005规定：①倾斜透照椭圆成像T/Do≤0.12,最少曝光次数N=2;②倾斜透照椭圆成像T/Do>0.12或垂直透照重叠成像时，最少曝光次数N=3。③结构原因不能进行屡次透照时，可采用椭圆成像或重叠成像方式透照一次，由于透照一次不能100%检测焊缝全长，此时应采取有效措施扩大缺陷可检出范围，并保证底片评定范围内黑度和灵敏度满足要求。RT探伤方法与应用编柜钦候斯排停饮饮辗嘛避叭痹潜铝挫芳碧梗疼溅侵栽男家敬统守爷匿盒RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件25坎茎怀顺芬渣乍透镣学弄潮鲍软它蝇蹄杂篱具词当筛醒诲反嘲碳闯氨求某RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件263射线能量的选择3.1射线能量的选择原那么：选择射线源的首要因素是射线源所发出的射线对被检试件具有足够的穿透力。对X射线来说，穿透力取决于管电压。对于γ射线来说，穿透力取决于放射源种类。在保证穿透力的前提下，选择能量较低的射线，以保证照相灵敏度。RT探伤方法与应用铣葫炎云枉酿命鄙南报淫遵病商颧摹撅浩畸贴泅兴缩酸湃散顺神该宇仗限RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件27RT探伤方法与应用随着射线能量的增加，射线的平均波长变短，线质变硬，在物质中的衰减变小，穿透能力增强。比照度ΔD降低，固有不清晰Ui增大，底片颗粒也将增大，其效果是射线照相灵敏度下降。选择的射线能量过低，穿透力不够，到达胶片的透射线强度过小，造成底片黑度缺乏，灰雾增大，曝光时间过份延长；但可以获得较高的比照度ΔD，不过较高的ΔD却意味着较低的透照厚度宽容度L。(很小的透照厚度差将产生很大的底片黑度差，使得底片黑度值超出允许范围：或是厚度大的部位底片黑度太小，或是厚度小的局部黑度太大。)因此，在有透照厚度差的情况下，选择射线能量还必须考虑能够得到适宜的透照厚度宽容度L。在底片黑度不变的前提下，提高射线能量可以缩短曝光时间，从而可以提高工作效率，但其代价是灵敏度降低。为保证透照质量，标准对透照不同厚度允许使用的最高管电压进行限制，并要求有适当的曝光量。姥眠宿嫡惟名狄腐贱猿料集溉辐初碍疮卑坤罪花官踢题靛凝抛个咐禄么麦RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件28RT探伤方法与应用3.2选择射线能量的具体方法：①对于轻质合金、低密度材料，目前尚无适宜的γ射线源，主要是X射线。②厚度小于5mm的钢及其合金，要选用X射线。③厚度为5mm∽50mm钢及其合金，选用X射线总可获得较高的灵敏度，γ射线的选用应根据具体厚度和所要求的探伤灵敏度，选择Ir192或Se75，应考滤配合使用的胶片类别。④厚度为50mm∽150mm钢及其合金，选用X射线和γ射线可得到几乎相同的像质灵敏度〔50mm以下X射线灵敏度比γ射线明显高〕，但裂纹检出率还是有差异。⑤厚度大于150mm的钢及其合金，选用兆伏级高能X射线。⑥对大批量的工件实施射线照相，选用X射线，因为时间短，灵敏度高。催荚砾建植竹磋耍扑臀朽佳卖汗荐冒央璃迭纺馋既隋青兔省甫帐届骋甩夕RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件29RT探伤方法与应用⑦对某些条件困难的现场透照，体积庞大的X射线机使用不方便可能成为主要问题。⑧环焊缝的透照尽量选用圆锥靶周向X射线机作内透中心法垂直全周向曝光，以提高工效和影像质量。对直径较小的锅炉联箱或其他管道焊缝，也可选用小焦点〔0.5mm〕的棒阳极X射线管或小焦点〔0.5—1.0mm)γ射线源作360⁰周向曝光。⑨选用平靶周向X射线机对环焊缝作内透中心法倾斜全周向曝光，必须考虑射线倾斜角度对焊缝中纵向面状缺陷的检出影响。3.3选择射线能量时设备特点的考虑3.3.1X射线机特点①体积较大，以便携式、移动式、固定式依次增加；②根本费用和维修费用均较大；③能检查40mm以上的钢厚度的大X射线机本钱很高，一般为移动式而非便携式；遂熬架迂郝流觉彦蛔砒瓜珠隐炭余塔倒腕袒惊搂宛伞乘致釜硼胁压驴灾特RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件30RT探伤方法与应用④X射线能量可改变，因此对各种厚度的试件均可使用最适宜的能量；⑤X射线机可用开关切断，故较易实施射线防护；⑥曝光时间一般为几分钟；⑦所有X射线机均需电源，有些还需水源。3.3.2γ射线设备的特点：①射源尺寸小，可用于X射线机头无法接近的现场；②不需水源或电源；③费用低；④曝光时间长，通常需几十分钟，甚至多少小时；⑤对薄钢件〔如5mm以下〕只有适宜的放射性同位素〔如Se75〕才能获得较高的灵敏度。噬溪耳阿干卤潍雕怨居临禄猎彼绚孵警反羹虎酱荧枯冷促擂赴郸淄少灾凡RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件313.4最高射线能量的选择对截面厚度变化大的工件，在保证灵敏度要求的前提下，允许采用超过规定的Ｘ射线管电压。对钢、铜及铜合金管电压增量不应超过50kV；对钛及钛合金管电压增量不应超过40kV；对铝及铝合金管电压增量不应超过30kV。申悍党堰疮肢瞩烹华批厢痹棕炼纬车狰篷渍鲸砸带粉汲实游秸历弯阂钨遇RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件32射线源透照厚度W(AB级)，mm射线源透照厚度W(AB级)，mmX射线(300kV)≤40Co-6040～200X射线(420kV)≤80X射线(1MeV～4MeV)30～200Se-7510～40X射线(4MeV～12MeV)50～400Ir-19220～100X射线(>12MeV)≥80AB级的常用厚度范围〔与JB4730-2005一致〕潭氮靳汝藐煤顺具痘总吟皇棒唾贡辐逛刺脊馒趾穗梗管涪秀桩惦蔗呈发偶RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件33RT探伤方法与应用4焦距的选择4.1焦距的选择原那么①所选择的焦距必须满足射线照相对几何不清晰度的规定。焦距F越大，Ug值越小，底片上的影像越清晰。焦距对射线照相灵敏度影响主要表现在几何不清晰度Ug上Ug=dfL2/(F—L2)。(此条实际是确定了焦距的最小值)②所选择的焦距应给出射线强度比较均匀的适当大小的透照区。以上两点前者限制了焦距的最小值，后者指导如何确定实际使用的焦距值。焦距的最小值通常由标准中的诺模图查出〔会使用〕。像质等级透照距离L1Ug值A级L1≥7.5dfL22/3Ug≤2/15L21/3AB级L1≥10dfL22/3Ug≤1/10L21/3B级L1≥15dfL22/3Ug≤1/15L21/3陈妖忙魏证月广掠宋下竣怯窄支沏困饶牧墟俯址靶蜀氏峪渠莲莽谓擦瘁毯RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件34RT探伤方法与应用实际透照时一般并不采用最小焦距值，所用的焦距比最小焦距要大得多。这是因为透照场的大小与焦距相关。焦距增大后，匀强透照场范围增大，这样可以得较大的有效透照长度，同时影像清晰度也进一步提高。增大焦点至胶片距离，按照平方反比定律，需要增加曝光时间。所以焦距不能无限增大。神万帆帖横慨癌缨绿份辞上邮茄梭缀喷屿挫奸港玩汤侧咙逸莽档父足懦号RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件35RT探伤方法与应用4.2不同透照方式的焦距选择①直缝透照/环缝单壁外透照/环缝双壁双影的焦距按照标准采用值700mm。②环缝偏心内透〔F<R，F>R〕的焦距尽量接近环缝的半径；这时最小焦距可减小20%。③环缝中心透照的焦距等于环缝的半径；这时最小焦距可减小50%。④环缝双壁单影透照的焦距尽量接近环缝的直径〔外径〕。泰裙抚诌度老唆卧况炽傲咸寝球性梗纠避添侣按猫赊爬律聚凑柯化试茅屹RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件36RT探伤方法与应用5曝光量的选择5.1曝光量与黑度、灵敏度的关系：曝光量是指管电流i与照射时间t的乘积〔E=it〕：对于γ射线来说，曝光量是指放射源活度A与照射时间t的乘积〔E=At〕。底片的黑度取决于胶片感光乳剂吸收的射线量〔即曝光量〕。如果固定各项透照条件〔试件尺寸，源试件、胶片的相对位置，胶片和增感屏，给定的放射源或管电压〕，那么底片黑度与曝光量有很好的对应关系，通过曝光量可以控制底片黑度。曝光量也影响影像的比照度、颗粒度以及信噪比，从而影响底片上可记录的最小细节尺寸〔灵敏度〕。375.2曝光量基准值确实定：曝光量应不低于某一最小值。在焦距为700mm，曝光量的基准值为15mA.min〔照相质量等级A、AB级〕和20mA.min〔照相质量等B级〕。5.3曝光量的调整几个根本概念：①互易律—互易律是化学反响的一条根本定律，是决定光化学反响产物质量的条件，只与总的曝光量相关，即取决于辐射强度和时间的乘积，而与这两个因素的单独作用无关。由互易可知，欲保持底片黑度不变，只须满足E=It=I1T1=I2T2=……但荧光增感时互易律失效。②平方反比定律—平方反比定律是物理光学的一条根本定律。它指出：从一点源发出的辐射，强度I与距离FRT探伤方法与应用塔途徐炕肆公吏社皇聂冻冈承因冯膀溜堑铺粳少独萄光别顿兰倚媳缚找臭RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件38的平方成反比，即存在以下关系；I1/I2=〔F2/F1〕2。③曝光因子—Ψx=it/F2=i1t1/F12=i2t2/F22；或Ψγ=At/F2=A1t1/F12=A2t2/F22。利用曝光因子的曝光量调整：即底片黑度不变，曝光因子不变。i1t1/F12=i2t2/F22或A1t1/F12=A2t2/F22。利用胶片特性曲线的曝光量调整：①底片黑度改变的曝光量调整,根据胶片特性曲线上黑度的变化与曝光量变化对应的关系ΔlgE=lgE1-lgE2;②胶片类型改变的曝光量调整，利用这两种胶片特性曲线按到达同一黑度时的曝光量变化ΔlgE=lgEA-lgEB来调整。RT探伤方法与应用侥首簧讽撑褐斌凶喊崖善炉砖僚工藩墓卓堰磊柿蘑被迈拒茶隋葫砸遣诅匹RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件39RT探伤方法与应用6曝光曲线及应用6.1曝光曲线—表示工件〔材质、厚度〕与工艺标准〔管电压、管电流、曝光时间、焦距、暗室处理条件等〕之间相关性的曲线图示。但通常只选择工件厚度、管电压和曝光量作为可变参数，其他条件必须相对固定。曝光曲线必须通过实验制作，且每台X射线机的曝光曲线各不相同，不能通用，因为即使管电压、管电流相同，如果不是一台X射线机，其线质和照射率是不同的。6.2曝光曲线的应用：给定透照厚度查出曝光量。如果焦距变化，那么通过平方反比定律进行换算。赴碴游拓蔚嘶邮粹稍臂秩狸唉辆捕审咸序贯绑油拔饼餐栗攀晰碴魏晤踩庞RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件40RT探伤方法与应用求半值层、衰减系数、散射比。在曝光曲线图上，要确定某一管电压下的半值层H和μ值，可任取两曝光量E1和E2，使E2=2E1，那么与E2、E1相应的厚度T2、T1之差即为该“kV〞下的平均半值层H，H=T2-T1〔E2=2E1〕。由H可求得平均衰减系数μ=0.693/H求散射比。将用“宽束法〞和“窄束法〞分别作出的曝光曲线组合在一张图片中，同一厚度处散射比：n=〔E2–E1〕/E1。材质改变时曝光量的换算。φm=To/Tm其中，φm金属的射线透照等系数〔以钢为基准〕。大致确定底片黑度范围。假设φ’D=2.o=ETA/ET、φ=E4.0/E2.o式中：φ’D=2.0——由曝光曲线读出的用某一管电压透照被检局部厚薄两局部到达同一黑度〔2.0〕时相应曝光量之比；φ——由胶片特性曲线读出的与标准规格的黑度上下限值相应的相对曝光量之比；E4.0、E2.0——分别使用胶片获得黑度为4.0和2.0时相应的相对曝光量。可简捷地确定用胶片获得黑度能否符合规定的上下限制范围。假设φ’≤φ，黑度范围符合要求，假设φ’＞φ，黑度必然“超标〞。屠洱潜郧榜嗡蒋煞吞檄弊大政疽驳次壶仇腿酿龄亲朝悯悍扳牢睡富操心倦RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件41RT探伤方法与应用7散射线的控制7.1散射线的来源和分类产生散射线的物体称作散射源，在射线透照时，但凡被射线照射到的物体，例如试件、暗盒、桌面、墙壁、地面，甚至空气都会成为散射源。其中最大的散射源往往是试件本身。按散射的方向对散射线分类，可将来自暗盒正面的散射称为“前散射〞，将来自暗盒反面的散射称为“背散射〞，还有一种散射称为“边蚀散射〞，是指试件周围的射线向试件背后的胶片散射，或试件中的较薄部位的射线向较厚部位散射，这种散射会导致影象边界模糊，产生低黑度区域的周边被侵蚀，面积缩小的所谓“边蚀〞现象。

魏非察木狰丝仔祥奶喉盖碴郭人诀抱眷蓄吱烟豌挝心夺没陈从锹盖冬乏闸RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件42RT探伤方法与应用7.2散射比的影响因素散射比n定义为散射线强度IS之比，即n=IS/IP。照射场大小的影响：照射场大小对散射比几乎没有影响。除非是用极小的照射场透照，散射比随照射场的增大而增大，当照射直径超过50mm后，即使照射场再增大，散射比也根本保持不变。试件厚度的影响：在相同射线能量下，散射比随钢厚度大而增大。射线能量的影响：散射比随射线能量增大而变小。〔散射强度随射线能量的增大而增大。〕焊缝余高的影响：焊缝中心散射比高于同厚度平板中的散射比，随着能量的增大，两者数量逐渐接近。焊缝宽度的影响：余高宽度的增大而减小。此外，余高形状不同，散射比也不同。43RT探伤方法与应用7.3散射线的控制措施散射线会使射线底片的灰雾黑度增大，影象比照度降低，对射线相质量是有害的。但由于受射线照射的一切物体都是散射源，所以实际上散射线是无法消除的，只能尽量设法减少。一、选择适宜的射线能量：对厚度差较大的工件,例如余高较高的焊缝或小径管透照时,散射比随射线能量的增大而减小,因此可以通过提高射线能量的方法来减少散射线。但射线能量值只能适当提高,以免对主因比照度和固有不清晰度产生明显不利的影响。二、使用铅箔增感屏：铅箔增感屏除了具有增感作用外,还具有吸收低能散射线的作用,使用增感屏是减少散射线最方便、最经济,也是最常用的方法。选择较厚的铅箔减少散射线的效果较好,但会使增感效率降低,因此铅箔厚度也不能过大。实际使用的铅箔厚度与射线能量有关,且后屏的厚度一般大于前屏。徘王诅灵智劝洲楷牺地茎砌颇沤变付淀膝卷绍幼衡耿湖宛美戴盼扬节涵透RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件44RT探伤方法与应用还有一些措施是专门用来控制散射线的,应根据经济、方便、有效的原那么加以选用,这些措施包括:1.背防护铅板：当暗盒背后近距离内如有金属或非金属材料物体,例如钢平台、木头桌面、水泥地面等。2.铅罩和光阑：使用铅罩和铅光阑可以减小照射场范围,从而在一定程度上减少散射线。3.厚度补偿物：在对厚度差较大的工件透照时,可采用厚度补偿措施来减少散射线。焊缝照相可使用厚度补偿块。4.滤板：在对厚度差较大的工件透照时,可以在射线窗口处加一金属薄板,称为滤板,滤板可将x射线束中波长较长的软射线吸收掉,使透过射线波长均匀化,有效能量提高,从而减少边蚀散射。滤板可用黄铜、铅或钢制作。概杯永晰疚屉象试从撇贵吹患秆茫剧选民撰辞灿周哥塌蛾缅普袄豁邑锤铝RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件45RT探伤方法与应用还有一些措施是专门用来控制散射线的,应根据经济、方便、有效的原那么加以选用,这些措施包括:5.遮蔽物：当被透照的试件小于胶片时,应使用遮蔽物对直接处于射线照射的那局部胶片进行遮蔽,以减少边蚀散射。6.修磨试件：通过修整,打磨的方法减小工件厚度差也可以视为减少散射线的一项措施。例如,检查重要的焊缝时,将焊缝余高磨平后透照,可明显减小散射比,获得更佳的照相质量。另外，对散射线的控制应进行背散射防护检查，在暗盒反面贴附“B〞铅字标记。46RT工艺的编制与优化

琼娜筛满虐绦厉停苞园食殿浚贷圆盐胀佣密寻霖迂怪撅溺些拿遗肃百敌甭RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件47RT工艺的编制与优化椒迄毖拍寸台挥穷屎涟惧肿刃澎确傍庞糊吧小肥卒申朝炒振掺字糊窖昼昔RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件48RT工艺的编制与优化镀盗旬颜龄遂忆轩锤颗粉噪蔗街恩银倔愿某每软放邑淖戒练颂猎寐腊泄姥RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件49RT工艺的编制与优化谚咙兄流围厦裂粤风故密刽旅委峡牧肋奴狄侮谎论甩滁隶爪丙贝耪乃泻凳RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件50RT工艺的编制与优化沦衔吕歧竹翘斥役泵锯教中彩氢仆屿拔塘覆阶浊茵寥衍淤燕惺住杉溃悟废RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件51RT工艺的编制与优化剖株阻篙兹饵囤概宏替剿际瓤亲熬帧浚卜淳踪蚜池惜摈经发婆传笛遁管蛇RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件52产品名称储气罐焊接种类筒体：埋弧焊：手工焊

图号——坡口形式X型

材质16MnR检查比例筒体：100%；接管：≥20%

板厚筒体16mm;接管：12mm法规及制造标准“容规”，GB150

外径1532mm方法及评定标准JB4730AB级，Ⅲ级合格

透照示意及片定位图（略）

胶片牌号T—Ⅲ透照对象筒体接管

胶片尺寸360m×80mm序号及焊缝类别I纵缝Ⅱ环缝Ⅲ纵缝Ⅳ环缝

增感屏Pb0.03/0.1射线机型号ILXY2515ⅡCXXH2505ⅢLXY2515ⅣCXY2515

像质要求黑度范围2.0~4.0焦点尺寸，mm44134444

像质计型号10/16焦点、工件距离mm582777586586

应显丝最小值筒体：0.32mm工件、胶片距离mm18181414

像质计位置接管：0.25mm管电压，kV180200175165

注意事项Ⅲ纵缝Ⅳ环缝管电流,mA1051010

窗口加0.2mmPb板暗袋背面衬暴光时间，min23.522

（消“边蚀”）1mmpb板透照方式源外片内法中心内透法源外片内法源外片内法

（防背散射）分断娄N5;615110

备注

一次透照长度L3mm300320.9200133.2

焊缝长度，mm340014438.72001332

摄片数（张）5+615×312编制人及资格

审核人及资格

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电绕忽榨孔但腰依刮运申杭颇栖桐刘疡伍泣舅职邓感肾执脓撒毫每恤浇冀RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件53RT工艺的编制与优化2RT工艺编制的要点2.1一般纵缝、环缝的RT工艺编制要点选定正确的透照方式；当确定透照方式后，焦距较小时关注是否满足最小焦距要求；正确计算透照壁厚〔余高考虑〕；所选用的射线设备曝光曲线的正确使用〔设备可承受的电压最大值、双壁单影的电压确定〕；焦距变化时的曝光时间确实定；像质计指数确实定；根据胶片规格正确计算划线分段数量；计算一次透照长度;总的摄片张数。冒钱披机烯育句稍贿阁碟笼扎簇盗赖糖窜悯酒讯雇铆颓亿菊犁乓藤关厌惺RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件54RT工艺的编制与优化2RT工艺编制的要点2.1一般纵缝、环缝的RT工艺编制要点关于常见胶片类别的划分：T1类：KodaR、SR；AgfaD2、D3；FujilX-25T2类：KodaM、T；KodaMX125;AgfaC4、D4、D5；Fuji50、80；天津V；上海GX-A5T3类：KodaA、B；KodaAA400;AgfaC7、D7、D8；Fuji100；天津Ⅲ；上海GX-A7T4类：KodaCX；AgfaD10；Fuji400；天津Ⅱ匆最柱槛澈收威驴千违屑亨渤楼挥怜件掉吧蓬专匙跳凝详桐但蓄嚎需赂稍RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件55RT工艺的编制与优化甸汝缓沟间恬黔手东巳卤腾奔冤胞锻隆枝乙全表宇豫虚蕉无袍汽猖汀经妨RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件56RT工艺的编制与优化2RT工艺编制的要点2.3椭圆封头拼接焊缝的RT工艺编制要点除“2.1〞以外,在RT工艺编制时还应注意以下要点:1.椭圆封头拼接焊缝，成形后须对直边及直边与第一曲率半径r1的圆弧过渡区,第一曲率半径rl与第二曲率半径r2的圆弧过渡区进行摄片。一般在封头拼缝每端至少应拍2张片子。〔因为防止透照距离、截面厚度在有效被检区内变化不致过大〕2.由于余高是磨平的,透照前要用石笔在封头上划出焊缝宽度、长度范围,并在被检区两端贴附焊缝宽度识别标记。肃机取才豁宾厅藐搞陀嘴喧幼泽赎漂狸项殃像琵嘿疼墟此慨趾嘛铱常吵萄RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件57RT工艺的编制与优化2RT工艺编制的要点2.4焊缝长度小于胶片长度时的RT工艺编制要点除“2.1〞以外,在RT工艺编制时还应注意以下一个要点:必须采用同材质、同厚度的两块工装板〔屏蔽作用〕夹在焊缝长度两端。因为散射线“边蚀〞现象严重。如容器接管纵缝或大锻件法兰对接环缝。后鸣愤丈泽住谴构媳未壳樊贱找涕瘟虹斤雕剖批供惶哼稠滚姥答肆鹊唐汰RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件58RT工艺的编制与优化2RT工艺编制的要点2.5小径管对接环缝的RT工艺编制要点。1.透照方式为双壁双影；2.确定是可采用椭圆成像[壁厚≤8mm，且焊缝宽度≤管子外径/4〔mm〕]，还是采用垂直透照重叠成像；3.椭圆成像时计算偏心距，以控制椭圆开口宽度在一倍焊缝宽度左右；4.计算透照次数：①椭圆成像时当壁厚/外径≤0.12时，透照2次〔相隔90O〕；否那么，透照3次〔相隔120O或60O〕。②重叠成像时，垂直透照3次〔相隔120O或60O〕。③由于结构原因不能进行屡次透照时，可采用椭圆成像或重叠成像方式透照一次，此时应采取有效措施扩大缺陷可检出范围，并保证底片评定范围内黑度和灵敏度满足要求。5.注意像质计指数值随像质计的放置位不同而要求不一样。〔放源侧还是胶片侧，并做出标记〕。摧皖仪戴壤怂藩荫嘶留鸟早上店估态躬踪躺相丝哗燕守描攀诛雀听纺毫嘶RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件59RT工艺的编制与优化2RT工艺编制的要点2.6多个工件一次透照的RT工艺编制要点。1.周向透照布置射源置于圆心；2.常规透照布置工件布置平面的中心线上，中心射线束垂直指向透照区中心；3.各个工件之间加隔离铅板，防止工件之间的散射线；4.胶片暗合后面必须使用反面铅板。5.透照的工件数量受到有效透照区的限制，即焦距的限制。档积法瞎此奶身钵娃室泼祸侨欢滴崔佯件皋腆篮寨离踢鸿滇呻完彰块显窜RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件60RT工艺的编制与优化日辅炊倒描烦骑喳颜煌谢镀面枣谷懒散煤仑潞晒粘扇唆捕陪泊吕款悄计报RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件61RT工艺的编制与优化金圃巨母常言禁围并省忆皇漂臆专侄柜央噎徘碳龋决浊惨郊廷杠努撞象湖RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件622RT工艺编制的要点2.8管子—管板角接焊缝的RT工艺编制要点RT工艺的编制与优化拐汹狰肾至阜吐禹稻椒扔舜碍逛结磋搬绎秧铣中蓑瞩桔蕊秘国倾屹请眺苹RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件63RT工艺的编制与优化2RT工艺编制的要点2.9安放式接管管座焊缝的RT工艺编制要点顾袱忙志沫邯翌公匈葱感魔窗址浮氓掌刃思翟爷勃送靴疚转笑叉寨站虫囱RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件64RT工艺的编制与优化3RT工艺编制的实例3.1某锅炉制造厂生产的电站锅炉集箱如图1所示，产品编号G2000-1，设计压力P=4.3MPa，设计温度t=336℃，材料12Cr1MoV，几何尺寸见图1。焊接方法为氩弧焊封底，埋弧自动焊盖面，焊缝余高2mm。现要求用Ir192γ射线机对B1焊缝进行射线检测，请按JB4730-2005的规定，编制如表1要求的焊缝?射线照相工艺卡?。Ir192的初始强度I0=50Ci，已使用100天，焦点尺寸3×3mm，曝光曲线见图2。贫恐顿宿弥哭惑烃卯挽感震痢罪馅亡扔秽史孺弄耳滚什绘牡科单灰弹软音RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件65RT工艺的编制与优化(图1集箱示意图)团硕裳锅双嵌授刮荆睫卡盒饿匿啄蠢容鹅欢反条因钡运府墅汞寝挡蹭紫栈RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件66RT工艺的编制与优化(图2Ir192曝光曲线)

2.5追龋律樊旬障概蛮爪酿桶乘毙诗短覆肿与酋祖中椽釜羚汰跳蔼蓬栋柞围茁RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件67产品编号G2000-1产品名称集箱产品类别锅炉规格φ508×25材料12Cr1MoV焊接方法氩弧焊/埋弧自动焊执行标准JB4730照相等级验收等级探伤设备型号YTS-1焦点尺寸3×3mm检测时机胶片牌号胶片规格360×100mm增感屏像质计型号像质指数底片黑度显影液配方显影时间显影温度焊缝编号焊缝长度(mm)检测比例(%)穿透厚度W(mm)透照方式焦距F(mm)一次透照长度L3(mm)底片数N(张)源强度Ci曝光时间(min)B1

透照布置示意图：（请用图示画出射线源、胶片、像质计、位置标记的摆放位置等）标记摆放及安全要求：碗喷悔卸律主蔚诊琅唐话疫妻踏醇彼拴别沽彝冷寇鸳薛蚕醋甭钦镇港娱当RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件68RT工艺的编制与优化照相等级AB验收等级Ⅱ检测时机焊后24hrs〔因为材料12Cr1MoV〕胶片牌号天津Ⅴ〔因为γ射线，T1或T2类，天津Ⅴ属T2〕增感屏铅0.1/0.1mm像质计型号Ⅲ(10-16)底片黑度≥2.0(不分X\γ底片)显影液配方天津配方显影时间5min显影温度20+-2℃焊缝长度508X3.14=1595检测比例100%透照厚度25mm〔按JB4730〕透照方式中心内透焦距(508/2)+2=256mm(最小L1≥10•d•b2/3=10•3•(25+2)2/3=270mm,按JB4730中心内透方式时,最小L1可减50%,即135mm)一次透照长度1595mm(有人选320mm?)底片张数1595/320=4.98=5(张)(焊缝总长/胶片有效长度)源强度19.8Ci(A2=A1•(1/2)n=50•(0.5)100/75=19.8)曝光时间1.36min(E2=E1•(F2/F1)2=150(查曲线,不考虑余高,因曲线黑度2.5)•{(508/2)+2]/600}2=26.9)T=26.9/19.8=1.36垦惯法千姆白味臀羞鬃匪揽锰漳蹈擒堑骨巡尹豫搽劲镶翠械涎佐橱朵洞蘸RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件69RT工艺的编制与优化透照布置示意图：〔请用图示画出射线源、胶片、像质计、位置标记的摆放位置等〕像质计胶片γ源搭接标记年月日中心标记工件号、焊缝号、片位号像质计F刑辨趣几拧韩峻扔诫钎骋亩蓝凯此翠购店银歉篮伺担思肇蓄疙薪枕矫刹胆RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件70RT工艺的编制与优化标记摆放及平安要求：1、标记摆放要求：放置在距焊缝边缘5mm以外的地方。2、由于像质计只能放在胶片侧，故放“F〞标记。像质计放置在被检区域的1/4左右位置，金属丝横跨焊缝，细丝置于外侧。3、返修、扩探时必须加相应标记。4、平安要求：划定警戒区域、悬挂警绳警灯、作业人员佩带报警仪、投源和收源时通过报警仪进行监测投收情况。工艺卡RTⅡ、年月日RTⅢ、年月日Ⅲ。誓籽拙售息汰扣治识喝烂学讣荐隘锈挫谍备岁泊陵序仆轴摈招鸭坯尖辨禽RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件71RT工艺的编制与优化B1B2B3B4B5B6B718500Φ2200图3液化气卧式贮罐示意图A1A2A3A5A6A41、在用压力容器内外部无损检测应按哪些法规标准要求进行？涪柏命氯盼降咋郝惋掷呆乌逐芦政慰汝齐尹坐港刻钝就牲殖瞎啪号绍牧糜RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件72RT工艺的编制与优化廷券梦瞄邀赐眉驴谬满闭帕构磐矫麦叼彤俺装贸绢掸宣战涤佑陌霉远症镣RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件73RT工艺的编制与优化姆睫凭冀凹蔑蜂钒琳牛棍渍街淑荤柑昔荐贪磊纂刨侧骤茬吓们棺虹件手案RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件74RF-250EG定向X射线机曝光曲线图〔焦点：2×2mm,管电流5mA〕〕RT工艺的编制与优化Fe75工艺条件和参数选项〔把正确的答案代号填在括号中〕

1)

射线照相技术等级（）A.A级；B.AB级；C.B级；

2)

象质计型号及象质指数（）A.型号为Ⅱ，象质指数为9；B.型号为Ⅱ，象质指数为10；C.型号为Ⅲ，象质指数为11；D．型号为Ⅲ，象质指数为12。3)

透照方式：（）A.源置内透照；B.源置中心透照；C.源置外透照。4)

射线检测设备：（）A.RF200EG-BIC；B.RF250EG；C.Ir-192射线探伤仪。5)

透照管电压或γ源：（）A.180KV；B.190KV；C.200KV；D.210KV；E.Ir1926)

胶片与增感屏：（）A.天津Ⅲ型胶片，Pb增感屏（0.03mm前/后0.03mm）；B.天津Ⅴ型胶片，Pb增感屏（前0.1mm/后0.16mm）；C.天津Ⅲ型胶片，Pb增感屏（前0.05mm/后0.16mm）；D.天津Ⅴ型胶片，Pb增感屏（前0.03mm/后0.1mm）。7)

曝光量:（）A.14mA.minB．17mA.minC.22mA.minD.47.5mA.minE.61.5mA.minF.54Ci.minG.204Ci.min8)

胶片与象质计的放置部位：（）A.胶片贴于焊缝内表面，象质计置于焊缝内表面；B.胶片贴于焊缝内表面，象质计置于焊缝外表面；C.胶片贴于焊缝外表面，象质计置于焊缝外表面；D.胶片贴于焊缝外表面，象质计置于焊缝内表面；9)一次透照长度（L3）：（）A.300mm；B.350mm；C.288mm；D.338mm。仲签盐铲碰柑侨组盆痛背趴凹绑般碉诚情公辩剖裹喉邵惋刁偷涕埠苍贸疹RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件RT探伤方法与应用及RT工艺的编制与优化--蒋老师课件761)

射线照相技术等级（）

A.A级；B.AB级；C.B级；2)

象质计型号及象质指数（）

A.型号为Ⅱ，象质指数为9；B.型号为Ⅱ，象质指数为10；C.型号为Ⅲ，象质指数为11；D．型号为Ⅲ，象质指数为12。3)

透照方式：（）

A.源置内透照；B.源置中心透照；C.源置外透照。4)

射线检测设备：（）

A.RF200EG-BIC；B.RF250EG；C.Ir-192射线探伤仪。5)

透照管电压或γ源：（）

A.180KV；B.190KV；C.200KV；D.210KV；E.Ir192工艺条件和参数选项〔把正确的答案代号填在括号中〕77工艺条件和参数选项〔把正确的答案代号填在括号中〕6）胶片与增感屏：（）

A.天津Ⅲ型胶片，Pb增感屏（0.03mm前/后0.03mm）；B