基于等确定位切分的SoC内建自测试方法研究的开题报告_第1页
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基于等确定位切分的SoC内建自测试方法研究的开题报告一、课题背景和研究意义随着SoC设计的不断复杂化，内部连接的细节复杂，为了保证SoC的功能正确和可靠性，需要进行完备灵活的测试，提高测试的可靠性，降低维护费用，尽可能减少测试时间。因此，内建自测试成为一个热点问题，在SoC设计中发挥着越来越重要的作用。本课题针对基于等确定位切分的SoC内建自测试方法进行研究，目的是为了提高SoC的测试效率、减少测试时间，并且能够快速准确地定位故障。二、国内外研究现状在国外，传统的内建自测试方法主要有Scan链和BoundaryScan等方法。在Scan链中，元器件的输入和输出均由一个可控的扫描链（ScanChain）驱动，并将测试数据和测试结果通过这个扫描链输入和输出。而BoundaryScan方法则利用芯片边界（Boundary）上的特殊输入/输出（IO）引脚来进行测试。近年来，在国内外研究人员的努力下，又学术界提出了许多新的内建自测试方法，如基于随机激励、基于遗传算法等。三、研究内容和方法本研究主要围绕基于等确定位切分的SoC内建自测试方法进行研究，主要研究内容包括：（1）基于等确定位切分的SoC内建自测试方法的原理和算法；（2）测试数据生成和故障模拟方法的研究；（3）测试覆盖率分析方法的研究；（4）内建自测试装置的设计和实现。研究方法主要采用理论分析和实验方法相结合，通过对已有方法的分析和实验验证，针对SoC内部特性，进一步完善内建自测试方法。四、研究预期成果通过本研究，实现基于等确定位切分的SoC内建自测试方法，并且具有以下特点：（1）测试效率高，减少测试时间；（2）测试可靠性高，能够快速定位故障；（3）测试成本低，减少维护费用；（4）方法实现简单、操作便捷。五、研究中的问题和挑战在本研究中，可能会面临以下问题和挑战：（1）内建自测试方法的复杂性，研究难度大；（2）如何实现高覆盖率的测试，是一个较大的挑战；（3）如何在实现高效测试的同时，保证测试结果的准确性，亦是一个难点。六、进度安排（1）研究设计和文献综述1个月（2）算法分析和模型建立3个月（3）测试数据生成和故障模拟方法研究2个月（4）测试覆盖率分析方法研究2个月（5）内建自测试装置的设计和实现3个月（6）实验数据分析和论文撰写2个月七、参考文献[1]金梁.基于结构化和随机测试的SoC内建自测试技术研究[J].计算机工程与设计,2013,34(01):78-83.[2]陈卫萍,杨志豪.基于随机激励的SoC内建自测试[J].电脑知识与技术：学术普及版,2014,10(30):7243-7246.[3]王正东,张家铭.面向SoC设计的Scan链技术[J].电脑与数字工程,2014,42(

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