现代材料分析测试技术智慧树知到课后章节答案2023年下烟台南山学院

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绪论单元测试

材料是指可以用来制造有用的构件、器件或其他物品的物质。（）

A:对B:错

答案:对

晶体内部原子、分子或离子具有严格的周期性有序排列。（）

A:错B:对

答案:对

材料测试方法的选择与所研究材料的组成、结构及层次密切相关。（）

A:对B:错

答案:对

材料的性能只与组成材料的元素成分有关，与其他因素无关。（）

A:对B:错

答案:错

材料的宏观结构设计、相结构、成分都会影响材料的性能。（）

A:错B:对

答案:对

单一的分析方法往往不能满足材料分析的要求，常常需要综合多种分析手段才能获得丰富而全面的信息。（）

A:错B:对

答案:对

材料分析测试包括（）。

A:材料性能分析B:组织形貌分析C:材料成分分析D:结构分析

答案:材料性能分析;组织形貌分析;材料成分分析;结构分析

材料科学的主要研究内容包括（）

A:材料的性能B:材料的成分结构C:材料应用D:材料的制备与加工

答案:材料的性能;材料的成分结构;材料的制备与加工

以下属于组织形貌分析的手段有（）。

A:金相显微镜B:疲劳试验机C:光学显微镜D:扫描电子显微镜

答案:金相显微镜;光学显微镜;扫描电子显微镜

材料科学与工程学院的四个基本要素包括（）。

A:结构B:性能C:加工D:成分

答案:结构;性能;加工;成分

第一章测试

金相试样制备就是磨制和抛光过程。此说法（）

A:错B:对

答案:错

金相试样制备中的划痕缺陷只在磨制不当中产生的，此说法（）。

A:对B:错

答案:错

所有的金相试样都需要对边缘进行倒角，以免划伤砂纸和抛光布，此说法（）

A:错B:对

答案:对

金相砂纸的编号越大则其对应的磨料颗粒尺寸越大，如No.1000的砂纸就比No.400的砂纸颗粒粗，此说法（）。

A:错B:对

答案:错

金相显微镜的极限有效放大倍数约为（）

A:1500倍B:几万倍C:几十倍D:几百倍

答案:1500倍

断口观察很少用到光学金相显微镜，原因是（）

A:放大倍数太低B:样品无法放置C:光波波长太大D:景深太小

答案:景深太小

为真实地反映金相试样组织的情况，组织分析时需要（）

A:单一视场仔细观察B:低倍、高倍观察之间反复转换；低倍搜寻视场，高倍仔细观察C:选择某处特征区域D:选择无划痕的特定区域

答案:低倍、高倍观察之间反复转换；低倍搜寻视场，高倍仔细观察

透镜的（），球差越严重。

A:曲率半径越小，光通过透镜的面积越小B:曲率半径越小，光通过透镜的面积越大C:曲率半径越大，光通过透镜的面积越小D:曲率半径越大，光通过透镜的面积越大

答案:曲率半径越小，光通过透镜的面积越大

试样抛光时，正确的抛光方法为（）

A:从盘的边缘到中心间或作径向往复运动B:抛光压力均匀C:适量、适时的滴入水浸湿D:试样面与抛光盘面平行

答案:从盘的边缘到中心间或作径向往复运动;抛光压力均匀;适量、适时的滴入水浸湿;试样面与抛光盘面平行

试样在抛光过程中，下面哪种情况会会导致划痕产生。（）

A:抛光压力过大B:加水量少C:砂粒带到抛光布上D:抛光布损坏

答案:抛光压力过大;加水量少;砂粒带到抛光布上;抛光布损坏

第二章测试

显微镜的分辨率和照明光源的波长没有关系。（）

A:错B:对

答案:错

扫描电子显微镜的成像原理和光学显微镜相同。（）

A:错B:对

答案:错

扫描电镜的分辨率一般是二次电子分辨率。（）

A:对B:错

答案:对

表面形貌分析技术经历了光学显微镜、电子显微镜、扫描探针显微镜三个阶段。（）

A:错B:对

答案:对

扫描电镜的分辨率是指（）

A:吸收电子像分辨率B:背散射电子像分辨率C:俄歇电子分辨率D:二次电子像分辨率

答案:二次电子像分辨率

扫描电子显微镜的分辨率已经达到了（）

A:100nmB:10nmC:0.1nmD:1.0nm

答案:1.0nm

1924年，（）提出运动的电子、质子、中子等实物粒子都具有波动性质。

A:布施B:狄拉克C:德布罗意D:薛定谔

答案:德布罗意

电子枪由（）组成

A:阴极、阳极、栅极B:阴极、阳极C:正极、负极、栅极D:阴极、栅极

答案:阴极、阳极、栅极

关于二次电子的描述，正确的是（）

A:二次电子信号的分辨率高B:二次电子信号反映样品的表面形貌特征C:二次电子是入射电子与原子核外的价电子发生非弹性散射时被激发的核外电子D:二次电子信号反映样品的成分信息

答案:二次电子信号的分辨率高;二次电子信号反映样品的表面形貌特征;二次电子是入射电子与原子核外的价电子发生非弹性散射时被激发的核外电子

背散射电子的性质是（）

A:可用于样品的表面成分分析B:产额随原子序数增加而增加C:产生范围在表层100~1000nm内D:可用于样品的表面形貌分析

答案:可用于样品的表面成分分析;产额随原子序数增加而增加;产生范围在表层100~1000nm内;可用于样品的表面形貌分析

第三章测试

透射电子显微镜的成像原理和光学显微镜相同。（）

A:对B:错

答案:对

非弹性散射电子动能和方向都不发生改变。（）

A:错B:对

答案:错

透射电镜中的中间镜是可变倍率透镜。（）

A:错B:对

答案:对

透射电镜的工作原理是阿贝成像原理。（）

A:对B:错

答案:对

让衍射束通过物镜光阑，用物镜光阑套住某一衍射斑点，挡住中心透射斑点和其它衍射斑点，选择衍射束成像，是（）

A:中心明场成像B:明场成像C:暗场成像D:中心暗场成像

答案:暗场成像

将入射电子束转动一定角度，使得衍射束沿着光轴传播，让衍射束通过物镜光阑，用物镜光阑套住某一衍射斑点，挡住透射束和其它衍射斑点挡住，选择衍射束成像，是（）

A:明场成像B:暗场成像C:中心暗场成像D:中心明场成像

答案:中心暗场成像

透射电子显微镜的两种主要功能是（）

A:组织观察和物相分析B:表面形貌和成分价键C:内部组织和成分价键D:成分价键和晶体结构

答案:组织观察和物相分析

多晶体的电子衍射花样是（）

A:不规则斑点B:晕环C:规则的平行四边形斑点D:同心圆环

答案:同心圆环

与扫描电镜和X射线衍射仪相比，透射电子显微镜的优势有（）

A:可以实现微区物相分析B:观察细胞内部超微结构C:高的图像分辨率D:获得立体丰富信息

答案:可以实现微区物相分析;高的图像分辨率;获得立体丰富信息

电子束入射到样品表面后，会产生下列哪些信号（）。

A:特征X射线B:俄歇电子C:二次电子D:背散射电子

答案:特征X射线;俄歇电子;二次电子;背散射电子

第四章测试

扫描隧道显微镜的分辨率可以到达原子尺度级别。（）

A:错B:对

答案:对

接触式原子力显微镜可以利用原子之间吸引力的变化来记录样品表面的轮廓起伏。（）

A:对B:错

答案:错

扫描探针显微镜可以在溶液环境下工作。（）

A:错B:对

答案:对

造成AFM悬臂偏转的力包括范德瓦尔斯力和毛细力。（）

A:对B:错

答案:对

利用量子隧穿效应进行分析的仪器是（）

A:扫描探针显微镜B:扫描隧道显微镜C:原子力显微镜D:扫描电子显微镜

答案:扫描隧道显微镜

下列关于扫描探针显微镜的描述，错误的是（）

A:可以对原子分子进行操纵B:可以获得样品表面的摩擦力、粘附力等信息性C:一种具有非常高的空间分辨率的三维轮廓仪D:分辨率从原子尺度级到毫米量级

答案:分辨率从原子尺度级到毫米量级

扫描隧道显微镜是基于哪个原理进行工作的（）

A:表面效应B:原子间相互作用力C:量子尺寸效应D:量子隧穿效应

答案:量子隧穿效应

在接触式原子力显微镜中，哪个描述是错误的（）

A:探针与样品的距离小于1nmB:针尖与样品有轻微的物理接触C:针尖与悬臂受范德瓦尔斯力和毛细力两种力的作用D:利用原子之间吸引力的变化来记录样品表面轮廓的起伏

答案:利用原子之间吸引力的变化来记录样品表面轮廓的起伏

下列关于原子力显微镜的描述，正确的是（）

A:位敏光探测器可检测悬臂针尖小于1nm的垂直运动B:样品在针尖下做光栅式运动C:位敏光探测器可实时监测微悬臂的变化D:记录微悬臂对应于扫描各点的位置变化，获得样品的表面形貌信息

答案:样品在针尖下做光栅式运动;位敏光探测器可实时监测微悬臂的变化;记录微悬臂对应于扫描各点的位置变化，获得样品的表面形貌信息

扫描隧道显微镜的两种工作模式是（）

A:恒定电压模式B:恒定电流模式C:恒定扫速模式D:恒定高度模式

答案:恒定电流模式;恒定高度模式

第五章测试

粉末衍射卡(pdf卡片)可以查看晶体的晶面间距和对应的衍射线相对强度。（）

A:错B:对

答案:对

晶体对X射线的相干散射只占入射能量的极小部分。（）

A:对B:错

答案:对

X射线衍射方法可以进行多相体系的综合分析，也可以实现对亚微米量级单颗晶体材料的微观结构分析。（）

A:错B:对

答案:错

对于原子序数确定的物质其特征x射线波长为定值。（）

A:错B:对

答案:对

X射线衍射仪中X射线发生器固定时，测角仪中探测器的转速与样品的转速满足哪种关系（）

A:1:1B:2:1C:1:2D:1:0

答案:2:1

M层电子迁迁移到K层后，多余的能量释放的特征X射线是（）

A:KαB:KγC:LαD:Kβ

答案:Kβ

X射线照射到晶体上时，产生衍射的条件是（）

A:晶体形状B:满足布拉格条件，同时衍射强度不为0C:衍射强度不为0D:满足布拉格条件

答案:满足布拉格条件，同时衍射强度不为0

短波长的X射线称（），常用于金属部件的无损探伤。

A:硬X射线B:紫外光C:软X射线D:伦琴射线

答案:硬X射线

下列关于X射线的描述，正确的是（）

A:X射线是一种电磁波B:伦琴发现X射线C:X射线具有波动性D:劳厄发现X射线衍射现象

答案:X射线是一种电磁波;伦琴发现X射线;X射线具有波动性;劳厄发现X射线衍射现象

常用的X射线衍射方法是（）

A:德拜法B:劳厄法C:粉末法D:转动晶体法

答案:劳厄法;粉末法;转动晶体法

第六章测试

1.利用差热分析可以研究物质的相转变。（）

A:错B:对

答案:对

热分析可以解释为以热进行分析的一种方法，其历史发展久远，应用面较宽，涉及多种学科领域。（）

A:对B:错

答案:对

热分析技术的基础是物质在温度变化过程中发生各种物理、化学变化。（）

A:对B:错

答案:对

差热分析仪一般有温度程序控制单元、可控硅加热单元、差热信号放大单元、信号记录单元(记录仪或微机)等部分组成。（）

A:对B:错

答案:对

对差热曲线的分析一般包括对起止温度与峰面积的确定。（）

A:错B:对

答案:对

影响差热分析的因素有升温速率、压力和气氛、试样因素等。（）

A:错B:对

答案:对

差热分析中参比物在分析过程中会放热或吸热。（）

A:错B:对

答案:错

一般来说，相转变、脱氢还原和一些分解反应产生吸热效应；而结晶、氧化等反应产生放热效应。（）

A:错B:对

答案:对

差热曲线的分析究其根本就是解释差热曲线上每一个峰谷产生的原因，从而分析被测样是由哪些相组成。（）

A:对B:错

答案:对

物质在加热过程中所产生的相变或多晶转变多变现为（）

A:无热效应产生B:无变化C:吸热D:放热

答案:吸热

第七章测试

特征X射线的频率或波长只取决于物质的原子结构，是物质固有特性，与其它外界因素无关。（）

A:对B:错

答案:对

电子探针X射线显微分析仪的入射束是电子束。（）

A:错B:对

答案:对

能谱仪的分辨率比波谱仪低。（）

A:对B:错

答案:对

X射线光谱分析可以对样品的元素组成进行分析。（）

A:对B:错

答案:对

X射线光谱分析的信号是（）。

A:二次电子B:特征X射线C:光电子D:连续X射线

答案:特征X射线

波长色散谱仪(WDS)，简称波谱仪，是利用特征X射线的（）不同来展谱。

A:光子数量B:能量C:强度D:波长

答案:波长

能量色散谱仪(EDS)，简称能谱仪，是利用特征X射线的（）不同来展谱。

A:光子数量B:波长C:能量D:强度

答案:能量

对钢进行成分分析可以采用以下分析手段。（）

A:EDSB:DSCC:XRDD:WDS

答案:EDS;WDS

如要分析断口上某种颗粒相的化学成分，应采用哪种分析方法？（）

A:DTAB:XRDC:EDSD:WDS

答案:EDS;WDS

X摄像光谱分析的分析模式有（）。

A:高度扫描B:点扫描C:面扫描D:线扫描

答案:点扫描;面扫描;线扫描

第八章测试

原子吸收分光光度计主要由光源、原子化系统、单色器、检测系统等四个部分组成。（）

A:对B:错

答案:对

在正常状态下，元素处于基态，元素在受到热（火焰）或电（电火花）激发时，由基态跃迁到激发态，返回到基态时，发射出特征光谱。（）

A:对B:错

答案:对

原子光谱分析法是利用特征光谱研究物质结构和测定化学成分的方法。（）

A:错B:对

答案:对

原子的特征光谱是连续光谱。（）

A:对B:错

答案:错

原子的吸收光谱和特征光谱是不连续的。（）

A:对B:错

答案:对

原子的吸收光谱条纹和发射光谱条纹是一一对应的。（）

A:错B:对

答案:对

下列各种说法中错误的是（）

A:原子发射光谱分析是靠识别元素特征谱线来鉴别元素的存在B:原子发射光谱是线状光谱C:对于复杂组分的分析我们通常以铁光谱为标准，采用元素光谱图比较法D:原子发射光谱主要依据元素特征谱线的高度进行定量分析

答案:原子发射光谱主要依据元素特征谱线的高度进行定量分析

原子发射光谱中，常用的光源有（）

A:电弧、电火花、电感耦合等离子炬等B:棱镜和光栅C:空心阴极灯D:钨灯、氢灯和氘灯

答案:电弧、电火花、电感耦