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文档简介
AFM操作使用阐明智能成像模式(ScanAsystMode)一、开机1.确认实际电压与系统设定的工作电压相符合,确认全部的线缆都已对的连接。确保操作环境符合规定且防震台处在正常工作状态;2.打开计算机主机、显示屏和光源;3.打开控制器。注意:对于运行WindowsXP的系统,开机次序必须是先打开计算机主机,再打开控制器。二、安装样品和探针1.安装样品:将固定在铁片上的样品放入带有磁性的样品台中心,使其吸住铁片和样品。然后通过搬动进动开关【up】/【down】来升起和减少探针的高度。普通应使样品的上表面不明显高于Head上的支点顶部,以避免安装Holder时探针直接压到样品表面上而损坏探针;2.安装探针:将探针安装在Holder上。安装时,把Holder翻转放在桌面上,轻轻下压,使里面凹槽内的金属片微微上翘。随即装入探针,并松手使金属片压紧探针。安装完探针后将Holder卡在Head突出的支点上摆放平稳,然后拧紧Head背面的固定旋钮。注意:在升降样品台的高度前,一定要先抬起显微镜镜头,以免在升降过程中撞到镜头。三、启动软件1.双击桌面【Nanoscope】软件图标;2.进入实验选择界面,根据实验方案,按照界面所示进行选择,第一步选择实验方案【ScanAsyst】,第二步选择实验环境【ScanAsystinAir】,第三步选择实验具体操作模式【ScanAsystinAir】;3.结束上述环节后,单击界面右下方图标【LoadExperiment】,进入具体实验设立界面。四、调节激光1.在软件中左侧点击【Setup】,找到图像窗口;2.调节光学显微镜镜头位置,自上而下调节可分别看清探针、样品3.聚焦到针尖下的样品表面(找一种脏点聚焦;如果样品很干净,找样品边沿聚焦),使样品成像清晰;4.将基座右侧的【up】/【down】开关拨到【down】,使探针逐步靠近样品表面,待悬臂基本清晰后停止;注意:一定不能完全清晰,否则会撞到针尖。5.使用Head下部两个旋钮移动Head位置,使探针位于样品上所要测量的区域;6.使用基座上的位置调节旋钮调节显微镜视场,找到激光光斑;7.使用Head上部两个方向的激光调节旋钮将激光光斑打在悬臂前端。五、调节四象限检测器1.调节Head后部反光镜,使【SUM】值最大;2.将基座左侧的模式选择键打到【AFM&LFM】上,此时基座前面左上角的批示灯显示红色;3.调节Head上部的两个四象限旋钮,使基座前面LCD显示屏上的【VERT】显示为0,【HORZ】显示为0。注意:偏差都要不大于±0.5,尽量靠近于0。六、初始化扫描参数1.将【ScanSize】设立为0;2.将【ScanAngle】设立为0;3.将【Xoffset】和【Yoffset】设立为0。4.点击左侧的【Engage】,等待探针达成样品表面。当听到“滴”的一声并且电脑屏幕下方显示Tip:theengaged,表达进针完毕。七、扫描图像1.调节【Scansize】(扫描范畴),选择适宜的扫描范畴。对于大部分样品来说,智能模式能够自动优化成像参数得到质量良好的图像。2.调节【Scanrate】(扫描速率)。随着【Scansize】(扫描范畴)的增大,扫描速率须对应减少。最大分辨率是1024,最小分辨率是128,但是普通选择256或512。注意:选择范畴是要从大逐步缩减到小范畴,不要动作过大,以免使扫描管由于激烈变化而失灵。扫描范畴:J管:125um*125um*5um;E管:10um*10um*2.5um。八:保存图像点击软件中Capture菜单中【Capture】存图,【Capturefile】设立拍照存储途径。九:退针1.点击【Withdraw】停止扫描并使探针远离样品表面,最少3次点击【Withdraw】;2.将【up】/【down】开关拨到【up】使探针远离样品表面后取出Holder,随即取下样品。十:关机1.关闭软件界面;2.关闭控制器;3.关闭计算机、显示屏和光源;注意:对于运行WindowsXP的系统,开机次序必须是先打开计算机主机,再打开控制器。4.登记使用统计。轻敲模式(TappingMode)一、开机1.确认实际电压与系统设定的工作电压相符合,确认全部的线缆都已对的连接。确保操作环境符合规定且防震台处在正常工作状态;2.打开计算机主机、显示屏和光源;3.打开控制器。注意:对于运行WindowsXP的系统,开机次序必须是先打开计算机主机,再打开控制器。二、安装样品和探针1.安装样品:将固定在铁片上的样品放入带有磁性的样品台中心,使其吸住铁片和样品。然后通过搬动进动开关【up】/【down】来升起和减少探针的高度。普通应使样品的上表面不明显高于Head上的支点顶部,以避免安装Holder时探针直接压到样品表面上而损坏探针;2.安装探针:将探针安装在Holder上。安装时,把Holder翻转放在桌面上,轻轻下压,使里面凹槽内的金属片微微上翘。随即装入探针,并松手使金属片压紧探针。安装完探针后将Holder卡在Head突出的支点上摆放平稳,然后拧紧Head背面的固定旋钮。注意:在升降样品台的高度前,一定要先抬起显微镜镜头,以免在升降过程中撞到镜头。三、启动软件1.双击桌面【Nanoscope】软件图标;2.进入实验选择界面,根据实验方案,按照界面所示进行选择,第一步选择实验方案【TapingMode】,第二步选择实验环境【TapingmodeinAir】,第三步选择实验具体操作模式【TapingmodeinAir—standard】;3.结束上述环节后,单击界面右下方图标【LoadExperiment】,进入具体实验设立界面。四、调节激光1.在软件中左侧点击【Setup】,找到图像窗口;2.调节光学显微镜镜头位置,自上而下调节可分别看清探针、样品3.聚焦到针尖下的样品表面(找一种脏点聚焦;如果样品很干净,找样品边沿聚焦),使样品成像清晰;4.将基座右侧的【up】/【down】开关拨到【down】,使探针逐步靠近样品表面,待悬臂基本清晰后停止;注意:一定不能完全清晰,否则会撞到针尖。5.使用Head下部两个旋钮移动Head位置,使探针位于样品上所要测量的区域;6.使用基座上的位置调节旋钮调节显微镜视场,找到激光光斑;7.使用Head上部两个方向的激光调节旋钮将激光光斑打在悬臂前端。五、调节四象限检测器1.调节Head后部反光镜,使【SUM】值最大;2.将基座左侧的模式选择键打到【TMAFM】上,此时基座前面左上角的批示灯显示红色;3.调节Head上部的两个四象限旋钮,使基座前面LCD显示屏上的【VERT】显示为0,【HORZ】显示为0。注意:偏差都要不大于±0.5,尽量靠近于0。六、寻峰(CantileverTune)1.点击软件左侧的【Setup】;2.选择【Manualtune】;3.进入界面后输入【StartFrequency】和【EndFrequency】(输入值为所选用探针的探针盒上的参数f0的范畴);4.单击【AutoTune】选项,等待找到共振峰后点击【ZeroPhase】;5.点击【Exit】退出tuning界面七、初始化扫描参数1.将【ScanSize】设立为0;2.将【ScanAngle】设立为0;3.将【Xoffset】和【Yoffset】设立为0。4.点击左侧的【Engage】,等待探针达成样品表面。当听到“滴”的一声并且电脑屏幕下方显示Tip:theengaged,表达进针完毕。八、优化扫描参数1.设立适宜的扫描范畴,观察Chanel1(DataType:Height)中Trace和Retrace两条曲线的重叠状况;2.减小【AmplitudeSetpoint】直到两条扫描线基本反映同样的形貌特性;3.优化【Integralgain】和【Proportionalgain】。为了使增益与样品表面的状态相符,普通的调节办法为:直接增大【Integralgain】,使反馈曲线开始震荡,然后减小【Integralgain】直到震荡消失,接下来用相似的方法来调节【Proportionalgain】。通过调节增益来使两条扫描线基本重叠并且没有很激烈的震荡为止;此时amplitudeerror通道值最小。4.调节【Scanrate】(扫描速率)。随着【Scansize】(扫描范畴)的增大,扫描速率须对应减少。最大分辨率是1024,最小分辨率是128,但是普通选择256或512。注意:选择范畴是要从大逐步缩减到小范畴,不要动作过大,以免使扫描管由于激烈变化而失灵。扫描范畴:J管:125um*125um*5um;E管:10um*10um*2.5um。每次调节【AmplitudeSetpoint】要不大于20mV,每次调节【Integralgain】要不大于0.2,不要超出2。九:保存图像1.点击软件中Capture菜单中【Capture】存图,【Capturefile】设立
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