标准解读

《GB/T 8553-2023 晶体盒总规范》是一项国家标准,旨在为晶体盒的设计、制造、测试及验收提供一套统一的技术要求与指导原则。该标准适用于各种类型的晶体盒产品,包括但不限于石英晶体谐振器、压电陶瓷滤波器等电子元器件所使用的封装结构。

根据《GB/T 8553-2023》,首先定义了晶体盒的基本术语和定义,明确了不同部件的名称及其功能描述。接着,在材料选择方面给出了具体指南,强调了材料应具备良好的机械强度、热稳定性以及化学惰性,以确保在长时间使用或恶劣环境下仍能保持性能稳定。

此外,对于晶体盒的设计提出了详细的要求,包括尺寸公差、表面处理工艺、密封性等方面的规定。设计时需考虑到产品的实际应用场景,如温度变化范围、振动频率等因素对晶体盒的影响,并通过合理的结构设计来满足这些需求。

在制造过程中,《GB/T 8553-2023》还规定了一系列的质量控制措施,比如原材料检验、生产过程监控、成品检测等环节的具体操作流程。同时,也列出了不同类型晶体盒所需进行的电气特性测试项目及其合格标准,确保每一件出厂的产品都能达到预期的功能表现。


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  • 现行
  • 正在执行有效
  • 2023-09-07 颁布
  • 2024-01-01 实施
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文档简介

ICS31140

CCSL.21

中华人民共和国国家标准

GB/T8553—2023

代替GB/T8553—1987

晶体盒总规范

Genericspecificationforenclosuresforcrystalunits

2023-09-07发布2024-01-01实施

国家市场监督管理总局发布

国家标准化管理委员会

GB/T8553—2023

前言

本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

本文件代替晶体盒总规范与相比除结构调整和编辑性

GB/T8553—1987《》,GB/T8553—1987,

改动外主要技术变化如下

,:

删除了材料的技术要求和试验方法见年版的

a)(19873.2);

增加了封装陶瓷封装型式的晶体盒内容见

b)SMD、[4.6.2.2b)、4.6.2.3.2、4.7、4.8.1.3、4.8.2.3、

表表

4.10.2.2、4.12.1.2.2、2、3];

增加了外观涂覆层厚度要求和试验方法见

c)、(4.3);

增加了绝缘电阻的要求见

d)(4.4);

增加了抗折强度的要求见

e)(4.7);

增加了封装后基座气密性的要求见

f)(4.9);

增加了环境有害物质限量要求见第章

g)(6)。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别专利的责任

。。

本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出

本文件由全国频率控制与选择用压电器件标准化技术委员会归口

(SAC/TC182)。

本文件起草单位潮州三环集团股份有限公司苏州工业园区阳晨封装技术有限公司深圳市麦

:()、、

捷微电子科技股份有限公司

本文件主要起草人邱基华陈炳龙樊应县

:、、。

本文件及所代替文件的历次版本发布情况为

:

年首次发布为

———1987GB/T8553—1987;

本次为第一次修订

———。

GB/T8553—2023

晶体盒总规范

1范围

本文件规定了石英晶体元件用晶体盒的术语和定义技术要求试验方法包装标志储存和运输

、、、、、。

本文件适用于石英晶体元件用晶体盒包括基座壳罩引线焊脚等部分

,、、、。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款其中注日期的引用文

。,

件仅该日期对应的版本适用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于

,;,()

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环境试验第部分试验方法试验恒定湿热主要用于元件的加

GB/T2423.50—20122:Cy:

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