IATF16949测量系统分析程序

第1页共5页……密封装订线……密封装订线……密封装订线……文件编号版本号生效日期文件名测量系统分析程序变更履历版本号变更说明变更时间分发部门业务部□项目部□各生产部□设备部□物流部□质量部□采购部□行政部□综合管理部财务部□编制审核批准编制日期审核日期批准日期……密封装订线……密封装订线……密封装订线……1目的为控制与测量系统变差有关的因素的稳定性和正确性，了解变差的来源，减少或避免系统本身不必要的变差，提高测量数据的质量，确保测量系统满足规定的要求。更使测量系统可靠地服务于生产和开发。2范围本程序适用于公司所有的开发、测试和生产现场的测量系统分析与管理。3定义3.1量具：任何用来获得测量结果的装置，经常用来特指用 在车间的装置；包括通过/不通过装置。3.2测量系统：是用来对被测特性定量测量或定性评价的仪器或量具、标准、操作、方法、夹具、软件、人员、环境和假设的集合；用来获得测量结果的整个过程。3.3偏倚：测量的观测平均值和基准值之间的差异。3.4稳定性：是测量系统在某持续时间内测量同一基准或零件的单一特性时获得的测量值总变差。3.5线性：在量具预期操作（测量）范围内偏倚的不同被称为线性。3.6重复性：由一个评价人，采用同一种测量仪器，多次测量同一零件的同一特性时获得的测量变差。3.7再现性：由不同的评价人，采用相同的测量仪器，测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差。4职责4.1项目部APQP小组制定新产品的测量系统分析。4.2质量部负责制定、实施在用量具的测量系统分析计划。4.3量具使用人/指定人员负责数据的测量。5工作程序5.1测量系统分析过程方法：5.1.1质量部根据测量系统分析周期表定期对公司的测量系统进行偏倚、稳定性、线性、重复性和再现性分析，收集数据，进行统计分析。5.1.2根据统计结果进行分析评定，对分析结果偏离规范的测量系统，通知使用单位停止使用，并向质保部汇报分析情况。5.1.3质量部对偏离校准状态的测量系统进行评审，决定该测量系统及其测量出来的产品的处理方式。5.1.4测量系统使用部门或车间配合质量部进行分析工作，按照质量部的相关措施进行处理。5.1.5测量系统分析过程中的记录与报告应归档管理。5.2测量系统分析的范围：控制计划中提到和要求的每个种类的测量系统，以及顾客要求的检验、测量和试验设备均需进行测量系统分析。5.3需求判定：5.3.1公司所研究的测量系统是指生产和检验用的量具且可重复测量。5.3.2测量系统的分析时机：5.3.2.1新购置的量具。5.3.2.2与测量系统有关的顾客投诉。5.3.2.3当认为测量结果异常时。5.3.2.4经维修、校验合格的量具。5.3.2.5控制计划中规定的测试设备或量具。5.3.3测量系统分析计划的内容包括：5.3.3.1量具的名称和精度；5.3.3.2测量特性（长度、重量等）；5.3.3.3测量人员；5.3.3.4测量方法；5.3.3.5选择分析的统计特性；5.3.3.6完成测量分析的时间。5.3.4测量系统分析频率:5.3.4.1用于生产检测的量具每年定期分析一次；5.3.4.2必要时根据客户要求定期进行。5.3.5测量系统分析，分计数型和计量型两种。5.4质量部每年度结束前根据控制计划或顾客要求制定下一年度的“测量系统分析计划”，并确定在控制计划和/或顾客要求中所用到的检验、测量和试验设备需进行测量系统分析的方法、内容、预计完成时间、负责部门/人员、分析频率、进度要求等，经质量部经理核准后由质量部相关人员执行。5.5取样并分析5.5.1偏倚（独立样本法）5.5.1.1从现生产过程任取一件样；5.5.1.2由全尺寸检验设备或用所分析量具被测特性20次，取其平均值作为基准；5.5.1.3由选定的人按规定的测量方法，对样件测量10次，计算观测值的平均值；5.5.1.4计算偏倚：偏倚=观测平均值-基准值；过程变差=6σ偏倚%=|偏倚|/过程变差（容差）。5.5.1.5量具偏倚接收判定准则：5.5.1.5.1重要性测量器具偏倚%≤10%，可以接受；5.5.1.5.2一般性测量器具偏倚%≤30%，可以接受；5.5.1.5.3测量器具偏倚%＞30%，不能使用。5.5.2稳定性5.5.2.1选取一个标准或样本；线性=|斜率|×（过程变差或容差）%线性=[线性/过程变差（容差）]×100%5.5.2.2定期由一个评价人连续测量标准样件或样本3至5次，记录测量数据并计算极差和均值，将其绘于X-R图中；5.5.2.3共采集25组数据，绘制X-R图或X-S图，计算并确定上、下控制限，根据控制图判定其是否受控或处于失控或有不稳定的趋势；5.5.2.4计算标准偏差,并与过程标准偏差相比较，评定测量系统的稳定性，测量系统标准偏差应小于过程标准偏差，当测量系统标准偏差大于过程标准偏差时，该测量系统不可接受；5.5.2.5判断可接收准则：5.5.2.5.1不能有超出控制限的点；5.5.2.5.2不能有连续7点全在中心线的同一侧；5.5.2.5.3不能有连续7点持续上升或持续下降；5.5.2.5.4不能有其它明显非随机图形。5.5.2.6如果曲线不符合判定准则中的一条或几条，则该量具不稳定，须维修或调整后再校正和进行测量系统分析。5.5.3线性5.5.3.1在测量系统的工作范围内随机选取5个零件；5.5.3.2用全尺寸检验设备或用所分析量具测量被测特性20次，取其平均值做为基准值；5.5.3.3取一位评价人对每个零件测量12次，分别计算零件平均值和偏倚并做记录；5.5.3.4计算%线性和拟和优度R2：线性回归直线方程Y=aX+b，式中：ΣXY-ΣXΣY/nΣX2-（ΣX）2/nb=ΣY/n-a×（Σx/n）（ΣXY-ΣXΣY/n）2（ΣX2-（ΣX）2/n）×（Σy2-（Σy）2/n）5.5.3.5量具线性接收准则：5.5.3.5.1重要性测量器具线性度＜5%，可以接受；5.5.3.5.2一般性测量器具线性度＜10%，可以接受；5.5.3.5.3测量器具线性度＞10%，不能使用。5.5.4重复性(EV)5.5.4.1利用均值—极差法分析量具；5.5.4.2从生产过程中选取10件样品，选择2名或3名经常进行该测量的评价人进行评价；5.5.4.3每位评价人对零件测量3次并记录测量结果；5.5.4.4对重要特性（尤指有特殊符号指定者）进行测量的量具精确度应是被测样品公差的1/10，对一般特性测量的量具，精确度应是被测样品公差的1/5，避免量具分辨率不足；5.5.4.5测量完成后，分析人员将数据填入《R&R数据表》，计算极差均值R，和控制限（UCL、LCL）并画出，确定数据是否受控；R=ΣRi/nrUCL=R×D4LCL=R×D3式中n为零件数量，r为试验次数，D3、D4按控制图常数选取。5.5.4.6重复性或量具变差的估计σe=R/d2*d2*按平均极分布选取。5.5.4.7计算重复性EV，EV=5.15σe。5.5.5再现性(AV)5.5.5.1从生产过程中选取10件样品，选择2名或3名经常进行该测量的评价人进行评价；5.5.5.2每位评价人对零件测量3次并记录测量结果；5.5.5.3计算评价人平均值的要R0，和总平均值X；R0=Xmax-XminX=（Xa+Xb+Xc）/m式中：Xa、Xb、Xc为A、B、C评价人平均值，m评价人数量。5.5.5.4计算控制线：UCLX=X+A2RLCLX=X-A2R式中:A2按控制图常数表选取。5.5.5.5计算评价人标准偏差=R0/d2*，d2*按平均极差分布表选取。5.5.5.6计算再现性(AV)=5.15R0/d2*。5.5.5.7计算校正后的再现性：校正过的再现性=√（5.15R0/d2*）2-[（5.15σe）2/nr]式中：n=零件数；r=试验次数。校正的评价人标准偏差：σe=校正过的再现性/5.155.5.6计算重复性和再现性%R&R计算测量系统标准偏差（σm）：√σe2+σo25.5.6.1计算测量系统变差或具量R&R：R&R=5.15σm5.5.6.2计算零件间的标准偏差σp：σp=Rp/d2*式中Rp为零件均值计算的极差值。5.5.6.3计算总过程标准偏差σt：σt=√σp2+σm25.5.6.4计算总过程变差TV：TV=5.15σt5.5.6.5计算%R&R:%R&R=[σm/σt]×100%=[R&R/TV]×100%5.5.7结果分析5.5.7.1当再现性(AV)大于重复性(EV)时,可能原因有:5.5.7.1.1量具该度不清；5.5.7.1.2对操作需进行培训，使其能熟练使用量具；5.5.7.1.3使用夹具帮助操作者提高使用量具的一致必性。5.5.7.2当重复性(EV)大于再现性(AV)时,可能原因有:5.5.7.2.1量具结构刚度不足，需设计提高；5.5.7.2.2量具需进行保养；5.5.7.2.3量具夹紧或定位方式需改善；5.5.7.2.4存在较大零件内变差5.5.7.3量具重复性与再现性接收准则：5.5.7.3.1R&R%值≤10%的测量系统可以接收；5.5.7.3.210%≤R&R%≤30%的测量系统根据应用的重要性，量具成本维修费用等因素决定是否接受；5.5.7.3.3R&R%＞30%的测量系统不可接受，必须改进，必要时更换量具或对量具进行重新调整，并重新进行测量系统分析。5.5.8计数型量具小样法分析方法5.5.8.1选取50个样本，必须有一些样本特性稍微低于或高于规范限值，让三位使用该量具的操作者在不知道该样本特性的情况下对每个零件分别测量三次；5.5.8.2将