光缆测试分析报告

光缆测试分析报告光缆测试报告光缆测试分析报告全文共光缆测试分析报告全文共39页，当前为第1页。PAGEPAGE1————————————————————————————————作者：————————————————————————————————日期：光缆测试分析报告全文共39页，当前为第2页。光缆测试分析报告全文共39页，当前为第2页。光缆测试报告光缆测试分析报告全文共39页，当前为第3页。工程名称：光缆测试分析报告全文共39页，当前为第3页。生产厂家测试日期2018年01月20日测试地点S36风机温度0℃光缆盘号001光纤芯数24测试波长≤1310nm测试项目□开盘测试标称长度4200m外层损伤无光纤封头完好实测长度4200m线盘质量完好无损坏□接头衰减测试接头桩号A3接头塔号A3□纤芯衰减测试测试线路长度0.844km方向升压站至S36风机纤芯序号纤芯色别纤芯衰减（db/km）纤芯序号纤芯色别纤芯衰减（db/km）允许值实测值允许值实测值1B≤0.350.3218W≤0.350.312OR≤0.350.3219R≤0.350.303G≤0.350.3120N≤0.350.314BR≤0.350.3021Y≤0.350.325GR≤0.350.3122V≤0.350.316W≤0.350.3223P≤0.350.307R≤0.350.3124AQ≤0.350.318N≤0.350.31259Y≤0.350.302610V≤0.350.312711P≤0.350.322812AQ≤0.350.312913B≤0.350.303014OR≤0.350.313115G≤0.350.323216BR≤0.350.313317GR≤0.350.3034测试仪器：采用信维牌OTDR（光时域反射仪），具体型号为S20。测试结论：经测试光缆熔接损耗值符合图纸设计及规范要求，可以投入运行。试验单位（盖章）：审核人：年月日光缆测试报告光缆测试分析报告全文共39页，当前为第4页。工程名称：光缆测试分析报告全文共39页，当前为第4页。生产厂家测试日期2018年01月20日测试地点S24风机温度0℃光缆盘号001光纤芯数24测试波长≤1310nm测试项目□开盘测试标称长度4200m外层损伤无光纤封头完好实测长度4200m线盘质量完好无损坏□接头衰减测试接头桩号A18接头塔号A18□纤芯衰减测试测试线路长度0.524km方向S24至S25风机纤芯序号纤芯色别纤芯衰减（db/km）纤芯序号纤芯色别纤芯衰减（db/km）允许值实测值允许值实测值1B≤0.350.3218W≤0.350.312OR≤0.350.3219R≤0.350.303G≤0.350.3120N≤0.350.314BR≤0.350.3021Y≤0.350.315GR≤0.350.3122V≤0.350.316W≤0.350.3223P≤0.350.307R≤0.350.3124AQ≤0.350.318N≤0.350.31259Y≤0.350.302610V≤0.350.312711P≤0.350.322812AQ≤0.350.312913B≤0.350.323014OR≤0.350.313115G≤0.350.323216BR≤0.350.313317GR≤0.350.3134测试仪器：采用信维牌OTDR（光时域反射仪），具体型号为S20。测试结论：经测试光缆熔接损耗值符合图纸设计及规范要求，可以投入运行。试验单位（盖章）：审核人：年月日光缆测试报告光缆测试分析报告全文共39页，当前为第5页。工程名称：光缆测试分析报告全文共39页，当前为第5页。生产厂家测试日期2018年01月20日测试地点S25风机温度0℃光缆盘号001光纤芯数24测试波长≤1310nm测试项目□开盘测试标称长度4200m外层损伤无光纤封头完好实测长度4200m线盘质量完好无损坏□接头衰减测试接头桩号A17接头塔号A17□纤芯衰减测试测试线路长度1.125km方向S25至S26风机纤芯序号纤芯色别纤芯衰减（db/km）纤芯序号纤芯色别纤芯衰减（db/km）允许值实测值允许值实测值1B≤0.350.3018W≤0.350.302OR≤0.350.3119R≤0.350.313G≤0.350.3220N≤0.350.324BR≤0.350.3121Y≤0.350.315GR≤0.350.3222V≤0.350.326W≤0.350.3123P≤0.350.307R≤0.350.3124AQ≤0.350.318N≤0.350.31259Y≤0.350.302610V≤0.350.312711P≤0.350.322812AQ≤0.350.312913B≤0.350.323014OR≤0.350.3131光缆测试分析报告全文共39页，当前为第6页。光缆测试分析报告全文共39页，当前为第6页。G≤0.350.323216BR≤0.350.313317GR≤0.350.3134测试仪器：采用信维牌OTDR（光时域反射仪），具体型号为S20。测试结论：经测试光缆熔接损耗值符合图纸设计及规范要求，可以投入运行。试验单位（盖章）：审核人：年月日光缆测试报告光缆测试分析报告全文共39页，当前为第7页。工程名称：光缆测试分析报告全文共39页，当前为第7页。生产厂家测试日期2018年01月20日测试地点S26风机温度0℃光缆盘号001光纤芯数24测试波长≤1310nm测试项目□开盘测试标称长度4200m外层损伤无光纤封头完好实测长度4200m线盘质量完好无损坏□接头衰减测试接头桩号A15接头塔号A15□纤芯衰减测试测试线路长度1.102km方向S26至S29风机纤芯序号纤芯色别纤芯衰减（db/km）纤芯序号纤芯色别纤芯衰减（db/km）允许值实测值允许值实测值1B≤0.350.3018W≤0.350.302OR≤0.350.3119R≤0.350.313G≤0.350.3220N≤0.350.324BR≤0.350.3121Y≤0.350.315GR≤0.350.3222V≤0.350.326W≤0.350.3123P≤0.350.307R≤0.350.3124AQ≤0.350.318N≤0.350.31259Y≤0.350.302610V≤0.350.312711P≤0.350.322812AQ≤0.350.312913B≤0.350.323014OR≤0.350.313115G≤0.350.323216BR≤0.350.313317GR≤0.350.3134测试仪器：采用信维牌OTDR（光时域反射仪），具体型号为S20。测试结论：经测试光缆熔接损耗值符合图纸设计及规范要求，可以投入运行。试验单位（盖章）：审核人：年月日光缆测试报告光缆测试分析报告全文共39页，当前为第8页。工程名称：光缆测试分析报告全文共39页，当前为第8页。生产厂家测试日期2018年01月20日测试地点S27风机温度0℃光缆盘号004光纤芯数24测试波长≤1310nm测试项目□开盘测试标称长度4200m外层损伤无光纤封头完好实测长度4200m线盘质量完好无损坏□接头衰减测试接头桩号AB4接头塔号AB4□纤芯衰减测试测试线路长度0.648km方向S27至S28风机纤芯序号纤芯色别纤芯衰减（db/km）纤芯序号纤芯色别纤芯衰减（db/km）允许值实测值允许值实测值1B≤0.350.3018W≤0.350.302OR≤0.350.3119R≤0.350.313G≤0.350.3220N≤0.350.324BR≤0.350.3121Y≤0.350.315GR≤0.350.3222V≤0.350.326W≤0.350.3123P≤0.350.307R≤0.350.3124AQ≤0.350.318N≤0.350.31259Y≤0.350.302610V≤0.350.312711P≤0.350.322812AQ≤0.350.312913B≤0.350.323014OR≤0.350.313115G≤0.350.323216BR≤0.350.3133光缆测试分析报告全文共39页，当前为第9页。光缆测试分析报告全文共39页，当前为第9页。GR≤0.350.3134测试仪器：采用信维牌OTDR（光时域反射仪），具体型号为S20。测试结论：经测试光缆熔接损耗值符合图纸设计及规范要求，可以投入运行。试验单位（盖章）：审核人：年月日光缆测试报告光缆测试分析报告全文共39页，当前为第10页。工程名称：光缆测试分析报告全文共39页，当前为第10页。生产厂家测试日期2018年01月20日测试地点S28风机温度0℃光缆盘号004光纤芯数24测试波长≤1310nm测试项目□开盘测试标称长度4200m外层损伤无光纤封头完好实测长度4200m线盘质量完好无损坏□接头衰减测试接头桩号AB6接头塔号AB6□纤芯衰减测试测试线路长度1.242km方向S28至S25风机纤芯序号纤芯色别纤芯衰减（db/km）纤芯序号纤芯色别纤芯衰减（db/km）允许值实测值允许值实测值1B≤0.350.3018W≤0.350.302OR≤0.350.3119R≤0.350.313G≤0.350.3220N≤0.350.324BR≤0.350.3121Y≤0.350.315GR≤0.350.3222V≤0.350.326W≤0.350.3123P≤0.350.307R≤0.350.3124AQ≤0.350.318N≤0.350.31259Y≤0.350.302610V≤0.350.312711P≤0.350.322812AQ≤0.350.312913B≤0.350.323014OR≤0.350.313115G≤0.350.323216BR≤0.350.313317GR≤0.350.3134测试仪器：采用信维牌OTDR（光时域反射仪），具体型号为S20。测试结论：经测试光缆熔接损耗值符合图纸设计及规范要求，可以投入运行。试验单位（盖章）：审核人：年月日光缆测试报告光缆测试分析报告全文共39页，当前为第11页。工程名称：光缆测试分析报告全文共39页，当前为第11页。生产厂家测试日期2018年01月20日测试地点S29风机温度0℃光缆盘号002光纤芯数24测试波长≤1310nm测试项目□开盘测试标称长度4200m外层损伤无光纤封头完好实测长度4200m线盘质量完好无损坏□接头衰减测试接头桩号AB6接头塔号AB6□纤芯衰减测试测试线路长度0.675km方向S29至S26风机纤芯序号纤芯色别纤芯衰减（db/km）纤芯序号纤芯色别纤芯衰减（db/km）允许值实测值允许值实测值1B≤0.350.3018W≤0.350.302OR≤0.350.3119R≤0.350.313G≤0.350.3220N≤0.350.324BR≤0.350.3121Y≤0.350.315GR≤0.350.3222V≤0.350.326W≤0.350.3123P≤0.350.307R≤0.350.3124AQ≤0.350.318N≤0.350.31259Y≤0.350.302610V≤0.350.312711P≤0.350.322812AQ≤0.350.312913B≤0.350.323014OR≤0.350.313115G≤0.350.323216BR≤0.350.313317GR≤0.350.3134光缆测试分析报告全文共39页，当前为第12页。测试仪器：采用信维牌OTDR（光时域反射仪），具体型号为S20光缆测试分析报告全文共39页，当前为第12页。测试结论：经测试光缆熔接损耗值符合图纸设计及规范要求，可以投入运行。试验单位（盖章）：审核人：年月日光缆测试报告光缆测试分析报告全文共39页，当前为第13页。工程名称：光缆测试分析报告全文共39页，当前为第13页。生产厂家测试日期2018年01月20日测试地点S30风机温度0℃光缆盘号002光纤芯数24测试波长≤1310nm测试项目□开盘测试标称长度4200m外层损伤无光纤封头完好实测长度4200m线盘质量完好无损坏□接头衰减测试接头桩号A11接头塔号A11□纤芯衰减测试测试线路长度0.685km方向S29至S30风机纤芯序号纤芯色别纤芯衰减（db/km）纤芯序号纤芯色别纤芯衰减（db/km）允许值实测值允许值实测值1B≤0.350.3018W≤0.350.302OR≤0.350.3119R≤0.350.313G≤0.350.3220N≤0.350.324BR≤0.350.3121Y≤0.350.315GR≤0.350.3222V≤0.350.326W≤0.350.3123P≤0.350.307R≤0.350.3124AQ≤0.350.318N≤0.350.31259Y≤0.350.302610V≤0.350.312711P≤0.350.322812AQ≤0.350.312913B≤0.350.323014OR≤0.350.313115G≤0.350.323216BR≤0.350.313317GR≤0.350.3134测试仪器：采用信维牌OTDR（光时域反射仪），具体型号为S20。测试结论：经测试光缆熔接损耗值符合图纸设计及规范要求，可以投入运行。试验单位（盖章）：审核人：年月日光缆测试报告光缆测试分析报告全文共39页，当前为第15页。光缆测试分析报告全文共39页，当前为第14页。光缆测试分析报告全文共39页，当前为第15页。光缆测试分析报告全文共39页，当前为第14页。生产厂家测试日期2018年01月20日测试地点S31风机温度0℃光缆盘号001光纤芯数24测试波长≤1310nm测试项目□开盘测试标称长度4200m外层损伤无光纤封头完好实测长度4200m线盘质量完好无损坏□接头衰减测试接头桩号A9接头塔号A9□纤芯衰减测试测试线路长度0.665km方向S30至S31风机纤芯序号纤芯色别纤芯衰减（db/km）纤芯序号纤芯色别纤芯衰减（db/km）允许值实测值允许值实测值1B≤0.350.3018W≤0.350.302OR≤0.350.3119R≤0.350.313G≤0.350.3120N≤0.350.324BR≤0.350.3121Y≤0.350.315GR≤0.350.3222V≤0.350.326W≤0.350.3123P≤0.350.307R≤0.350.3124AQ≤0.350.318N≤0.350.31259Y≤0.350.302610V≤0.350.312711P≤0.350.312812AQ≤0.350.312913B≤0.350.323014OR≤0.350.313115G≤0.350.323216BR≤0.350.313317GR≤0.350.3134测试仪器：采用信维牌OTDR（光时域反射仪），具体型号为S20。测试结论：经测试光缆熔接损耗值符合图纸设计及规范要求，可以投入运行。试验单位（盖章）：审核人：年月日光缆测试报告光缆测试分析报告全文共39页，当前为第16页。工程名称：光缆测试分析报告全文共39页，当前为第16页。生产厂家测试日期2018年01月20日测试地点S38风机温度0℃光缆盘号002光纤芯数24测试波长≤1310nm测试项目□开盘测试标称长度4200m外层损伤无光纤封头完好实测长度4200m线盘质量完好无损坏□接头衰减测试接头桩号AA6接头塔号AA6□纤芯衰减测试测试线路长度2.234km方向S38至S36风机纤芯序号纤芯色别纤芯衰减（db/km）纤芯序号纤芯色别纤芯衰减（db/km）允许值实测值允许值实测值1B≤0.350.3118W≤0.350.302OR≤0.350.3119R≤0.350.313G≤0.350.3120N≤0.350.324BR≤0.350.3121Y≤0.350.315GR≤0.350.3222V≤0.350.326W≤0.350.3123P≤0.350.307R≤0.350.3124AQ≤0.350.318N≤0.350.31259Y≤0.350.302610V≤0.350.312711P≤0.350.322812AQ≤0.350.312913B≤0.350.323014OR≤0.350.313115G≤0.350.323216BR≤0.350.313317GR≤0.350.3134测试仪器：采用信维牌OTDR（光时域反射仪），具体型号为S20。测试结论：经测试光缆熔接损耗值符合图纸设计及规范要求，可以投入运行。试验单位（盖章）：审核人：年月日光缆测试报告光缆测试分析报告全文共39页，当前为第17页。工程名称：光缆测试分析报告全文共39页，当前为第17页。生产厂家测试日期2018年01月20日测试地点S39风机温度0℃光缆盘号001光纤芯数24测试波长≤1310nm测试项目□开盘测试标称长度4200m外层损伤无光纤封头完好实测长度4200m线盘质量完好无损坏□接头衰减测试接头桩号AA8接头塔号AA8□纤芯衰减测试测试线路长度0.952km方向S38至S39风机纤芯序号纤芯色别纤芯衰减（db/km）纤芯序号纤芯色别纤芯衰减（db/km）允许值实测值允许值实测值1B≤0.350.3118W≤0.350.312OR≤0.350.3119R≤0.350.313G≤0.350.3220N≤0.350.324BR≤0.350.3121Y≤0.350.315GR≤0.350.3222V≤0.350.326W≤0.350.3123P≤0.350.307R≤0.350.3124AQ≤0.350.318N≤0.350.31259Y≤0.350.312610V≤0.350.312711P≤0.350.322812AQ≤0.350.312913B≤0.350.323014OR≤0.350.313115G≤0.350.323216BR≤0.350.313317GR≤0.350.3134测试仪器：采用信维牌OTDR（光时域反射仪），具体型号为S20。测试结论：经测试光缆熔接损耗值符合图纸设计及规范要求，可以投入运行。光缆测试分析报告全文共光缆测试分析报告全文共39页，当前为第18页。试验单位（盖章）：审核人：年月日光缆测试报告光缆测试分析报告全文共39页，当前为第19页。工程名称：光缆测试分析报告全文共39页，当前为第19页。生产厂家测试日期2018年01月20日测试地点S40风机温度0℃光缆盘号002光纤芯数24测试波长≤1310nm测试项目□开盘测试标称长度4200m外层损伤无光纤封头完好实测长度4200m线盘质量完好无损坏□接头衰减测试接头桩号B11接头塔号B11□纤芯衰减测试测试线路长度1.436km方向S40至S44风机纤芯序号纤芯色别纤芯衰减（db/km）纤芯序号纤芯色别纤芯衰减（db/km）允许值实测值允许值实测值1B≤0.350.3218W≤0.350.322OR≤0.350.3119R≤0.350.313G≤0.350.3220N≤0.350.324BR≤0.350.3121Y≤0.350.315GR≤0.350.3222V≤0.350.326W≤0.350.3123P≤0.350.327R≤0.350.3124AQ≤0.350.318N≤0.350.31259Y≤0.350.302610V≤0.350.312711P≤0.350.322812AQ≤0.350.312913B≤0.350.323014OR≤0.350.313115G≤0.350.323216BR≤0.350.313317GR≤0.350.3134测试仪器：采用信维牌OTDR（光时域反射仪），具体型号为S20。测试结论：经测试光缆熔接损耗值符合图纸设计及规范要求，可以投入运行。试验单位（盖章）：审核人：年月日光缆测试报告光缆测试分析报告全文共39页，当前为第20页。工程名称：光缆测试分析报告全文共39页，当前为第20页。生产厂家测试日期2018年01月20日测试地点S41风机温度0℃光缆盘号002光纤芯数24测试波长≤1310nm测试项目□开盘测试标称长度4200m外层损伤无光纤封头完好实测长度4200m线盘质量完好无损坏□接头衰减测试接头桩号B12接头塔号B12□纤芯衰减测试测试线路长度0.452km方向S40至S41风机纤芯序号纤芯色别纤芯衰减（db/km）纤芯序号纤芯色别纤芯衰减（db/km）允许值实测值允许值实测值1B≤0.350.3218W≤0.350.322OR≤0.350.3119R≤0.350.323G≤0.350.3220N≤0.350.324BR≤0.350.3121Y≤0.350.315GR≤0.350.3222V≤0.350.326W≤0.350.3123P≤0.350.307R≤0.350.3124AQ≤0.350.318N≤0.350.31259Y≤0.350.312610V≤0.350.312711P≤0.350.322812AQ≤0.350.312913B≤0.350.323014OR≤0.350.313115G≤0.350.323216BR≤0.350.313317GR≤0.350.3234测试仪器：采用信维牌OTDR（光时域反射仪），具体型号为S20。测试结论：经测试光缆熔接损耗值符合图纸设计及规范要求，可以投入运行。试验单位（盖章）：审核人：光缆测试分析报告全文共39页，当前为第21页。年月光缆测试分析报告全文共39页，当前为第21页。光缆测试报告光缆测试分析报告全文共39页，当前为第22页。工程名称：光缆测试分析报告全文共39页，当前为第22页。生产厂家测试日期2018年01月20日测试地点S44风机温度0℃光缆盘号003光纤芯数24测试波长≤1310nm测试项目□开盘测试标称长度4200m外层损伤无光纤封头完好实测长度4200m线盘质量完好无损坏□接头衰减测试接头桩号BAA4接头塔号BAA4□纤芯衰减测试测试线路长度0.432km方向S45至S44风机纤芯序号纤芯色别纤芯衰减（db/km）纤芯序号纤芯色别纤芯衰减（db/km）允许值实测值允许值实测值1B≤0.350.3118W≤0.350.312OR≤0.350.3119R≤0.350.313G≤0.350.3220N≤0.350.324BR≤0.350.3121Y≤0.350.315GR≤0.350.3222V≤0.350.326W≤0.350.3123P≤0.350.307R≤0.350.3124AQ≤0.350.318N≤0.350.31259Y≤0.350.312610V≤0.350.312711P≤0.350.322812AQ≤0.350.312913B≤0.350.323014OR≤0.350.313115G≤0.350.323216BR≤0.350.313317GR≤0.350.3034测试仪器：采用信维牌OTDR（光时域反射仪），具体型号为S20。测试结论：经测试光缆熔接损耗值符合图纸设计及规范要求，可以投入运行。试验单位（盖章）：审核人：年月日光缆测试报告光缆测试分析报告全文共39页，当前为第23页。工程名称：光缆测试分析报告全文共39页，当前为第23页。生产厂家测试日期2018年01月20日测试地点S45风机温度0℃光缆盘号002光纤芯数24测试波长≤1310nm测试项目□开盘测试标称长度4200m外层损伤无光纤封头完好实测长度4200m线盘质量完好无损坏□接头衰减测试接头桩号BAA2接头塔号BAA2□纤芯衰减测试测试线路长度0.874km方向S45至S29风机纤芯序号纤芯色别纤芯衰减（db/km）纤芯序号纤芯色别纤芯衰减（db/km）允许值实测值允许值实测值1B≤0.350.3218W≤0.350.312OR≤0.350.3119R≤0.350.313G≤0.350.3220N≤0.350.324BR≤0.350.3121Y≤0.350.315GR≤0.350.3222V≤0.350.326W≤0.350.3123P≤0.350.307R≤0.350.3124AQ≤0.350.318N≤0.350.31259Y≤0.350.302610V≤0.350.312711P≤0.350.322812AQ≤0.350.312913B≤0.350.323014OR≤0.350.313115G≤0.350.323216BR≤0.350.313317GR≤0.350.3134测试仪器：采用信维牌OTDR（光时域反射仪），具体型号为S20。测试结论：经测试光缆熔接损耗值符合图纸设计及规范要求，可以投入运行。试验单位（盖章）：审核人：年月日光缆测试报告光缆测试分析报告全文共39页，当前为第24页。工程名称：光缆测试分析报告全文共39页，当前为第24页。生产厂家测试日期2018年01月20日测试地点S46风机温度0℃光缆盘号003光纤芯数24测试波长≤1310nm测试项目□开盘测试标称长度4200m外层损伤无光纤封头完好实测长度4200m线盘质量完好无损坏□接头衰减测试接头桩号BA10接头塔号BA10□纤芯衰减测试测试线路长度1.204km方向S44至S46风机纤芯序号纤芯色别纤芯衰减（db/km）纤芯序号纤芯色别纤芯衰减（db/km）允许值实测值允许值实测值1B≤0.350.3218W≤0.350.322OR≤0.350.3119R≤0.350.313G≤0.350.3220N≤0.350.324BR≤0.350.3121Y≤0.350.315GR≤0.350.3222V≤0.350.326W≤0.350.3123P≤0.350.307R≤0.350.3124AQ≤0.350.318N≤0.350.31259Y≤0.350.302610V≤0.350.312711P≤0.350.322812AQ≤0.350.312913B≤0.350.323014OR≤0.350.3131光缆测试分析报告全文共39页，当前为第25页。光缆测试分析报告全文共39页，当前为第25页。G≤0.350.323216BR≤0.350.313317GR≤0.350.3034测试仪器：采用信维牌OTDR（光时域反射仪），具体型号为S20。测试结论：经测试光缆熔接损耗值符合图纸设计及规范要求，可以投入运行。试验单位（盖章）：审核人：年月日光缆测试报告光缆测试分析报告全文共39页，当前为第26页。工程名称：光缆测试分析报告全文共39页，当前为第26页。生产厂家测试日期2018年01月20日测试地点S47风机温度0℃光缆盘号001光纤芯数24测试波长≤1310nm测试项目□开盘测试标称长度4200m外层损伤无光纤封头完好实测长度4200m线盘质量完好无损坏□接头衰减测试接头桩号AA11接头塔号AA11□纤芯衰减测试测试线路长度1.202km方向S47至S39风机纤芯序号纤芯色别纤芯衰减（db/km）纤芯序号纤芯色别纤芯衰减（db/km）允许值实测值允许值实测值1B≤0.350.3218W≤0.350.312OR≤0.350.3119R≤0.350.313G≤0.350.3220N≤0.350.324BR≤0.350.3121Y≤0.350.315GR≤0.350.3222V≤0.350.326W≤0.350.3123P≤0.350.307R≤0.350.3124AQ≤0.350.318N≤0.350.31259Y≤0.350.312610V≤0.350.312711P≤0.350.322812AQ≤0.350.312913B≤0.350.323014OR≤0.350.313115G≤0.350.323216BR≤0.350.313317GR≤0.350.3034测试仪器：采用信维牌OTDR（光时域反射仪），具体型号为S20。测试结论：经测试光缆熔接损耗值符合图纸设计及规范要求，可以投入运行。试验单位（盖章）：审核人：年月日光缆测试报告光缆测试分析报告全文共39页，当前为第27页。工程名称：光缆测试分析报告全文共39页，当前为第27页。生产厂家测试日期2018年01月20日测试地点S48风机温度0℃光缆盘号002光纤芯数24测试波长≤1310nm测试项目□开盘测试标称长度4200m外层损伤无光纤封头完好实测长度4200m线盘质量完好无损坏□接头衰减测试接头桩号BB3接头塔号BB3□纤芯衰减测试测试线路长度1.210km方向S48至W25风机纤芯序号纤芯色别纤芯衰减（db/km）纤芯序号纤芯色别纤芯衰减（db/km）允许值实测值允许值实测值1B≤0.350.3218W≤0.350.322OR≤0.350.3119R≤0.350.313G≤0.350.3220N≤0.350.324BR≤0.350.3121Y≤0.350.315GR≤0.350.3222V≤0.350.326W≤0.350.3123P≤0.350.307R≤0.350.3124AQ≤0.350.318N≤0.350.31259Y≤0.350.302610V≤0.350.312711P≤0.350.322812AQ≤0.350.312913B≤0.350.323014OR≤0.350.313115G≤0.350.323216BR≤0.350.3133光缆测试分析报告全文共39页，当前为第28页。光缆测试分析报告全文共39页，当前为第28页。GR≤0.350.3234测试仪器：采用信维牌OTDR（光时域反射仪），具体型号为S20。测试结论：经测试光缆熔接损耗值符合图纸设计及规范要求，可以投入运行。试验单位（盖章）：审核人：年月日光缆测试报告光缆测试分析报告全文共39页，当前为第29页。工程名称：光缆测试分析报告全文共39页，当前为第29页。生产厂家测试日期2018年01月20日测试地点S49风机温度0℃光缆盘号003光纤芯数24测试波长≤1310nm测试项目□开盘测试标称长度4200m外层损伤无光纤封头完好实测长度4200m线盘质量完好无损坏□接头衰减测试接头桩号B19接头塔号B19□纤芯衰减测试测试线路长度0.435km方向S49至W26风机纤芯序号纤芯色别纤芯衰减（db/km）纤芯序号纤芯色别纤芯衰减（db/km）允许值实测值允许值实测值1B≤0.350.3218W≤0.350.312OR≤0.350.3119R≤0.350.313G≤0.350.3220N≤0.350.324BR≤0.350.3121Y≤0.350.315GR≤0.350.3222V≤0.350.326W≤0.350.3123P≤0.350.307R≤0.350.3124AQ≤0.350.318N≤0.350.31259Y≤0.350.302610V≤0.350.312711P≤0.350.322812AQ≤0.350.312913B≤0.350.323014OR≤0.350.313115G≤0.350.323216BR≤0.350.313317GR≤0.350.3234测试仪器：采用信维牌OTDR（光时域反射仪），具体型号为S20。测试结论：经测试光缆熔接损耗值符合图纸设计及规范要求，可以投入运行。试验单位（盖章）：审核人：年月日光缆测试报告光缆测试分析报告全文共39页，当前为第30页。工程名称：光缆测试分析报告全文共39页，当前为第30页。生产厂家测试日期2018年01月20日测试地点S50风机温度0℃光缆盘号003光纤芯数24测试波长≤1310nm测试项目□开盘测试标称长度4200m外层损伤无光纤封头完好实测长度4200m线盘质量完好无损坏□接头衰减测试接头桩号B21接头塔号B21□纤芯衰减测试测试线路长度0.652km方向S50至S49风机纤芯序号纤芯色别纤芯衰减（db/km）纤芯序号纤芯色别纤芯衰减（db/km）允许值实测值允许值实测值1B≤0.350.3218W≤0.350.302OR≤0.350.3119R≤0.350.313G≤0.350.3220N≤0.350.324BR≤0.350.3121Y≤0.350.315GR≤0.350.3222V≤0.350.326W≤0.350.3123P≤0.350.307R≤0.350.3124AQ≤0.350.318N≤0.350.31259Y≤0.350.302610V≤0.350.312711P≤0.350.322812AQ≤0.350.312913B≤0.350.323014OR≤0.350.313115G≤0.350.323216BR≤0.350.313317GR≤0.350.3234测试仪器：采用信维牌OTDR（光时域反射仪），具体型号为S20。光缆测试分析报告全文共39页，当前为第31页。光缆测试分析报告全文共39页，当前为第31页。试验单位（盖章）：审核人：年月日光缆测试报告光缆测试分析报告全文共39页，当前为第32页。工程名称：光缆测试分析报告全文共39页，当前为第32页。生产厂家测试日期2018年01月20日测试地点S59风机温度0℃光缆盘号001光纤芯数24测试波长≤1310nm测试项目□开盘测试标称长度4200m外层损伤无光纤封头完好实测长度4200m线盘质量完好无损坏□接头衰减测试接头桩号AA12接头塔号AA12□纤芯衰减测试测试线路长度0.687km方向S59至S47风机纤芯序号纤芯色别纤芯衰减（db/km）纤芯序号纤芯色别纤芯衰减（db/km）允许值实测值允许值实测值1B≤0.350.3118W≤0.350.302OR≤0.350.3119R≤0.350.313G≤0.350.3220N≤0.350.324BR≤0.350.3121Y≤0.350.315GR≤0.350.3222V≤0.350.326W≤0.350.3123P≤0.350.307R≤0.350.3124AQ≤0.350.318N≤0.350.31259Y≤0.350.302610V≤0.350.312711P≤0.350.322812AQ≤0.350.312913B≤0.350.323014OR≤0.350.313115G≤0.350.323216BR≤0.350.313317GR≤0.350.3134测试仪器：采用信维牌OTDR（光时域反射仪），具体型号为S20。测试结论：经测试光缆熔接损耗值符合图纸设计及规范要求，可以投入运行。试验单位（盖章）：审核人：年月日光缆测试报告光缆测试分析报告全文共39页，当前为第34页。光缆测试分析报告全文共39页，当前为第33页。光缆测试分析报告全文共39页，当前为第34页。光缆测试分析报告全文共39页，当前为第33页。生产厂家测试日期2018年01月20日测试地点W25风机温度0℃光缆盘号002光纤芯数24测试波长≤1310nm测试项目□开盘测试标称长度4200m外层损伤无光纤封头完好实测长度4200m线盘质量完好无损坏□接头衰减测试接头桩号B15接头塔号B15□纤芯衰减测试测试线路长度1.120km方向S41至W25风机纤芯序号纤芯色别纤芯衰减（db/km）纤芯序号纤芯色别纤芯衰减（db/km）允许值实测值允许值实测值1B≤0.350.3118W≤0.350.302OR≤0.350.3119R≤0.350.313G≤0.350.3220N≤0.350.324BR≤0.350.3121Y≤0.350.315GR≤0.350.3222V≤0.350.326W≤0.350.3123P≤0.350.307R≤0.350.3124AQ≤0.350.318N≤0.350.31259Y≤0.350.302610V≤0.350.312711P≤0.350.322812AQ≤0.350.312913B≤0.350.323014OR≤0.350.313115G≤0.350.323216BR≤0.350.313317GR≤0.350.3234测试仪器：采用信维牌OTDR（光时域反射仪），具体型号为S20。测试结论：经测试光缆熔接损耗值符合图纸设计及规范要求，可以投入运行。试验单位（盖章）：审核人：年月日光缆测试报告光缆测试分析报告全文共39页，当前为第35页。工程名称：光缆测试分析报告全文共39页，当前为第35页。生产厂家测试日期2018年01月20日测试地点W26风机温度0℃光缆盘号004光纤芯数24测试波长≤1310nm测试项目□开盘测试标称长度4200m外层损伤无光纤封头完好实测长度4200m线盘质量完好无损坏□接头衰减测试接头桩号B18接头塔号B18□纤芯衰减测试测试线路长度1.752km方向S24至S25风机纤芯序号纤芯色别纤芯衰减（db/km）纤芯序号纤芯色别纤芯衰减（db/km）允许值实测值允许值实测值1B≤0.350.3018W≤0.350.302OR≤0.350.3119R≤0.350.313G≤0.350.