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文档简介

电子元器件与信息技术GB/T17539—1998电子数据交换标准化应用指南GB/T16679—1996信号与连接线的代号GB/T2691—1994电阻器和电容器的标志代码GB/T3482—1983电子设备雷击试验方法GB/T3483—1983电子设备雷击试验导那么GB/T4210—2001电工术语电子设备用机电元件GB/T5839—1986电子管和半导体器件额定值制GB/T7347—1987汉语标准频谱GB/T7348—1987耳语标准频谱GB/T9259—1988发射光谱分析名词术语GB/T11279—1989电子元器件环境试验使用导那么GB/T12636—1990微波介质基片复介电常数带状线测试方法GB/T14278—1993电子设备热设计术语GB/T14915—1994电子数据交换术语GB/T18811—2002电子商务根本术语GB/T2689.1—1981恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法总那么GB/T2689.2—1981寿命试验和加速寿命试验的图估计法(用于威布尔分布)GB/T2689.3—1981寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计法(用于威布尔分布)GB/T2689.4—1981寿命试验和加速寿命试验的最好线性无偏估计法(用于威布尔分布)GB/T3187—1994可靠性、维修性术语GB/T5080.1—1986设备可靠性试验总要求GB/T5080.2—1986设备可靠性试验试验周期设计导那么GB/T5080.4—1985设备可靠性试验可靠性测定试验的点估计和区间估计方法(指数分布)GB/T5080.5—1985设备可靠性试验成功率的验证试验方案GB/T5080.6—1996设备可靠性试验恒定失效率假设的有效性检验GB/T5080.7—1986设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案GB/T5081—1985电子产品现场工作可靠性、有效性和维修性数据搜集指南GB/T6990—1986电子设备用元器件(或部件)标准中可靠性条款的编写指南GB/T6993—1986系统和设备研制消费中的可靠性程序GB/T7288.1—1987设备可靠性试验推荐的试验条件室内便携设备粗模拟GB/T7288.2—1987设备可靠性试验推荐的试验条件固定使用在有气候防护场所设备精模拟GB/T7289—1987可靠性、维修性与有效性预计报告编写指南GB/T9382—1988彩色电视播送接收机可靠性验证试验贝叶斯方法GB/T9414.1—1988设备维修性导那么第一局部:维修性导言GB/T9414.2—1988设备维修性导那么第二局部:标准与合同中的维修性要求GB/T9414.3—1988设备维修性导那么第三局部:维修性大纲GB/T9414.4—1988设备维修性导那么第五局部:设计阶段的维修性研究GB/T9414.5—1988设备维修性导那么第六局部:维修性检验GB/T9414.6—1988设备维修性导那么第七局部:维修性数据的搜集、分析与表示GB/T9414.7—2000设备维修性导那么第四局部:诊断测试GB/T9414.8—2001设备维修性导那么第九局部:维修性评价的统计方法GB/T12992—1991电子设备强迫风冷热特性测试方法GB/T12993—1991电子设备热性能评定GB/T14127—1993黑白电视接收机可靠性验证试验贝叶斯方法GB/T14394—1993计算机软件可靠性和可维护性管理GB/T15174—1994可靠性增长大纲GB/T15647—1995稳态可用性验证试验方法GB4824—2001工业、科学和医疗〔ISM〕射频设备电磁骚扰特性的测量方法和限值GB/T6113.1—1995无线电骚扰和抗扰度测量设备标准GB/T6113.2—1998无线电骚扰和抗扰度测量方法GB/T7349—2002高压架空送电线、变电站无线电干扰测量方法GB/T7432—1987同轴电缆载波通信系统抗无线电播送和通信干扰的指标GB/T7433—1987对称电缆载波通信系统抗无线电播送和通信干扰的指标GB/T7434—1987架空明线载波通信系统抗无线电播送和通信干扰的指标GB7495—1987架空电力线路与调幅播送收音台的防护间距GB9254—1998信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法GB/T12190—1990高性能屏蔽室屏蔽效能的测量方法GB14023—2000车辆、机动船和由火花点火发动机驱动的装置的无线电骚扰特性的限值和测量方法GB/T15152—1994脉冲噪声干扰引起挪动通信性能降级的评定方法GB15540—1995陆地挪动通信设备电磁兼容技术要求和测量方法GB/T16607—1996微波炉在1GHz以上的辐射干扰测量方法GB/T17618—1998信息技术设备抗扰度限值和测量方法GB/T17619—1998机动车电子电器组件的电磁辐射抗扰性限值和测量方法GB/T17624.1—1998电磁兼容综述电磁兼容根本术语和定义的应用与解释GB17625.1—1998低压电气及电子设备发出的谐波电流限值(设备每相输入电流≤16A)GB17625.2—1999电磁兼容限值对额定电流不大于16A的设备在低压供电系统中产生的电压波动和闪烁的限制GB/Z17625.3—2000电磁兼容限值对额定电流大于16A的设备在低压供电系统中产生的电压波动和闪烁的限制GB/Z17625.4—2000电磁兼容限值中、高压电力系统中畸变负荷发射限值的评估GB/Z17625.5—2000电磁兼容限值中、高压电力系统中波动负荷发射限值的评估GB/T17626.1—1998电磁兼容试验和测量技术抗扰度试验总论GB/T17626.2—1998电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验GB/T17626.3—1998电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验GB/T17626.4—1998电磁兼容试验和测量技术电快速瞬变脉冲群抗扰度试验GB/T17626.5—1999电磁兼容试验和测量技术浪涌(冲击)抗扰度试验GB/T17626.6—1998电磁兼容试验和测量技术GB/T17626.7—1998电磁兼容试验和测量技术供电系统及所连设备谐波、谐间波的测量和测量仪器导那么GB/T17626.8—1998电磁兼容试验和测量技术工频磁场抗扰度试验GB/T17626.9—1998电磁兼容试验和测量技术脉冲磁场抗扰度试验GB/T17626.10—1998电磁兼容试验和测量技术阻尼振荡磁场抗扰度试验GB/T17626.11—1999电磁兼容试验和测量技术电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验GB/T17626.12—1998电磁兼容试验和测量技术振荡波抗扰度试验GB17743—1999电气照明和类似设备的无线电骚扰特性的限值和测量方法GB/T17799.1—1999电磁兼容通用标准居住、商业和轻工业环境中的抗扰度试验GB17799.3—2001电磁兼容通用标准居住、商业和轻工业环境中的发射标准GB17799.4—2001电磁兼容通用标准工业环境中的发射标准GB/Z18039.1—2000电磁兼容环境电磁环境的分类GB/Z18039.2—2000电磁兼容环境工业设备电源低频传导骚扰发射程度的评估GB/Z18509—2001电磁兼容电磁兼容标准起草导那么GB/T18595—2001一般照明用设备电磁兼容抗扰度要求GB18655—2002用于保护车载接收机的无线电骚扰特性的限值和测量方法GB/T18732—2002工业、科学和医疗设备限值确实定方法GB/T7450—1987电子设备雷击保护导那么GB4793.1—1995测量、控制和试验室用电气设备的平安要求第1局部:通用要求GB4943—2001信息技术设备的平安GB8898—2001音频、视频及类似电子设备平安要求GB/T9361—1988计算机场地平安要求GB9378—1988播送电视演播系统的视音频和脉冲设备平安要求GB17859—1999计算机信息系统平安保护等级划分准那么GB/T1772—1979电子元器件失效率试验方法GB/T5076—1985具有两个轴向引出端的圆柱体元件的尺寸测量GB/T5077—1985电容器和电阻器的最大外形尺寸GB/T5078—1985单向引出的电容器和电阻器所需空间的测定方法GB/T11250.1—1989复合金属覆层厚度的测定金相法GB/T11250.2—1989复合金属覆层厚度的测定X荧光法GB/T11250.3—1989复合金属覆镍层厚度的测定容量法GB/T11250.4—1989复合金属覆铝层厚度的测定重量法GB/T2470—1995电子设备用固定电阻器、固定电容器型号命名方法GB/T2693—2001电子设备用固定电容器第1局部:总标准GB/T3788—1995真空电容器通用技术条件GB/T4165—1984电子设备用可变电容器的使用导那么GB/T4166—1984电子设备用可变电容器的试验方法GB/T4874—1985直流固定金属化纸介电容器总标准GB/T5966—1996电子设备用固定电容器第8局部:分标准1类瓷介固定电容器GB/T5967—1996电子设备用固定电容器第8局部:空白详细标准1类瓷介固定电容器评定程度GB/T5968—1996电子设备用固定电容器第9局部:分标准2类瓷介固定电容器GB/T5969—1996电子设备用固定电容器第9局部:空白详细标准2类瓷介电容器评定程度GB/T5993—1986电子设备用固定电容器第4局部:分标准固体和非固体电解质铝电容器(可供认证用)GB/T5994—1986电子设备用固定电容器第4局部:空白详细标准非固体电解质铝电容器评定程度E(可供认证用)GB/T6252—1986电子设备用A类调谐可变电容器类型标准GB/T6253—1986电子设备用B类微调可变电容器类型标准GB/T6254—1986电子设备用C类预调可变电容器类型标准GB/T6261—1998电子设备用固定电容器第5局部:分标准额定电压不超过3000伏的直流云母介质固定电容器试验方法的选择和一般要求GB/T6262—1998电子设备用固定电容器第5局部:空白详细标准额定电压不超过3000伏的直流云母介质固定电容器评定程度EGB/T6346—1986电子设备用固定电容器第11局部:分标准金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器(可供认证用)GB/T6347—1986电子设备用固定电容器第11局部:空白详细标准金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器评定程度E(可供认证用)GB/T7213—1987电子设备用固定电容器第15局部:分标准非固体或固体电解质钽电容器(可供认证用)GB/T7214—1987电子设备用固定电容器第15局部:空白详细标准固体电解质和多孔阳极钽电容器评定程度E(可供认证用)GB/T7332—1996电子设备用固定电容器第2局部:分标准金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质直流固定电容器GB/T7333—1996电子设备用固定电容器第2局部:空白详细标准金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质直流固定电容器评定程度EGB/T9320—1988电子设备用固定电容器第8局部(1):分标准1类高压瓷介电容器(可供认证用)GB/T9321—1988电子设备用固定电容器第8局部(1):空白详细标准1类高压瓷介电容器评定程度E(可供认证用)GB/T9322—1988电子设备用固定电容器第9局部(1):分标准2类高压瓷介电容器(可供认证用)〖HJ*GB/T9323—1988电子设备用固定电容器第9局部(1):空白详细标准2类高压瓷介电容器评定程度E(可供认证用)GB/T9324—1996电子设备用固定电容器第10局部:分标准多层片式瓷介电容器GB/T9325—1996电子设备用固定电容器第10局部:空白详细标准多层片式瓷介电容器评定程度EGB/T9597—1988电子设备用固定电容器分标准:1类高功率瓷介电容器(可供认证用)GB/T9598—1988电子设备用固定电容器空白详细标准:1类高功率瓷介电容器评定程度E(可供认证用)GB/T10185—1988电子设备用固定电容器第7局部:分标准金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器GB/T10186—1988电子设备用固定电容器第7局部:空白详细标准金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器评定程度E(可供认证用)GB/T10188—1988电子设备用固定电容器第13局部:分标准金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器(可供认证用)GB/T10189—1988电子设备用固定电容器第13局部:空白详细标准金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器评定程度E(可供认证用)GB/T10190—1988电子设备用固定电容器第16局部:分标准金属化聚丙烯膜介质直流固定电容器(可供认证用GB/T10191—1988电子设备用固定电容器第16局部:空白详细标准金属化聚丙烯膜介质直流固定电容器评定程度E(可供认证用)GB/T11300—1989电子设备用A类调谐可变电容器空白详细标准GB/T11301—1989电子设备用装有整体C类预调电容器的A类调谐可变电容器空白详细标准GB/T11302—1989电子设备用B类微调可变电容器空白详细标准GB/T11303—1989电子设备用C类预调可变电容器空白详细标准GB/T11305—1989电子设备用固定电容器分标准:3类瓷介电容器(可供认证用)GB/T11306—1989电子设备用固定电容器空白详细标准3类瓷介电容器评定程度E(可供认证用)GB/T12775—1991电子设备用圆片型瓷介预调可变电容器总标准GB/T12794—1991电子设备用固定电容器第15局部:空白详细标准非固体电解质箔电极钽电容器评定程度E(可供认证用)GB/T12795—1991电子设备用固定电容器第15局部:空白详细标准非固体电解质多孔阳极钽电容器评定程度E(可供认证用)GB/T14004—1992电子设备用固定电容器第6局部:分标准金属化聚碳酸酯膜介质直流固定电容器(可供认证用)GB/T14005—1992电子设备用固定电容器第6局部:空白详细标准金属化聚碳酸酯膜介质直流固定电容器评定程度E(可供认证用)GB/T14121—1993电子设备用固定电容器第3局部:分标准片状钽固定电容器(可供认证用)GB/T14122—1993电子设备用固定电容器第3局部:空白详细标准片状钽固定电容器评定程度E(可供认证用)GB/T14472—1998电子设备用固定电容器第14局部:分标准抑制电源电磁干扰用固定电容器GB/T14473—1998电子设备用固定电容器第14局部:空白详细标准抑制电源电磁干扰用固定电容器评定程度DGB/T14579—1993电子设备用固定电容器第17局部:分标准金属化聚丙烯膜介质交流和脉冲固定电容器GB/T14580—1993电子设备用固定电容器第17局部:空白详细标准金属化聚丙烯膜介质交流和脉冲固定电容器评定程度EGB/T15448—1995电子设备用固定电容器第19局部:分标准金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质直流片式固定电容器GB/T16467—1996电子设备用固定电容器第19局部:空白详细标准金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质直流片式固定电容器评定程度EGB/T17206—1998电子设备用固定电容器第18局部:分标准固体(MnO2)与非固体电解质片式铝固定电容器GB/T17207—1998电子设备用固定电容器第18局部:空白详细标准固体(MnO2)电解质片式铝固定电容器评定程度EGB/T17208—1998电子设备用固定电容器第18局部:空白详细标准非固体电解质片式铝固定电容器评定程度EGB/T2471—1995电阻器和电容器优先数系GB/T5729—1994电子设备用固定电阻器第一局部:总标准GB/T5730—1985电子设备用固定电阻器第二局部:分标准低功率非线绕固定电阻器(可供认证用)GB/T5731—1985电子设备用固定电阻器第二局部:空白详细标准低功率非线绕固定电阻器评定程度E(可供认证用)GB/T5732—1985电子设备用固定电阻器第四局部:分标准功率型固定电阻器(可供认证用)GB/T5733—1985电子设备用固定电阻器第四局部:空白详细标准功率型固定电阻器评定程度E(可供认证用)GB/T5734—1985电子设备用固定电阻器第五局部:分标准精细固定电阻器(可供认证用)GB/T5735—1985电子设备用固定电阻器第五局部:空白详细标准精细固定电阻器评定程度E(可供认证用)GB/T7016—1986固定电阻器电流噪声测量方法GB/T7017—1986电阻器非线性测量方法GB/T7338—1996电子设备用固定电阻器第6局部:分标准各电阻器可单独测量的固定电阻网络GB/T7339—1987电子设备用固定电阻器第六局部:空白详细标准阻值和功耗一样,各电阻器可单独测量的固定电阻网络评定程度E(可供认证用)GB/T7340—1987电子设备用固定电阻器第六局部:空白详细标准阻值和功耗不同,各电阻器可单独测量的固定电阻网络评定程度E(可供认证用)GB/T9546—1995电子设备用固定电阻器第8局部:分标准片式固定电阻器GB/T9547—1994电子设备用固定电阻器第八局部:空白详细标准片式固定电阻器评定程度EGB/T12276—1990电子设备用固定电阻器第七局部:分标准各电阻器不可单独测量的固定电阻网络(可供认证用)GB/T12277—1990电子设备用固定电阻器第七局部:空白详细标准各电阻器不可单独测量的固定电阻网络评定程度E(可供认证用)GB/T15654—1995电子设备用膜固定电阻网络第1局部:总标准GB/T15882—1995电子设备用膜固定电阻网络第2局部:按才能批准程序评定质量的膜电阻网络分标准GB/T15883—1995电子设备用膜固定电阻网络第2局部:按才能批准程序评定质量的膜电阻网络空白详细标准评定程度EGB/T15884—1995电子设备用固定电阻器第5局部:空白详细标准精细固定电阻器评定程度FGB/T15885—1995电子设备用固定电阻器第4局部:空白详细标准功率型固定电阻器评定程度FGB/T17034—1997电子设备用固定电阻器第2局部:空白详细标准低功率非线绕固定电阻器评定程度FGB/T17035—1997电子设备用固定电阻器第4局部:空白详细标准带散热器的功率型固定电阻器评定程度HGB/T15298—1994电子设备用电位器第一局部:总标准GB/T15299—1994电子设备用电位器第二局部:分标准螺杆驱动和旋转预调电位器GB/T15300—1994电子设备用电位器第二局部:空白详细标准螺杆驱动和旋转预调电位器评定程度EGB/T15880—1995电子设备用电位器第3局部:分标准旋转式精细电位器GB/T15881—1995电子设备用电位器第3局部:空白详细标准旋转式精细电位器评定程度EGB/T16515—1996电子设备用电位器第5局部:分标准单圈旋转式低功率线绕和非线绕电位器GB/T17025—1997电子设备用电位器第4局部:分标准单圈旋转功率电位器GB/T17026—1997电子设备用电位器第4局部:空白详细标准单圈旋转功率电位器评定程度EGB/T17027—1997电子设备用电位器第4局部:空白详细标准单圈旋转功率电位器评定程度FGB/T17028—1997电子设备用电位器第5局部:空白详细标准单圈旋转低功率电位器评定程度EGB/T17029—1997电子设备用电位器第5局部:空白详细标准单圈旋转低功率电位器评定程度FGB/T4475—1995敏感元器件术语GB/T6663—1986直热式负温度系数热敏电阻器总标准(可供认证用)GB/T6664—1986直热式负温度系数热敏电阻器空白详细标准评定程度E(可供认证用)GB/T7153—2002直热式阶跃型正温度系数热敏电阻器第1局部:总标准GB/T7154—1987直热式阶跃型正温度系数热敏电阻器空白详细标准评定程度E(可供认证用)GB/T10193—1997电子设备用压敏电阻器第1局部:总标准GB/T10194—1997电子设备用压敏电阻器第2局部:分标准浪涌抑制型压敏电阻器GB/T10195.1—1997电子设备用压敏电阻器第2局部:空白详细标准碳化硅浪涌抑制型压敏电阻器评定程度EGB/T10195.2—1997电子设备用压敏电阻器第2局部:空白详细标准氧化锌浪涌抑制型压敏电阻器评定程度EGB/T13189—1991旁热式负温度系数热敏电阻器总标准(可供认证用)GB/T13823.18—1997振动与冲击传感器的校准方法互易法校准GB/T15430—1995红外探测器环境试验方法GB/T15652—1995金属氧化物半导体气敏元件总标准GB/T15653—1995金属氧化物半导体气敏元件测试方法GB/T15768—1995电容式湿敏元件与湿度传感器总标准GB/T18806—2002电阻应变式压力传感器总标准GB/T4596—1984电子设备用三相变压器形铁心GB/T8554—1998电子和通信设备用变压器和电感器测量方法及试验程序GB/T9632.1—2002通信誉电感器和变压器磁心测量方法GB/T11441—1989通信和电子设备用变压器和电感器铁心片GB/T14006—1992通信和电子设备用变压器和电感器外形尺寸第一局部:采用YEI-1铁心片的变压器和电感器GB/T14006.2—1997通信和电子设备用变压器和电感器外形尺寸第2局部:采用YEx-2系列铁心片印制板安装式变压器和电感器GB/T14006.3—1997通信和电子设备用变压器和电感器外形尺寸第3局部:使用YUI-1系列铁心片的变压器和电感器GB/T14860—1993通信和电子设备用变压器和电感器总标准GB/T15183—1994按才能批准评定质量的电子设备用电源变压器分标准GB/T15184—1994按才能批准评定质量的电子设备用开关电源变压器分标准GB/T15290—1994电子设备用电源变压器和滤波扼流圈总技术条件GB/T18909—2002按才能批准评定质量的电子设备用高频电感器和中频变压器分标准GB/T3351—1982人造石英晶体的型号命名GB/T3388—2002压电陶瓷材料型号命名方法GB/T11387—1989压电陶瓷材料静态弯曲强度试验方法GB/T12864—1997电子设备用压电陶瓷滤波器电子元器件质量评定体系标准第2局部:分标准鉴定批准GB/T12865—1997电子设备用压电陶瓷滤波器电子元器件质量评定体系标准第2局部:分标准鉴定批准第一篇:空白详细标准评定程度EGB/T15287—1994抑制射频干扰整件滤波器第一局部:总标准GB/T15288—1994抑制射频干扰整件滤波器第二局部:分标准试验方法的选择和一般要求GB/T16304—1996压电陶瓷电场应变特性测试方法GB/T17190—1997电子设备用压电陶瓷滤波器电子元器件质量评定体系标准第1局部:总标准鉴定批准GB/T9623—1988通信誉电感器和变压器磁芯第一局部:总标准(可供认证用)GB/T9624—1988通信誉电感器和变压器磁芯第二局部:分标准电感器用磁性氧化物磁芯(可供认证用)GB/T9625—1988通信誉电感器和变压器磁芯第二局部:空白详细标准电感器用磁性氧化物磁芯评定程度A(可供认证用)GB/T9626—1988通信誉电感器和变压器磁芯第三局部:分标准宽带变压器用磁性氧化物磁芯(可供认证用)GB/T9627—1988通信誉电感器和变压器磁芯第三局部:空白详细标准宽带变压器用磁性氧化物磁芯评定程度A和B(可供认证用)GB/T9628—1988通信誉电感器和变压器磁芯第四局部:分标准电源变压器和扼流圈用磁性氧化物磁芯(可供认证用)GB/T9629—1988通信誉电感器和变压器磁芯第四局部:空白详细标准电源变压器和扼流圈用磁性氧化物磁芯评定程度A(可供认证用)GB/T9630—1988磁性氧化物制成的罐形磁芯及其附件的尺寸GB/T9634.1—2002铁氧体磁心外表缺陷极限导那么第1局部:总那么GB/T9634.2—2002铁氧体磁心外表缺陷极限导那么第2局部:RM磁心GB/T9634.3—2002铁氧体磁心外表缺陷极限导那么第3局部:ETD和E形磁心GB/T9635—1988天线棒测量方法GB/T9636—1988磁性氧化物制成的圆天线棒和扁天线棒GB/T10192—1988磁性氧化物制成的螺纹磁芯的尺寸GB/T11433—1989磁性氧化物制成的管、针、柱磁芯的尺寸GB/T11435—1989铁氧体交流消音头磁芯GB/T11436—1989软磁铁氧体材料成品、半成品化学分析方法GB/T11437—1989播送接收机天线用铁氧体磁芯分标准(可供认证用)GB/T11438—1989播送接收机天线用铁氧体磁芯空白详细标准评定程度A(可供认证用)GB/T12796—1991永磁铁氧体磁体总标准(可供认证用)GB/T12797—1991微电机用永磁铁氧体磁体分标准(可供认证用)GB/T12798—1991磁性氧化物或铁粉制成的轴向引线磁芯GB/T16512—1996抑制射频干扰固定电感器第1局部总标准GB/T16513—1996抑制射频干扰固定电感器第2局部分标准试验方法和一般要求的选择GB/T17951—2000硬磁材料一般技术条件GB/T6429—1986石英谐振器型号命名方法GB/T6430—1986晶体盒型号命名方法GB/T6627—1986人造石英晶体棒材型号命名方法GB/T8553—1987晶体盒总标准GB/T9532—1988铌酸锂、钽酸锂、锗酸铋、硅酸铋压电单晶材料型号命名方法GB/T12273—1996石英晶体元件电子元器件质量评定体系标准第1局部:总标准GB/T12274—1990石英晶体振荡器总标准(可供认证用)GB/T12275—1990石英晶体振荡器型号命名方法GB/T12859—1991电子设备用压电陶瓷谐振器总标准(可供认证用)GB/T12860—1991电子设备用压电陶瓷谐振器分标准低频压电陶瓷谐振器GB/T12861—1991电子设备用压电陶瓷谐振器空白详细标准低频压电陶瓷谐振器评定程度E(可供认证用)GB/T12862—1991电子设备用压电陶瓷谐振器分标准高频压电陶瓷谐振器(可供认证用)GB/T12863—1991电子设备用压电陶瓷谐振器空白详细标准高频压电陶瓷谐振器评定程度E(可供认证用)GB/T15020—1994电子设备用石英晶体元件空白详细标准电阻焊石英晶体元件评定程度EGB/T15156—1994压电陶瓷换能元件总标准GB/T16516—1996石英晶体元件电子元器件质量评定体系标准第2局部:分标准才能批准GB/T16517—1996石英晶体元件电子元器件质量评定体系标准第3局部:分标准鉴定批准GB/T2775—1993手控电子元件的轴端尺寸GB/T9536—1995电子设备用机电开关第1局部:总标准GB/T9537—1988电子设备用键盘开关第一局部:总标准(可供认证用)GB/T13419—1998电子设备用机电开关第6局部:微动开关分标准GB/T13420—1998电子设备用机电开关第6局部:微动开关分标准第1篇:空白详细标准GB/T14120—1993单孔轴套安装、轴控电子元件的安装尺寸GB/T14280—1993热时间延迟开关总标准GB/T14281—1993恒温开关总标准GB/T15461—1995电子设备用机电开关第3局部:成列直插封装式开关分标准GB/T15462—1995电子设备用机电开关第3-1局部:成列直插封装式开关空白详细标准GB/T16514—1996电子设备用机电开关第5局部:按钮开关分标准GB/T17209—1998电子设备用机电开关第2局部:旋转开关分标准GB/T17210—1998电子设备用机电开关第2局部:旋转开关分标准第一篇空白详细标准GB/T18496—2001电子设备用机电开关第4局部:钮子(倒扳)开关分标准GB/T5095.1—1997电子设备用机电元件根本试验规程及测量方法第1局部:总那么GB/T5095.2—1997电子设备用机电元件根本试验规程及测量方法第2局部:一般检查、电连续性和接触电阻测试、绝缘试验和电压应力试验GB/T5095.3—1997电子设备用机电元件根本试验规程及测量方法第3局部:载流容量试验GB/T5095.4—1997电子设备用机电元件根本试验规程及测量方法第4局部:动态应力试验GB/T5095.5—1997电子设备用机电元件根本试验规程及测量方法第5局部:撞击试验(自由元件)、静负荷试验(固定元件)、寿命试验和过负荷试验GB/T5095.6—1997电子设备用机电元件根本试验规程及测量方法第6局部:气候试验和锡焊试验GB/T5095.7—1997电子设备用机电元件根本试验规程及测量方法第7局部:机械操作试验和密封性试验GB/T5095.8—1997电子设备用机电元件根本试验规程及测量方法第8局部:连接器、接触件及引出端的机械试验GB/T5095.9—1997电子设备用机电元件根本试验规程及测量方法第9局部:杂项试验GB/T5095.11—1997电子设备用机电元件根本试验规程及测量方法第11局部:气候试验GB/T5095.12—1997电子设备用机电元件根本试验规程及测量方法第12局部:锡焊试验第六篇:试验12f在机器焊接中封焊处耐焊剂和清洁剂GB/T5095.15—1997电子设备用机电元件根本试验规程及测量方法第15局部:接触件和引出端的机械试验第八篇:试验15h接触件固定机构耐工具使用性GB/T8977—1988调频、电视播送接收机用300Ω/75Ω平衡不平衡阻抗变换器GB/T9538—1988带状电缆连接器总标准GB/T11313—1996射频连接器第1局部:总标准一般要求和试验方法GB/T11313.1—2000射频连接器第1-1局部:单或多系列空白详细标准GB/T11313.24—2001射频连接器第24局部:75Ω电缆分配系统用螺纹连接射频同轴连接器(F型)GB/T11313.33—2001射频连接器第33局部:BMA系列射频连接器分标准GB/T12272—1990射频同轴连接器耐射频高电位电压测试方法GB/T12793—1991电连接器接触件嵌卸工具总标准GB/T14313—1993精细硬同轴线及其精细连接器总标准GB/T14557—1993射频同轴连接器电气试验和测量程序反射系数GB/T14865—1993SMB型射频同轴连接器GB/T15157—1994印制板用频率低于3MHz的连接器第1局部:总标准一般要求和编制有质量评定的详细标准的导那么GB/T15157.2—1998印制板用频率低于3MHz的连接器第2局部:有质量评定的具有通用安装特征根本网格2.54mm(0.1in)的印制板用两件式连接器详细标准GB/T15157.7—2002频率低于3MHz的印制板连接器第7局部:有质量评定的具有通用插合特性的8位固定和自由连接器详细标准GB/T15158—1994音响设备用连接器系列和品种GB/T15886—1995C型射频同轴连接器GB/T15887—1995SMC型射频同轴连接器GB/T15888—1995UHF型射频同轴连接器GB/T15889—1995SSMA型射频同轴连接器GB/T15890—1995SSMB型射频同轴连接器GB/T17562.1—1998频率低于3MHz的矩形连接器第1局部总标准一般要求和编制有质量评定要求的连接器详细标准的导那么GB/T17562.8—2002频率低于3MHz的矩形连接器第8局部:具有4个信号接触件和电缆屏蔽用接地接触件的连接器详细标准GB/T17570—1998光纤熔接机通用标准GB/T18501.1—2001有质量评定的直流和低频模拟及数字式高速数据处理设备用连接器第1局部:总标准GB/T18501.2—2001直流和低频模拟及数字式高速数据处理设备用连接器第2局部:有质量评定的圆形连接器分标准GB/T15176—1994插入式电子元器件用插座及其附件总标准GB/T15286—1994端接件总标准GB/T18290.2—2000无焊连接第2局部:无焊压接连接一般要求、试验方法和使用导那么GB/T18290.3—2000无焊连接第3局部:可接触无焊绝缘位移连接一般要求、试验方法和使用导那么GB/T18290.4—2000无焊连接第4局部:不可接触无焊绝缘位移连接一般要求、试验方法和使用导那么GB/T18290.5—2000无焊连接第5局部:无焊压入式连接一般要求、试验方法和使用导那么GB/T10232—1994电气继电器第7局部:有或无机电继电器测试程序GB/T16608—1996电气继电器第10局部:IEC电子元器件质量评定体系在有或无继电器上的应用GB/T18908.1—2002工业用时间继电器第1局部:要求和试验GB/T11321—1989波导元件模数尺寸选择指南GB/T11322.1—1997射频电缆第0局部:详细标准设计指南第一篇同轴电缆GB/T11449.1—1989波导法兰盘第一局部:一般要求GB/T11449.2—1989波导法兰盘第二局部:普通矩形波导法兰盘标准GB/T11449.3—1989波导法兰盘第三局部:扁矩形波导法兰盘标准GB/T11449.4—1989波导法兰盘第四局部:圆形波导法兰盘标准GB/T11449.5—1989波导法兰盘第六局部:中等扁矩形波导法兰盘标准GB/T11449.6—1989波导法兰盘第七局部:方形波导法兰盘标准GB/T11450.1—1989空心金属波导第一局部:一般要求和测量方法GB/T11450.2—1989空心金属波导第二局部:普通矩形波导有关标准GB/T11450.3—1989空心金属波导第三局部:扁矩形波导有关标准GB/T11450.4—1989空心金属波导第四局部:圆形波导有关标准GB/T11450.5—1989空心金属波导第六局部:中等扁矩形波导有关标准GB/T11450.6—1989空心金属波导第七局部:方形波导有关标准GB/T11451—1989软波导组件性能GB/T12774—1991同轴电气假负载总标准GB/T13415—1992射频混频器总标准GB/T13416—1992射频传输线(同轴)开关总标准GB/T16531—1996射频同轴电缆组件第3局部半柔软同轴电缆组件分标准GB/T17737.1—2000射频电缆第1局部:总标准总那么、定义、要求和试验方法GB/T17737.2—2000射频电缆第2局部:聚四氟乙烯(PTFE)绝缘半硬射频同轴电缆分标准GB/T17737.3—2001射频电缆第3局部:局域网用同轴电缆分标准GB/T17738.1—1999射频同轴电缆组件第1局部:总标准一般要求和试验方法GB/T6643—1986通用硬同轴传输线及其法兰连接器总标准GB/T7556—1987对称电缆60路载波系统进网特性要求GB/T7557—19871.2/4.4mm标准同轴电缆300路载波系统进网特性要求GB/T11323—1989电缆分配系统用单同轴电缆一般要求和试验GB/T12269—1990射频电缆总标准GB/T14864—1993实芯聚乙烯绝缘射频电缆GB/T15217—1994同轴电缆屏蔽衰减测量方法(吸收钳法)GB/T15285—1994漏泄同轴电缆分标准GB/T15866—1995射频同轴电缆组件第2-1局部:柔软同轴电缆组件分标准GB/T15867—1995射频同轴电缆组件第4局部:半硬同轴电缆组件分标准GB/T15891—1995射频电缆第四局部:超屏蔽电缆标准第一篇:一般要求和试验方法GB/T9530—1988电子陶瓷名词术语GB/T9531.1—1988电子陶瓷零件技术条件GB/T9531.2—1988A类瓷件技术条件GB/T9531.3—1988B类瓷件技术条件GB/T9531.4—1988C类瓷件技术条件GB/T9531.5—1988D类瓷件技术条件GB/T9531.6—1988E类瓷件技术条件GB/T9531.7—1988F类瓷件技术条件GB/T1360—1998印制电路网格体系GB/T2036—1994印制电路术语GB/T4588.1—1996无金属化孔单双面印制板分标准GB/T4588.2—1996有金属化孔单双面印制板分标准GB/T4588.3—2002印制板的设计和使用GB/T4588.4—1996多层印制板分标准GB/T4588.10—1995印制板第10局部:有贯穿连接的刚挠双面印制板标准GB/T4588.12—2000预制内层层压板标准(半制成多层印制板)GB/T4677—2002印制板测试方法GB/T4721—1992印制电路用覆铜箔层压板通用规那么GB/T4722—1992印制电路用覆铜箔层压板试验方法GB/T4723—1992印制电路用覆铜箔酚醛纸层压板GB/T4724—1992印制电路用覆铜箔环氧纸层压板GB/T4725—1992印制电路用覆铜箔环氧玻璃布层压板GB/T5489—1985印制板制图GB/T9315—1988印制电路板外形尺寸系列GB/T9491—2002锡焊用液态焊剂(松香基)GB/T12629—1990限定燃烧性的薄覆铜箔环氧玻璃布层压板(制造多层印制板用)GB/T12630—1990一般用处的薄覆铜箔环氧玻璃布层压板(制造多层印制板用)GB/T12631—1990印制导线电阻测试方法GB/T13555—1992印制电路用挠性覆铜箔聚酰亚胺薄膜GB/T13556—1992印制电路用挠性覆铜箔聚脂薄膜GB/T13557—1992印制电路用挠性覆铜箔材料试验方法GB/T14708—1993挠性印制电路用涂胶聚酯薄膜GB/T14709—1993挠性印制电路用涂胶聚酰亚胺薄膜GB/T16261—1996印制板总标准GB/T16315—1996印制电路用限定燃烧性的覆铜箔聚酰亚胺玻璃布层压板GB/T16317—1996多层印制电路用限定燃烧性的薄覆铜箔聚酰亚胺玻璃布层压板GB/T18334—2001有贯穿连接的挠性多层印制板标准GB/T18335—2001有贯穿连接的刚挠多层印制板标准GB/T6832—1986头戴耳机测量方法GB/T7614—1987校准测耳机用的宽频带型仿真耳GB/T10240—1988电声产品声音质量主观评价用节目源编辑制作标准GB/T11452—1989助听器标准的指南GB/T11453—1989模拟实际工作条件下的助听器性能测量方法GB/T11454—1989助听器用音频感应回路的磁场强度GB/T11455—1989不完全佩戴在听者身上的助听设备GB/T2658—1995小型交流风通用机技术条件GB/T7345—1994控制微电机根本技术要求GB/T7346—1998控制电机根本外形构造型式GB/T10405—2001控制电机型号命名方法GB/T13537—1992电子类家用电器用电动机通用技术条件GB/T16961—1997电子调速微型异步电动机通用技术条件GB/T787—1974电子管管基尺寸GB/T2987—1996电子管参数符号GB/T3188—1982电子管外形尺寸GB/T3189—1982电子管引出帽连接尺寸GB/T3789.1—1991发射管电性能测试方法总那么GB/T3789.2—1991发射管电性能测试方法阳极电流和栅极电流的测试方法GB/T3789.3—1991发射管电性能测试方法阴极发射电流的测试方法GB/T3789.4—1991发射管电性能测试方法栅极反向电流的测试方法GB/T3789.5—1991发射管电性能测试方法栅极热放射电流的测试方法GB/T3789.6—1991发射管电性能测试方法跨导、放大系数的测试方法GB/T3789.7—1991发射管电性能测试方法阳极离子流的测试方法GB/T3789.8—1991发射管电性能测试方法阳极最大耗散功率和阳极过载耗散功率的测试方法GB/T3789.9—1991发射管电性能测试方法栅极最大耗散功率的测试方法GB/T3789.10—1991发射管电性能测试方法第一栅极截止电压的测试方法GB/T3789.11—1991发射管电性能测试方法第三栅极截止电压的测试方法GB/T3789.12—1991发射管电性能测试方法极间绝缘的测试方法GB/T3789.13—1991发射管电性能测试方法共栅电路静态特性曲线的测试方法GB/T3789.14—1991发射管电性能测试方法共阴电路静态特性曲线的测试方法〖GB/T3789.15—1991发射管电性能测试方法输出功率的测试方法GB/T3789.16—1991发射管电性能测试方法脉冲输出功率的测试方法GB/T3789.17—1991发射管电性能测试方法电气强度的测试方法GB/T3789.18—1991发射管电性能测试方法电极间绝缘体高频损耗的测试方法GB/T3789.19—1991发射管电性能测试方法频率特性曲线的测试方法GB/T3789.20—1991发射管电性能测试方法第一栅极电流截止电压的测试方法GB/T3789.21—1991发射管电性能测试方法静态特性参考点的测试方法GB/T3789.22—1991发射管电性能测试方法振动稳定性的测试方法GB/T3789.23—1991发射管电性能测试方法第三栅极控制才能的测试方法GB/T3789.24—1991发射管电性能测试方法线性放大管双音互调失真的测试方法GB/T3789.25—1991发射管电性能测试方法图像输出功率的测试方法GB/T3789.26—1991发射管电性能测试方法功率增益的测试方法GB/T3789.27—1991发射管电性能测试方法三音互调失真的测试方法GB/T3789.28—1991发射管电性能测试方法穿插调制的测试方法GB/T3789.29—1991发射管电性能测试方法低频亮度非线性的测试方法GB/T3789.30—1991发射管电性能测试方法由亮度信号不同引起的色度信号失真(微分增益DG和微分相位DP)的测试方法GB/T3789.31—1991发射管电性能测试方法同步脉冲压缩的测试方法GB/T4965—1985吸气剂分类及型号命名方法GB/T7274—1987电子管极间电容测试方法GB/T12855—1991小功率发射管的使用和维护

GB/T3306—2001小功率电子管电性能测试方法

GB/T3307—1982小功率电子管灯丝断续试验方法GB/T6255—2001空间电荷控制电子管总标准GB/T6257—1986阳极耗散功率不大于1kW的小功率发射管空白详细标准(可供认证用)GB/T9431—1988阳极耗散功率大于1kW的玻壳发射管空白详细标准(可供认证用)GB/T9432—1988工业加热用四极管空白详细标准(可供认证用)GB/T9587—1988阳极耗散功率大于1kW的金属陶瓷发射管空白详细标准(可供认证用)GB/T12854—1991脉冲调制管空白详细标准(可供认证用)GB/T15426—1994收讯放大电子管空白详细标准GB/T9043—1999通信设备过电压保护用气体放电管通用技术条件GB/T9602—1988连续波磁控管电性能测试方法GB/T12852—2001磁控管总标准GB/T12853—2001连续波磁控管空白详细标准GB/T3212—1982黑白电视显象管测试方法GB/T3951—1983液晶显示器件型号命名方法GB/T5961—1986彩色显象管空白详细标准(可供认证用)GB/T5998—1994彩色显象管测试方法GB/T5999—1986示波管和指示管测试方法GB/T6206—1986黑白显象管空白详细标准(可供认证用)GB/T6207—1986示波管和指示管空白详细标准(可供认证用)GB/T6250—1986液晶显示器件名词术语GB/T6251—1986液晶显示器件外形尺寸标注及引线排布规那么GB/T6258—1986盘封电子管空白详细标准GB/T9435—1988彩色显像管有效屏面尺寸GB/T11447—1989光学纤维面板测试方法GB/T11478—1989摄像管总标准(可供认证用)GB/T11479—1989摄像管空白详细标准(可供认证用)GB/T11480—1989摄像管测试方法GB/T11490—1989彩色显像管管基尺寸GB/T12567—1990直观存储管测试方法GB/T12568—1990直观存储管分标准(可供认证用)GB/T12569—1990直观存储管空白详细标准(可供认证用)GB/T12570—1990单色显示管空白详细标准(可供认证用)GB/T12571—1990单色显示管测试方法GB/T13170.1—1991反射式电视测试图综合测试图GB/T13170.2—1991反射式电视测试图线性测试图A型GB/T13170.3—1991反射式电视测试图线性测试图B型GB/T13170.4—1991反射式电视测试图高频特性测试图GB/T13170.5—1991反射式电视测试图中频特性测试图GB/T13170.6—1991反射式电视测试图余像测试图GB/T13170.7—1991反射式电视测试图棋盘格测试图GB/T13170.8—1991反射式电视测试图辐值响应测试图GB/T13170.9—1991反射式电视测试图重合测试图A型GB/T13170.10—1991反射式电视测试图重合测试图B型GB/T13170.11—1991反射式电视测试图圆域测试图GB/T13170.12—1991反射式电视测试图辐射条测试图GB/T13170.13—1991反射式电视测试图区域测试图GB/T13170.14—1991反射式电视测试图灰度测试图A型GB/T13170.15—1991反射式电视测试图灰度测试图B型GB/T14010—1992阴极射线管玻壳试验方法GB/T14011—1992阴极射线管X射线辐射测试方法GB/T14012—1992黑白显象管玻壳总标准(可供认证用)GB/T15427—1994彩色显示管测试方法GB/T18896—2002彩色投影显象管测试方法GB/T18917—2002彩色投影显象管空白详细标准GB/T3213—1994闸流管与充气整流管测试方法GB/T3790—1995荧光显示管测试方法GB/T5295—1985光电阴极光谱响应特性系列GB/T5960—1986阴极射线管总标准(可供认证用)GB/T6428—1995氢闸流管测试方法GB/T7257—1987氦氖激光器参数测试方法GB/T7270—1987光电倍增管测试方法GB/T7271—1987光电管测试方法GB/T9430—1988荧光数码显示管亮度稳定性试验方法GB/T9433—1988过电压保护气体放电管总标准(可供认证用)GB/T9434—1988过电压保护气体放电管测试方法GB/T9586—1988荧光数码显示管加速寿命试验方法GB/T9588—1988盖革弥勒计数管测试方法GB/T11482—1989交流等离子体显示器件总标准(可供认证用)GB/T11483—1989交流等离子体显示器件测试方法GB/T12078—1989X射线管总标准(可供认证用)GB/T12079—1989X射线管光电性能测试方法

GB/T12082—1989气体激光器文字符号GB/T12083—1989气体激光器电源系列GB/T12559—1990印制电路用照相底图图形系列GB/T12564—1990光电倍增管总标准(可供认证用)GB/T12846—1991脉冲闸流管总标准(可供认证用)GB/T12847—1991氢闸流管空白详细标准(可供认证用)GB/T13065—1991过电压保护气体放电管空白详细标准(可供认证用)GB/T13706—1992光电管总标准(可供认证用)GB/T13707—1992光电管空白详细标准(可供认证用)GB/T13708—1992光电倍增管空白详细标准(可供认证用)GB/T13709—1992检测用X射线管空白详细标准(可供认证用)GB/T13710—1992分析用X射线管空白详细标准(可供认证用)GB/T13943—1992荧光显示管总标准(可供认证用)GB/T13944—1992荧光显示管空白详细标准(可供认证用)GB/T13945—1992辉光放电显示管总标准(可供认证用)GB/T13946—1992辉光放电显示管空白详细标准(可供认证用)GB/T14110—1993闸流管与充气整流管总标准(可供认证用)GB/T14111—1993闸流管与充气整流管空白详细标准(可供认证用)GB/T14182—1993变像管和像增强管总标准(可供认证用)GB/T14183—1993变像管和像增强管空白详细标准(可供认证用)GB/T14184—1993变像管和像增强管测试方法GB/T14186—1993充气稳压管总标准(可供认证用)GB/T14279—1993交流等离子体显示器件空白详细标准(可供认证用)GB/T14515—1993有贯穿连接的单、双面挠性印制板技术条件GB/T14516—1993无贯穿连接的单、双面挠性印制板技术条件GB/T15301—1994气体激光器总标准GB/T15648—1995辉光放电显示管测试方法GB/T249—1989半导体分立器件型号命名方法

GB/T4589.1—1989半导体器件分立器件和集成电路总标准(可供认证用)GB/T4937—1995半导体器件机械和气候试验方法GB/T11499—2001半导体分立器件文字符号GB/T12300—1990功率晶体管平安工作区测试方法GB/T12560—1999半导体器件分立器件分标准GB/T15651—1995半导体器件分立器件和集成电路第5局部:光电子器件GB/T17573—1998半导体器件分立器件和集成电路第1局部:总那么GB/T18910.1—2002液晶和固态显示器件第1局部:总标准GB/T4023—1997半导体器件分立器件和集成电路第2局部:整流二极管GB/T6570—1986微波二极管测试方法GB/T6588—2000半导体器件分立器件第3局部:信号(包括开关)和调整二极管第1篇信号二极管、开关二极管和可控雪崩二极管空白详细标准GB/T6589—2002半导体器件分立器件第3-2局部:信号(包括开关)和调整二极管电压调整二极管和电压基准二极管(不包括温度补偿精细基准二极管)空白详细标准GB/T12562—1990PIN二极管空白详细标准(可供认证用)GB/T13063—1991电流调整和电流基准二极管空白详细标准GB/T13066—1991单结晶体管空白详细标准GB/T14863—1993用栅控和非栅控二极管的电压电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法GB/T15137—1994体效应二极管空白详细标准GB/T15177—1994微波检波、混频二极管空白详细标准GB/T15178—1994变容二极管空白详细标准GB/T4586—1994半导体器件分立器件第8局部:场效应晶体管GB/T4587—1994半导体分立器件和集成电路第7局部:双极型晶体管GB/T6217—1998半导体器件分立器件第7局部:双极型晶体管第一篇上下频放大环境额定的双极型晶体管空白详细标准GB/T6218—1996开关用双极型晶体管空白详细标准GB/T6219—1998半导体器件分立器件第8局部:场效应晶体管第一篇1GHz、5W以下的单栅场效应晶体管空白详细标准GB/T6256—1986工业加热三极管空白详细标准(可供认证用)GB/T6571—1995半导体器件分立器件第3局部:信号(包括开关)和调整二极管GB/T7576—1998半导体器件分立器件第7局部:双极型晶体管第四篇高频放大管壳额定双极型晶体管空白详细标准GB/T7577—1996低频放大管壳额定的双极型晶体管空白详细标准GB/T7581—1987半导体分立器件外形尺寸GB/T6351—1998半导体器件分立器件第2局部:整流二极管第一篇100A以下环境或管壳额定整流二极管(包括雪崩整流二极管)空白详细标准GB/T6352—1998半导体器件分立器件第6局部:闸流晶体管第一篇100A以下环境或管壳额定反向阻断三极闸流晶体管空白详细标准GB/T6590—1998半导体器件分立器件第6局部:闸流晶体管第二篇100A以下环境或管壳额定的双向三极闸流晶体管空白详细标准GB/T9436—1988液晶显示器件参数符号GB/T15449—1995管壳额定开关用场效应晶体管空白详细标准GB/T15450—1995硅双栅场效应晶体管空白详细标准GB/T16468—1996静电感应晶体管系列型谱GB/T12561—1990发光二极管空白详细标准(可供认证用)GB/T15529—1995半导体发光数码管空白详细标准GB/T15167—1994半导体激光光源总标准GB/T18680—2002液晶显示器用氧化铟锡透明导电玻璃GB/T4654—1984碳化硅、锆英砂、陶瓷类红外辐射加热器通用技术条件GB/T11153—1989激光小功率计性能检测方法GB/T14078—1993氦氖激光器技术条件GB/T15649—1995半导体激光二极管空白详细标准GB/T4619—1996液晶显示器件测试方法GB/T12848—1991扭曲向列型液晶显示器件总标准(可供认证用)GB/T12849—1991钟、表用扭曲向列型液晶显示器件空白详细标准(可供认证用)GB/T12850—1991计算器用扭曲向列型液晶显示器件空白详细标准(可供认证用)GB/T12851—1991仪器、仪表用扭曲向列型液晶显示器件空白详细标准(可供认证用)GB/T14116—1993彩色液晶显示器件的光度和色度的测试方法GB/T14117—1993彩色液晶显示器件空白详细标准(可供认证用)GB/T15655—1995超扭曲向列型液晶显示器件分标准GB/T15656—1995超扭曲向列型液晶显示器件空白详细标准GB/T12565—1990半导体器件光电子器件分标准(可供认证用)GB/T14137—1993光纤机械式固定接头插入损耗测试方法GB/T18309.1—2001纤维光学互连器件和无源器件根本试验和测量程序第1局部:总那么和导那么GB/T18310.1—2002纤维光学互连器件和无源器件根本试验和测量程序第2-1局部:试验振动(正弦)GB/T18310.2—2001纤维光学互连器件和无源器件根本试验和测量程序第2-2局部:试验配接耐久性GB/T18310.3—2001纤维光学互连器件和无源器件根本试验和测量程序第2-3局部:试验静态剪切力GB/T18310.4—2001纤维光学互连器件和无源器件根本试验和测量程序第2-4局部:试验光纤/光缆保持力GB/T18310.5—2002纤维光学互连器件和无源器件根本试验和测量程序第2-5局部:试验改变/扭绞GB/T18310.6—2001纤维光学互连器件和无源器件根本试验和测量程序第2-6局部:试验锁紧机构抗拉强度GB/T18310.7—2002纤维光学互连器件和无源器件根本试验和测量程序第2-7局部:试验弯矩GB/T18310.12—2002纤维光学互连器件和无源器件根本试验和测量程序第2-12局部:试验撞击GB/T18310.18—2001纤维光学互连器件和无源器件根本试验和测量程序第2-18局部:试验干热高温耐久性GB/T18310.19—2002纤维光学互连器件和无源器件根本试验和测量程序第2-19局部:试验恒定湿热GB/T18310.21—2002纤维光学互连器件和无源器件根本试验和测量程序第2-21局部:试验温度湿度组合循环试验GB/T18310.39—2001纤维光学互连器件和无源器件根本试验和测量程序第2-39局部:试验对外界磁场敏感性GB/T18311.2—2001纤维光学互连器件和无源器件根本试验和测量程序第3-2局部:检查和测量单模纤维光学器件偏振依赖性GB/T18311.3—2001纤维光学互连器件和无源器件根本试验和测量程序第3-3局部:检查和测量监测衰减和回波损耗变化(多路)GB/T18311.6—2001纤维光学互连器件和无源器件根本试验和测量程序第3-6局部:检查和测量回波损耗GB/T4799—2001激光器型号命名方法GB/T4931—2000氦氖激光器系列型谱GB/T4932—2000二氧化碳激光器系列型谱GB10320—1995激光设备和设施的电气平安GB/T11297.1—2002激光棒波前畸变的测量方法GB/T11297.3—2002掺钕钇铝石榴石激光棒消光比的测量方法GB/T12507.1—2000光纤光缆连接器第1局部:总标准GB/T12507.2—1997光纤光缆连接器第2局部:F-SMA型光纤光缆连接器分标准GB/T12511—1990纤维光学开关第一局部:总标准(可供认证用)GB/T12512—1990纤维光学衰减器第一局部:总标准(可供认证用)GB/T13265.1—1997纤维光学隔离器第1局部:总标准GB/T13265.2—1997纤维光学隔离器第1-1局部:空白详细标准GB/T13712—1992纤维光学调制器第一局部∶总标准(可供认证用)GB/T13713—1992纤维光学分路器第一局部∶总标准(可供认证用)GB/T13714—1992纤维光学分路器第三局部∶分标准1至-n-个波长复用器/解复用器(可供认证用)GB/T13739—1992激光辐射横模鉴别方法GB/T13740—1992激光辐射发散角测试方法GB/T13741—1992激光辐射光束直径测试方法

GB/T13863—1992激光辐射功率测试方法GB/T13864—1992激光辐射功率稳定度测试方法GB/T14136.1—1993纤维光学滤光器第一局部:总标准(可供认证用)GB/T14275—1993纤维光学调制器第二局部:分标准波导电光调制器(可供认证用)GB/T15175—1994固体激光器主要参数测试方法GB/T15490—1995固体激光器总标准GB/T16529—1996光纤光缆接头第1局部:总标准构件和配件GB/T16529.2—1997光纤光缆接头第2局部:分标准光纤光缆接头盒和集纤盘GB/T16529.3—1997光纤光缆接头第3局部:分标准光纤光缆熔接式接头GB/T16529.4—1997光纤光缆接头第4局部:分标准光纤光缆机械式接头GB/T16530—1996单模纤维光学器件回波损耗偏振依赖性测量方法GB/T18308.1—2001纤维光学转接器第1局部:总标准GB/Z18461—2001激光产品的平安消费者关于激光辐射平安的检查清单GB18490—2001激光加工机械平安要求GB/T18904.2—2002半导体器件第12-2局部:光电子器件纤维光学系统或子系统用带尾纤的激光二极管模块空白详细标准GB/T13583—1992红外探测器外形尺寸系列GB/T13584—1992红外探测器参数测试方法GB/T17444—1998红外焦平面阵列特性参数测试技术标准GB/T18904.1—2002半导体器件第12-1局部:光电子器件纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的光发射或红外发射二极管空白详细标准GB/T18904.3—2002半导体器件第12-3局部:光电子器件显示用发光二极管空白详细标准GB/T18904.4—2002半导体器件第12-4局部:光电子器件纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的Pin-FET模块空白详细标准GB/T3430—1989半导体集成电路型号命名方法GB/T7092—1993半导体集成电路外形尺寸GB/T8976—1996膜集成电路和混合膜集成电路总标准GB/T9178—1988集成电路术语GB/T11498—1989膜集成电路和混合膜集成电路分标准(采用鉴定批准程序)(可供认证用)GB/T12750—1991半导体集成电路分标准(不包括混合电路)(可供认证用)GB/T12842—1991膜集成电路和混合膜集成电路术语GB/T12843—1991半导体集成电路微处理器及外围接口电路电参数测试方法的根本原理GB/T13062—1991膜集成电路和混合膜集成电路空白详细标准(可供认证用)GB/T14028—1992半导体集成电路模拟开关测试方法的根本原理GB/T14029—1992半导体集成电路模拟乘法器测试方法的根本原理GB/T14030—1992半导体集成电路时基电路测试方法的根本原理GB/T14031—1992半导体集成电路模拟锁相环测试方法的根本原理GB/T14032—1992半导体集成电路数字锁相环测试方法的根本原理GB/T14112—1993半导体集成电路塑料双列封装冲制型引线框架标准GB/T14113—1993半导体集成电路封装术语GB/T14862—1993半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法GB/T15138—1994膜集成电路和混合集成电路外形尺寸GB/T15297—1994微电路模块机械和气候试验方法GB/T15431—1995微电路模块总标准GB/T15876—1995塑料四面引线扁平封装引线框架标准GB/T15877—1995蚀刻型双列封装引线框架标准GB/T15878—1995小外形封装引线框架标准GB/T15879—1995半导体器件的机械标准化第5局部:用于集成电路载带自动焊(TAB)的推荐值GB/T16464—1996半导体器件集成电路第1局部:总那么GB/T16465—1996膜集成电路和混合膜集成电路分标准〔采用才能批准程序〕GB/T16466—1996膜集成电路和混合膜集成电路空白详细标准(采用才能批准程序〕GB/T16525—1996塑料有引线片式载体封装引线框架标准GB/T16526—1996封装引线间电容和引线负载电容测试方法GB/T17023—1997半导体器件集成电路第2局部:数字集成电路第二篇HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74-HCU系列族标准GB/T17024—1997半导体器件集成电路第2局部:数字集成电路第三篇HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74-HCU系列空白详细标准GB/T17574—1998半导体器件集成电路第2局部:数字集成电路GB/T3431.2—1986半导体集成电路文字符号引出端功能符GB/T3432.4—1989半导体集成电路TTL电路系列和品种54/74LS系列的品种GB/T3434—1986半导体集成电路ECL电路系列和品种GB/T3435—1987半导体集成CMOS电路系列和品种4000系列的品种GB/T3436—1996半导体集成电路运算放大器系列和品种GB/T4376—1994半导体集成电路电压调整器系列和品种GB/T4377—1996半导体集成电路电压调整器测试方法的根本原理GB/T4855—1984半导体集成电道路性放大器系列和品种GB/T5965—2000半导体器件集成电路第2局部:数字集成电路第一篇双极型单片数字集成电路门电路(不包括自由逻辑阵列)空白详细标准GB/T6648—1986半导体集成电路静态读/写存储器空白详细标准(可供认证用)GB/T6798—1996半导体集成电路电压比拟器测试方法的根本原理GB/T6800—1986半导体集成音响电路音频功率放大器测试方法的根本原理GB/T6812—1986半导体集成非线性电路系列和品种模拟乘除法器的品种GB/T6813—1986半导体集成非线性电路系列和品种时基电路的品种GB/T6814—1986半导体集成非线性电路系列和品种模拟开关的品种GB/T6815—1986半导体集成非线性电路系列和品种锁相环的品种GB/T7509—1987半导体集成电路微处理器空白详细标准(可供认证用)GB/T9423—1988半导体集成TTL电路系列和品种54/74ALS系列的品种GB/T9424—1998半导体器件集成电路第2局部:数字集成电路第五篇CMOS数字集成电路4000B和4000UB系列空白详细标准GB/T9425—1988半导体集成电路运算放大器空白详细标准(可供认证用)GB/T11497.1—1989半导体集成电路CMOS电路系列和品种54/74HC系列的品种GB/T11497.2—1989半导体集成电路CMOS电路系列和品种54/74HCT系列的品种GB/T12084—1989半导体集成电路TTL电路系列和品种54/74F系列的品种GB/T12844—1991半导体集成电路非线性电路系列和品种采样/保持放大器的品种GB/T12845—1991半导体集成电路非线性电路系列和品种电压/频率和频率/电压转换器的品种GB/T13064—1991半导体集成电路系列和品种复印机用系列的品种GB/T13067—1991半导体集成电路系列和品种石英电子钟表用系列的品种GB/T13068—1991半导体集成电路系列和品种磁敏传感器用系列的品种GB/T13069—1991半导体集成电路系列和品种数控机床用系列的品种GB/T14025—1992半导

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