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TOFD检测工艺5一、影响检测结果因素二、检测结果评定小结三、其他注意事项影响检测结果因素1.工艺参数的影响。工艺参数要考虑到缺陷的检出率、缺陷的分辨率、被检区域的覆盖、盲区的大小、标准的适用性、检测结果的准确性等。2.仪器参数的影响。包括滤波、平均、脉冲重复频率、脉冲宽度等。3.探头的影响。实际探头发射的声束分布与理论计算存在着较大差异。探头实际频谱具有一定的带宽，理论一般都是以单一频率来计算的。4.缺陷的形态的影响。缺陷的走向、形状、位置，对不同角度的超声波响应不一样。5.工件的影响。工件的平整度、曲率、晶粒大小等，都会影响超声波的传输。影响检测结果因素工艺参数的影响具体展开来说，基本原则是：1、能用高频不用低频；探头频率高→扩散角度小（指向性好）→缺陷的分辨率高→检测面盲区小→检测区域小2、能用小的PCS值，不用大的PCS值。PCS值小→检测面盲区小→缺陷深度分辨率高→检测区域小→底面盲区大常用的探头有7.5Mφ3、5Mφ6、3.5Mφ8、2.5Mφ12常用的楔块有70°、60°、55°、45°最常用的5Mφ6的可检测的是范围是20~100mm影响检测结果因素探头的影响1.探头的频率、扩散角都是指其理论值，都是根据探头的标称频率来计算的，实际探头频率会存在误差，探头频率有一定的带宽，标称频率是指其中心频率。不同频率的超声波在钢中的衰减不同，频率越高衰减系数越大。2.理论计算也没有考虑到工件及楔块材质的衰减，实际上材质的衰减这一过程等效于探头频率降低。影响检测结果因素缺陷形态的影响按信号特征分类：表面开口缺陷和埋藏缺陷表面开口缺陷：上表面开口和下表面开口和贯穿性缺陷埋藏缺陷：点状、没有自身高度缺陷、有自身高度缺陷。检测结果评级依据：缺陷类型和位置、长度、高度。TOFD并没有要求确定缺陷性质，根据缺陷上下端的相位关系是缺陷定量定性的重要方法。结果评定小结1.检测工艺很重要。扫图比评图更有技术，图像扫的不好，检测结果是很难评定的。2.直通波很重要。通过直通波可以判断耦合情况、缺陷的相位、探头与楔块的匹配程度、缺陷的形状等。3.分辨不出相位时，找点状缺陷的信号，点状缺陷信号的相位与直通波比较相近。4.根据上端点的信号的相位特征来找有高度的缺陷，再找下端点信号的相位。其他事项：裂纹与未熔合的区别焊缝产生的裂纹上下端点一般都不太规则，在深度平面上，很少是一条直线;一些裂纹除上下端点，上下端点之间也可能会有很多信号波，使得难以区分下端点。未熔合与裂纹相比:其上下端的信号比较规则，在深度平面上，基本上为直线、为曲线;除上下端点外，缺陷其他位置的信号较少。其他事项：信号强弱不同深度位置缺陷，上下端点信号强弱（波幅大小）：缺陷主声束角度以上，衍射信号大于反射信号主声束以下衍

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